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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > microscopeの意味・解説 > microscopeに関連した英語例文

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microscopeを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 8959



例文

If the dopant profile measurement is implemented by using a scanning capacitance microscope, a surface of the thin piece 2 is oxidized by an oxygen gas cluster ion beam after the removal of the residual gallium layer 3.例文帳に追加

走査キャパシタンス顕微鏡を用いてドーパントプロファイル測定を行う場合は、残留ガリウム層除去後の薄片2の表面を酸素ガスクラスターイオンビームで表面酸化を行う。 - 特許庁

To rationally separate a transparent illumination unit from a stage even when design for suppressing the height dimension of an inverted microscope is performed and to reduce the occurrence of accompanied troubles as much as possible.例文帳に追加

倒立側顕微鏡の高さ寸法を抑える設計を行ったとしても、ステージから透過照明ユニットを合理的に遠ざけ、また、付随する問題の発生を極力少なくする。 - 特許庁

To provide an electron gun capable of obtaining electron beams with high luminance and high stability used for an electron-beam equipment and a vacuum tube, especially, an electron microscope.例文帳に追加

電子線及び電子ビーム機器や真空管、特に、電子顕微鏡に使用される、高輝度高安定性を有する電子ビームが得られる電子銃を提供することを課題とする。 - 特許庁

The microscope objective lens system comprises lenses made of only fluorite and fused quartz, and includes five triplet units each comprising the positive fluorite lens located at the center, and the negative fused-quartz lenses located before/behind the positive fluorite lens.例文帳に追加

蛍石と石英ガラスのみからなり、中央の正の蛍石と、その前後に位置する負の石英ガラスからなるトリプレットユニットが5組含まれている顕微鏡対物レンズ系。 - 特許庁

例文

To provide a microscopic system with camera, which acquires polarizing information and optical anisotropic information on an object to be observed by a microscope at the frame rate of an imaging device.例文帳に追加

顕微鏡で観察する対象物の偏光情報や光学異方性情報を撮像素子のフレームレートで取得することができるカメラ付き顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁


例文

A surface analysis method of an insulation material with an atomic force microscope includes performing AFM measurement by suppressing charging of the insulation material due to static electricity under high humidity environment.例文帳に追加

高湿度環境下で絶縁材料の静電気による帯電を抑制してAFM測定を行う原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法である。 - 特許庁

To provide a focus detector by which the good accuracy of focusing can be easily and rapidly obtained even in the focusing operation during differential interference observation and a microscope into which this detector is built.例文帳に追加

微分干渉観察時の合焦動作においても簡単且つ迅速に良好な合焦精度を得ることの出来る焦点検出装置とそれを組込んだ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a highly reliable method for manufacturing the silver probe of a scanning tunnel microscope through the use of methyl alcohol as the solvent of an electrolyte, electrolytic grinding, and electrolytic etching.例文帳に追加

電解液の溶媒としてメチルアルコールを使用し、電解研磨及び又は電解腐蝕により、信頼性の高い走査トンネル顕微鏡の銀探針製作方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electron-emitting element capable of long-term stabilization of an emission current at a high yield, an electron gun, an electron microscope device and an electron beam patterning device using it.例文帳に追加

エミッション電流の長期的な安定化が可能で、高歩留まりな電子放出素子,電子銃、それを用いた電子顕微鏡装置及び電子線描画装置を提供する。 - 特許庁

例文

To solve the problem with the conventional video microscope apparatus that the data collection under the same environment is difficult when comparative experiments, etc., of a plurality of specimens are carried out.例文帳に追加

従来のビデオ顕微鏡装置では、複数試料の比較実験等を行う場合、同一の環境下でのデータ収集が困難であり、これを解決することを目的とする。 - 特許庁

例文

In the manufacturing device of a semiconductor package, an infrared microscope 50 faces a junction tool 40 with a stage 20, a mounting substrate 10 and a semiconductor package 30 therebetween.例文帳に追加

赤外線顕微鏡50が、ステージ20、実装基板10、半導体パッケージ30を挟んで、接合ツール40と対向する状態で配設された半導体パッケージの製造装置を用いる。 - 特許庁

To provide a sample preparing device for electron microscopes for observing a three-dimensional structure at a desired place in a finely machined semiconductor device, and to provide an electron microscope and its method.例文帳に追加

微細に加工された半導体デバイス内の所望の箇所の3次元的構造を観察するための電子顕微鏡用試料作製装置、電子顕微鏡及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system capable of simultaneously performing both of spot irradiation with particular light such as deep ultraviolet and optical observation not sacrificing imaging performance.例文帳に追加

本発明の課題は、深紫外線などの特殊光のスポット照射と、結像性能を犠牲にしない光学観察の二つを、同時に実行できる顕微鏡システムを提供することである。 - 特許庁

To provide a spectroscope for achieving higher S/N ratio by avoiding the penetration of side lobes and scattered components, and also to provide a confocal microscope equipped with the spectroscope.例文帳に追加

サイドローブや散乱成分の入り込みを避けることによって更なる高S/N比を達成できる分光器の提供と、この分光器を備えた共焦点顕微鏡の提供とを課題とする。 - 特許庁

CANTILEVER, CANTILEVER SYSTEM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, MASS SENSOR DEVICE, ELASTIC MEASURING DEVICE, MANIPULATION DEVICE, DISPLACEMENT MEASURING METHOD OF CANTILEVER, EXCITATION METHOD OF CANTILEVER, AND DEFORMATION METHOD OF CANTILEVER例文帳に追加

カンチレバー、カンチレバーシステム、走査型プローブ顕微鏡、質量センサ装置、弾性計測装置及びマニピュレーション装置並びにカンチレバーの変位測定方法、カンチレバーの加振方法及びカンチレバーの変形方法 - 特許庁

METHOD FOR SELECTIVELY COLLECTING TARGET AREA USING PROBE MICROSCOPE, METHOD OF MAKING SUBSTANCE CONTAINED IN TARGET AREA REACT, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

プローブ顕微鏡を用いて標的部位を選択的に採取する方法、その標的部位に含有される物質をそこにおいて反応させる方法、およびそれらの方法を行うための装置 - 特許庁

The photogravure plate cell shape measuring apparatus has a camera microscope 2 having a polarization angle changing means 20, and picks up a plurality of cell images at different polarization angles.例文帳に追加

グラビア版セル形状測定装置には、偏光角度変更手段20を備えたカメラ顕微鏡2が備えられ、それぞれ異なる偏光角度で複数枚のセル画像を撮像する。 - 特許庁

To provide an electron optical system and an electron microscope capable of efficiently correcting positions of a diffraction image surface and a medium image surface when replacing samples.例文帳に追加

試料を交換したときにおいて、回折像面と中間像面の位置修正を効率良く行うことのできる電子光学システム及び電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To enable an electron microscope equipped with a plurality of secondary electron or reflecting electron detectors to carry out control of contrast/brightness of the plurality of detectors in one control operation.例文帳に追加

複数の二次電子若しくは反射電子検出器を持つ電子顕微鏡において、複数の検出器のコントラスト/明るさの制御をひとつの制御操作で行えるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope capable of using an ordinary objective lens for special observation, and enhancing degree of freedom in replacement of the objective lens.例文帳に追加

本発明の目的は、通常の対物レンズを特殊観察に用いることが可能であり、しかもその対物レンズの交換自由度を高めることのできる顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

This microscope arrangement has a focus offset adjusting unit 260 for generating a focusing offset signal in order to defocus the objective lens device as predetermined to the focused state.例文帳に追加

この顕微鏡装置は、対物レンズ装置を合焦状態に対して所定どおりにデフォーカスするために、焦点ずれ信号を発する焦点ずれ調整ユニット260を有している。 - 特許庁

To provide a microscope system that automatically determines a method of staining a sample required for faithfully reproducing the color of the sample from the obtained sample image.例文帳に追加

標本の色を忠実に再現するために必要な標本の染色方法を、取得した標本画像から自動的に決定することが可能な顕微鏡システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a positive photoresist composition giving a resist pattern with a suppressed change in line width when observed with a scanning electron microscope(SEM) in the production of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造において、得られたレジストパターンを走査型電子顕微鏡(SEM)で観察したときに、線幅の変動が軽減したポジ型フォトレジスト組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide a grating illumination microscope which will not lower contrast of microscopic images, by preventing the light coming from parts other than the focal position in a sample from being imaged on an imaging device.例文帳に追加

標本中における焦点位置以外の部分からの光が撮像素子に結像されることを防ぎ、顕微鏡画像のコントラストを低下させない格子照明顕微鏡装置の提供。 - 特許庁

A solution containing leucocytes is poured in the space formed in the surface of the cover glass of the chamber 1 on the stage of a microscope 2 to generate the interaction of leucocytes and vascular endothelial cells.例文帳に追加

顕微鏡2のステージ上で、チャンバ1のカバーグラス面の空間に白血球を含む溶液を流し込むことにより、白血球と血管内皮細胞とのインタラクションを発生させる。 - 特許庁

To shorten the time required for automatic focusing in semiconductor defect automatic review by use of an electron beam type microscope to improve throughput for observing a sample.例文帳に追加

電子線式顕微鏡を用いた半導体欠陥自動レビューにおける自動焦点合わせに要する時間を短縮することができ、試料を観察するスループットを向上させる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope obtaining high ion detecting efficiency even if it has a short WD and is suitable for attaining high resolution.例文帳に追加

本発明はWDが短く、高分解能化に適した装置であっても、高いイオン検出効率を得ることができる走査電子顕微鏡を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of determining an optimum scanning method which reduces deflection amounts of primary electron beams and secondary electrons, and obtaining a stable image.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡において、一次電子線や二次電子の偏向量が少なくなる最適な走査方法を決定して安定した画像を取得できるようにするものである。 - 特許庁

To provide a stereoscopic microscope which enables observation by pleasant stereoscopy by reducing the astigmatism of an image without increasing the number of lenses constituting a close-up optical system.例文帳に追加

クローズアップ光学系を構成するレンズ枚数を増加させることなく、画像の非点収差を低減し、快適な立体視による観察が可能な立体視顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The scanning electron microscope irradiates electron beams 2 generated from an electron gun 1 on a sample 5 loaded on a sample stand 7 with an objective lens 4 to detect electrons from the sample.例文帳に追加

走査電子顕微鏡は、電子銃1から発生した電子ビーム2を対物レンズ4により試料台7の上に載置された試料5に照射して試料からの電子を検出する。 - 特許庁

To provide a microchip and a microchip energization unit capable of heating a sample surely up to a prescribed temperature, and observing the sample in a recessed part for analysis by a microscope.例文帳に追加

試料を確実に所定の温度に加温できて、しかも分析用凹部内の試料を顕微鏡によって観察することが可能なマイクロチップ、マイクロチップ通電ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a laser scanning microscope hardly causing image distortion and positional deviation and capable of acquiring respective fluorescent images by laser beams having different wavelength by performing two-dimensional scanning once.例文帳に追加

画像歪みや位置ずれが殆ど発生せず、異なる波長のレーザ光によるそれぞれの蛍光画像を一度の二次元走査で取得可能なレーザ走査顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

a procedure in which a sample of blood is viewed under a microscope to count different circulating blood cells (red blood cells, white blood cells, platelets, etc.) and see whether the cells look normal. 例文帳に追加

血液サンプルを顕微鏡下で観察し、さまざまな循環血液細胞(赤血球、白血球、血小板など)の数を数えたり、細胞の外観が正常かどうかを調べる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

a sample of skin that contains tumor tissue is examined under a microscope to find out how thick the tumor is and/or how deeply the tumor has grown into the skin or connective tissues. 例文帳に追加

腫瘍組織が含まれる皮膚標本を顕微鏡で観察し、腫瘍の厚さや、腫瘍の増殖が皮膚や結合組織内のどの程度の深さにまで及んでいるのかを調べる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

either (1) the tumor cannot be removed by surgery; or (2) cancer that can be seen without a microscope remains after surgery; or (3) the cancer has spread to nearby lymph nodes. 例文帳に追加

(1)腫瘍が手術によって除去できない、(2)顕微鏡なしでも確認できるがんが手術後にも残っている、(3)がんが周辺のリンパ節に拡がっている、このいずれかの状態。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

when these pieces of dna bind to specific genes or areas of chromosomes on the slide, they light up when viewed under a microscope with a special light. 例文帳に追加

このdnaの断片がスライドグラス上で特定の遺伝子や染色体領域と結合した場合、特殊なライトと顕微鏡を用いて観察すると、結合している部分が光って見える。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

As a tip part 38 of the operation needle 32 is applied to a sample 12, the operation needle 32 is deflected and the postion between the tip part 32 and the junction part 36 in a view of a microscope is changed.例文帳に追加

操作針32の先端部38が被検体12に対して作用すると、操作針32がたわみ先端部32と接合部36との顕微鏡視野内での位置が変化する。 - 特許庁

To provide an inexpensive stereoscopic microscope which is suitable for observation of a large specimen or the like, does not force an observer to take unnatural posture, and prevents the change of magnification in vertical and transmissive observation.例文帳に追加

観察者に無理な姿勢を強いることなく、大きな標本等の観察に適しており、落射及び透過観察時の倍率変化が生じず、かつ、安価な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When the position of the assistant's microscope 7 is changed, the reflecting member 50 is rotated around an axis A orthogonal to the optical axis O by action of gears 60 and 61 and a driving shaft 62.例文帳に追加

助手用顕微鏡7の位置が変更されると、ギア60、61及び駆動軸62の動作により、光軸Oに直交する軸Aを中心に反射部材50が回転される。 - 特許庁

This microscope is equipped with a coarse adjustment mechanism 410 optionally movable on an XY-plane, and a coarse stage 400 having a sample stand 430, the coarse adjustment stage 400 being placed on a frame 550.例文帳に追加

XY平面を任意に移行可能な粗動機構400と試料台430を有する粗動ステージ400を備え、この粗動ステージ400のがフレーム550上に載置されている。 - 特許庁

A shape of an area in the vicinity of a pattern edge is digitized, based on an image data of a sky photograph obtained by the scanning microscope, to evaluate the tapering tendency of the cross-sectional shape.例文帳に追加

走査型顕微鏡で得られた上空写真の画像データから、パターンエッジ近傍の領域の形状を数値化することによって断面形状のテーパ傾向を評価する。 - 特許庁

To provide a simple and inexpensive stereoscopic microscope which suppresses a stay light without degrading the workability neither making the optical system complicated and enables a user to observe a sample image of high contrast.例文帳に追加

作業性の悪化を招いたり光学系の複雑化を図ることなく迷光を抑え、コントラストの高い標本像を観察できる簡素で安価な実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To efficiently shorten the manufacturing time of a slice sample for a transmission type electron microscope, and to make it less apt to cause release of the manufactured sample and embedding resin, while increasing the number of observable spots.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡用薄片試料の作製時間を効率よく短縮し、また、作製した試料が包埋樹脂と剥離を起こし難く、観察可能個所を増やすこと。 - 特許庁

To provide a positive resist composition capable of providing a resist which improves shrinkage of a pattern in observation with SEM (scanning electron microscope) while retaining excellent dry etching resistance and does not require removal of metal.例文帳に追加

優れたドライエッチング耐性を維持したまま、SEM観察時にパターンの縮みが改良され、、金属を除去する必要がないレジストを提供し得るポジ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a luminous flux controller with which shear is easily, accurately and continuously varied without requiring any mechanical mechanism, and to provide an interference device and a differential interference microscope.例文帳に追加

機械的な機構を必要とせずに、容易にシア量を精度良く連続的に変化させることができる光束制御装置、干渉装置及び微分干渉顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The digital recording system 11 has its recording part 20 composed of a CCD camera and recording media so that images obtained by the microscope system 10 can digitally be stored and displayed on the monitor 12.例文帳に追加

デジタル記録系11は、顕微鏡系10により得た画像をデジタル的に記憶するとともに、モニタ12により表示できるように、記録部20をCCDカメラと記録メディアで構成する。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, an amplitude value of a Y-scan signal is increased linearly only during an image acquisition period of time Tyu for acquiring image data, and brought to return to about zero immediately just after completing the acquisition of the image data.例文帳に追加

Y走査信号の振幅値は、画像データを取得する画像取得時間Tyuの間だけ直線的に増加し、画像データの取得終了後直ちにほぼ0に戻る。 - 特許庁

From the image data of a sky photograph obtained by the scan type microscope, the shape of the area in the vicinity of the pattern edge is digitized to evaluate the taper gradient of the sectional shape.例文帳に追加

走査型顕微鏡で得られた上空写真の画像データから、パターンエッジ近傍の領域の形状を数値化することによって断面形状のテーパ傾向を評価する。 - 特許庁

To provide a microscope allowing for observation of light at plural wave lengths by using the same optical system even when order of the wave lengths of observation light such as fluorescent light and Raman scattering light and exciting light changed.例文帳に追加

蛍光、ラマン散乱光等の観察光と励起光の波長の順序が変動しても同一の光学系を用いて複数の波長の光を観察することができる。 - 特許庁

例文

To provide a scanning near field optical microscope capable of detecting the angle dependence of scattering light generated by the coupling of the near field light from the tip part of a probe with a sample.例文帳に追加

プローブ先端部の近接場光と試料とのカップリングにより発生する散乱光の角度依存性を検出できる走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁




  
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