「microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(141ページ目) - Weblio英語例文検索

Particles to be created by changing the ratio of different elements for indexing a probe are used; an SEM image is obtained by a scanning electron microscope for detecting the position and the size; and further, the position and the size of characteristic X rays generated, when electrons irradiated to the particles by the scanning electron microscope are obtained, by obtaining element analysis images, by using an energy dispersion type characteristic X-ray detector.例文帳に追加

プローブのインデクシング用に異なる元素の比率を変えて作成する粒子を用い、走査型電子顕微鏡でＳＥＭ像を得て容易にその位置と大きさを検出し、さらに、走査型電子顕微鏡で粒子に電子を照射する時に発生する特性Ｘ線をエネルギー分散型特性Ｘ線検出器により元素分析像を得ることで位置と大きさを得る。 - 特許庁

In the standard sample for the microscope used in the calibration or inspection of the microscope having an uneven structure, wherein protrusions having a predetermined height and recessed parts having a predetermined depth are arranged on the surface of a substrate at a predetermined cycle, the cured matter of the hydrolysate of a metal alkoxide or the cured matter of an epoxy resin or an acrylic resin is used as the constituent material of the uneven structure.例文帳に追加

基板表面に所定の高さを有する凸部または所定の深さを有する凹部が所定の周期で配列された凹凸構造を有する顕微鏡の校正または点検に用いる顕微鏡用標準試料において、凹凸構造を構成する材料として金属アルコキシドの加水分解硬化物またはエポキシ樹脂やアクリル樹脂の硬化物を使用する。 - 特許庁

This detection device of the leakage current spot of a semiconductor chip is characterized by being equipped with an application means 13 for applying a material melting by heat and changing the reflection state of light on at least one side of the semiconductor chip 11, an optical microscope 12 for observing the material applied surface of the semiconductor chip 11, and an image processing device 14 electrically connected to the optical microscope 12.例文帳に追加

加熱により溶けて光の反射状態を変化させる物質を、半導体チップ１１の少なくとも片面に塗る塗布手段１３と、前記半導体チップ１１の物質塗布面を観察する光学顕微鏡１２と、この光学顕微鏡１２に電気的に接続された画像処理装置１４とを具備することを特徴とする半導体チップの漏洩電流箇所の検出装置。 - 特許庁

The sample imaging apparatus A is provided with an oscillation detection means for detecting relative vibration between a sample mounted to the microscope and an object lens 3 of the microscope; a means for achieving focal point before oscillations detected by the oscillation detection means converge; and a determination means for determining whether oscillations detected by the oscillation detection means have stopped.例文帳に追加

前記顕微鏡に取り付けられた標本と前記顕微鏡の対物レンズ３との間の相対的な振動を検出する振動検出手段と、この振動検出手段により検出される振動が収束する前に焦点合わせを行う手段と、前記振動検出手段により検出される振動が収束したか否かを判断する判断手段とを備えている。 - 特許庁

This method has a step for allowing focused electron beams to enter a sample and acquiring a convergent electron diffraction image on the sample by using a scanning transmission electron microscope 12, a step for calculating the lattice strain quantity in the sample based on the acquired convergent electron diffraction image, and a step for displaying the calculated lattice strain quantity corresponding to an electron microscope image of the sample.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡１２を用い、収束した電子線を試料に入射させ、試料についての収束電子回折像を取得するステップと、取得された収束電子回折像に基づいて、試料における格子歪み量を算出するステップと、算出された格子歪み量を、試料の電子顕微鏡像に対応させて表示するステップとを有している。 - 特許庁

After the surface of the sample for microscope observation, cut out from a substrate sample, is processed by FIB, the vicinity of the surface of the sample is scanned with a probe 4 of a probe microscope and ground by a mechanical method, electrochemical reaction, or an optical technique, such as oxidization or annealing, to conduct processing of removing ionic elements implanted by ion irradiation.例文帳に追加

基板サンプルより切り出された顕微鏡観察用試料の表面をＦＩＢによって加工処理した後、試料の表面近傍をプローブ顕微鏡探針４を走査して機械的方法、電気化学的反応、あるいは酸化、アニーリングといった光学的手法によって研磨することによりイオン照射によって打ち込まれたイオン元素を除去する加工を行うものである。 - 特許庁

The observation device used in observing a sample comprises a moving stage rotatable around a first axis of rotation, on which the sample is placed, a first microscope for observing the sample in case the first axis of rotation is at a first angle of rotation and a second microscope for observing the sample in case the first axis of rotation is at a second angle of rotation.例文帳に追加

試料を観察する観察装置において、第１の回転軸を中心に回転可能であり、前記試料を載置する移動ステージと、前記第１の回転軸が第１の回転角度の場合に、前記試料を観察する第１の顕微鏡と、前記第１の回転軸が第２の回転角度の場合に、前記試料を観察する第２の顕微鏡とを有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an automatic focus detecting method capable of always detecting a high-precision focus even on an object image to be processed which has a step and is composed of a complicated pattern in a device which performs image processing such as size measurement by using a combination of a microscope and an imaging device which picks up a light image of an object formed by the microscope.例文帳に追加

顕微鏡とこれにより形成され被写体の光像を撮像する撮像装置とを組み合わせ、寸法測定等の画像処理を行う装置において、段差があり、複雑なパタ−ンで構成される被写体像でも、常に、処理対象となる被写体像に対して高精度の焦点を検出することができる自動焦点検出方法を提供する。 - 特許庁

To realize a detection optical path made as short as possible by the assist of a structurally simple means concerning the design of a microscope, especially, a confocal scanning type microscope having a light source for irradiating an object to be inspected, a spectroscopic device for separating transmitted light passing through the object and fluorescence formed by the object and a separating device acting on the transmitted light.例文帳に追加

検査される対象物を照射するための光源と、対象物を通過する透過光および対象物で形成される蛍光を分離するための分光装置と、透過光に作用する分離装置とを有する特に共焦点走査型顕微鏡のための顕微鏡設計に関し、できる限り短い検出光経路が、構造的に簡素な手段の助けによって実現される。 - 特許庁

When a sample to be cut and separated is in the outside of a predetermined collection radius of the system, in order to raise the system and move the center of the sample to be cut and divided from the optical axis of the microscope, the slide is moved to a predetermined position in parallel with the optical axis of the microscope.例文帳に追加

次に切り分ける標本が粘着性採集装置の所定の採集半径の外側にある場合は、粘着性採集装置を上昇させ切り分ける標本の中心を顕微鏡の光軸から外すためにスライドを顕微鏡の光軸に対して所定位置まで平行移動させ、粘着性採集装置を試料上まで下降させ、次の１つ以上の標本を切り分ける。 - 特許庁

To optically connect light from a re-imaging area to a light receiving surface of a photodetector with no light protruded therefrom without using a photodetector having a large light receiving surface, when a confocal volume is enlarged for measuring a sample solution with a low emitting particle concentration in an optical analysis technique using an optical system of a confocal microscope or a multiphoton microscope.例文帳に追加

共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系を用いた光分析技術に於いて、発光粒子濃度の低い試料溶液の計測のために、コンフォーカル・ボリュームを拡大した場合に、大きな受光面を有する光検出器を用いることなく、再結像領域からの光線がはみ出さずに光検出器受光面まで光学的に連結されるようにすること。 - 特許庁

The mask pattern correction method includes the steps of: acquiring three-dimensional information of a first portion where no black defect is present in a pattern edge of a mask pattern 5 by using a scanning probe microscope; and correcting a second portion where a black defect 2 is present in the pattern edge of the mask pattern 1 based on the three-dimensional information by using the probe of the scanning probe microscope.例文帳に追加

マスクパターン修正方法は、マスクパターン５のパターンエッジに黒欠陥が存在しない第１の部分の３次元情報を走査型プローブ顕微鏡を用いて取得するステップと、前記３次元情報に基づいてマスクパターン１のパターンエッジに黒欠陥２が存在する第２の部分を前記走査型プローブ顕微鏡のプローブを用いて修正を行うステップとを含む。 - 特許庁

The light-shielding device 7 for the microscope includes a first light-shielding part 16 having an opening abutting on the entire periphery of the leading end of the optical member 9, located nearest the stage side of the imaging optical system of the microscope 1 or nearest the stage side of the illuminating optical system thereof, and the light-shielding device 7 prevents external light from being incident on a specimen 3.例文帳に追加

顕微鏡１における結像光学系中の最もステージ側に位置する光学部材９、又は照明光学系中の最もステージ側に位置する光学部材の先端の外周全体に当接する開口部が形成された第１遮光部１６を有し、外部からの光が試料３へ入射することを防ぐことを特徴とする顕微鏡用遮光装置７。 - 特許庁

To provide a position analyzing method which enhances the frame rate of an image reader and prevents the calculation precision of a position from decreasing when the position of fluorescent particles or the like smaller than a diffraction limit is calculated using the image data acquired by an optical microscope using an image data acquired by an optical microscope using the image reader for reading an image using a plurality of line sensors or area sensors subjected to binning operation.例文帳に追加

ビニング動作する複数のラインセンサ、あるいは、エリアセンサを用いて画像を読み取る画像読取装置を用いて、光学顕微鏡により取得された画像情報を使用して、回折限界より小さな蛍光粒子等の位置を計算する際に、画像読取装置のフレームレートを向上させ、さらに位置の計算精度を低下させることのない解析方法を提供する。 - 特許庁

In order to solve the problems, the standard position of a measuring spot by a scanning electron microscope or the like is set based on position information of a standard pattern on an image acquired by the scanning electron microscope or the like, which is formed on a position separated from the measuring spot, and on information of a position relation between the standard pattern detected based on the design data and the measuring spot.例文帳に追加

上述のような問題を解決するため、測定個所から離間した位置に形成され、走査電子顕微鏡等によって得られる画像上の基準パターンの位置情報と、設計データに基づいて検出される基準パターンと測定個所の位置関係の情報に基づいて、走査電子顕微鏡等による測定個所の基準位置を設定する。 - 特許庁

The sample imaging apparatus 1 includes: a microscope unit 2 for imaging a blood smear including a stained hemocyte cell for acquiring a hemocyte image relating to a blood cell included in the blood smear; and an image processing unit 3 for detecting an abnormality relating to staining of the blood smear, based on the hemocyte image obtained by the microscope unit 2.例文帳に追加

標本撮像装置１は、染色された血球細胞を含む血液塗抹標本を撮像し、血液塗抹標本に含まれる血液細胞に関する血球画像を取得する顕微鏡ユニット２と、顕微鏡ユニット２により得られる血球画像に基づいて、血液塗抹標本の染色に関する異常を検出する画像処理ユニット３と、を備える。 - 特許庁

The gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by an electric field generated by a voltage applied on a conductive probe of a submerged scanning probe microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by a high electric field enhanced at the top of the probe by irradiating a conductive probe of a submerge scanning probe microscope with laser light.例文帳に追加

ガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針に電圧印加して電界または液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針にレーザを照射して針先で増強された高電界により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁

In this length measuring method by the scanning electron microscope, the scanning electron microscope is auto-focused with a measuring point, using an output from a sensor for detecting a distance from an objective lens to the sample, and a change of a sample signal emitted from the sample is monitored while changing an excitation current of the objective lens, to detect the excitation current ΔIobj of the objective lens corresponding to a focus shift.例文帳に追加

本発明の走査形電子顕微鏡による測長方法は、対物レンズから試料までの距離を検出するセンサの出力を用いて走査形電子顕微鏡を測定ポイントにオートフォーカスさせ、対物レンズの励磁電流を変化させながら試料から放出された試料信号の変化をモニターしてフォーカスずれに相当する対物レンズの励磁電流ΔIobjを検出する。 - 特許庁

To provide a microscope objective lens with a socket type frame for position correction which is applicable by being combined with various cover glasses and/or various liquid immersion liquid and/or at various working temperature, which can be moved in an axial direction, which can be used instead of a compression spring used for the microscope objective lens and other objective lens and further which can remove a defect of the spring.例文帳に追加

様々なカバーガラスおよび/または様々な液浸液と組み合わせて、および/または様々な作業温度において適用可能な軸方向に移動でき、顕微鏡対物レンズおよびその他の対物レンズに使用される圧縮バネの代わりになり、しかもバネの欠点を取り除くことができる位置修正用ソケット型フレームの付いた顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

This scanning type probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 opposed to a sample 12, a measuring part (optical lever type optical microscope and feedback servo control loop) for measuring interatomic force or the like generated between the probe and the sample when the probe scans a surface of the sample, and a moving mechanism for varying relatively positions of the probe and the sample to conduct a scanning operation.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対向する探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（光てこ式光学顕微鏡やフィードバックサーボ制御ループ）、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構を備える。 - 特許庁

To accurately observe a surface of a signal recording tape by a microscope, in the state that cupping of the signal recording tape in a breadthwise direction is suppressed without requiring the cut-off of the signal recording tape.例文帳に追加

信号記録用テープを切断する必要なく信号記録用テープの幅方向のカッピングを抑制した状態で顕微鏡によって信号記録用テープ表面を高精度に観察する。 - 特許庁

Accordingly, in the case of for example, the TIS measurement of the alignment microscope, it is not necessary to conduct a complicated work of removing the substrate rotating the substrate and then to re-mount the substrate on the holder.例文帳に追加

従って、例えば、アライメント顕微鏡のＴＩＳ計測に際して、基板を取り外し、基板を回転させた後基板ホルダ上へ再度載置するという面倒な作業を行う必要がなくなる。 - 特許庁

To provide a microscope for surgery adequate for an operator to carry out surgery by disposing a preposing lens in the anterior portion of the eye to be operated and holding surgical appliances on both hands while illumination the interior of the eye by microscopic illumination.例文帳に追加

被手術眼の前部に前置レンズを配設して眼内を顕微鏡照明により照明しつつ両手に手術器具を持って手術を行うのに好適な手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁

When the optical fiber 11 is positioned with respect to the light receiving part 7, the tip end surface of the optical fiber 11 is adjusted to fall within a range S in a contour 23 of the positioning pattern 21 under a microscope.例文帳に追加

光ファイバ１１を受光部７に位置合わせする場合は、顕微鏡下において、光ファイバ１１の先端面を位置決めパターン２１の輪郭２３内の範囲Ｓに合わせて設置する。 - 特許庁

To provide an intermediate lens barrel, in/from which an optical element having prescribed spectral transmittance can be attached/detached as an intermediate lens barrel connecting an electronic imaging unit and an optical device, such as a microscope.例文帳に追加

電子撮像装置と顕微鏡等の光学装置とを接続する中間鏡筒であって、所定の分光透過率を有する光学素子を挿脱可能とした中間鏡筒を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for controlling and monitoring a position of a holding element which is provided to hold a sample to be examined, in particular by a beam device such as an electron microscope.例文帳に追加

とくには電子顕微鏡などのビーム装置によって検査される試料を保持するために設けられた保持部材の位置を制御および監視するための方法および装置を提供する。 - 特許庁

As a result, the scanning electron microscope image of a sample 4 is displayed on the screen of a cathode-ray tube 17, and the X-axis bright line and the Y-axis bright line showing the moving direction of the sample 4 are displayed.例文帳に追加

この結果、陰極線管１７の画面上には、試料４の走査電子顕微鏡像が表示されると共に、試料４の移動方向を示すＸ軸輝線、Ｙ軸輝線が表示される。 - 特許庁

To provide a microscope capable of imaging an object to be imaged which is too large to be held in field, with high resolution at a high speed in order to form a virtual slide image, and to provide an image acquiring system.例文帳に追加

バーチャルスライド画像を作成するために、視野内に収まらない大きな撮像対象を高解像度で高速に撮像することが可能な顕微鏡、及び画像取得システムを提供する。 - 特許庁

This confocal optical microscope 100 has an excitation optical system for irradiating a sample with excitation light, and the system is constituted of an excitation light source 101, a dichroic mirror 106 and an objective lens 107.例文帳に追加

共焦点光学顕微鏡１００は励起光を試料に照射する励起光学系を有し、それは励起用光源１０１とダイクロイックミラー１０６と対物レンズ１０７とから構成される。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD AND DEVICE FOR NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR FIELD LIGHT FINE PROCESSING DEVICE AND NEAR FIELD OPTICAL RECORD PLAYBACK DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブの作製方法と近接場光プローブの作製装置、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁

To solve the point at issue that the feedback of a scanning probe microscope responds to the resonance frequency of a tube scanner to exert an effect on a measuring image as noise.例文帳に追加

本発明が解決しようとする問題点は、チューブスキャナの共振周波数に走査形プローブ顕微鏡のフィードバックが応答し、測定画像にノイズとして影響してしまうという点である。 - 特許庁

To provide a sample preparation device for a microscope capable of preventing a sample observation surface from being deformed or damaged, and preventing a load of an exhaust system for exhausting the vacuum chamber inside from being increased.例文帳に追加

試料の観察表面が変形したり、ダメージを受けたりせず、真空チャンバ内を排気する排気装置の負荷が増大しない顕微鏡用試料作成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an electron scanning microscope equipped with a function for making an object point 33 at a prescribed position even in an electro-optical condition in which precise control of an object point position of an objective lens 11 becomes difficult.例文帳に追加

対物レンズ１１の物点位置の正確な制御が難しくなるような電子光学条件においても、規定位置に物点３３を作るための機能を備えた走査電子顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a confocal microscope capable of imaging a clear two-dimensional image and a three-dimensional image as the whole image, even when a high-brightness or low-brightness portion exists locally in an imaging domain.例文帳に追加

撮像領域内に局所的に高輝度又は低輝度の部位が存在しても、画像全体として鮮明な２次元画像及び３次元画像を撮像できる共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁

In a method for operating a charged-particle microscope, a first image of a first region of an object is recorded by a first setting, and a second image of a second region is recorded by a second setting.例文帳に追加

荷電粒子顕微鏡を操作する方法であって、第１設定で対象物の第１領域の第１画像を記録し、第２設定で対象物の第２領域の第２画像を記録する。 - 特許庁

To provide a scanning optical microscope using a wavefront conversion element which is less deteriorated in abaxial performance, is simple in a method of controlling the wavefront conversion element and is simple in the constitution of a pupil relay optical system or does not require the same.例文帳に追加

軸外での性能劣化が少なく、波面変換素子の制御方法が簡単で、瞳リレー光学系の構成が簡単か不要な波面変換素子を用いた走査型光学顕微鏡 - 特許庁

To provide a microscope apparatus designed so that one part of a light shield body can be opened/closed by a simple operation, and a specimen can be easily replaced while the one part of the light shield is kept open, and the specimen can be easily viewed from above.例文帳に追加

簡易な操作で遮光体の一部を開閉することができ、遮光体の一部を開放した状態で標本の交換と上方からの視認とを容易に行うことができること。 - 特許庁

To make preheating time shorter and a temperature controls space smaller in order to facilitate the observation of the viable cells held at a temperature at which the cells are desired to be observed with a microscope placed within a room of ordinary temperature.例文帳に追加

常温の室内に置かれた顕微鏡で、観察したい温度に保持された生細胞を容易に観察できるようにするには予熱時間の短縮、温度制御空間の縮小が課題である。 - 特許庁

To provide a microscope device which easily keeps a photodetector and a surface of a glass slide in a parallel state even when dimension in a longitudinal direction of the photodetector is made large, and is accurately focused.例文帳に追加

受光部の長手方向の寸法を大きくした場合であっても、容易に受光部とスライドガラスの面を平行状態に保つことが可能であり、精度よく合焦できる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

When each inspecting microscope unit 55 carries out an inspection using an incident light illumination, respective objective lenses are arranged such that their optical axes coincide with each other, thereby inspections of the front and the backside of the same portion can be carried out simultaneously.例文帳に追加

各検査用顕微鏡ユニット５５が落射照明で検査をするときは、各々の対物レンズを光軸が一致するように配置すれば、同一箇所の表面と裏面の検査を同時に行える。 - 特許庁

To provide a scanning microscope which allows measurement of movements of the object, in particular both movements, which run essentially perpendicular to the measuring beam and which essentially run parallel to the measuring beam.例文帳に追加

物体の運動とくに測定光線に対して実質的に垂直な運動ならびに測定光線と実質的に平行な運動のいずれもが測定される走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The aluminum support shows a surface area ratio ΔS of not less than 5% calculated by formula (I) based on three-dimensional data measured using an interatomic force microscope (AFM) and not higher than 20% steepness a45.例文帳に追加

ここで、ΔＳ^5(0.02-0.2)は、原子間力顕微鏡を用いて得られる３次元データから、波長０．０２〜０．２μｍの成分を抽出して求めた値であり、ΔＳ^5は以下の式（Ｉ）より算出した値である。 - 特許庁

To provide a pattern inspection method, extracting an edge shape of a pattern from an image obtained by a scanning type microscope, and estimating the electric performance of a device from the extracted information to inspect the pattern.例文帳に追加

走査型顕微鏡で得られる画像からパターンのエッジ形状を抽出し、その抽出情報からデバイスの電気的性能を予測し、パターンを検査するパターン検査方法を提供する。 - 特許庁

The X-ray microscope 1 is equipped with: an X-ray source 10 emitting an X-ray; an oblique incidence mirror for illumination 20; an oblique incidence mirror for image formation 30; an X-ray detector 40; and a moving means 50.例文帳に追加

Ｘ線顕微鏡１は、Ｘ線を発するＸ線源１０、照明用斜入射ミラー２０、結像用斜入射ミラー３０、Ｘ線検出器４０及び移動手段５０を備えている。 - 特許庁

Accordingly, the movement within the horizontal plane of the X-Y stage is performed by the rotational control around the straight line in the perpendicular direction in the same manner as in the movement of the stage of the conventional manual microscope.例文帳に追加

したがって、Ｘ−Ｙステージの水平面内の移動は、従来のマニュアル式顕微鏡におけるステージの移動と同様に、垂直方向の直線の周りの回転操作によって行われる。 - 特許庁