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n layerの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 6825



例文

An inter-layer insulation film 14 is formed, and a group electrodes G1 of having a plurality of electrodes 15 are formed in the n-type region 12, and a group electrodes G2 having a plurality of electrodes 16 are formed in the n-type region 13 via a plurality of open holes.例文帳に追加

層間の絶縁膜14が形成され、複数の開孔を介してN型領域12上に複数の電極15を有する電極群G1、N型領域13上に複数の電極16を有する電極群G2が形成されている。 - 特許庁

If the number of layers N is an odd number, the wiring track which is N-th or less, while being odd numbered from that of the fourth wiring layer 14 corresponding to the real terminal 21 is taken as an optimum candidate track, where a virtual terminal 31 connected to the real terminal 21 is to be arranged.例文帳に追加

層数Nが奇数であれば、実端子21に対応する第4配線層14の配線トラックからN本以内で且つ奇数番目の配線トラックを実端子21と接続する仮想端子31を配置すべき最適候補トラックする。 - 特許庁

The refraction index n of the first translucent substrate 11 and the second translucent substrate 12 is made 1.73<n<2.0 (at d line), the incident angle α is made 61°≤α≤82°, and the film thickness t of the bonding layer 14 is made 15nm≤t<60nm.例文帳に追加

第一透光性基材11及び第二透光性基材12の屈折率nを、1.73<n<2.0(d線における)とし、入射角αを、61°≦α≦82°に設定し、接合層14の膜厚tを、15nm≦t<60nmとした。 - 特許庁

To enlarge the area of pn junction interface by preventing the short circuit between an n-electrode and a p-type nitride semiconductor layer and reducing the area of occupation of the n-electrode, in a pn junction type nitride semiconductor element made on an insulating substrate.例文帳に追加

絶縁基板上に形成されたpn接合型窒化物半導体素子において、n電極とp型窒化物半導体層の短絡を防止すると共にn電極の占有面積を減少することにより、pn接合界面の面積を広げる。 - 特許庁

例文

And, by applying the ion implantation method using the ring-shaped gate electrode 35 as a mask, arsenic is injected with high concentration into the surface n^+ layer 90 and the p^+ type region 89 through the LDD side spacer 91 to form an n^+ type source region 36.例文帳に追加

そして、リング状ゲート電極35をマスクとしたイオン注入法を適用して、LDDサイドスペーサ91を通して表面n^+層90及びp^+型領域89内にひ素を高濃度で注入し、n^+型のソース領域36を形成する。 - 特許庁


例文

An nMOS transistor comprises the gate electrode 5, formed on the semiconductor substrate 1 via the gate insulating film 4, and an n-type extension layer which contains n-type impurities and is formed on the semiconductor substrate 1 on both sides of the gate electrode 5.例文帳に追加

nMOSトランジスタは、半導体基板1上にゲート絶縁膜4を介して形成されたゲート電極5と、ゲート電極5の両側における半導体基板1上に形成され、n型不純物を含有するn型エクステンション層とを有する。 - 特許庁

Various kinds of semiconductor layers forming an APD on the surface of a light transmissive n-type semiconductor substrate 20 are laminated upto a light absorbing layer (S1), and n-type semiconductor substrate 20 is polished on the back, and is then provided with reflection reducing coating (S2).例文帳に追加

光透過性のn形半導体基板20の表面にAPD10を構成する各種の半導体層を積層して光吸収層まで形成し(S1)、n形半導体基板20の裏面を研磨してから減反射コートを施す(S2)。 - 特許庁

On a n-type ZnO bulk single crystal substrate 10 formed into low resistance by doping a donor impurity, as a p-type layer 11, a semiconductor thin film composed of a ZnO-based compound, in which nitrogen is doped, is formed to make a p-n junction.例文帳に追加

ドナー不純物のドーピングによって低抵抗化したn形ZnOバルク単結晶基板10上に、p形層11として窒素をドープしたZnO系化合物からなる半導体薄膜を形成してpn接合させている。 - 特許庁

Thereby, the p^+ type layer 6 and a p type base region 3 are prevented from punching through under the n^+ type source region 4, and the withstand voltage between the drain and the source is secured regardless of the depth of the n^+ type source region 4.例文帳に追加

このため、n^+型ソース領域4の下方においてp^+型層6およびp型ベース領域3がパンチスルーしてしまうことを防止でき、n^+型ソース領域4の深さに関係なくドレイン−ソース間の耐圧を確保することが可能となる。 - 特許庁

例文

This electron emitter material is a pyramid shape structural body of which the surface is covered by a CN layer of around several nanometers obtained by controlling H/N radical density ratio and substrate temperature and by etching an organic material by N-H series plasma.例文帳に追加

H/Nラジカル密度比と基板温度を制御して、有機材料をN−H系プラズマでエッチングして得られる、表面が数nm程度のCN層で覆われたピラミッド状の構造体であることを特徴とする電子放出素子材料。 - 特許庁

例文

Then, an N+-type embedded layer 61 is formed in a second island region 53 to form therein a C-MOS transistor 42, and thereby the noise generated from an N-channel MOS transistor is blocked so as to prevent adverse effects given to an NPN transistor.例文帳に追加

そして、C−MOSトランジスタ42が形成される第2の島領域53にN^+型埋め込み層61が形成されることで、NチャンネルMOSトランジスタから発生するノイズをブロックしNPNトランジスタへの悪影響を防止することができる。 - 特許庁

On the n-type GaN substrate formed with the growth suppression film 13, a GaN crystal is epitaxially grown to form a nitride semiconductor layer on the n-type GaN substrate, resulting on fabricating a nitride semiconductor laser device having a low concentration of crystal defects.例文帳に追加

このように成長抑制膜13が形成されたn型GaN基板10上にGaN結晶をエピタキシャル成長させて窒化物半導体層を積層することで、結晶欠陥密度の低い窒化物半導体レーザ素子を製造する。 - 特許庁

The patch preparation includes an adhesive layer which contains (-)-(R)-N,α-dimethyl-N-2-propynylphenethylamine and/or a pharmaceutically acceptable salt thereof; a self-adhesive; an antioxidant; and a metal hydroxide, and is formed on at least one surface of a support.例文帳に追加

(−)−(R)−N,α−ジメチル−N−2−プロピニルフェネチルアミン及び/又はその薬学的に許容し得る塩、粘着剤、抗酸化剤、及び金属水酸化物を含む粘着剤層が支持体の少なくとも片面に形成されてなる貼付製剤。 - 特許庁

Finally, a TFT(thin-film transistor) is manufactured by forming an island-like silicon film by performing patterning through the use of the crystalline silicon film 304 as an active layer and forming a gate electrode on the island-like silicon film, and then implanting an N-type impurity into the crystalline island-like silicon film by an ion doping method.例文帳に追加

この結晶性珪素膜を活性層とし、パターニングし島上珪素膜を作製しこの上にゲート電極をつけ、前記結晶性を有する島状珪素膜にイオンドーピング法でN型不純物をいれTFTを作製した。 - 特許庁

Moreover, by incorporating 0.0003 to 0.0050% B, ≤0.030% Ti, ≤0.0050% N and 0.03≤B/(Ti/3.43-N)≤5.0, by an ordinary steel wire producing method, the amt. of ferrite in the surface layer part can be controlled to ≤0.40%.例文帳に追加

さらに、B:0.0003〜0.0050%、Ti:0.030%以下、N:0.0050%以下、0.03≦B/(Ti/3.43−N)≦5.0を含有させることで、通常の鋼線製造方法により表層部のフェライト量を0.40%以下にすることができる。 - 特許庁

When a recognition target molecule in drinking water is caught by a mold section of a thin-film-like recognition material 33, the capacitance of an organic compound layer of the n-Si substrate 32 varies, and this appears as variation in bias voltage between the electrodes 34 and 35.例文帳に追加

そして、試料水中の認識対象分子が薄膜状認識材料33の鋳型部に捕捉されると、n-Si基板32の有機化合物層の静電容量が変化し、これが電極34,35間のバイアス電圧の変化となって現れる。 - 特許庁

By pulling out the rolled flexible metal layer in a long length shape, forming resist 16 on it, and successively performing exposure through a photomask 20, a first shot S1 to an n-th (n is an integer ≥2) shot Sn are formed on the resist 16.例文帳に追加

ロール状のフレキシブル金属層を長尺状に引き出し、その上にレジスト16を形成し、フォトマスク20を介して順次露光することにより、レジスト16に第1ショット部S1から第n(nは2以上の整数)ショット部Snまでを形成する。 - 特許庁

An N-type first semiconductor layer 12 is formed on an inner surface of a first recess part 11c of an N-type semiconductor substrate 11 so as to generate a second recess part 51a being smaller than the first recess part; and has a lower first impurity concentration than that of the semiconductor substrate 11.例文帳に追加

N型第1半導体層12はN型半導体基板11の第1凹部11cの内面にそれより小さい第2凹部51aを生じるように形成され、半導体基板11より低い第1不純物濃度を有する。 - 特許庁

This photoconductive imaging member has the light-generating layer, containing a mixture of (2) an electron acceptor component and (1) 1,3-bis(n-pentylimidoperylenimido)propane, 1,3-bis(2-methylbutylimidoperylenimido) propane and 1-(n-pentylimidoperylenimido)-3-(2-methylbutylimidoperylenimido) propane.例文帳に追加

(1)1,3-ビス(n-ペンチルイミドペリレンイミド)プロパン、1,3-ビス(2-メチルブチルイミドペリレンイミド)プロパン及び1-(n-ペンチルイミドペリレンイミド)-3-(2-メチルブチルイミドペリレンイミド)プロパンと、(2)電子受容体成分との混合物を含む光発生層を含んでなる光伝導イメージング部材。 - 特許庁

In a selective growth method, n+ contact regions 8 and 9 in ohmic contact with a source electrode and a drain electrode, respectively, and an n- region 10 called a reduced surface field layer (reduced surface field region) aiming at relaxation of electric field concentration, are respectively formed.例文帳に追加

ソース電極,ドレイン電極とそれぞれオーミック接触するn^+コンタクト領域8,9、および電界集中の緩和を目的としたリサーフ層(リサーフ領域)と呼ばれるn^-領域10を、それぞれ選択成長法によって形成する。 - 特許庁

N-type first and second electrode diffusion layers 221 and 222 and a p-type third electrode diffusion layer 23 are formed in the same step as that at the time, when an n-channel or p-channel MOSFET source/drain region is formed.例文帳に追加

Nチャネル型やPチャネル型のMOSFETのソース/ドレイン領域の形成時と同一の工程でN型の第1電極用拡散層221及び第2電極用拡散層222、P型の第3電極用拡散層23を形成する。 - 特許庁

Related to an invalid imaging region 100B, the N- type photoelectric conversion region 134 and the P+ type impurity region 136 which constitute the photodiode 112 are formed, with no N- type impurity region 132 formed on the P- type well layer 130.例文帳に追加

また、無効撮像領域100Bでは、P型ウエル層130の上にN−型不純物領域132を形成することなく、フォトダイオード部112を構成するN型光電変換領域134とP+型不純物領域136を形成する。 - 特許庁

In a structure of the lateral double diffusion MOS transistor formed on a p-type semiconductor substrate 7, a high concentration p-type diffusion layer 10 serving as an electrode of a low concentration p-type well layer 11 is formed in contact with a high concentration n-type diffusion layer 9 serving as a source region.例文帳に追加

p型半導体基板上7に形成された横型二重拡散MOSトランジスタを構成において、ソース領域となる高濃度n型拡散層9に接するように、低濃度p型ウエル層11の電極となる高濃度p型拡散層10を形成する。 - 特許庁

In the substrate for organic EL display having an insulating layer, discharge of a substance originating in this insulating layer material by heating at the decomposition temperature -20°C or less of the insulating layer material is detected of S/N ratio smaller than 3/1 in the mass spectrometry detection.例文帳に追加

絶縁層を有する有機ELディスプレイ用基板において、前記絶縁層材料の分解温度−20℃以下の加熱による該絶縁層材料に由来する物質の放出が、質量分析検出にてS/N比が3/1より小さく検出される有機ELディスプレイ用基板。 - 特許庁

A lateral PNP transistor is formed in such a manner that an emitter diffused layer 14 having a p-type impurity and a collector diffused layer 13 having a p-type impurity are arranged via an n^--type epitaxial layer 12 of a base region in a planar inward direction of a semiconductor substrate (p^--type substrate 10).例文帳に追加

p型不純物を有するエミッタ拡散層14と、p型不純物を有するコレクタ拡散層13とが半導体基板(p^−型基板10)の面内方向にベース領域であるn^−型エピタキシャル層12を介して配設されてなる横型PNPトランジスタを形成する。 - 特許庁

Since the active layer is formed in the p-type semiconductor and the n-type semiconductor is formed on the active layer, a region by the side of a lower layer which is a region in which good quantum dot is formed among the active layers becomes a region nearer at the p-type semiconductor of the active layers.例文帳に追加

p形半導体に活性層が形成されており、活性層上にn形半導体が形成されているため、活性層のうちで良質な量子ドットが形成される領域である下層側の領域は、活性層のうちのp形半導体に近い領域となる。 - 特許庁

The semiconductor device, having the vertical PNP bipolar transistor, formed in a prescribed element area on a semiconductor substrate, is provided with a high-density embedded N+layer 3 formed in the prescribed element region and a P-type collector layer 5, formed on the layer 3 in close contact.例文帳に追加

半導体基板上の所定の素子領域に縦型PNPバイポーラトランジスタが形成された半導体装置であって、所定の素子領域に形成された高濃度の埋め込みN+層3と、埋め込みN+層3上に密着して形成されたP型のコレクタ層5とを備える。 - 特許庁

The manufacturing method of a nitride semiconductor device has a step, in which a first nitride semiconductor layer 17 and a second nitride semiconductor layer 18 having a Fermi level larger than that of the first nitride semiconductor layer 17, as well as, containing an n-type impurity are formed on a substrate 11 sequentially from the substrate 11 side.例文帳に追加

窒化物半導体装置の製造方法は、基板11の上に、第1の窒化物半導体層17と該第1の窒化物半導体層17と比べてフェルミ準位が大きく且つn型不純物を含む第2の窒化物半導体層18とを基板11側から順次形成する。 - 特許庁

An n-type light-transmitting buffer layer 140 pn-joined to the optical absorption layer 130 is stacked and formed on a p-type conductive optical absorption layer 130 by a compound in a chalcopyrite structure stacked over a pair of back electrode layers 120 on one surface of a glass substrate 110.例文帳に追加

ガラス基板110の一面に設けた対をなす裏面電極層120に亘ってカルコパイライト構造の化合物にて導電性を有するp型の光吸収層130に、光吸収層130とpn接合する透光性でn型のバッファ層140を積層形成する。 - 特許庁

A lower mirror layer 14 having a p-type AlGaAs system DBR structure, an active layer 24 having a GaAs/AlGaAs system MQW structure, and an upper mirror layer 28 having an n-type AlGaAs system DBR structure are formed on a p-type GaAs substrate 12 to constitute a vertical resonator.例文帳に追加

p−GaAs基板12上に、p−AlGaAs系のDBR構造の下部ミラー層14、GaAs/AlGaAs系のMQW構造の活性層24、及びn−AlGaAs系のDBR構造の上部ミラー層28等が積層され、垂直共振器を構成している。 - 特許庁

Then, an n+ type channel stopper layer 4 having impurity density higher than that of the semiconductor substrate and a trench part 10 arranged so that the periphery of each p type semiconductor layer 3 can be roughly surrounded, and extended from the channel stopper layer 4 to the back face 2u side are arranged on one face side of the semiconductor substrate 2.例文帳に追加

半導体基板2の一面側には、半導体基板よりも高い不純物濃度を有するn+型のチャンネルストッパ層4と、各p型半導体層3の周囲を概略囲むように設けられており、チャンネルストッパ層4よりも裏面2u側に延びるトレンチ部10とが設けられている。 - 特許庁

After the gate electrode 3 of the transfer transistor is formed on a p-type silicon substrate 1, the p-type ion-implanted layer 4 of the photodiode is formed and, in addition, the n-type ion-implanted layer 5 of the photodiode and the threshold controlling ion-implanted layer 6 of the transfer transistor are formed simultaneously.例文帳に追加

p型シリコン基板1上に転送トランジスタのゲート電極3を形成後に、フォトダイオードのp型イオン注入層4を形成し、さらにフォトダイオードのn型イオン注入層5と転送トランジスタのしきい値制御イオン注入層6とを同時にイオン注入により形成する。 - 特許庁

The antireflection film comprises a laminate of an Y2O3 film and a layer composed of a material having refractive index of √(ns) where ns is the refractive index of GaAs and a layer having refractive index of ns/n above where is the refractive index of that layer, or a laminate of a Ge film and a ZnS film.例文帳に追加

反射防止膜としては、Y_2O_3膜、GaAsの屈折率をn_sとして屈折率が√(n_s)より小さい材料よりなる層と、この層の屈折率をnとして屈折率がn_s/nよりも大きい層との積層膜、又は、Ge膜とZnS膜との積層膜を適用する。 - 特許庁

This vertical structure semiconductor light emitting device according to the present invention comprises an Si-Al alloy substrate; and a p-type semiconductor layer comprising compounds of elements belonging to the III-V Groups, an activated layer and an n-type semiconductor layer comprising compounds of elements belonging to the III-V Groups, which are sequentially laminated on the Si-Al alloy substrate.例文帳に追加

本発明による垂直構造半導体発光素子は、Si−Al合金基板と、上記Si−Al合金基板上に順次積層されているp型III−V族化合物半導体層、活性層及びn型III−V族化合物半導体層を含む。 - 特許庁

Consequently, when the data are recorded to the respective recording layers, laser light do not pass through a recording layer where data recording is already performed and after the recording completed, the head to the tail of the data stream are recorded from the 1st layer to the (n)th layer.例文帳に追加

これにより各記録層における記録時に、レーザ光が既にデータ記録が行われた記録層を通過することがないようにするとともに、記録完了後においては、データストリームの先頭から終端が、第1層から第n層に向かって記録されている状態となるようにする。 - 特許庁

A back electrode 14 is formed on the second principal surface 20b such that it has contact with both the p-type collector area 9 and the n-type cathode region 10, and has a titanium layer 11, a nickel layer 12 and a gold layer 13 laminated in turn from the side of the second principal surface 20b.例文帳に追加

裏面電極14は、p型コレクタ領域9およびn型カソード領域10との双方に接するように第2主面20b上に形成され、かつ第2主面20b側から順に積層されたチタン層11、ニッケル層12および金層13を有している。 - 特許庁

In the light-emitting diode having an n-type semiconductor layer, an active layer consisting of thirty or fewer of quantum well layers, and a p-type semiconductor layer as a semiconductor multilayer structure on a substrate, a flat portion and a plurality of holes are formed on the surface of the semiconductor multilayer structure.例文帳に追加

基板上に少なくともn型半導体層、30層以下の量子井戸層から成る活性層、p型半導体層を半導体積層構造として有する発光ダイオードにおいて、半導体積層構造の表面に平坦部分と複数の穴を形成する。 - 特許庁

A laser chip 21 comprises a clad layer 23, an active layer 24, a clad layers 25 and a cap layer 26 or laminated on an n-type GaAs substrate 22, a top electrode 29 formed thereon via a strip-like perforated insulation film 27 and a bottom electrode 30 on the bottom surface.例文帳に追加

レーザチップ21は、n型GaAs基板22上にクラッド層23,活性層24,クラッド相25,キャップ層26を順次積層形成し、この上にストライプ状に開口した絶縁膜27を介して上部電極29を形成すると共に、下面に下部電極30を形成する。 - 特許庁

A conductive composition contains a vehicle consisting of silver powder, lead-free glass powder containing Bi_2O_3, B_2O_3, ZnO and an alkaline earth metal oxide, and an organic, and forms the electrode 13 passing through a silicon nitride layer 11 to conduct with an n-type semiconductor layer 12 formed under the silicon nitride layer 11.例文帳に追加

導電性組成物は、銀粉末と、Bi_2O_3,B_2O_3,ZnO及びアルカリ土類金属酸化物を含む無鉛ガラス粉末と、有機物からなるビヒクルとを含み、窒化ケイ素層11を貫通して窒化ケイ素層11の下に形成されたn型半導体層12と導通する電極13を形成する。 - 特許庁

A light-emitting element 100 has a separate formation of LED structures, each composed of laminated semiconductor layers of an n-type semiconductor layer (LED structure) 20, an active layer (not shown) and a p-type semiconductor layer 3, respectively disposed in the vicinity of corners on one diagonal of a rectangular-shaped substrate 1.例文帳に追加

発光素子100は、矩形状の基板1の一方の対角線上の角部近傍それぞれに、n型半導体層(LED構造)20、活性層(不図示)及びp型半導体層3を積層した半導体層で構成されるLED構造を分離して形成してある。 - 特許庁

The pressure-sensitive adhesive sheet includes a substrate layer including a film which contains at least a urethane polymer, and a pressure-sensitive adhesive layer disposed on at least one side of the substrate layer, in which the pressure-sensitive adhesive sheet has residual stress of 23 N/cm or lower after having been held in a 10% elongated state for 60 seconds.例文帳に追加

粘着シートは、少なくともウレタンポリマーを含有するフィルムを備えた基材層と、少なくとも片面に粘着剤層とを有し、この粘着シートは10%伸張した状態で60秒間保持した後の残留応力が23N/cm以下である。 - 特許庁

A CMOS circuit as this semiconductor device includes: (a) a substrate 100; (b) a p-type organic transistor PT including an organic semiconductor layer 106a; and (c) an n-type inorganic transistor NT including an inorganic semiconductor layer 126a formed in an upper layer of the p-type organic transistor PT.例文帳に追加

本発明の一形態の半導体装置としてのCMOS回路は、(a)基板100と、(b)有機半導体層106aを含むp型有機トランジスタPTと、(c)p型有機トランジスタPTの上層に設けられた無機半導体層126aを含むn型無機トランジスタNTと、を備える。 - 特許庁

Although a stress warping a wafer is produced due to difference in coefficient of thermal expansion and difference in lattice constant between a sapphire substrate 10 and the n-contact layer 11 in formation of the light emitting layer 15, the insertion of the curvature lessening layer 12 causes a stress in the opposite direction to this stress.例文帳に追加

発光層15の形成時において、サファイア基板10とnコンタクト層11との熱膨張係数差、格子定数差によってウェハを反らせる応力が発生するが、湾曲緩和層12を挿入したことにより、その応力とは反対方向に応力が生じる。 - 特許庁

To provide a nitrogen compound semiconductor light-emitting element with large emission intensity, which comprises an n-type layer composed of AlGaN, an active layer composed of AlGaInN, and a p-type layer, and emits ultraviolet light with an emission peak wavelength of 400 nm or less, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

AlGaNよりなるn型層、AlGaInNよりなる活性層、およびp型層を有し、発光ピーク波長が400nm以下の紫外光を放射する、発光強度の大きい窒素化合物半導体発光素子およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The separator 12 formed in a plate shape with a conductive material is interposed between a fuel electrode layer 11b of the (i)th power generating cell 11 and an oxidizing electrode layer 11c of the (i+1)th power generating cell, adjacent to the fuel electrode layer 11b one by one and n pieces in total.例文帳に追加

i番目の発電セル11の燃料極層11bとこの燃料極層に隣接する(i+1)番目の発電セルの酸化剤極層11cとの間に、導電性材料により板状に形成されたセパレータ12がそれぞれ1枚ずつ合計n枚介装される。 - 特許庁

The organic photoelectric conversion element includes: a negative electrode; a positive electrode; a bulk heterojunction layer where a p-type semiconductor material and an n-type semiconductor material are mixed; and includes, between the bulk heterojunction layer and the negative electrode, at least a layer of a compound represented by the following general formula (1).例文帳に追加

陰極、陽極、およびp型半導体材料とn型半導体材料が混合されたバルクヘテロジャンクション層を有する有機光電変換素子であって、前記バルクヘテロジャンクション層と前記陰極の間に、少なくとも下記一般式(1)で表される化合物層を有する。 - 特許庁

In a reflection preventing film wherein a plurality of inorganic optical films are laminated on a transparent plastic film base material through a hard coat layer and an antistaining layer is further provided thereon, the adhesion strength with solder of the surface of the antistaining layer of the reflection preventing film is 2.0 N/cm2 or more on an average.例文帳に追加

透明プラスチックフイルム基材上に、ハードコート層を介して、複数の無機光学薄膜を積層しさらに防汚層を設けた反射防止フイルムであって,該反射防止フイルムの防汚層面におけるハンダとの密着強度が平均値2.0N/cm^2以上である反射防止積層体。 - 特許庁

In the radiation image conversion panel which has a phosphor layer and a protective layer formed on it, the universal hardness on the surface of the protective layer is 53 N/mm^2 or more, the surface roughness of it is between 0.10 and 0.50 μm inclusive and the thickness of it ranges from 1 to 40 μm.例文帳に追加

蛍光体層およびその上に設けられた保護層を有する放射線像変換パネルにおいて、保護層の表面のユニバーサル硬度が53N/mm^2以上で、表面粗さが0.10乃至0.50μmの範囲にあり、そして層厚が1乃至40μmの範囲にある。 - 特許庁

An anode electrode 11 in an SBD 1 is formed on the barrier metal 12 in a way that it contacts the p poly-silicon layer 27 of the reverse connection diode 29, and an anode electrode 11a of the pn diode 2 is formed on the p^+-layer 24 in a way that it contacts the n poly-silicon layer 28 of the reverse connection diode 29.例文帳に追加

バリアメタル12上に逆接ダイオード29のpポリシリコン層27と接するようにSBD部1のアノード電極11を形成し、p^+ 層24上に逆接ダイオード29のnポリシリコン層28と接するようにpnダイオード部2のアノード電極11aを形成する。 - 特許庁

例文

The semiconductor light emitting element comprises a translucent substrate 2; a laminate 6 that is formed on the substrate 2 to include a light emitting layer 4, a p-type semiconductor layer 5, and an n-type semiconductor layer 3; and a plurality of particles 9 that are scattered on the surface of the substrate 2 to have a particle diameter of 1 μm or less.例文帳に追加

半導体発光素子において、透光性を有する基板2と、基板2上に形成され、発光層4とP型半導体層5とN型半導体層3とを含む積層部6と、基板2の表面に散布され、粒径が1μm以下である複数の微粒子9と、を備える。 - 特許庁




  
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