「reference sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

A pulse processing part 32 generates delay sample pulses which delay the RS pulses (b) for a prescribed time, and it AND-processes the RS pulses (b) and the delay sample pulses so as to be output as new RS pulses b with reference to a read output S/H part 18.例文帳に追加

パルス処理部３２はＲＳパルスｂを所定時間だけ遅延した遅延サンプルパルスを発生すると共に、ＲＳパルスｂと遅延サンプルパルスとをＡＮＤ処理してリード出力Ｓ／Ｈ部１８に対する新たなＲＳパルスｂ_new として出力する。 - 特許庁

Inside a reference circuit 11b, a first sample logic circuit 22a driven by a voltage supplied from the power supply terminal 2 and a second sample logic circuit 22b driven by a voltage dropped by the charge/discharge circuit 21a are provided.例文帳に追加

基準回路１１ｂ内には、電源端子２から供給される電圧により駆動される第１サンプル論理回路２２ａ及び充放電回路２１ａによって降圧された電圧により駆動される第２サンプル論理回路２２ｂが設けられている。 - 特許庁

In the phase contrast X-ray imaging apparatus using an X-ray interferometer, a known reference material similar to a sample in shape and internal density distribution is installed in a light path different from the light path in the interferometer in which the sample is installed.例文帳に追加

Ｘ線干渉計を用いた位相コントラスト型Ｘ線撮像装置において、試料が設置された干渉計内の光路とは異なる光路に、形状及び内部密度分布が試料と類似し、且つ既知の参照体を設置する。 - 特許庁

A ramp waveform Ei=C.t as a reference input, a signal El corresponding to a load σ applied to a sample piece, and a signal Ee corresponding to a strain ω of a sample piece are input to an adding point 11, and a deviation signal Eerr is output.例文帳に追加

加算点１１には基準入力としてランプ波形Ｅｉ＝Ｃ・t、試料片に印加される荷重σに対応した信号Ｅｌおよび試料片のひずみεに対応した信号Ｅｅが入力され、偏差信号Ｅｅｒｒが出力される。 - 特許庁

The circuit calculates an equalized output from the obtained sample data, and calculates a difference of only the first output value after zero-crossing from an arbitrary set reference value and uses it as an equalized error, and updates a coefficient of the adaptive equalizing circuit from the equalized error and the sample data.例文帳に追加

得られたサンプルデータから等化出力を算出し、ゼロクロス後の最初の出力値に対してのみ、任意に設定される基準値との差を計算して等化誤差とし、該等化誤差と前記サンプルデータから適応等化回路の係数を更新する。 - 特許庁

This system has a chamber for receiving a sample of the suspension while circulating the suspension in a mechanical system, and an interferometer for generating an interference pattern by combining a reference signal, and a signal emitted from the sample showing a characteristic in the suspension.例文帳に追加

懸濁液を機械的システム内に循環させながら、懸濁液のサンプルを受け入れるチェンバと、基準放射信号と、懸濁液内の特性を表すサンプル放射信号を組み合わせることにより、干渉パターンを生成する干渉計とを有する。 - 特許庁

After completion of warming-up operation after start of the engine, a sample fuel is supplied, and an engine characteristic at that time is measured, and the result is used as a reference value for the engine characteristic.例文帳に追加

エンジンの始動開始後の暖機運転が完了したあとに、サンプル燃料を供給してそのときのエンジン特性を測定してエンジン特性の基準値とする。 - 特許庁

The reference sample 1 with a uniform high reflectance is placed on a moving mechanism, which is moved to an illumination section and an imaging section so that a plurality of luminance distributions are collected.例文帳に追加

均一な高反射率を有する基準サンプル１を移動機構に載置して、照明部および撮像部に対して移動させて複数の輝度分布を採取する。 - 特許庁

To provide a method in which the values of standard reference materials in different concentrations are evaluated precisely, and to provide a standard sample which is prepared by the method.例文帳に追加

本発明の課題は、異なった濃度の標準物質の値を正確に値付けする方法および、当該方法により製造された標準試料を提供することである。 - 特許庁

The prescribed substance and the retention index reference substance are added to the analysis object sample, and then subjected to GC analysis, to thereby determine a measured retention time and a measured retention index of the prescribed substance.例文帳に追加

分析対象試料に所定物質と保持指標基準物質を添加し、これをＧＣ分析して所定物質の実測保持時間と実測保持指標を求める。 - 特許庁

A digitized RSSI (received signal strength indication) signal is delayed, and a sample value of an RSSI signal that temporally precedes is defined as a reference value to calculate an increasing amount of the RSSI signal.例文帳に追加

ディジタル化されたＲＳＳＩ信号を遅延して時間的に先行するＲＳＳＩ信号のサンプル値を、ＲＳＳＩ信号の増加量を求める為の基準値とする。 - 特許庁

When the three- dimensional image is synthesized from the image of the cut surface of the lamina sample 11, the alignment of each image is performed using the reference mark 12 applied to the carrier tape 2.例文帳に追加

各薄片試料１０の切断面の画像から三次元イメージを合成する際、キャリアテープ２に付けられた基準マーク１２を用いて各画像の位置合わせを行う。 - 特許庁

The reference signal is formed to a rectangular wave in a rectangular wave forming circuit 6, and a timing signal for a sample- hold is provided a V-T conversion circuit 8 through a microprocessor 7.例文帳に追加

基準信号を矩形波形成回路６で矩形波に形成してサンプルホールドのためのタイミング信号をマイクロプロセッサ７を介してＶ−Ｔ変換回路８に与える。 - 特許庁

Immediately after a video tape recording (VTR) start, a drift detection part 16 stores a sample image photographed by a TV camera 11 in its internal memory M_A as an initial reference image.例文帳に追加

ＶＴＲ記録開始直後、ドリフト検出部１６は、ＴＶカメラ１１で撮像された試料像を、初期のリファレンス画像としてその内部メモリＭ_Ａに記憶する。 - 特許庁

A photodetector 30 receives the reference light and the measuring light transmitted through a sample measurement part 20, photoelectrically converts the received light beams to perform Fourier transform, and then performs subtraction processing.例文帳に追加

光検出器３０は、参照光と試料測定部２０を透過した測定光とを受光し、これらの光を光電変換してフーリエ変換した後に減算処理する。 - 特許庁

Two phase modulators or polarizing elements are employed to modulate the polarization of a beam before and after the sample 20 is irradiated with the reference radiation beam 11.例文帳に追加

照会用放射ビーム１１を試料２０に照射する前および後に、前記ビームの偏光を変調するために２つの位相変調器または偏光要素が用いられる。 - 特許庁

A potential discrimination circuit 30 is provided with a NAND circuit 31 inputting the potential of the output node V0 of the sample circuit 20 and the reference signal Rclk.例文帳に追加

電位判別回路３０は、サンプル回路２０の出力ノードＶＯの電位と基準信号Ｒｃｌｋとを入力とするＮＡＮＤ回路３１を備えている。 - 特許庁

To provide a reference sample for a scanning probe microscope capable of accurately detecting each force becoming a standard, without being affected by unevenness data of surface.例文帳に追加

表面の凹凸情報に影響されることなく基準となる各力を正確に検出することができる走査型プローブ顕微鏡の標準サンプルを提供すること。 - 特許庁

a sample of the design or model which is to be registered, marked with a reference number, either in the form of the industrial product for which it is intended or in the form of another satisfactory representation例文帳に追加

登録予定の意匠又はひな形の見本1部。参照番号を付し，意図される工業製品の形で又は納得する別の表示の形での何れかとする。 - 特許庁

To provide a sensor for measuring variations in the attenuated total reflection which reduces the effect due to the difference in refractive indexes between sample liquid and reference liquid to enhance measurement accuracy.例文帳に追加

全反射減衰の状態の変化を測定するセンサーにおいて、試料液と参照液間の屈折率差による影響を低減して、測定精度を向上する。 - 特許庁

To provide a reference material stable as a measuring target and capable of easily discriminating from a general measuring sample, or a quality control material.例文帳に追加

本発明の課題は、測定対象物が安定であり、かつ一般の測定試料と容易に判別可能な標準物質もしくは精度管理用物質を提供することである。 - 特許庁

To reduce erroneous detection when whether or not a predetermined object is included in an identification object image is identified by using reference data obtained by learning by using a sample image.例文帳に追加

サンプル画像を用いて学習した参照データを用いて、識別対象画像に所定対象物が含まれるか否かを識別するに際し、誤検出を少なくする。 - 特許庁

The radiation illuminance of light to be applied is measured or adjusted (S1), the current/voltage characteristics of a reference cell are measured (S2), and the current/voltage characteristics of a sample cell are measured (S3).例文帳に追加

照射される光の放射照度を測定または調整し(S1)、基準セルの電流電圧特性を測定し(S2)、サンプルセルの電流電圧特性を測定する(S3)。 - 特許庁

A pattern discrimination unit 102 determines whether or not the edge interval count signal matches a reference value resulting from counting falling edge intervals of a predetermined pattern of the Manchester data using a sample clock.例文帳に追加

パタン判別部１０２は、エッジ間隔カウント信号と、マンチェスタデータの所定パタンの立ち下がりエッジ間隔をサンプルクロックでカウントした基準値とが一致するか否か判定する。 - 特許庁

An image of a surface 1a and a reference identification part 2 of the sample 1 existing in an imaging position C is displayed as initialization by performing image processing by an image processing means 15.例文帳に追加

撮像位置Ｃにある試料１の表面１ａおよび基準識別部２の画像を、初期化したように画像処理手段１５で画像処理して、表示する。 - 特許庁

To provide a calibrating reference sample having peaks of prescribed concentrations at a depth of 2-5 nm which enables the calibration of a secondary ion mass spectrometer in a transition region.例文帳に追加

遷移領域における二次イオン質量分析装置の較正を可能とする、２〜５ｎｍの深さに所定濃度の濃度ピークを有する較正用標準試料を提供する。 - 特許庁

The diagnosis method comprises the steps of (a) measuring the amount of a cardiac Troponin in the sample of a subject; (b) comparing the amount measured in step (a) with reference amounts.例文帳に追加

診断方法は、以下のステップ：ａ）被験体サンプル中の心筋トロポニンの量を測定するステップ；ｂ）ステップａ）で測定された量と参照量とを比較すること。 - 特許庁

The invention relates to the method of determining autoinducer-2 characterized by drawing a calibration curve using 4-hydroxy-5-methyl-3(2H)-furanone as a reference sample.例文帳に追加

本発明は、４−ヒドロキシ−５−メチル−３（２Ｈ)−フラノンを標準試料として検量線を作成することを特徴とするオートインデューサー−２の定量方法に関する。 - 特許庁

Detection parts 11, 12 and 13, which are respectively constituted of acting electrodes 21, 22 and 23, counter electrodes 61, 62 and 63 and reference electrodes 71, 72 and 73, are provided in the sample supply space 5.例文帳に追加

また、試料供給空間５内には、作用電極21、22、23、対向電極61、62、63および参照電極71、72、73でそれぞれ構成された検出部11、12、13を有している。 - 特許庁

To determine a spectrum based on a non-spectrum input using a reference database including a reflected spectrum and a training sample indicating an LED sensor output corresponding to the reflected spectrum.例文帳に追加

反射スペクトルやそれらの対応するＬＥＤセンサ出力を示すトレーニングサンプルを含んだ基準データベースを利用して、非スペクトル入力に基づいてスペクトルを決定する。 - 特許庁

The sample-and-hold circuit holds the voltage of the vernier voltage-controlled oscillator by a start (or stop) signal, and the voltage is supplied to the comparator circuit as a reference voltage.例文帳に追加

サンプルホールド回路は、スタート（あるいはストップ）信号により、副尺電圧制御発振器の電圧を保持し、この電圧をコンパレータ回路へ基準電圧として供給する。 - 特許庁

When the second pixel potential during the reset noise reading period exceeds a prescribed threshold level, the second pixel potential is defined as prescribed reference potential in the sample-and-hold circuit.例文帳に追加

サンプルホールド回路では、リセットノイズ読み出し期間中の第２の画素電位が所定の閾値レベルを越える時に、第２の画素電位が所定の基準電位にされる。 - 特許庁

To provide a spectrometer used to measure spectra from the reference materials, which has similar resolution and efficiency to the spectrometer used for measuring the unknown sample.例文帳に追加

未知サンプルを測定するのに用いられる分光計と同様の分解能及び効率である基準物質からのスペクトルを測定するのに用いられる分光計を提供する。 - 特許庁

To provide a time region polarization analysis apparatus for deriving the complex optical constant spectrum of a sample at a tera Hertz region without requiring any reference measurement.例文帳に追加

テラヘルツ領域における試料の複素光学定数スペクトルをリファレンス測定を必要とせずに導出することのできる時間領域偏光解析装置を提供する。 - 特許庁

Similarly, a spectral waveform of the interference light intensity is found by using as reference a sample in the same structure with a layer below the measurement object film 101 on the wafer 107.例文帳に追加

これと同様にしてウェハ１０７の測定対象膜１０１よりも下層と同一構造のサンプルをリファレンスとして干渉光強度の分光波形を求める。 - 特許庁

When the output signal of the low frequency range cut-off filter 34 is not less than the reference signal of a peak sample hold circuit 42, the voltage output signal is generated by a comparison circuit 40.例文帳に追加

この低域遮断フィルタ34の出力信号が、ピークサンプルホールド回路42の基準信号以上となったとき、電圧出力信号を比較回路40が発生する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam drawing method, a position detecting method for a reference mark for charged particle beam drawing, and a charged particle beam drawing device, wherein the position of the reference mark formed on a sample and having a step can be detected with good reproducibility without being influenced by edge roughness of the reference mark.例文帳に追加

試料に形成された段差を有する基準マークのエッジラフネスの影響を受けることなく、基準マークの位置を再現性良く検出することが可能な荷電粒子ビーム描画方法、荷電粒子ビーム描画用の基準マークの位置検出方法及び荷電粒子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁

A system for correcting electron energy-loss spectral images of the electron microscope provided with an electron spectrometer corrects spectra of electron energy-loss spectral images of a sample to be analyzed at each measuring position on the basis of differences between spectra at a reference position included in a reference spectral image and spectra except the reference position.例文帳に追加

電子分光器を備えた電子顕微鏡の電子エネルギー損失スペクトル像の補正システムであって、基準スペクトル像に含まれる基準位置のスペクトル及び基準位置以外のスペクトルの相違点に基き、分析対象試料のエネルギー損失スペクトル像の各測定位置のスペクトルを補正することを特徴とする補正システム。 - 特許庁

In a closable vessel having a storage section 8 inside, radiation is simultaneously radiated by a radiating means to a pair of reference pieces of an empty first reference piece 6 where the storage section 8 is empty and a second reference piece 7 where the storage section 8 is filled with the same material as a predetermined amount of measuring object, and the sample T.例文帳に追加

内部に収容部８が形成された密閉可能な容器であって、前記収容部８が空の第一基準片６と前記収容部８が所定量の測定対象物と同一物質で満たされた第二基準片７との一対の基準片と、試料Ｔとに、照射手段にて同時に放射線を照射する。 - 特許庁

In a register 11, an input sampling period T1, an output sampling period T2, and a normalization reference time width ΔT/T1 in which a reference time width ΔT serving as a reference for determining a plurality of input samples used for obtaining one output sample data by an interpolating process is normalized by T1, are established.例文帳に追加

レジスタ１１には、入力サンプル周期Ｔ１と、出力サンプル周期Ｔ２と、１つの出力サンプルのデータを補間処理により求めるために用いるべき複数の入力サンプルを決定する基準となる基準時間幅ΔＴをＴ１で正規化した正規化基準時間幅ΔＴ／Ｔ１とが、設定される。 - 特許庁

Sample luminous flux 1c and reference luminous flux 3c, reflected light from the measurement area 1a and the reference area 3a, are each converged to a slit 35a for samples and a slit 35b for reference arranged in parallel with each other via an objective lens 31 and made incident onto an image forming lens 36 and a diffraction grating 37 (dispersing element).例文帳に追加

測定域１ａ及び参照域３ａからの反射光である試料光束１ｃ及び参照光束３ｃは、対物レンズ３１を経て、並置された試料用スリット３５ａ及び参照用スリット３５ｂにそれぞれ収束され、結像レンズ３６及び回折格子３７（分散素子）に入射される。 - 特許庁

The reference voltage generation circuit is comprised of two circuit blocks B1, B2, and the 1st circuit block B1 generates a fixed reference voltage and also makes a high-frequency connection possible between the reference voltage generation circuit and a load by applying the sample and hold circuit to the 2nd circuit block B2.例文帳に追加

基準電圧発生回路は、２つの回路ブロックＢ１、Ｂ２からなる構成として、第１の回路ブロックＢ１により所定の基準電圧を発生させるとともに、第２の回路ブロックＢ２に前述のサンプル／ホールド回路を適用して基準電圧発生回路と負荷の接続の高周波化を可能にする。 - 特許庁

Then, in the comparative operation unit 31, the transmission characteristics of the sample tablet 13 obtained, on the basis of the detection result of the transmitted light 16 in the transmitted light detection unit 17 are compared with the transmission characteristics of the corresponding reference tablet that is housed in the database 32, in advance, to recognize whether the sample tablet 13 is the same kind as the reference tablet.例文帳に追加

そして、比較演算部３１において、透過光検出部１７での透過光１６の検出結果に基づいて得られる試料錠剤１３の透過特性と、データベース３２に予め格納された対応する参照錠剤の透過特性とを比較して、試料錠剤１３が参照錠剤と同種であるか否かを判別する。 - 特許庁

Data for calibration for printing a sample and calibration data in a color printer, and display image data for reference for performing image display of the sample and the calibration data are generated, display is performed with a displaying monitor 121, and calibration is performed on the basis of the generated data for calibration and display image data for reference.例文帳に追加

カラープリンタにおけるキャリブレーションデータおよび見本を印刷するためのキャリブレーション用データとキャリブレーションデータおよび見本を画像表示するためのリファレンス用表示画像データを作成し、表示する表示用モニタ１２１と、作成されたキャリブレーション用データとリファレンス用表示画像データに基づいてキャリブレーションを行うことを特徴とする。 - 特許庁

The reference voltage generated by a main substrate circuit 52 is output from one common output terminal 61 and a switch SW to which the reference voltage should be input is turned ON on a time-division basis for 16 sample-hold circuits 64.例文帳に追加

メイン基板回路５２で生成した参照電圧を1つの共通出力端子６１から出力し、この参照電圧を入力すべきスイッチ回路ＳＷのオン動作を、１６個のサンプルホールド回路６４について時分割で行う。 - 特許庁