「reference sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

The imaging apparatus having a sample hold type APC function for keeping a constant quantity of light of a semiconductor laser comprises a writing unit section having a function for measuring the time required for the voltage of an APC hold capacitor to reach some reference level and determining an optimal APC sample hold timing for each machine.例文帳に追加

半導体レーザの一定光量を保持するサンプルホールド型ＡＰＣ機能を持つ画像形成装置において、ＡＰＣホールドコンデンサの電圧が、あるリファレンス電圧になるまでの時間を測定し、機械毎に最適なＡＰＣサンプルホールドタイミングを決定する機能を有する書き込みユニット部を備えた。 - 特許庁

The present invention provides a calibration sample structure for preparing the taste data having a holding part for holding a raw material, that is a calibration sample for measuring the taste data using a taste sensor, comprising a determined standard component as a reference material, so as to solve the problem hereinbefore.例文帳に追加

上記課題を解決するために、本発明は、味覚センサを用いた味データの計測のための校正サンプルであって、定められた標準成分からなる素材を味のリファレンス材料として保持する保持部を有する味データ作成用校正サンプル構造体を提供する。 - 特許庁

The interference measuring instrument 10 is equipped with a semiconductor laser 1 which projects laser light on a sample 20, a beam splitter 2 which is arranged the semiconductor laser 1 and sample 20, and a reference mirror 3 and a detector 4 which are arranged on one side and the other side of the beam splitter 2.例文帳に追加

干渉計測装置１０は、試料２０に対してレーザ光を投光する半導体レーザ１と、半導体レーザ１と試料２０との間に配置されたビームスプリッタ２と、ビームスプリッタ２の一側および他側にそれぞれ配置された参照鏡３および検出器４とを備えている。 - 特許庁

By a method for matching a phase lock loop (PLL) used for detecting frequencies with a distance control system, using changes in vibration frequencies to changes in the distance between the probe and the surface of the sample as a voltage control oscillator, and matching them with a reference frequency, the distance between the probe and the surface of the sample is controlled.例文帳に追加

周波数検出に用いる位相同期ループ（ＰＬＬ）を距離制御系と一致させ、プローブ・試料表面の距離変化に対する振動周波数の変化を電圧制御発振器として用い、基準周波数に合わせる方法によりプローブ・試料表面の距離制御を行なう。 - 特許庁

A position relation between an external shape and the crystal orientation of a specimen is clarified by comparative measurement using a reference sample having a clear position relation between the external shape and the crystal orientation on the same sample coordinate, by using a back-scattered electron beam diffraction pattern method (EBSP method).例文帳に追加

後方散乱電子線回折パターン法（ＥＢＳＰ法）を用いて、同じ試料座標上で外形形状と結晶方位の位置関係が明確な基準試料を用いて比較測定する事で、被検体の外形形状と結晶方位の位置関係を明確にする。 - 特許庁

To solve the following problem of a conventional measuring cell configuration by a QCM sensor device: because it is necessary to separately provide a reference electrode and a counter electrode and to control positions thereof, it becomes costly and its size is increased, and an adhesive between a crystal substrate and a support substrate is dissolved out according to a sample when exposing the crystal substrate to the sample.例文帳に追加

ＱＣＭセンサデバイスによる測定セル構成は、参照電極及び対極電極を別途に設けてその位置制御が必要になり、高価で大型化を招くと共に、水晶基板を試料に晒したとき、試料によっては水晶基板と支持基板との接着剤が溶け出る。 - 特許庁

A focal point of the optical microscope is converged on the sample surface under the condition where the probe is approached to the sample by the prove approaching mechanism, positional information of the driving mechanism is stored at this time, the focusing for the optical microscope in the automatic measurement is carried out using the positional information as a reference.例文帳に追加

探針接近機構により探針と試料を接近させた状態で試料表面に光学顕微鏡の焦点を合せ、このときの駆動機構部の位置情報を記憶し、位置情報を基準として自動測定時の光学顕微鏡の焦点合せを行う。 - 特許庁

To reduce erroneous detection without complicating the setting of identifiers or increasing the kinds of sample images when whether or not a predetermined object is included in an identification object image is identified by using reference values outputted by the plurality of identifiers which have learnt by learning by using the sample images.例文帳に追加

サンプル画像を用いて学習した複数の識別器が出力した基準値を用いて、識別対象画像に所定対象物が含まれるか否かを識別するに際し、識別器の設定を複雑にしたり、サンプル画像の種類を増やすことなく誤検出を少なくする。 - 特許庁

By this constitution, the angle of incidence of the ion beam with reference to the sample 4 becomes constant, a sputtering rate becomes constant over the whole sputtering region, and the composition in the depth direction from the surface of the sample can be analyzed with high accuracy over the whole sputtering region.例文帳に追加

この構成により、試料４に対するイオンビームの入射角は一定となるので、スパッタ領域全域にわたってスパッタレートが一定となり、もってスパッタ領域全域にわたって試料表面からの深さ方向における高精度な組成分析を行うことが可能となる。 - 特許庁

A reference electric field intensity wherein the quantity of electrons emitted from a sample and detected by an electron detector when electrons enter the sample with a prescribed incident voltage shows a peak is determined beforehand, when the intensity of an electric field on the electron incidence side of the electron detector is changed.例文帳に追加

電子検出器の電子入射側の電界の強度を変化させた場合に所定の入射電圧で電子が試料に入射したときに電子検出器により検出される試料から放出された電子の量がピークを示す参照電界強度を予め求めておく。 - 特許庁

The recording signal and a signal, where a phase-locked clock signal is divided, are inputted to the device for performing the sample/hold from a device for generating the recording signal; and the PLL installed in the device performing the sample/hold generates a reference clock signal phase-locked to the clock signal and is multiplied.例文帳に追加

記録信号を生成するデバイスからサンプルホールドを行うデバイスへ記録信号およびに位相同期したクロック信号の分周した信号を入力し、サンプルホールドを行うデバイスに実装されたＰＬＬによりこのクロック信号に位相同期し逓倍した基準クロック信号を生成する。 - 特許庁

To identify whether or not a predetermined object is included in an identification object image by using reference values outputted by a plurality of identifiers which have learnt by using sample images while reducing erroneous detection without complicating the setting of the identifiers or increasing the types of the sample images.例文帳に追加

サンプル画像を用いて学習した複数の識別器が出力した基準値を用いて、識別対象画像に所定対象物が含まれるか否かを識別するに際し、識別器の設定を複雑にしたり、サンプル画像の種類を増やすことなく誤検出を少なくする。 - 特許庁

A system can include an interferometer having a reference arm that includes a first optical fiber of length of L1 and a sample arm that includes a second optical fiber of length of L2 and a first rotary coupler configured to conform with an optical tomography imaging probe, wherein the rotary coupler is in optical communication with the sample arm.例文帳に追加

長さL1の第一の光ファイバーを含む参照アームおよび長さL2の第二の光ファイバーを含むサンプルアームを有する干渉計、および光学断層撮影撮像プローブと適合するよう構成された第一のロータリーカプラーを含むことができ、ロータリーカプラーは、サンプルアームと光通信する。 - 特許庁

Refractive index change caused by the photothermal effect of the sample 5 is measured by measuring phase change caused by irradiation of a stimulating beam P3 in a measuring beam P1 passed (transmitted) through the sample by using an optical interference method, namely, by a phase difference between a reference beam P2 and the measuring beam P1.例文帳に追加

試料５の光熱効果による屈折率変化を，試料を通過（透過）させた測定光Ｐ１における励起光Ｐ３の照射による位相変化を光干渉法を用いて測定することによって，即ち，参照光（Ｐ２）と測定光（Ｐ１）との位相差によって測定する。 - 特許庁

To provide a thermal analyzer accurately carrying a sample and a reference material to a predetermined measuring position in a short period of time without complicating the moving form of a carrying device such as a robot arm, a sample support device such as a table.例文帳に追加

試料と標準物質との両方を所定の測定位置へ搬送することをロボットアーム等といった搬送装置や、テーブル等といった試料支持装置等の移動形態を複雑にすることなしに、短時間に且つ正確に実現できる熱分析装置を提供する。 - 特許庁

The inclination of the surface of the sample is calculated on the basis of the relation between the angle ϕof rotation, the flapping angle ω and the inclination of the surface of the sample to a predetermined reference surface by using the angle ϕn of rotation set by this operation and the measured flapping angle ωn to be corrected.例文帳に追加

この操作で設定した回転角φｎおよび測定したあおり角ωｎを用いて、回転角φおよびあおり角ωと所定の基準面に対する試料面の傾きとの間の関係に基づき試料面の傾きを求め、その傾きを補正する。 - 特許庁

A reference position calculating section 91 determines a new position of the reference point on a newly acquired ultrasonic image from the brightness information of the reference point and a position determining section 92 obtains a new position of the sample line on a newly acquired ultrasonic image from the above new position and the above relative positional relation.例文帳に追加

基準位置算出部９１は、基準ポイントの輝度情報に基づいて、新たに取得された超音波画像上における基準ポイントの新たな位置を求め、位置決定部９２は、その新たな位置と上記相対的な位置関係とに基づいて、新たに取得された超音波画像上におけるサンプルラインの新たな位置を求める。 - 特許庁

By matching a cross-sectional image of the reference piece Q with the cross-sectional image of the reference surface, it is possible to correct image deviations of even the sample P having a complicated solid shape but no reference surface S and satisfactorily perform shapes evaluation.例文帳に追加

Ｘ線ＣＴスキャナ装置の回転テーブル２１１の内部に平面視形状が直角三角形の基準片Ｑを埋設し、この基準片Ｑの断面画像を基準面の断面画像とすることにより基準面Ｓを有しない複雑な立体形状の試料Ｐに対しても画像ずれの補正を可能にし、形状評価を好適に行えるようにした。 - 特許庁

The sample group of a predetermined number of samples is set as a reference frame from an input acoustic signal, an optimal phase frame is decided therefrom after this reference frame and a phase changed frame are set, and a bit value is detected from the optimal phase frame.例文帳に追加

入力された音響信号から所定サンプル数のサンプル群を基準フレームとして設定すると共に、この基準フレームと位相を変更した位相変更フレームを設定した後、これらの中から最適位相フレームを決定し、この最適位相フレームからビット値を検出する。 - 特許庁

And besides, this device is equipped with an XY moving part 12 for loading the sample 16 and for moving it on a reference plane, and an XY moving mechanism (12a, 15, 13, sliding members) for selecting either of two moving systems having different-area scanning ranges and for moving the XY moving part 12 on the reference plane.例文帳に追加

さらに試料を搭載し基準面上で移動するＸＹ移動部１２と、走査範囲の広さが異なる２つの移動方式のいずれかを選択しＸＹ移動部を基準面上で移動させるＸＹ移動機構（１２ａ，１５，１３，３１）とを備えている。 - 特許庁

A previously selected reference pattern region is measured at a certain timing during measurement of a measurement region of sample characteristics with a scanning probe microscope, and the displacement of a probe is corrected while necessarily specifying the displacement in an XYZ axis from a measured image of the reference pattern.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による試料特性の測定領域を測定中のあるタイミングで予め選択されたリファレンスパターン領域の測定を行い、リファレンスパターンの測定像から適宜ＸＹＺ軸方向の位置ずれ量を特定して探針の位置ずれ補正を行う。 - 特許庁

Since a field lens 34 (intermediate lens) is arranged, at this time, all the sample luminous flux 1c and the reference luminous flux 3c are made incident to the image forming lens 36 and the diffraction grating 37 to contribute to the formation of dispersed images of an array 38a for samples and an array 38b for reference.例文帳に追加

この際、フィールドレンズ３４（中間レンズ）が配置されているので、試料光束１ｃ及び参照光束３ｃは、全て結像レンズ３６及び回折格子３７に入射されるようになり、試料用アレイ３８ａ及び参照用アレイ３８ｂへの分散像の形成に寄与する。 - 特許庁

In the switching power circuit, a trigger signal Ve in the same cycle as a reference pulse signal Vp outputted from a reference pulse generating circuit 2 is inputted into the set terminal S of a logical circuit 14, and also a signal Vg with its polarity reverse to this signal is inputted into a sample hold circuit 21.例文帳に追加

基準パルス発生回路２から出力される基準パルス信号Ｖｐと同周期のトリガ型信号Ｖｅを論理回路１４のセット端子Ｓに入力すると共に、この信号と極性が逆となる信号Ｖｇをサンプルホールド回路２１に入力する。 - 特許庁

A two-beam interference objective lens device is provided with an objective lens 1, a prism 12 arranged between the objective lens and a sample 4, a reference mirror 13 arranged in one split optical path of the prism, and a tilting device 14 to tilt the reference mirror to regulate the width and the direction of the interference fringes.例文帳に追加

対物レンズ１と、この対物レンズと試料４との間に配設されたプリズム１２と、このプリズムの一方の分割光路中に配設されたリファレンスミラー１３と、干渉縞の幅および方向を調整するためにリファレンスミラーを傾角する傾角装置１４とを有する。 - 特許庁

The method for detecting a fault of a pattern comprises the steps of positioning an inspecting pattern image imaged from an object to be inspected at the same coordinate position as that of a reference pattern image obtained by imaging a reference sample of a good article, detecting a distance between boundary points of the respective patterns, and deciding the fault from a maximum value of the distance between the points.例文帳に追加

検査対象物を撮像した検査パターン画像を、良品である基準サンプルを撮像した基準パターン画像と同一座標位置に位置決めし、それぞれのパターンの境界点間の距離を検出して、各境界点間の距離の最大値から欠陥を判定する。 - 特許庁

An ion selection electrode, according to circumstances, an ion selection electrode to positive ion or an ion selection electrode to a small quantity of ion included in a sample, is used as a reference electrode, and a potential difference between the reference electrode and a measuring electrode in contact with the measuring solution is measured.例文帳に追加

イオン選択電極，場合によっては陽イオンに対するイオン選択電極もしくは試料中に含まれる量が少ないイオンに対するイオン選択電極を参照電極として用いて，測定溶液に接触した参照電極と測定電極の電位差を計測する。 - 特許庁

The reference voltage is set by the control unit 10, so that the maximum interval can exist between the sample value of an input sequence and a reference sequence, based on the prescribed number of decision elements related with the distortion of a channel generated at present, and the possibility of any bit error is reduced to a minimum.例文帳に追加

この基準電圧は、現在生じているチャネルの歪みに関する所与の数の判定要素に基づき、入力シーケンスのサンプル値と基準シーケンスとの間に最大の間隔が存在するように、制御ユニット１０によって設定され、ビット誤差の可能性が最小限に抑えられる。 - 特許庁

In the method for measuring the free radical eliminating capacity, a solution containing a sample to be inspected, a radical producing agent and a spin trapping agent is irradiated with UV rays, the intensity of the electron paramagnetic resonance (EPR) signal of a formed free radical is measured to calculate the relative intensity to the intensity of the EPR signal measured with respect to a reference sample containing no sample to be inspected.例文帳に追加

被検試料、ラジカル発生剤、及びスピントラップ剤を含む被検試料溶液にＵＶ光を照射し、生成したフリーラジカルの電子常磁性共鳴（ＥＰＲ）信号の強度を測定し、被検試料を含まない対照試料に対して測定されたＥＰＲ信号の強度に対する相対強度を求めることを特徴とするフリーラジカル消去能の測定方法。 - 特許庁

The detection of measuring light B1 is performed, for example, on the basis of a light interfering method for allowing predetermined reference light B2 to interfere with the measuring light B1 transmitted through the sample 5 to detect the intensity of the interfering light.例文帳に追加

測定光Ｂ１の検出は，例えば，試料５を透過した測定光Ｂ１に所定の参照光Ｂ２を干渉させその干渉光の強度を検出する光干渉法に基づき行う。 - 特許庁

When the voltage change in the reference signal is amplified by the amplifier 103 and exceeds the hold voltage of the sample/hold means 106, the output of the amplifier 107 is inverted and a lower-order digital value is determined.例文帳に追加

基準信号の電圧変化が増幅器１０３で増幅され、サンプルホールド手段１０６の保持電圧を超えた時に、増幅器１０７の出力が反転し、下位のディジタル値を決定する。 - 特許庁

The unknown sample is brought into contact with the waveguide mode resonance lattice to measure a resonance incident angle in the same way (S7) and the refractive index is calculated from the resonance incident angle on reference to the calibration curve (S8).例文帳に追加

未知試料を導波モード共鳴格子に接触させ、同様にして共鳴入射角を測定し（Ｓ７）、校正曲線を参照して共鳴入射角から屈折率を求める（Ｓ８）。 - 特許庁

A reference sample 10a is irradiated with light of wavelength λ and the focus position of an image pickup device (CCD camera) is moved to detect the 1st and 2nd inspection marks 32 and 33 at respective focus positions.例文帳に追加

基準サンプル１０ａに波長がλの光を照射し、撮像装置（ＣＣＤカメラ）の焦点位置を移動させて各焦点位置における第１及び第２の検査マーク３２、３３を検出する。 - 特許庁

In this liquid chromatograph mass spectrometry apparatus, the mass spectrometer starts measurement by a sample injection signal from an autosampler, and judges whether a peak exceeding a reference peak M is measured during the measurement or not.例文帳に追加

液体クロマトグラフ質量分析装置において、質量分析計はオートサンプラのサンプル注入信号により、測定を開始し、測定中に基準ピークＭを超えるピークが測定されたか否かを判断する。 - 特許庁

A reference liquid S is filled in a cell 12s, the sample liquid X is filled in a cell 12x, and an electric current i is made to flow between electrodes s1, s4 and between electrodes x1, x4 from a current supply part 14.例文帳に追加

セル１２ｓ内に基準液Ｓを満たし、セル１２ｘ内に試料液Ｓを満たし、電極ｓ１，ｓ４間及び電極ｘ１，ｘ４間に電流供給部１４から電流ｉを流す。 - 特許庁

When the standard sample does not contain the same element, the intensities are standardized using information on the stored reference intensity to allow comparison, and the intensity ratio is determined (S9 and S10).例文帳に追加

標準試料が同じ元素を含まない場合には、記憶してある基準強度の情報を用いて強度を標準化することで比較可能にした上で強度比を求める（Ｓ９、Ｓ１０）。 - 特許庁

Under the conditions that the sensor 20 detects the molten steel sample 20, a sequencer 28 acquires measured data of the radiation detector 26, and determines whether the measured data is excessive over a reference level or not.例文帳に追加

検知センサ２０が溶鋼サンプル１２を検知したことを条件として、シーケンサ２８が放射線検出器２６で測定データを取込むと共に、測定データが基準レベルを越えているか否かを判定する。 - 特許庁

An encoded frame processing part 54 encodes data of a frame unit with the predetermined sample number of data after over-sampling as one frame in the R-times frequency of a predetermined reference processing frequency and outputs encoded data.例文帳に追加

符号化フレーム処理部５４は、オーバーサンプリング後のデータの所定サンプル数を１フレームとして、フレーム単位のデータを、所定の基準の処理頻度のＲ倍の頻度で符号化し、符号化データを出力する。 - 特許庁

To provide a measurement management system which can show an appropriate reference for securing at least the fixed number of samples by selecting the items of attribute information to be used for sample extraction.例文帳に追加

サンプル抽出に利用する属性情報の項目を選択できるようにすることで、一定以上のサンプル数が確保された適切な基準を示すことが可能な計測管理システムを提供する。 - 特許庁

The purchaser can download the sample of interested contents with reference to the contents data and can download a purchasing contents through a communication line.例文帳に追加

購入者はコンテンツデータを参照して購入を検討するコンテンツのコンテンツサンプルを通信回線を介してダウンロードすることができ、このコンテンツサンプルを見て購入が決まったコンテンツを通信回線を経てダウンロードする。 - 特許庁

During the video tape recording, the detection part 16 updates the reference image in the memory M_A by overwriting it with the sample image currently photographed by the TV camera 11 at every time interval t_3.例文帳に追加

また、前記ドリフト検出部１６は、ＶＴＲ記録中、時間間隔ｔ_３毎に、現在ＴＶカメラ１１で撮像されている試料像を、リファレンス画像としてその内部メモリＭ_Ａに更新記憶する。 - 特許庁

An image processing device 5 sets a defect candidate slice level, based on an image example of a reference sample including defects with respect to the differential interference images and selects defect candidates from among the differential interference images.例文帳に追加

画像処理装置５では、この微分干渉画像に対して欠陥を含むレファレンスサンプルの画像例に基づく欠陥候補スライスレベルを設定し、微分干渉画像から欠陥候補を選定する。 - 特許庁

The first operation part calculates an initial scale factor from reference correlation data and a target amount of compression data generated from image data including high frequency component most of sample image data.例文帳に追加

第１演算部は、標本画像データのうちで高周波成分を最も多く含む画像データから生成された基準相関データと目標圧縮データ量とから初期スケールファクタを演算する。 - 特許庁

To provide an inspection method and device using an electronic beam capable of preventing the incorrect detection of a defect in a sample even if the methods of acquiring a reference image and an inspection image are different from each other.例文帳に追加

本発明は、基準画像と検査画像の取得法が異なっても試料の欠陥の誤検出を防止できる電子ビームを用いた検査方法及び検査装置を提供することにある。 - 特許庁

In this method for regulating a rotary machine 2, a regulator 16 receives a reference value and a sample signal representative of an electromagnetic torque of the machine, predicts the torque value at a following sampling instant, and modifies a control voltage according to the prediction.例文帳に追加

レギュレータは、基準値と機械の電磁トルクを示すサンプル信号とを受け取り、各サンプリングの瞬間に、次のサンプリングの瞬間のトルク値を予測し、その予測に従って制御電圧を変更する。 - 特許庁

The fluorescent reference sample is sequentially illuminated by first and second illuminating light beams to acquire first and second spectral distributions Er1 and Er2, and first and second total spectral emissivity coefficients Br1 and Br2 are obtained.例文帳に追加

蛍光基準試料に第１、第２照明光を順次に照明し、第１、第２分光分布Ｅｒ１、Ｅｒ２を取得し、第１、第２全分光放射率係数Ｂｒ１、Ｂｒ２を求める。 - 特許庁