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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > reference sampleの意味・解説 > reference sampleに関連した英語例文

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reference sampleの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 641



例文

The final stage includes a sample/hold circuit for fetching an output signal of the sample/hold amplifier on the preceding stage, a comparator for comparing the output signal of the sample/hold circuit with a reference voltage, and a latch circuit for holding an output signal of the comparator.例文帳に追加

上記最終段ステージは、前段のサンプルホールドアンプの出力信号を取り込むサンプルホールド回路と、上記サンプルホールド回路の出力信号と基準電圧とを比較する比較器と、上記比較器の出力信号を保持するラッチ回路とを有する。 - 特許庁

To detect a position of a ridge line in a surface shape of a sample by one scan, by a surface shape measuring machine for measuring the surface shape of the sample by detecting respectively each height from a prescribed reference face to each position on the surface shape of the sample.例文帳に追加

所定の基準面から試料の表面の各位置までの高さを各々検出することによって試料の表面形状を測定する表面形状測定機にて、1回の走査で試料の表面形状の稜線の位置を検出する。 - 特許庁

A first and second MOS transistor circuits 1A, 1B are connected in parallel and have a reference DC voltage source Vref, a reference DC current source Iref and voltage sample holding capacitors C.例文帳に追加

第1MOSトランジスタ回路1Aおよび第2MOSトランジスタ回路1Bを並列に接続し、参照直流電圧源Vref 、参照直流電流源Iref および電圧標本保持用キャパシタCを備える。 - 特許庁

The sampling device is also provided with a control device 55 generating a control signal Ψcs, the control device is provided with bootstrap reference voltage source for providing reference voltage in response to the sample signal and a control circuit generating control circuit voltage responding to the sample signal.例文帳に追加

サンプリングデバイスはまた、制御信号Ψcsを発生する制御デバイス55を備え、制御デバイスは、サンプル信号に応答して基準電圧を提供するためのブーストラップ基準電圧源、及びサンプル信号に応答して制御回路電圧を発生する制御回路を備えている。 - 特許庁

例文

The oxidizing agent (alkaline potassium peroxodisulfate) added by being measured by a measuring part 5 for reference sample water supplied to the inside of the oxidation decomposition of an oxidation decomposition part 1, and nitrogen oxide in the reference sample water by ultraviolet ray irradiation by a low pressure mercury lamp 3 are oxidized and decomposed into nitrate ion.例文帳に追加

酸化分解部1の酸化分解槽2内に供給さた基準試料水への計量部5で計測されて添加された酸化剤(アルカリ性ペルオキソ二硫酸カリウム)と、低圧水銀灯3よりの紫外線照射で、基準試料水内の窒素酸化物を硝酸イオンに酸化分解する。 - 特許庁


例文

To solve a problem wherein there is similarly no reference in the result of defect inspection of a circular sample such as a disk substrate where a reference position cannot be created, so that the re-inspection of the same sample, comparing inspection between manufacturing processes, reproducibility evaluation of an inspection apparatus, and matching with other inspection apparatuses are ambiguous.例文帳に追加

ディスク基板のような基準位置を作成できない円形の試料において、欠陥検査の結果も同様に基準が無いため、同一試料の再検査、製造工程間での比較検査、検査装置の再現性評価、他検査装置との突合せなどが曖昧である。 - 特許庁

A reference sample surface having a molybdenum film formed thereon is heated with a heating laser beam, a temperature measuring laser smaller in diameter than the heating laser is emitted to the heated position, and the amplitude of temperature change of the reference sample surface is measured based on a detected thermo-reflectance signal light.例文帳に追加

モリブデンを成膜した参照試料表面を加熱用レーザビームにより加熱し、この加熱位置に加熱用レーザ径より小さな測温用レーザを照射し、検出したサーモリフレクタンス信号光に基づいて参照試料表面の温度変化の振幅を測定する。 - 特許庁

To provide a reference sample for element mapping of a transmission electron microscope, capable of being used for compensating results of SEM, EDS and EELS mappings of a multilayer nano thin film and capable of optimizing mapping conditions, and to provide an element mapping method for the transmission electron microscope using the reference sample.例文帳に追加

多層ナノ薄膜のSEM EDS、EELSマッピング結果を補正するのに利用可能で、マッピング条件を最適化させることができる、透過電子顕微鏡の元素マッピング用の標準試料およびそれを利用した透過電子顕微鏡の元素マッピング法を提供する。 - 特許庁

The Mahalanobis distance determines the health by comparing a distance between a reference space formed using a healthy subject as a sample and a consulter.例文帳に追加

このマハラノビス距離については、健康体をサンプルして形成された基準空間と受診者の距離とを比較して健康度が判断される。 - 特許庁

例文

The arrangement of the primary beams 110 on the sample surface is acquired as an image of a reference mark 116 on a stage 117 displayed on an image display part 136.例文帳に追加

試料表面における一次ビーム110の配置を、画像表示部136に表示した、ステージ117上の基準マーク116の画像として取得する。 - 特許庁

例文

Similar operation is performed for a reference R, and a depthwise profile is found of the density of an organic lubricant contained in the magnetic layer of the sample.例文帳に追加

同様の操作をリファレンスRについて行い、サンプル磁性層における深さ方向の有機性潤滑剤含有濃度のプロファイルを求める。 - 特許庁

Further, the normalization reference is updated during treatment by using second reflection spectrum data sample obtained in a stage before the CMP treatment.例文帳に追加

さらに、正規化参照は、CMP処理の前の段階において取得される第2の反射スペクトルデータサンプルを用いて、処理中に更新される。 - 特許庁

The X-ray analyzer acquires an X-ray mapping image of a sample previously determined to be normal as a reference mapping image.例文帳に追加

X線分析装置にて、予め正常であることが確認されている試料のX線マッピング像を参照マッピング像として取得しておく。 - 特許庁

When a sample signal SAMPL is in an activation state, a transfer gate 304 is turned on, a capacitor 307 accumulates reference potential Vreft.例文帳に追加

サンプル信号SAMPLが活性状態のとき、トランスファゲート304はオンとなり、キャパシタ307は基準電位Vreftを蓄積する。 - 特許庁

A reference electrode layer 7R having comb-like teeth along the introducing direction of a sample liquid L is formed in the housing chamber S of the biosensor.例文帳に追加

バイオセンサの収容室Sには、試料液Lの導入方向に沿った櫛歯を有する参照電極層7Rが形成されている。 - 特許庁

To provide a bolt confirming jig capable of easily comparing the length and the diameter of an inspection-objective bolt visually with a sample bolt of a reference.例文帳に追加

検査対象ボルトの長さおよび径を基準となるサンプルボルトと視覚的に簡単に比較することができるボルト確認治具を提供する。 - 特許庁

The reference voltage level is generated by a sample and hold circuit which samples the small swing voltage level when the differential signals from the sensors are equal.例文帳に追加

基準電圧レベルは、センサからの差信号が等しい時に、小さなスイングの電圧レベルをサンプルする、サンプル・ホールド回路によって発生される。 - 特許庁

REFERENCE MATERIAL FOR ELECTRON SPIN RESONANCE MEASUREMENT, AND SAMPLE ANALYSIS AND ADJUSTMENT AND MAINTENANCE METHOD OF MEASUREMENT DEVICE BY ELECTRON SPIN RESONANCE METHOD USING IT例文帳に追加

電子スピン共鳴測定用標準物質とこれらを用いた電子スピン共鳴法による試料分析及び測定装置調整維持方法 - 特許庁

In the structure of the heat flux type differential scanning calorimeter, where heat passage between a sample holder and the heat reservoir is formed of a metal material, having satisfactory thermal conduction, heaters for input compensation are installed on the sample holder and a reference holder.例文帳に追加

試料ホルダーと熱溜の間の熱流路を熱伝導の良い金属材料で形成した熱流束型示差走査熱量計の構造で、その試料ホルダー、参照ホルダーに入力補償用ヒータを取りつけた。 - 特許庁

A demodulated signal corresponding to a sample gate is selectively extracted by matching a phase of a receiving signal from a depth corresponding to the sample gate and that of a reference wave at the delay circuits 26I and 26Q.例文帳に追加

遅延回路26I,26Qにおいて、サンプルゲートに対応した深さからの受信信号の位相と参照波の位相を一致させることにより、サンプルゲートに対応した復調信号が選択的に抽出される。 - 特許庁

The transmission circuit transmits only the start part of the sample string up to a point that continues to be equal to a reference value and also transmits a designator being a 'transmission end' after the transmitted final sample.例文帳に追加

上記送信回路は、参照値に等しくなり続けるポイントまでのサンプルの列の開始部のみを、送信すると共に、送信した最後のサンプルの後に“送信の最後”なる指示子を送信するように構成されている。 - 特許庁

In a step S10, the sample data of the same measuring condition as an inputted measuring condition is extracted and, in a step S12, a compound above 5RU in reference data G2 is extracted from the compounds of the sample data.例文帳に追加

ステップS10で、入力された測定条件と同じ測定条件のサンプルデータを抽出し、ステップS12で、このサンプルデータの化合物の中から、参照データG2が5RU以上の化合物を抽出する。 - 特許庁

This temperature calibrating method for the thermal analyzer is constituted so as to measure not only the temperature of a measuring sample set between electrode rods 6a and 6b in place of a reference substance 44 with a temperature sensor 34 but also the current, voltage, electric resistance or the like of the measuring sample while changing the temperature of the measuring sample.例文帳に追加

基準物質44に代えて電極棒6a,6bの間にセットされる測定試料の温度を温度センサ34によって測定すると共にその温度を変化させながらその測定試料の電流、電圧、電気抵抗等を測定する熱分析装置の温度校正方法である。 - 特許庁

The passage changeover type analyzer having the single sample cell part for measuring the concentration of the specific component in the sample by switching between the sample passage and the reference passage at the fixed period is characterized by providing the member having the prescribed capacity at least in either of the passages.例文帳に追加

また、一定周期で試料流路および基準流路の切換を行い、試料中の特定成分の濃度を測定する単一の試料セル部を有する流路切換式分析計であって、少なくとも前記いずれかの流路に所定の容量を有する部材を設けることを特徴とする。 - 特許庁

A device corrects variations of the measured values which depend on a position of the measuring head, by providing respective steps for determining a sample-free blank value, a measured value of a standard sample and a measured value of a measurement target sample and correction values thereof with respect to reference position and measuring position of a measuring head.例文帳に追加

本発明は、測定ヘッドの基準位置と測定位置に対して、試料のない状態のブランク値と標準試料の測定値と測定対象試料の測定値およびそれらの補正値を求める各ステップを設けて、測定ヘッドの位置に依存する測定値のバラツキを補正するものである。 - 特許庁

This photodetector includes a single semiconductor substrate 10 and the sample light photodiode array 7a and reference light photodiode array 7b formed on the surface of the substrate 10 and the spectra of both sample and reference lights are respectively detected by the photodiode arrays 7a, 7b and absorbancies are calculated at every wavelength from the sample light signal and reference light signal at the same time by a signal processing circuit 9.例文帳に追加

この検出器は単一の半導体基板10とその表面に形成されたサンプル光用フォトダイオードアレイ7a及びリファレンス光用フォトダイオードアレイ7bとを含み、サンプル光のスペクトル及びリファレンス光のスペクトルはサンプル光用フォトダイオードアレイ7a及びリファレンス光用フォトダイオードアレイ7bによってそれぞれ検出され、信号処理回路9により、同一時刻におけるサンプル光信号及びリファレンス光信号から波長毎に吸光度が求められる。 - 特許庁

When the measured temperature comes to a reference temperature or more, a voltage value of a voltage impressed to the sample S for carrying out the excavation work is reduced to reduce a heat value supplied to the sample S, and deterioration such as melting is prevented from being generated even when the sample S is a thermally weak material, to form a sample face favorable for observation.例文帳に追加

測定した温度が基準温度以上になった場合は、掘削加工を行うために試料Sへ印加する電圧の電力値を低下させて、試料Sに与えられる熱量を低下し、試料Sが熱に弱い材料であっても溶融などの変質が生じることを防止して、観察に良好な試料面を形成する。 - 特許庁

An SPR sensor device has a sample fixing portion 24 in which a measurement reference surface L is set at a lower surface side, and the protruding portions 16 of the microchip 10 are pressed to the measurement reference surface L, thereby holding and fixing the microchip 10.例文帳に追加

SPRセンサ装置は測定基準面Lが下面側に設定された試料固定部24を有し、この測定基準面Lにマイクロチップ10の突出部分16を押付けてマイクロチップ10を保持・固定する。 - 特許庁

A color sample 18 for reference for the erythema of skin reaction with a substance to be tested are provided in the vicinity of the gel body 16 for the tests of the transparent film 12 in such a way that the colors 18 for reference have such a degree of transparency as that the skin is observed through.例文帳に追加

透明フィルム12の検査用ゲル体16近傍には、被験物質により反応する皮膚の紅斑の色見本18が、皮膚が透けて見える程度の透明性を有して設けられている。 - 特許庁

The sample for acquiring relative correction data is measured by the test tool 26 and the reference tool 16, and the first equation for calculating the estimated value of the measurement value by the reference tool 16 from the measurement value of the test tool 26 is obtained.例文帳に追加

試験治具26と基準治具16とで、相対補正データ取得用試料を測定し、試験治具26での測定値から基準治具16での測定値の推定値を算出するための第1の数式を求める。 - 特許庁

After returning the phase of the pilot signal thus calculated to the sample rate f_SM1, a reference signal generating part 130A generates a reference signal BSA in a predetermined relation based on the phase of the pilot signal.例文帳に追加

こうして算出されたパイロット信号の位相をサンプルレートf_SM1に戻した後、パイロット信号の位相に基づいて、基準信号発生部130Aが、パイロット信号と所定関係にある基準信号BSAを生成する。 - 特許庁

The reference manifestation amount of specific coupling material is measured from a reference sample formed by specific coupling of material derived from a standard organism to the specific coupling material of the test piece area by area.例文帳に追加

試験片の特異的結合物質に基準となる標識生体由来物質を特異的に結合させてなる基準サンプルから特異的結合物質の基準発現量をそれぞれの領域ごとに測定する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for accurately measuring the amount of electric charge, which can minimize mechanical damages of a sample film caused by dropping reference powders.例文帳に追加

基準粉体の落下による試料膜の機械的なダメージを低減できる、より高精度の帯電量測定装置及び測定方法を提供する。 - 特許庁

A reference sample 10a which has 1st and 2nd inspection marks formed of projections or grooves is prepared and mounted on the stage of the positional deviation inspecting device.例文帳に追加

突起又は溝からなる第1及び第2の検査マークを有する基準サンプル10aを用意し、位置ずれ検査装置のステージ上に載置する。 - 特許庁

To provide a reference material used in the measurement of a nutrient salt concentration in a sea water sample which is storable over a long term at room temperature.例文帳に追加

海水試料中の栄養塩濃度を測定する際に用いる参照物質であって、室温下で長期に渡って保存可能なものを提供すること。 - 特許庁

A sample circuit 20 is provided with a PMOS transistor 21 to which a reference signal Rclk is inputted to a gate and a comparison signal Dclk is inputted to a source.例文帳に追加

サンプル回路20は、基準信号Rclkがゲートに入力され、比較信号Dclkがソースに入力されるPMOSトランジスタ21を備えている。 - 特許庁

When X-ray mapping is conducted, a SEM image in a scanning area on a sample 4 is stored as a reference image in a first scanning.例文帳に追加

X線マッピングを行うに際して、最初の1回目の走査時に、試料4上の走査領域のSEM像を基準像として記憶しておく。 - 特許庁

First, lightness of a transmission illumination 5 and the diaphragm of an optical lens 4 are controlled, while photographing a sample to be a reference by using a CCD camera 3.例文帳に追加

先ず、基準となる試料をCCDカメラ3を用いて撮影しながら、透過照明5の明るさ及び光学レンズ4の絞りを調整する。 - 特許庁

An error factor of the relative correction adapter 31 is identified from an actual measurement device measurement value and a reference measurement device measurement value of a correction data acquisition sample 11B.例文帳に追加

相対補正アダプタ31の誤差要因を補正データ取得試料11Bの基準測定治具測定値および実測測定治具測定値から同定する。 - 特許庁

The absorbancy at the sample absorbing wavelength is calculated by an absorbancy calculation part 29s and the absorbancy at the reference wavelength is calculated by an absorbancy calculation part 29r.例文帳に追加

吸光度計算部29sによりサンプル吸収波長での吸光度を計算し、吸光度計算部29rによりリファレンス波長での吸光度を計算する。 - 特許庁

Back scattering from the thin film can be used for controlling a path length of a reference arm to a path length of a sample arm (namely to detect z offset).例文帳に追加

薄膜からの後方散乱は、基準アームの経路長をサンプルアームの経路長に調節するために(すなわち、zオフセット検出のために)用いられ得る。 - 特許庁

A reference spectrum obtaining part 142 obtains a plurality of gradual pigment spectral characteristic values regarding the dyeing pigment for dyeing the dyed sample.例文帳に追加

基準スペクトル取得部142は、染色標本を染色している染色色素についての段階的な複数の色素分光特性値を取得する。 - 特許庁

This method can be incorporated into various mechanisms, and is mainly provided for a glucose measuring instrument of a blood sample and for a reference solution measuring instrument.例文帳に追加

本方法は、様々なメカニズムに組み込むことができるが、主として、血液サンプルのグルコース計器及び対照溶液計器のために向けられている。 - 特許庁

To sample effectively a transmission pulse of own radar by enabling separation of an interference wave synchronizing by chance with a reference clock, in an equivalent time sampling radar.例文帳に追加

等価時間サンプリングレーダにおいて、基準クロックと偶然同期する干渉波の分離を可能にして、自レーダの送信パルスを有効にサンプリングする。 - 特許庁

A plurality of reference members 19 are arranged in a matrix form, in a sample support domain of the living tissue 8 on the upper surface 91 of the resin plate 9.例文帳に追加

樹脂プレート9の上面91において、生体組織8の試料支持領域内に、複数のリファレンス部材19がマトリクス状に配置されている。 - 特許庁

To provide a method for estimating a ratio between the amount of target nucleic acid and the amount of reference nucleic acid in a nucleic acid sample under examination from the PCR reaction solutions at the endpoint.例文帳に追加

エンドポイントのPCR反応溶液から、被検核酸試料中の標的核酸量と参照核酸量の比率を推定する方法の提供。 - 特許庁

Using the distortion parameters of the reference scope 23 and the distortion parameters of the user scope 27, distortion in the image data taken for a sample for measurement 30 is corrected.例文帳に追加

そして、基準スコープ23の歪みパラメータおよびユーザスコープ27の歪みパラメータを用いて、計測用被写体30を撮像した画像データの歪みを補正する。 - 特許庁

The attribute information update terminal 60 transmits the update target HL7 reference sample inspection result data and the overwrite instruction to the inspection data management server 70.例文帳に追加

属性情報更新端末60は、更新対象のHL7準拠検体検査結果データと上書き命令とを検査データ管理サーバ70に送信する。 - 特許庁

The stage 12 is moved by a stage moving mechanism 14, and the sample 11 or a reference reflecting plate 13 of known reflectivity is positioned selectively at a measuring position.例文帳に追加

ステージ12をステージ移動機構14で移動させ、試料11または反射率既知の基準反射板13を測定位置選択的に位置させる。 - 特許庁

例文

To provide a coating surface evaluation method and a device for objectively evaluating the features of a metallic coating surface, and to provide an evaluation reference sample.例文帳に追加

メタリック塗装表面の特徴を客観的に評価する塗装表面評価方法および装置並びに評価基準標本を提供する。 - 特許庁




  
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