「reference stage」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

An on-axis camera 20 simultaneously images the mask stage reference mark 15 and alignment mark 44 through a projection optical system 12.例文帳に追加

オンアクシスカメラ２０は、マスクステージ基準マーク１５とアラインメントマーク４４とを投影光学系１２を介して同時に撮像する。 - 特許庁

The stationary base 133 is a wafer stage and a substrate W1 for reference is fixed on its upper surface in a first horizontal posture.例文帳に追加

定置台１３３は、ウェハーステージであり、基準用基板Ｗ１は、その上面に第１水平姿勢にて定置されている。 - 特許庁

The first members 7a and 7b are attached to the fine adjustment stage 1 and the second members 8a and 8b are attached to a reference structure 4.例文帳に追加

第１部材７ａ，７ｂは微動ステージ１に取り付けられ、第２部材８ａ，８ｂは基準構造体４に取り付けられる。 - 特許庁

A plurality of different first marks are formed on at least one of the precursor and a reference plate held on the precursor stage.例文帳に追加

原版ステージに保持された原版及び基準プレートの少なくとも一方には、相異なる複数の第１マークが設けられる。 - 特許庁

Graphic processing such as half tone processing of the image data is carried out with reference to a precedent stage line of the developed image data.例文帳に追加

そして、展開された画像データの前段ラインを参照して該画像データのハーフトーン処理等のグラフィック処理が行われる。 - 特許庁

The position of a wafer-side mark on a stage reference plate 9 is measured by a TTR alignment scope 20.例文帳に追加

露光装置において、ステージ基準プレート９上のウエハ側マーク位置がＴＴＲアライメントスコープ２０を用いて計測される。 - 特許庁

The method includes a stage in which a reference voltage source charges or discharges a loading end of a source driver to a reference voltage having a polarity the same as a polarity of a target voltage and a voltage level near a voltage level of the target voltage, and an output stage of the source driver in which the loading end is charged or discharged to the target voltage.例文帳に追加

方法は、基準電圧源でソースドライバーの負荷端を、目標電圧と極性が同じで電圧値が近い基準電圧まで充放電する段階、該ソースドライバーの出力段で負荷端を該目標電圧まで充放電する段階からなる。 - 特許庁

A first over-voltage detection circuit 140 detects that the front stage voltage exceeds a first reference voltage Vref1, while a second overvoltage detection circuit 150 detects that the rear stage voltage exceeds a second reference voltage Vref2.例文帳に追加

第１の過電圧検出回路１４０は、平滑回路１３０の前段の電圧が第１の基準電圧Ｖref1を超えたことを検出し、第２の過電圧検出回路１５０は、平滑回路１３０の後段の電圧が第２の基準電圧Ｖref2を超えたことを検出する。 - 特許庁

A leading pulse obtained at a reference pulse generating section 16 is fed to a 1st stage of each shift register, and the pulse is sequentially shifted up to the 48-th stage by a shift pulse from a shift pulse generating circuit 15.例文帳に追加

基準パルス生成部１６で得られた立ち上がりパルスはシフトレジスタの第１段目に入力され、シフトパルス発生回路１５からのシフトパルスによって第４８段目まで順次シフトされる。 - 特許庁

Thus, based on measurement results of the slight movement stage position measurement system and the measurement arm position measurement system 72A_0, the position information of the slight movement stage WFS1 in reference to the light axis AX is measured precisely.例文帳に追加

従って、微動ステージ位置計測系と計測アーム位置計測系７２Ａ_０との計測結果に基づいて、光軸ＡＸを基準とする微動ステージＷＦＳ１の位置情報を高精度で計測する。 - 特許庁

The EUV mask having a multilayer film and an absorber pattern is placed on a mask stage, and the position of a reference mark is detected (step S101).例文帳に追加

多層膜と吸収体パターンとを有するＥＵＶマスクをマスクステージに載置し、基準マークの位置を検出する（ステップＳ１０１）。 - 特許庁

The first folding stage generates a first group of folding signals, by directly folding or actively interpolating the reference signals.例文帳に追加

第１フォールディングステージは基準信号を直接フォールディングするか能動補間しフォールディングして第１フォールディング信号群を生成する。 - 特許庁

An injection quantity of rear-stage injection when performing the multistage injection is corrected based on the reference injection characteristic dislocated by the phase moving distance.例文帳に追加

位相移動量分ずらした基準噴射特性に基づき、多段噴射を実施するときの後段噴射の噴射量を補正する。 - 特許庁

A ratio of the nitrogen compound in the mixed material at the stage before the thermal pressing is 5 to 20 wt.% by a dry reference.例文帳に追加

熱圧締前の段階における混合原料中の窒素系化合物の割合を、乾式基準で５〜２０重量％とする。 - 特許庁

A bias current of an input stage transistor of the second stage amplifier 106 in the prescribed number of comparators to which a reference voltage within a narrow change range is increased centered on a reference voltage supplied to a self-comparator on the basis of an output voltage of the initial stage amplifier 101 by BFs 102 and 103, a DET 104 and a 5OR 105.例文帳に追加

ＢＦ１０２，１０３とＤＥＴ１０４と５ＯＲ１０５とによって初段アンプ１０１の出力電圧に基づき、自コンパレータに供給される参照電圧を中心に狭い変化範囲内の参照電圧が供給される所定数のコンパレータにおける２段目アンプ１０６の入力段トランジスタのバイアス電流を増加させる。 - 特許庁

At the initial stage of starting, reference resistors Rr1 and Rr2 are increased for performing current control along with a rush current, and then reference resistors Rr1 and Rr2 are decreased for current control.例文帳に追加

起動初期時にはリファレンス抵抗Ｒｒ１、Ｒｒ２を高くしてラッシュ電流に伴う電流制御を行い、その後にリファレンス抵抗Ｒｒ１、Ｒｒ２を抵くして電流制御を行う。 - 特許庁

At an early stage of the activation, the reference voltage is set to be low for preventing an inrush current from a power source, and thereafter, a rate of increase in reference voltage is gradually increased, to thereby reduce the soft start time.例文帳に追加

起動初期においては、基準電圧を低くし電源からの突入電流を防止し、その後段階的に基準電圧の上昇率を高くすることによって、ソフトスタート時間を短縮させる。 - 特許庁

The image normalization unit 15 for the inspection object further normalizes, in a second stage, the image of the object to be inspected which is normalized in the first stage based on the matching result between the image of the inspection object which is normalized in the first stage and the original resolution reference image.例文帳に追加

検査対象画像正規化部１５は，第２段階で，第１段階で正規化された検査対象画像と，本来の解像度の正規化用リファレンス画像とのマッチング結果に基づいて，第１段階で正規化された検査対象画像をさらに正規化する。 - 特許庁

The reference measure E31 of a third scale E3 is fixed to a third stage 23, a scanning head E32 is fixed to a non-movable part of the third stage, and the position of the movable part of the third stage 23 is measured by the third scale E3 whose measurement performance does not change.例文帳に追加

第３ステージ２３に第３スケールＥ３の基準尺Ｅ３１が固定されると共に第３ステージの非可動部に走査ヘッドＥ３２が固定され、計測性能が変化しない第３スケールＥ３によって第３ステージ２３の可動部の位置を計測する。 - 特許庁

In this case, the other amplifier stage V2 is connected with the reference potential connecting part GND with the lower ohmic characteristics when input current U1 to be generated in an amplifier input terminal IN1 of the amplifier stage V1 is provided with a DC operating point to activate the amplifier stage V1.例文帳に追加

その際、他方の増幅器段Ｖ２は、増幅器段Ｖ１の増幅器入力端子ＩＮ１に生じる入力電圧Ｕ１が増幅器段Ｖ１を活性化する直流動作点を有するときに、基準電位接続部ＧＮＤに低オーム性に接続されている。 - 特許庁

The aligner has a reticle stage RST which is disposed on one side of a projection optical system 13, holds a reticle R having a transfer pattern and is equipped with an alignment reference plate SP, and a wafer stage WST equipped with a reference mark FM on the other side.例文帳に追加

露光装置は、投影光学系１３の一方の側に配置され、転写パターンを有するレチクルＲを保持するとともに位置合わせ用の基準プレートＳＰを具備したレチクルステージＲＳＴと、他方の側に基準マークＦＭを具備したウエハステージＷＳＴを有する。 - 特許庁

File reference information recording reference to each of data in the file by a program is generated, and data the reference to which is started are collected from the file for every stage of the program execution to form data group information related to a data group and the reference to each data group of the file.例文帳に追加

プログラムによるファイル中の各データへの参照を記録したファイル参照情報を生成し、ファイル参照情報に基づいて、ファイルの中からプログラム実行の各段階毎に参照が開始されるデータを集めてデータ群並びにファイルの各データ群への参照に関するデータ群情報を作成する。 - 特許庁

The arrangement of the primary beams 110 on the sample surface is acquired as an image of a reference mark 116 on a stage 117 displayed on an image display part 136.例文帳に追加

試料表面における一次ビーム110の配置を、画像表示部136に表示した、ステージ117上の基準マーク116の画像として取得する。 - 特許庁

Further, the normalization reference is updated during treatment by using second reflection spectrum data sample obtained in a stage before the CMP treatment.例文帳に追加

さらに、正規化参照は、ＣＭＰ処理の前の段階において取得される第２の反射スペクトルデータサンプルを用いて、処理中に更新される。 - 特許庁

An image signal processing unit 50 has a pre-stage signal processing circuit 51, a brightness/color difference matrix circuit 52, and a color difference reference correction circuit 55.例文帳に追加

画像信号処理ユニット５０は前段信号処理回路５１、輝度／色差マトリックス回路５２、および色差基準補正回路５５を有する。 - 特許庁

The part 5 outputs the coincidence/noncoincidence of the reference data and section data to a RAM interface 9 at a rear stage and filtering is performed by address control.例文帳に追加

比較部５は、リファレンスデータとセクションデータの一致／不一致を後段のＲＡＭインタフェース９に出力し、アドレス制御によりフィルタリングを行う。 - 特許庁

A forming roll set 1 disposed on both sides of a reference forming roll set 1' forms a movable forming roll set 1" disposed on a movable stage 2.例文帳に追加

基準成形ロール組１’の両側に配される成形ロール組１が可動ステージ２上に配された可動成形ロール組１”としてある。 - 特許庁

Reference numerals 101a, 101b comprise: a 10-stage shift register 102; an XOR calculator 108; selectors 106, 107; and feedback circuits 103a, 103b.例文帳に追加

１０１ａ，ｂは、１０段のシフトレジスタ１０２、ＸＯＲ演算器１０８、セレクタ１０６，１０７およびフィードバック回路１０３ａ，ｂを備える。 - 特許庁

Each holding unit which holds the wafer has a stage reference mark for alignment and measurement, and can be fitted to and removed from the exposure and alignment stages 4 and 7.例文帳に追加

ウエハを保持する保持ユニットは、アライメント計測用のステージ基準マークを有し、露光ステージ４及びアライメントステージ７に着脱可能である。 - 特許庁

In the X-ray analysis of the set analyzing points, a stage position is moved to a position where the reference image is acquired to acquire an image newly.例文帳に追加

設定された分析点のＸ線分析は、ステージ位置を基準画像を取得したときの位置に移動させ、新たに画像が取得される。 - 特許庁

Thereby, the reference beam and the measurement beam are not influenced by vibration, so that the position measurement of the reticle stage RST can be highly accurately performed, and further the reticle stage can be highly accurately moved.例文帳に追加

これにより、参照ビームと計測ビームとが振動の影響を受けることがないため、レチクルステージの位置計測を高精度に行うことができ、ひいては、レチクルステージを高精度に移動することが可能となる。 - 特許庁

If a trajectory distance of the trajectory point when the moving point moves by the fixed moving distance at one stage becomes a predetermined reference distance or more, the CPU reduces the moving distance by which the moving point moves at the stage.例文帳に追加

ＣＰＵは、動点が１段階に移動距離だけ移動するときの軌跡点の軌跡距離が所定の基準距離以上となる場合に、当該段階で動点が移動する移動距離を減少させる。 - 特許庁

The DC voltage ea_1 inputted in the first stage DC voltage converter circuit 1_1 and a boosted high DC voltage E_N are generated between the reference potential portion 9_1 in the first stage DC voltage conversion circuit 1_1 and the high voltage side positive potential portion 10_N in the Nth stage DC voltage converter circuit 1_N.例文帳に追加

第１段直流電圧変換回路１_1の基準電位部９_1と第Ｎ段直流電圧変換回路１_Nの高圧側正電位部１０_Nとの間に第１段直流電圧変換回路１_1に入力される直流電圧ｅa_1昇圧した直流高電圧Ｅ_Nを発生する。 - 特許庁

Secondly adjusts the tilt stage 120 so that the reference plane 132 is in parallel with X-axis and its tilt angle against Y-axis is βX, moves the X stage 112 to download both the displacement along the X-axis of the X stage 112 and the displacement along the Z-axis of the tip ball 142 into the computer 152.例文帳に追加

次に、基準平面１３２がＸ軸に平行でＹ軸に対する傾き角がβ_xとなるようにチルトステージ１２０を調整し、Ｘステージ１１２を移動させ、Ｘステージ１１２のＸ軸に沿った変位と、先端球１４２のＺ軸に沿った変位とをコンピュータ１５２に取り込む。 - 特許庁

A printing control unit 1 controls the printing unit 11 to feed sheets of paper from the one paper feed stage and the paper feed stages in the next order with reference to the setting management data on the basis of the selected one paper feed stage, and performs composite printing control when printing sheets of paper are fed from the paper feed stage in the next order.例文帳に追加

印刷制御部１は、選択された一の給紙段に基づき設定管理データを参照し、印刷部１１に対し、一の給紙段と次順位の給紙段からの給紙を制御し、次順位の給紙段から印刷用紙が給紙されたとき合成印刷制御する。 - 特許庁

In forward shift operation, a unit register circuit in an (n+4)th-stage corresponding to a tail stage of the bidirectional shift register outputs a pulse G(n+4) in synchronism with a clock pulse V(n+4) input to the unit register circuit in the (n+4)th stage when a reference point N1 is at H level.例文帳に追加

順シフト動作において、双方向シフトレジスタの後尾段に当たる第（ｎ＋４）段の単位レジスタ回路は、基準点Ｎ１がＨレベルのとき、第（ｎ＋４）段の単位レジスタ回路に入力されるクロックパルスＶ（ｎ＋４）に同期してパルスＧ（ｎ＋４）を出力する。 - 特許庁

The device 100 for measuring laser interference is equipped with a movable moving stage 110, a first mirror surface 129, a second mirror surface 131, a laser light source 107, a first reference mirror 105 and a second reference mirror 121.例文帳に追加

レーザ干渉測定装置１００は、移動可能な移動ステージ１１０、第一鏡面１２９、第二鏡面１３１、レーザ光源１０７、第一参照用ミラー１０５、および第二参照用ミラー１２１を備える。 - 特許庁

Positioning of a reticle R held to a reticle stage 2 is carried out by overlapping an alignment mark RM of the reticle R with a reticle reference mark SM of a reticle reference part 13 supported above a projection optical system 3.例文帳に追加

レチクルステージ２に保持されたレチクルＲの位置合わせは、レチクルＲのアライメントマークＲＭと、投影光学系３の上方に支持されたレチクル基準部１３のレチクル基準マークＳＭを重ね合わせることで行なわれる。 - 特許庁

A reflecting means 4 which changes optical path by reflecting the light emitted from the laser source 2 in the direction orthogonal to the reference surface 3a is provided on the reference surface 3a of the stage 3.例文帳に追加

レーザ光源２に対して、当該光源から出射される光を基準面３ａに対して直交する方向に反射させることで光路を変更する反射手段４を、ステージ３の基準面３ａ上に設置する。 - 特許庁

In the semiconductor device including a differential amplifier to which an input potential and a reference potential are inputted, a gain stage, and an output stage for outputting an output potential, a potential supplied from the gain stage is kept constant by arranging a transistor having a low leakage current in an OFF state, at the output stage.例文帳に追加

入力電位および基準電位が入力される差動増幅器、利得段および出力電位が出力される出力段を有する半導体装置において、該出力段にオフ状態でのリーク電流が低いトランジスタを配置することで、該利得段から供給される電位が一定に保持される半導体装置である。 - 特許庁

The flip-flop has a first stage in which a reference clock signal and a reset signal are received, and a second stage in which own output node is transitioned to a first level responding to the reference clock signal, and the output node is precharged, responding to the output signal from the first stage corresponding to the reset signal and is transitioned to a second level.例文帳に追加

本発明のフリップフロップは、基準クロック信号及びリセット信号を受信する第１のステージと、前記基準クロック信号に応答して自体の出力ノードを第１のレベルに遷移させ、前記リセット信号に対応する前記第１のステージの出力信号に応答して前記出力ノードをプリチャージさせて第２のレベルに遷移させる第２のステージとを備えることを特徴とする。 - 特許庁

Then 2nd commercial information based upon the statistical information is calculated around the reference point by the meshes and displayed as 2nd stage property information.例文帳に追加

基準点を中心にメッシュ毎に統計情報にもとづいた第２の商圏情報を算出して、これを第２の段階属性情報として表示する。 - 特許庁

The CPU 14 increases the button volume set value by "+1 stage" according to that it is detected that the button size is smaller than the reference button size.例文帳に追加

また、ＣＰＵ１４は、ボタンサイズが基準ボタンサイズよりも小さいことが検出されることに応じて、ボタン音量設定値を”＋１段階”上昇させる。 - 特許庁

In a pre-printing stage, a colorimetry of an image on the reference sheet is performed and an image file in a device-independent color space is produced from the measurement result.例文帳に追加

印刷前段階において、参照枚葉紙の画像を色彩測定し、この測定結果から、デバイスインディペンデントな色空間における画像ファイルを生成する。 - 特許庁

A reference sample 10a which has 1st and 2nd inspection marks formed of projections or grooves is prepared and mounted on the stage of the positional deviation inspecting device.例文帳に追加

突起又は溝からなる第１及び第２の検査マークを有する基準サンプル１０ａを用意し、位置ずれ検査装置のステージ上に載置する。 - 特許庁