「reference stage」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

As a result, variable adjustment of height of the stage is stopped when the ultraviolet-ray illuminance measuring value E obtained from the illuminance measuring circuit 128 matches the reference standard Es.例文帳に追加

これにより、照度測定回路１２８より得られる紫外線照度測定値Ｅが基準照度Ｅsに一致したところで、ステージ高さ位置の可変調整が停止するようになっている。 - 特許庁

The circulation reference time that recording paper circulates once in a circulation path is set to a short value, thus the paper feeding intervals in the consecutive double-sided image formation stage are uniformized.例文帳に追加

記録紙が循環搬送路を１周する循環基準時間を短い値に設定することにより、連続両面画像形成工程における給紙間隔を均等にする。 - 特許庁

A reference voltage generating circuit 1 including an output stage for outputting a predetermined reference voltage based on a band gap voltage is provided with a logic fixed signal outputting means 1c for detecting that a predetermined reference voltage is not outputted due to a decrease in a power source voltage, and for outputting the detection signal as a signal for fixing a control logic used when the reference voltage decreases.例文帳に追加

バンドギャップ電圧に基づく所定の基準電圧を出力する出力段を含んで構成された基準電圧発生回路１において、電源電圧の低下により所定の基準電圧が出力されなくなったことを検出し、検出信号を基準電圧低下時の制御論理を固定するための信号として出力する論理固定信号出力手段１ｃを装備する。 - 特許庁

The abnormal magnetism detection means (magnetic sensor 60) includes: a reference magnetic state storage means 62 of storing a prescribed reference magnetic state; and an abnormal signal output means 64 of comparing a reference magnetic state with a magnetic state at this stage, and of outputting an abnormal signal in detection of a difference deviating from a predetermined allowable range.例文帳に追加

異常磁気検出手段（磁気センサ６０）に、所定の基準磁気状態を記憶する基準磁気状態記憶手段６２と、基準磁気状態と現時点における磁気状態とを比較して、予め定められた許容範囲を外れる相違が検出された場合に異常信号を出力する異常信号出力手段６４とを備える。 - 特許庁

The abnormal magnetism detection means (magnetic sensor 60) includes: a reference magnetic state storage means 62 of storing a prescribed reference magnetic state; and an abnormal signal output means 64 of comparing a reference magnetic state with a magnetic state at this stage, and of outputting an abnormal signal in detection of a difference deviating from a predetermined allowable range.例文帳に追加

異常磁気検出手段（磁気センサ６０）に、所定の基準磁気状態を記憶する基準磁気状態記憶手段６２と、基準磁気状態と現時点の磁気状態とを比較して、予め定められた許容範囲を外れる相違が検出された場合に異常信号を出力する異常信号出力手段６４とを備える。 - 特許庁

In a parallel-serial conversion circuit, a clock propagation path is formed to sequentially give a reference clock signal or a clock signal which is obtained by frequency-converting the reference clock signal, corresponding to each of operational frequencies from the data converter of a first stage to the data converter of a final stage when operating multistage connected data converters in accordance with timing of the clock signal.例文帳に追加

パラレル−シリアル変換回路では、多段接続したデータ変換部をクロック信号のタイミングに従って動作させる際に、各々の動作周波数に対応した、基準クロック信号または該基準クロック信号を周波数変換したクロック信号が、初段のデータ変換部から最終段のデータ変換部に順次与えられるようにクロック伝搬経路が形成されている。 - 特許庁

The power-gating technique for the integrated circuit device having the Sleep Mode of operation comprises providing an output stage (224) coupled between a supply voltage source and a reference voltage source and driving a gate terminal of at least one element of the output stage to a level above that of the supply voltage source or below that of the reference voltage source in the Sleep Mode of operation.例文帳に追加

スリープモード動作を有する集積回路装置のためのパワーゲーティング技術であって、供給電圧源と基準電圧源との間に結合される出力段（２２４）を設けることと、スリープモード動作において、出力段の少なくとも１つの素子のゲート端子を、前記供給電圧源のレベルよりも上の、または基準電圧源のレベルよりも下のレベルに駆動することとを含む。 - 特許庁

At an asynchronous interface part between a TCLK operation part and an RCLK operation part in an LSI, 11 is a final output stage F/F for the transfer reference signal and 12 is a final output stage F/F for the transfer data D transferred in a pair with a STRB.例文帳に追加

ＬＳＩ内部のＴＣＬＫ動作部分と、ＲＣＬＫ動作部分との非同期インタフェース部分において、１１は転送基準信号の最終出力段Ｆ／Ｆであり、１２はＳＴＲＢと対になって転送される転送データＤの最終出力段Ｆ／Ｆである。 - 特許庁

The reference position P0 on the surface of a mold 23 is aligned with the center of the rotary shaft of the holding section, and then an adjustment spacer 461 is inserted between a positioning section 45X and a contact part 43B of an X stage 43 and/or between a positioning section 45Y and a contact part 42C of a Y stage 42.例文帳に追加

母型２３の表面上の基準位置Ｐ０と保持部の回転軸中心とを一致させた後、位置決め部４５ＸとＸステージ４３の当接部４３Ｂとの間、及び／又は、位置決め部４５Ｙと、Ｙステージ４２の当接部４２Ｃとの間に調整スペーサ４６１を挟む。 - 特許庁

Then, a reticle stage where the exposure mask is mounted, or a wafer stage where the reference wafer for alignment is mounted is finely adjusted so that patterns 12 and 12' for correction of misalignment in θ are superimposed on the positioning line 13 perpendicular to the orientation flat direction of the referential wafer.例文帳に追加

パターンが転写される半導体基板と同一の寸法を有する位置合わせ基準ウェハにおいて、位置合わせ基準ウェハの中心を通りオリエンテーションフラットに垂直な直線状の位置合わせマークと、位置合わせ基準ウェハの中心を示す位置合わせマークとを有する位置合わせ基準ウェハ。 - 特許庁

The manufacturing method of the piezoelectric device includes a test coating stage of applying the adhesive from the needle and a second measurement stage of measuring a coating amount deviation due to difference between the coating amount of the applied adhesive and a reference coating amount, and therefore a proper amount of adhesive can be applied to a proper position.例文帳に追加

ニードルから接着剤を塗布するテスト塗布工程、及び塗布された接着剤の塗布量と基準塗布量との塗布量ずれを測定する第２測定工程を備えているので、適切な位置に接着剤を適正な塗布量を塗布することができる。 - 特許庁

Therefore, it becomes possible to manage the position of the plate (that is, the stage) on a moving coordinate system set by the position measuring system based on the position information of the outer periphery edge of the plate even if a position measuring mark (reference mark) is not present on the stage WST.例文帳に追加

このため、そのステージＷＳＴ上に位置計測用のマーク（基準マーク）などが存在しなくても、プレートの外周エッジの位置情報に基づいて、プレート（すなわちステージ）の位置を前記位置計測系で設定される移動座標系上で管理することが可能になる。 - 特許庁

With magnet units 22A-22C, etc., magnet units 24A and 24B, etc., and magnet units 26A and 26B, etc., a projection optical system PL, mask stage devices RST and 16, and substrate stage devices WST and 18 are supported in non-contact to a reference structure body, respectively.例文帳に追加

磁石ユニット（２２Ａ〜２２Ｃ等）、磁石ユニット（２４Ａ、２４Ｂ等）及び磁石ユニット（２６Ａ、２６Ｂ等）により、投影光学系ＰＬ、マスクステージ装置（ＲＳＴ、１６）及び基板ステージ装置（ＷＳＴ、１８）が、それぞれ基準構造体１４に対しが非接触で支持されている。 - 特許庁

During the taking over, among the data, only basic information necessary for performing the trading processing is moved, at the stage when the move of the basic information is completed, the processing is resumed in the server in the move destination, and the remained data are moved at the stage when the reference or update thereof is required.例文帳に追加

引継ぎ際には、データの中から取引処理を行うのに必要な基本情報のみを移動し、基本情報の移動が完了した段階で移動先のサーバにおいて処理を再開し、残りのデータについては参照・更新の必要が生じた段階で移動するようにする。 - 特許庁

In a storage device 6, a moving image to be picked up by the imaging apparatus 2 when a slit image extending in the Y axis direction is projected on the object M to be a reference by the projector 1 while executing the relative scan by the stage 3 and the stage driving device 4 is also stored.例文帳に追加

記憶部６には、ステージ３及びステージ駆動装置４による相対走査を実行しつつ、プロジェクタ１によりＹ軸方向に延びるスリット像を基準となる物体Ｍ上に投影させたときに撮像装置２によって撮像される動画像も記憶されている。 - 特許庁

To provide a length measuring instrument which can operate without returning a stage to the datum point of a moving device, even when measurement light or reference light is interrupted or instantaneously discontinued and the displacement data of a displacement interferometer becomes indistinct by allowing the stage to return to the datum point by itself.例文帳に追加

光の干渉計を応用し、この干渉縞の数をカウントすることにより被測定体の移動量を計測する光干渉測長装置では、測定光もしくは参照光が遮られると被測定体の移動距離が不明となり、計測が続行不能となる。 - 特許庁

The demodulation circuit has a detecting means for detecting an input signal at the input stage of the signal compensation circuit, and comparing means for comparing an output signal from the amplification means with a reference level to determine a logical level at the output stage of the signal compensation circuit.例文帳に追加

本発明の復調回路は、本発明の信号補償回路の入力段に入力信号を検波する検波手段と、本発明の信号補償回路の出力段に、増幅手段からの出力信号を基準レベルと比較して、論理レベルを確定する比較手段とを有する。 - 特許庁

The DC/DC converter is provided with a PMOS transistor Q29 for shorting an output terminal CP20 of a charge pump 20 in an initial stage with a voltage V10 becoming a reference voltage for boosting to remove influence by a parasitic diode of a PMOS transistor in the charge pump 20 in the initial stage in a rise period.例文帳に追加

立ち上がり期間において、初段のチャージポンプ２０内のＰＭＯＳトランジスタの寄生ダイオードによる影響を排除するために、初段のチャージポンプ２０の出力端子ＣＰ２０を、昇圧の基準となる電圧Ｖ１０と短絡させるためのＰＭＯＳトランジスタＱ２９を設けた。 - 特許庁

In an implementing stage, a test image of the target is recorded while a comparison of the test image is performed with all of the reference images to seek the position of the test image whereat the optimum matching exists between the test image and any one of the several reference images.例文帳に追加

実施段階においては、前記目標物のテスト画像が記録され、かつ、前記テスト画像と前記幾つかの基準画像のうちの任意の１つとの最適な整合が存在する前記テスト画像の位置を見つめるために、前記テスト画像と全ての基準画像との比較がなされる。 - 特許庁

A process controller 1 finds the speed signal of the stage travel device 3 by a converting means 19 from a position feedback signal 6 and outputs a corrected speed reference signal 18 generated by correcting a master speed reference signal 17 with this speed signal to a slave motor driving controller 13.例文帳に追加

プロセス制御装置１において、変換手段１９により位置フィードバック信号６から舞台走行装置３の速度信号を求め、マスター速度基準信号１７をこの速度信号で補正した速度補正付き速度基準信号１８をスレーブモータ駆動装置１３へ出力する。 - 特許庁

Selecting a reference voltage range of the sub analog/digital converter 9 in each of the 1st-3rd stage circuits 3, 4, 5 to be a half of a reference voltage range of the digital/analog converter 10 matches an output voltage range of the digital/analog converter 10 with an output voltage range of the operational amplifier circuit 11.例文帳に追加

各段の回路３〜５内のサブＡ／Ｄコンバータ９の基準電圧レンジがＤ／Ａコンバータ１０の基準電圧レンジの１／２に設定されることにより、Ｄ／Ａコンバータ１０の出力電圧レンジが演算増幅回路１１の出力電圧レンジに一致する。 - 特許庁

The control part 88 calculates a shift amount between detection results of the sensor 100a, 100b and 100c and a predetermined reference position, and pre-aligns the substrate W with the reference position while moving an arm part 90 of the robot 87 from the processing unit 84 to a substrate stage 20 based on the shift amount.例文帳に追加

制御部８８は、センサ１００ａ，１００ｂ，１００ｃの検出結果と所定の基準位置とのズレ量を算出し、当該ズレ量に基づいてロボット８７のアーム部９０を処理ユニット８４から基板ステージ２０に移動しながら、基板Ｗを基準位置にプリアライメントする。 - 特許庁

In the determining part 51, a first process of selecting a low reference value is carried out in an ignition initial stage from igniting the rich-lean burner 10 until passage of a predetermined time, and a second process of selecting a high reference value is carried out during normal combustion after the predetermined time has passed.例文帳に追加

この判定部５１は、濃淡バーナ１０が点火して所定時間が経過するまでの点火初期においては、低い基準値を選択する第１処理がなされ、所定時間が経過した後の通常燃焼時においては、高い基準値を選択する第２処理がなされる。 - 特許庁

Energy density measurement for receiving an energy beam LB injected from a light source 16 by the integrator sensor 46 and the reference illumination meter in a state that the reference illumination meter is arranged on an image surface (stage 58) of a projecting optical system PL is repeated while sequentially changing the dimming ratio of a dimmer 20.例文帳に追加

投影光学系ＰＬの像面（ステージ５８）上に基準照度計を配置した状態で、光源１６から射出されたエネルギビームＬＢをインテグレータセンサ４６と基準照度計とで受光するエネルギ密度計測を、減光装置２０の減光率を逐次変更しながら繰り返し行う。 - 特許庁

The intensity of a received electric wave is measured simultaneously, respectively by a reference antenna 10 and by one of antenna elements A11-A1N selected successively, and the phase difference between each received wave by the reference antenna 10 and by the selected antenna element A1i is detected by a post-stage incoming direction estimation processing part 50.例文帳に追加

リファレンスアンテナ１０と順次選択されるアンテナ素子Ａ１１〜Ａ１Ｎのうちの一つとそれぞれ同時に受信電波の強度を測定し、後段の到来方向推定処理部５０でリファレンスアンテナ１０と選択されているアンテナ素子Ａ１ｉの受信波間の位相差を検出する。 - 特許庁

When the level detecting signal is greater than a reference signal of a reference signal source 26, on the basis of a switching signal from a comparator 24, the driver section 8 brings the gain control section 6 into the attenuated state, and the driver section 14 increases the operating current of the high frequency amplification stage 10, 12.例文帳に追加

レベル検出信号が基準信号源２６の基準信号よりも大きいとき、比較器２４からの切換信号に基づいてドライバ部８がゲインコントロール部６を減衰状態とし、ドライバ部１４が高周波増幅段１０、１２の動作電流を増加させる。 - 特許庁

Then the positional deviation of each placed element C in the X- and Y-directions with respect to a reference line and a reference point provided on the stage 12 and the deviations in azimuth (θ) of the element C in the X-Y plane are measured by observing the position and azimuth of the ridge section of the element C by means of an image sensor 16.例文帳に追加

次に、半導体レーザ素子のリッジ部の位置及び方位をイメージセンサ１６で観測して、位置合わせステージ上の基準線及び基準点に対する半導体レーザ素子のＸ方向及びＹ方向の位置ずれ、並びにＸ−Ｙ平面内での方位（θ）のずれを測定する。 - 特許庁

An optimum clock among a plurality of clocks obtained by delaying the reference clock CLK with various amounts of delay different from one another is supplied to the F/F group 1 just after an input pin in accordance with the amount of delay to the reference clock CLK of the clock EXP-CLK inputted from the LSI of the preceding stage.例文帳に追加

前段のＬＳＩから入力されたクロックＥＸＰ−ＣＬＫの基準クロックＣＬＫに対する遅延量に応じて、基準クロックＣＬＫを互いに異なる遅延量で遅延させた複数のクロックのうち最適なクロックが入力ピン直後のＦ／Ｆ群１に供給される。 - 特許庁

The device 86 is provided with a non-contact distance sensor S which can measure the vertical distance between the upper surface of a cassette stage 80 in a load-lock chamber 14, namely, a substantially horizontal reference plane and the blade 42 which moves above the reference plane.例文帳に追加

この検査装置８６は、ロードロックチャンバ１４内のカセットステージ８０の上面、すなわち実質的に水平な基準面と、該基準面の上方を移動するブレード４２との間の垂直方向の距離を計測することができる非接触式の距離センサＳを備えることを特徴とする。 - 特許庁

A switching control part 21 controls so as to switch to the paper feeding from the other same paper feeding stage on its same kind of paper, when a count value in one same paper feeding stage exceeds a preset reference count value in a state where the paper detecting part 19 detects a plurality of paper feeding stages 15a and 15b of setting the same kind of paper as the same paper feeding stage.例文帳に追加

切換制御部２１は、用紙検出部１９が同一種類の用紙がセットされた複数の給紙段１５ａ、１５ｂを同一給紙段として検出した状態の下で、一の同一給紙段におけるカウント値が予め設定された基準カウント値を超えたとき、その同一種類の用紙について他の同一給紙段からの給紙に切換制御をする。 - 特許庁

This method comprises a stage for calculating change of positioning distance of the gripper members 31 for a reference position, a stage for allotting these changes to respective gripper members 31, and a stage for incorporating the changes into first procedures for a controller 4 to improve positioning of the thin and flat article 10 in the gripper members 31 concerning each gripper member 31.例文帳に追加

本発明の方法は、各グリッパ部材（３１）について、基準位置に対するこれらのグリッパ部材（３１）の位置決め距離の変化を計算する段階と、これらの変化をそれぞれのグリッパ部材（３１）に割当てる段階と、グリッパ部材（３１）内での薄く平らな物品（１０）の位置決めを改善するために、前記変化をコントローラ（４）の第一手順に組入れる段階とを含む。 - 特許庁

The internal power generation circuit is composed of a comparing method for comparing potential between reference voltage and the internal power on which feedback is performed from an output stage, a pull-up driving method which performs pull-up driving of the output stage in response to output signals of the comparing method, and a discharge driving method which performs discharge driving of the output stage while the potential of internal power is above a given target level.例文帳に追加

出力段からフィードバックされた内部電圧と基準電圧との電位を比較するための比較手段と、前記比較手段の出力信号に応答して、前記出力段をプルアップ駆動するためのプルアップ駆動手段と、前記内部電圧の電位が、所定のターゲットレベル以上の間に前記出力段を放電駆動するための放電駆動手段とを備えてなる。 - 特許庁

The head portion 6 goes down, the lower face of it is made to abut on the tip of the rod 15, the lower face of the head portion 6 and an upper face of the stage 1 are arranged in parallel and a reference of each length measuring apparatus 13 is adjusted even.例文帳に追加

ついで、ヘッド部６を下降させ、その下面をロッド１５の先端に当接させ、ヘッド部６の下面とステージ１の上面とを平行に揃え、各測長機器１３の基準を合わせる。 - 特許庁

In the work support member 2, the outer peripheral surface 21 is a circle with a smaller diameter than the reference stage 1, and one face side in the axial direction is provided with a work mount part 22 set based on the center O2.例文帳に追加

ワーク支持部材２は、外周面２１が基準ステージ１よりも小径の円形状であって、軸方向の一面側に、中心Ｏ２を基準にして設定されたワーク取り付け部２２を有する。 - 特許庁

A first sensor pattern and a second pattern which respectively receive the projected image of each reticle pattern RP1 and RP2 through a projecting optical system 11 are arranged on a reference plate 36 of a wafer stage 23.例文帳に追加

ウエハステージ２３の基準板３６上に、前記各レチクルパターンＲＰ１，ＲＰ２の投影光学系１１を介した投影像に各別に受光する第１センサパターン及び第２センサパターンを設ける。 - 特許庁

A ratio of total quantity of the flame retardant and the incombustible material in the mixed material at the stage before the thermal pressing is 10 to 30 wt.% by the dry reference.例文帳に追加

熱圧締前の段階における混合原料中の粉粒体状の難燃剤及び無機質繊維状の不燃材料の合計量の割合を乾式基準で１０〜３０重量％とする。 - 特許庁

An optical sensor 18 for detecting intensity of the exposure light that has at least passed through a reference mark MK for a specified inspection in the reticle 12 is deployed at a prescribed part of the wafer stage mechanism 16.例文帳に追加

ウェハステージ機構１６の所定部には少なくともレチクル１２における所定の検査用の基準マークＭＫを通した露光光の強度を検出するための光センサー１８が配備されている。 - 特許庁

For example, by collating the shape information measured by the measuring part 34 with the reference data in stages, held by the storage part 36, the stage is specified to which the drill to be inspected corresponds.例文帳に追加

たとえば、測定部３４により測定された形状情報と、記憶部３６に保持されたステージごとの参照データを照合することにより、検査対象のドリルが該当するステージを特定する。 - 特許庁

Then a resistor 6 for buffering is interposed between P type transistors M201, M211, M221, and M231 included in the reference current circuit 2, input circuit 3, and output circuit 4, and a next-stage circuit.例文帳に追加

そして、基準電流回路２、入力回路３、出力回路４に含まれるＰ型トランジスタＭ２０１、Ｍ２１１、Ｍ２２１、Ｍ２３１とその次段の回路との間に緩衝用の抵抗６が挿入される。 - 特許庁

An image normalization unit 15 for the inspection object normalizes, in a first stage, the image of the inspection object based on a matching result between the low resolution image of the inspection object and the low resolution reference image for normalization.例文帳に追加

検査対象画像正規化部１５は，第１段階で，低解像度の検査対象画像と，低解像度の正規化用リファレンス画像とのマッチング結果に基づいて，検査対象画像を正規化する。 - 特許庁

A signal quality calculation part 9 calculates modulation error ratio (MER) representing ratio between a reference symbol included in the subcarrier and its error obtained in a process stage in the compensation part 7 as a signal quality value.例文帳に追加

信号品質演算部９は、補償部７での処理過程で得られるサブキャリアの中に含まれる基準のシンボルとその誤差との比を表す変調誤差比（ＭＥＲ）を信号品質値として算出する。 - 特許庁

In an adjustment mode, a reference adjustment value for regulating the regular image forming start position of paper supplied from an upper stage cassette 41 which is equipped as standard is set in a manufacture process.例文帳に追加

調整モードでは、製造過程において、標準装備される上段カセット４１から供給される用紙に対する正規の画像形成開始位置を規定するための基準用の調整値を設定する。 - 特許庁

To provide a lens barrel capable of easily and efficiently performing the aligning operation of a 1st lens frame with reference to a 2nd lens frame in a lens barrel assembly stage where assembling accuracy is required.例文帳に追加

組立精度が要求される鏡筒の組立工程において、第２のレンズ枠に対する第１のレンズ枠の調心操作を、簡便かつ効率良く行うことができる鏡筒を提供する。 - 特許庁

More concretely, the diodes 15a, 15b, 15c of each stage are so constituted that the size is smaller gradually from an I/O pin 11 side toward a reference potential side (15a>15b>15c).例文帳に追加

より具体的には、各段のダイオード１５ａ，１５ｂ，１５ｃは、そのサイズが、入出力ピン１１側から上記基準電位側に向かって徐々に小さくなる構成となっている（１５ａ＞１５ｂ＞１５ｃ）。 - 特許庁

In a stage 1, the convergence lens array 20 is deformed with external force into a second state wherein the predetermined point A is displaced to a position P2 on the opposite side from the position P1 across the reference line L0.例文帳に追加

工程１においては、基準線Ｌ0を挟んで位置Ｐ1とは反対側の位置Ｐ2に所定点Ａが変位した第２状態となるように外力によって集束性レンズアレイ２０を変形させる。 - 特許庁