「scan method」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a data scan system using DDR and a method thereof that can process data fast without the need for repetitive access to obtain the same data.例文帳に追加

同一データを得るために再接近する必要なしに高速でデータ処理を行えるＤＤＲを用いたデータスキャンシステムおよびその方法を提供する。 - 特許庁

To stabilize exposure light conditions before the start of exposure in an exposure field on a substrate which is to be exposed at exposure by slit scan exposure method.例文帳に追加

スリットスキャン露光方式で露光を行う際に、露光対象となる基板上の露光フィールドの露光が開始されるまでに、露光光の状態を安定させる。 - 特許庁

To provide a system, method, and computer program product for performing a scan operation on a sequence of single-bit values using a parallel processing architecture.例文帳に追加

並行処理アーキテクチャを使用して単一ビット値のシーケンスに対してスキャン演算を実施するためのシステム、方法及びコンピュータ製品を提供すること。 - 特許庁

On the substrate 100, where a surface structural body 101' composing an MEMS device is constituted, a resist membrane 120 is formed through the use of the scan coating method.例文帳に追加

ＭＥＭＳデバイスを構成する表面構造体１０１’が形成された基板１００上に、レジスト膜１２０をスキャン塗布法を用いて形成する。 - 特許庁

To provide a delay fault detection circuit that can reliably detect a delay fault in a test circuit adopting a scan test method.例文帳に追加

スキャンテスト方式を採用するテスト回路において、遅延性故障を確実に検出することができる遅延性故障検出回路を提供する。 - 特許庁

To disclose a method for performing a scan base test on a circuit using one or more test clock control structures, and a computer readable medium.例文帳に追加

１つ又はそれ以上のテストクロック制御構造を用いて回路のスキャンベースのテストを実施するための方法及びコンピュータ可読媒体が開示される。 - 特許庁

To provide a beam scanning method capable of restraining interference of a transceiving beam, and capable of shortening a data rate of electron scan as to an azimuth direction.例文帳に追加

送受信ビームの干渉を抑制すると同時に、方位方向についての電子走査のデータレートを短縮することができるビーム走査方法を提供する。 - 特許庁

In the driving method for the plasma display device, reinitialization pulses Pset2 are applied to scan electrodes Scn(n/2+1) to Scn(n) in a write period.例文帳に追加

本プラズマディスプレイ装置の駆動方法では、書込み期間において、スキャン電極Ｓｃｎ（ｎ／２＋１）〜Ｓｃｎ（ｎ）に対し再初期化パルスＰｓｅｔ２を印加する。 - 特許庁

The detection rate of a delay fault by a test circuit adopting a scan test method can be thus improved in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

これにより、スキャンテスト方式を採用するテスト回路を用いた半導体集積回路の遅延性故障の検出率を向上させることができる。 - 特許庁

Then, after imparting magnetic stimulation to the head of the subject SU, second scan S2 is performed so as to gather the magnetic resonance signals from a region corresponding to the region of interest set in the subject SU as second scan data by a BOLD method.例文帳に追加

そして、磁気刺激を被検体ＳＵの頭部に付与した後に、当該被検体ＳＵにおいて設定した関心領域に対応する領域から、磁気共鳴信号をＢＯＬＤ法によって第２スキャンデータとして収集するように、第２スキャンＳ２を実施する。 - 特許庁

To provide an image reading system capable of easily configure an environment where a specific scan mode is performed according to the function of a connected information processor, and capable of easily changing the scan environment, and to provide an image reader, a control method thereof and a program.例文帳に追加

接続された情報処理装置の機能に応じて、特定のスキャンモードを行うための環境を容易に構築するとともに、当該スキャン環境を容易に変更可能な画像読取システム、画像読取装置、それらの制御方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

A device is manufactured through a method in which a step-and- scan type aligner is utilized, wherein the misalignment of a reticule from a reticule stage is detected (deviation measuring timing) is carried out in a step operation (U-turn timing), which is carried out for the following exposure operation after a scan exposure operation is carried out.例文帳に追加

ステップアンドスキャン方式の露光装置およびこれを用いたデバイス製造方法において、スキャン露光終了後、次の露光を行うためのステップ動作中（Ｕターンタイミング）にレチクルおよびレチクルステージ間の位置ずれを検出する（ずれ計測タイミング）。 - 特許庁

A method for performing a perfusion inspection comprises a step for performing an initial full scan (100) of an area of interest in an object (22) and a step for performing at least one subsequent partial scan (102) of the area of interest to detect motion of a contrast agent.例文帳に追加

灌流検査を行なう方法が、対象（２２）の関心区域の最初の完全走査（１００）を実行する工程と、造影剤の移動を検出するために関心区域の少なくとも１回の後続の部分的走査（１０２）を実行する工程とを含んでいる。 - 特許庁

To provide a method for executing absolute measurement of various objects with sufficient accuracy and correcting disturbances to a measurement condition in a laser scan microscope, especially, a confocal laser scan microscope.例文帳に追加

レーザー走査型顕微鏡、特に共焦点のレーザー走査型顕微鏡において、種々の対象物の絶対測定を十分な精度で行うことができ、その際測定条件への外乱を補正することができるようにすること、およびその方法を提供すること。 - 特許庁

The output of each photodetector 10 is read in the signal line 12, in the order starting from the left to the right by scan of a horizontal scanning circuit 14 during a short horizontal scan period, to the degree where the slit light of an optical cutting method is substantially considered as the stop state.例文帳に追加

各光検出器１０の出力は、水平走査回路１４の走査により、光切断法のスリット光が実質的に停止状態と見なせる程度の短い水平走査期間の間に、左から右に順に信号ライン１２に読み出される。 - 特許庁

To provide a mobile terminal capable of executing scan of a radio signal transmitted from a wireless base station at appropriate timing, without having to repair an existing wireless base station, or the like, when it can be connected to a plurality of wireless communication systems different in a wireless communication method, and to provide a radio signal scan execution method.例文帳に追加

無線通信方式が異なる複数の無線通信システムに接続可能な場合において、既存の無線基地局などを改修することなく、適切なタイミングで無線基地局から送信される無線信号のスキャンを実行することができる移動端末及び無線信号スキャン実行方法を提供する。 - 特許庁

The driving method of the plasma display panel includes a stage wherein scan pulses are supplied to a scan line and a stage wherein data pulses are supplied to an address electrode in synchronism with the scan pulses, data pulse supplied to a first address electrode A1 is supplied so as to overlap with data pulse supplied to a third address electrode A3 only for a third period T3.例文帳に追加

本発明のプラズマディスプレイパネルの駆動方法は、走査線にスキャンパルスが供給される段階と、アドレス電極に前記スキャンパルスと同期するようにデータパルスが供給される段階とを含み、第１アドレス電極Ａ１に供給されるデータパルスは、第３アドレス電極Ａ３に供給されるデータパルスと第３期間Ｔ３の間だけ重なるように供給されることを特徴とする。 - 特許庁

The method of driving the plasma display apparatus according to an aspect of the present invention, comprises the steps of applying a sustain voltage to a scan electrode, applying energy applied to the scan electrode to a sustain electrode through an inductor unit, applying a sustain voltage to the sustain electrode, and applying the energy applied to the sustain electrode to the scan electrode through the inductor unit.例文帳に追加

本発明によるプラズマディスプレイ装置駆動方法は、サステイン電圧がスキャン電極に印加される段階と、スキャン電極に印加されたエネルギーをインダクター部を通じてサステイン電極に印加する段階と、サステイン電圧をサステイン電極に印加する段階と、サステイン電極に印加されたエネルギーをインダクター部を通じてスキャン電極に印加する段階を含むことを特徴とする - 特許庁

A method comprises generating a baseline signal by sampling light reflected from the target and the background before transmitting a light scan at the target, generating a detected signal by receiving light reflected from the target and the background while transmitting the light scan at the target and subtracting the baseline signal from the detected signal to form the progressively corrected scan signal.例文帳に追加

ターゲットと光スキャンのターゲット通過前の背景とから反射されたサンプル光によってベースライン信号を生成すること、ターゲットと光スキャンのターゲット通過中の背景とから反射光を受け取ることによって検出信号を生成すること、及び斬進的に修正されたスキャン信号を生成するため、検出信号からベースライン信号を差し引くことを含んで構成される。 - 特許庁

The method includes the following steps of: providing scan data to the register; using the scan data to drive the pixel; detecting the pixel status to obtain status data; refreshing the register with the status data; and, comparing the scan data with the status data to determine whether the pixel is in abnormal status or not.例文帳に追加

前記方法は、レジスタに走査データを提供する段階と、ピクセルを駆動するために前記走査データを使用する段階と、状態データを取得するためにピクセル状態を検出する段階と、前記状態データで前記レジスタをリフレッシュする段階と、前記ピクセルが異常状態にあるか否かを判定するために前記走査データと前記状態データとを比較する段階とを具備する。 - 特許庁

To provide a method of suppressing flip-flops to be not observable irreducible minimum by masking only a part of scan paths concerning a masking method in a built-in self-checking circuit.例文帳に追加

組み込み自己検査回路におけるスキャンパスのマスク方法に関して、スキャンパスの一部のみをマスクすることにより、観測不能となるフリップフロップを必要最小限に抑える方法を提供する。 - 特許庁

The implantation method has a step of scanning a substrate with an ion beam along a series of scan lines extending in a first direction, a step of providing relative rotation between the substrate and the ion beam, and a step of scanning the substrate with the ion beam along a series of second scan lines in a different direction.例文帳に追加

注入方法に関し、第１の方向に延びる一連の走査線に沿って基板に対してイオンビームを走査するステップと、該基板と該イオンビーム間の相対的な回転をもたらすステップと、異なる方向に一連の第２の走査線に沿って該イオンビームを走査するステップとを備えている。 - 特許庁

To provide an inkjet recorder which can suppress image impairments caused by a difference in recording permission ratio between forward scan and backward scan and image impairments brought about by a bias of satellite placements even when bidirectional multi-pass recording of odd-numbered passes is performed, and to provide a recording method.例文帳に追加

奇数パスの双方向マルチパス記録を行いながらも、往路走査と復路走査の記録許容率の差に起因する画像弊害と、サテライトの配置の偏りによって招致される画像弊害を、抑制することが可能なインクジェット記録装置および記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide a document area detector, an image forming device, and a document area detecting method, which can decrease useless reading action of a document as much as possible, and moreover can simply carry out adjustment operations such as adjustments of scan means assembling position precision and sampling timing of scan data.例文帳に追加

原稿の無駄な読取動作をなるべく減らすことができ、しかもスキャン手段の組付位置精度やスキャンデータのサンプリングタイミングの調整などの調整作業が簡単で済む原稿領域検出装置、画像形成装置及び原稿領域検出方法を提供する。 - 特許庁

To further improve the quality of tomographic images while performing shooting at a high speed when a shooting method by which helical scan and stationary scan at the ends of its linear movement range is performed and tomographic images of positions in a range wider than the linear movement range are reconstituted is used.例文帳に追加

ヘリカルスキャンとその直線移動範囲の端部での停留スキャンとを行って、この直線移動範囲より広い範囲の各位置での断層画像を再構成する撮影方法を使用する際に、撮影を高速に行いつつ、断層画像の画質をより向上させる。 - 特許庁

The method includes a step of alternately applying first sustain pulses to scan electrode lines and sustain electrode lines during a sustain period with a first period intervened between them, wherein the last sustain pulse applied to the scan electrode lines during the sustain period is applied after a second period longer than the first period.例文帳に追加

サステイン期間中にスキャン電極ライン及びサステイン電極ラインに第１期間を挟んで第１サステインパルスを交互に印加する段階を含み、前記サステイン期間中に前記スキャン電極ラインに印加する最後のサステインパルスは、前記第１期間より長い第２期間の後に印加する。 - 特許庁

In the method for accelerating network selection by the wireless user equipment (UE) without having to perform a full band scan (FBS), the wireless UE is operable to scan in a network environment for discovering (902) at least one network.例文帳に追加

全帯域スキャン（ＦＢＳ）を実行する必要なく、ワイヤレスユーザ装備（ＵＥ）装置によるネットワーク選択を加速するための方法においては、ワイヤレスＵＥ装置は、少なくとも一つのネットワークを発見する（９０２）ために、ネットワーク環境においてスキャンするように動作可能である。 - 特許庁

To provide an inkjet recorder capable of suppressing the occurrence of an unevenness in density due to a difference of use conditions between a discharge opening not used in previous recording scan and a discharge opening used in a previous recording scan, and further to provide an inkjet recording method, a program and a storage medium.例文帳に追加

前回の記録走査では使用されなかった吐出口と、前回の記録走査で使用された吐出口と、の間の使用状況の差に起因する濃度ムラの発生を抑えることができるインクジェット記録装置、インクジェット記録方法、プログラム、および記憶媒体を提供すること。 - 特許庁

In a data rewriting method, a re-write program is inputted as the serial data from a write device 60 connected to a connector 90 by the control of a scan chain, and transmitted to either of scan chains 27, 28 selected by an access port 92, and stored in a SRAM 26 through a register 29.例文帳に追加

スキャンチェーンの制御により、コネクタ９０に接続されている書き込み装置６０から書き換えプログラムをシリアルデータとして入力し、アクセスポート９２により選択されたスキャンチェーン２７，２８の何れかに転送し、レジスタ２９を介してＳＲＡＭ２６に格納する。 - 特許庁

In the driving method of the plasma display panel, the temperature of a panel surface corresponding to a cell is measured and the pulse widths W of a driving voltage scan pulse Py and an address pulse Pa are varied in accordance with temperature variation.例文帳に追加

セルに対応したパネル表面の温度を測定し、温度変化に合わせて駆動電圧スキャンパルスＰｙ，アドレスパルスＰａのパルス幅Ｗを変更する。 - 特許庁

To provide a capacitive touch control device and a control method therefor using two or more projection capacitive touch control ICs to scan a large-size touch panel.例文帳に追加

二つ以上の投影型容量タッチコントロールＩＣを使用し大サイズのタッチパネルを走査する静電容量式タッチコントロール装置及びその制御方法の提供。 - 特許庁

A negative-electrode active material layer having an uneven pattern is formed on a surface of a copper foil as a negative-electrode current collector by applying application liquid by a nozzle-scan coating method (a step S102).例文帳に追加

負極集電体たる銅箔表面に対し、ノズルスキャン法により塗布液を塗布して凹凸パターンを有する負極活物質層を形成する（ステップＳ１０２）。 - 特許庁

To provide an X-ray CT scanning device capable of performing a rapid and high-resolution X-ray CT scan of an inspected body and provide its method.例文帳に追加

被検体について迅速にしてかつ高分解能を有するＸ線ＣＴスキャンを可能にしたＸ線ＣＴスキャン装置および方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

and JTAG and to provide a method and an apparatus for enabling to perform high speed test of an interconnect circuit including a JTAG boundary scan cell while minimizing the additional circuit.例文帳に追加

最小限の追加回路でＪＴＡＧ境界スキャン・セルを含む高速相互接続回路テストを可能とする方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Useless time for setting the device is eliminated to shorten the preparation time by changing a method of setting the reference position of the move and scan in response to when a power supply is at an on-state.例文帳に追加

電源ＯＮの状況に対応して、移動走査の基準位置の設定の方法を変えることで、無駄な設定時間を省略して、準備時間の短縮を行う。 - 特許庁

To provide a method for controlling a shutter for making imaging every line of an image sensor employing a line scan system have the same physical exposure time, and an image sensor shutter module.例文帳に追加

ラインスキャン方式のイメージセンサの各撮像ラインが同じ物理的露出時間を有するイメージセンサシャッタモジュール及びそのシャッタ制御方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanner system capable of detecting a part corrected with a correcting fluid or the like in an original to be scanned and a method for detecting the corrected part of a scan object.例文帳に追加

スキャンする原稿において修正液等で修正された箇所を検出可能なスキャナシステムおよびスキャン対象の修正箇所検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a forward monitoring method for a battery locomotive that can detect obstacles at appropriate timing owing to a high speed scan and adequately cope with vibration and an inclination.例文帳に追加

スキャン速度が速いので障害物検知のタイミングが適切であり、振動や傾斜に対しても十分対処できるバッテリーロコの前方監視方法を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray CT apparatus enabling fine sampling pitch and high-density data acquisition when a helical scan is executed using a FFS (Flying Focal Spot) method.例文帳に追加

ｚ−ＦＦＳ法によってヘリカルスキャンを実行する場合に、サンプリングピッチを細かくすることができ、高密度なデータ収集が可能となるＸ線ＣＴ装置を提供する。 - 特許庁

To measure a noise properly during a scan cycle, and to reflect to data processing, concerning a spectrum signal correction method in a quadrupole mass spectrometer.例文帳に追加

四重極質量分析装置におけるスペクトル信号補正方法に関し、スキャンサイクル中に適宜ノイズを測定し、データ処理に反映させることを目的としている。 - 特許庁

To solve the problem that manufacturing defect location cannot be specified even if manufacturing defect can be judged by a scan path method for testing a circuit to be inspected in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路内の被検査回路をテストするスキャンパス手法では製造不良を判定することはできても、製造不良箇所を特定することはできない。 - 特許庁

To provide a raster scan charged particle beam drawing method for exposing a desired pattern efficiently with high reliability, and to provide an aligner and a process for fabricating a device.例文帳に追加

所望パターンを効率的かつ高い信頼性のもとに露光できるラスタースキャン荷電粒子線描画方法、露光装置、及びデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus that allows a scanner to directly send image data to a particular data acquisition destination computer on a network without the need for an intermediate scan server.例文帳に追加

中間スキャンサーバを必要とせずに、画像データをネットワーク上の特定のデータ取込先コンピュータにスキャナから直接送信する方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus, an information processing method and a program, capable of appropriately diversifying a connection form with a computer at a transfer destination of scan data.例文帳に追加

スキャンデータの転送先のコンピュータとの接続形態を適切に多様化させることのできる画像形成装置、情報処理方法及びプログラムの提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a method and structure for performing a high-speed operation in space smaller than the conventional one by avoiding the need of using scan latch for the maintenance of fuse information.例文帳に追加

ヒューズ情報を維持するためスキャンラッチを用いる必要性を回避し、従来よりも小さい空間で高速に動作する方法および構造を提供する。 - 特許庁