「surface analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

A measurement area 0201 including a minute analysis point 0200 in an insulative film 0203 on a sample surface and a reference area 0202 positioned in the vicinity of the measurement area 0201 and composed and constructed equally to the measurement area 0201 excepting exclusion of the minute analysis point 0200 are irradiated by X-rays alternately.例文帳に追加

試料表面の絶縁膜0203中にある、微小分析点0200を含む測定領域0201と、測定領域0201の近傍にあって微小分析点0200を含まないこと以外は組成、構造が測定領域0201に等しい参照領域0202にX線を交互に照射する。 - 特許庁

To prepare, in short time, a sample for total reflection fluorescent X-ray analysis, when the sample for the total reflection fluorescent X-ray analysis is prepared by concentrating, or evaporated to dryness in some cases, a HF solution drop used for collection and recovery of surface impurities on a semiconductor substrate such as an Si wafer.例文帳に追加

Ｓｉウエハ等の半導体基板の表面不純物を捕集回収したＨＦ液滴を濃縮し、場合により蒸発乾固させて全反射型蛍光Ｘ線分析試料を調製する際に、短時間で全反射型蛍光Ｘ線分析試料を調製できるようにする。 - 特許庁

The spectrochemical analysis device for analyzing the state of the interface between materials receiving friction makes a first sample rub with a second thin-film-like sample, and radiates light to the interface between the first sample and second sample from the rear surface of the second sample, thereby performing the spectrochemical analysis.例文帳に追加

また、摩擦を受けている材料の間の界面の状態を分析する本発明の分光分析装置は、第１の試料と薄膜状の第２の試料とを摩擦しつつ、第２の試料の背面から、第１の試料と第２の試料との界面に対して光を照射して分光分析を行う。 - 特許庁

To provide a compact and integrated portable device for analysis of dispersions by low-field pulsed NMR, and also provide methods for using a device to measure one or more characteristics of phases or particles comprising dispersion such as surface area, solid/liquid ratio, particle size, and elemental analysis.例文帳に追加

低磁場パルスＮＭＲにより分散の解析のための小型で統合された携帯可能なデバイス、および、表面積、固体／液体比率、粒径、および元素分析など分散を含む相または粒子の１つまたは２つ以上の性質を測定するデバイスを用いるための方法を提供する。 - 特許庁

A fan 34 for sending airflow to a U-shaped tube 31 at a position, where the U-shaped tube 31 for correction is raised, and the U-shaped tube 31 is dipped into a liquid nitrogen tank 30 for the next analysis after analysis is completed after the frost adhering onto the outer surface of the U-shaped tube 31 is removed by the fan 34 for drying.例文帳に追加

捕集用のＵ字管３１が引き上げられた位置で該Ｕ字管３１に空気流を送るファン３４を設け、分析が終了して次の分析のためにＵ字管３１が液体窒素槽３０に浸漬される前に、ファン３４によりＵ字管３１外面に付着している霜を除去して乾燥させる。 - 特許庁

The sample S is almost isotropically excavated by vibration while rotated at random, the analysis of a component in a radial direction due to glow discharge emission analysis become possible and surface of the cleanly formed sample S can be observed by SEM or the like.例文帳に追加

振動によって試料Ｓはランダムに回転しながらほぼ等方的に掘削され、グロー放電発光分析による半径方向の成分分析が可能となり、清浄に形成した試料Ｓの表面をＳＥＭ等で観察することも可能となる。 - 特許庁

An analysis model forming section 11 forms an analysis model where rubber display cells formed of rubber molecule cells, cross-linking point cells, and filler cells are arranged at random, and frictional surface display cells are arranged adjacently to the rubber display cell arranged on the lowest part.例文帳に追加

解析モデル形成部１１は、ゴム分子セル、架橋点セル及び充填材セルからなるゴム表示セルがランダムに配置されるとともに、最も下方に配置されたゴム表示セルに隣接して摩擦面表示セルが配置された解析モデルを形成する。 - 特許庁

The sample piece 8 is set in an Auger electron spectrophotometer, and analysis in the depth direction is performed, relative to the analytical object plane 12 on the surface of the first plane 5s as an analytical region, and analysis of the elemental distribution is performed on both sides of the interface 4.例文帳に追加

試料片８をオージェ電子分光分析装置にセッティングし、第１平面５ｓの表面にある分析対象面１２を分析領域として深さ方向の分析を行い、界面４の両側にわたって元素分布の分析を行うものとする。 - 特許庁

Analysis for a solution is carried out using an inductively coupled plasma mass spectrograph in an evaluating method for evaluating water quality comprising a process for bringing the substrate into contact with evaluated water, a process for dissolving thereafter a surface of the substrate with the solution, and a process for recovering the solution to conduct analysis.例文帳に追加

基板を被評価水に接触させる工程、次いで該基板の表面を溶解液で溶解する工程、次いで上記溶解液を回収し、分析する工程からなる水質の評価方法において、溶解液の分析を誘導結合プラズマ質量分析装置で行う。 - 特許庁

The carbon electrode material for a redox flow battery using an aqueous electrolyte has pseudo graphite crystal structure in which the stacked structure ratio based on the peak intensity of <002> diffraction as determined by X-ray analysis is 0.50-0.90, and the amount of surface acidic functional groups as determined by XPS surface analysis is 0.2-1.2% of the number of carbon atoms on the whole surface.例文帳に追加

水溶液系電解液を使用するレドックスフロー電池用の炭素電極材であって、Ｘ線広角解析より求めた＜００２＞回折のピーク強度に基づく積層構造比が０．５０〜０．９０である擬黒鉛結晶構造を有し、ＸＰＳ表面分析より求めた表面酸性官能基量が全表面炭素原子数の０．２〜１．２％であることを特徴とする。 - 特許庁

The method manufactures part of the electrochemical analysis inspection strip and includes a step for forming a metal substrate having the upper surface, on the surface of an electrical insulating substrate.例文帳に追加

電気化学式検査ストリップの一部を製造するための方法であって、電気絶縁基板の表面に、上面を有する金属基板を形成するステップを含む。 - 特許庁

To provide a prism with a metal membrane, having a flat surface of micrometer order and being suitable for spectral analysis which utilizes surface plasmon resonance phenomenon.例文帳に追加

マイクロメートルオーダーで平坦な表面を有し且つ表面プラズモン共鳴現象を利用した分光分析に好適な金属薄膜を備えたプリズムを提供する。 - 特許庁

To accurately diagnose existence of wall surface exfoliation by performing wavelet transformation analysis by using a mother wavelet suitable for the wall surface which is a diagnostic object.例文帳に追加

診断対象である壁面に適したマザーウェッブレットを用いてウェーブレット変換解析を行うことにより、壁面剥離の有無を正確に診断できるようにする。 - 特許庁

To provide a local analysis method for locally analyzing a substrate surface with high sensitivity and high precision, particularly suitable for analyzing impurities on the substrate surface.例文帳に追加

基板表面局所を高感度かつ高精度で分析することができる基板表面の局所分析方法、特に基板表面不純物に適した局所分析方法を提案する。 - 特許庁

While, the flow velocity on the surface is determined based on the PIV analysis, the surface flow velocity data and relevant data are extracted from the database, and the river flow rate is calculated in real time.例文帳に追加

一方、ＰＩＶ解析に基づいて、表面の流速を求め、その表面流速データと関連するデータを前記データベースから引き出し、リアルタイムに河川流量を算出することとした。 - 特許庁

The processing surface also includes a nanostructure or high refractive index material; and when at least one analysis object labeled by the nanoparticle is bound to at least one molecule on the processing surface, a detectable signal is generated.例文帳に追加

処理表面はまた、ナノ構造又は高屈折率材料を含み、それによって、少なくとも１つのナノ粒子標識済み分析物が処理表面上の少なくとも１つの分子に結合すると、検出可能な信号が生じる。 - 特許庁

The surface shape of the transparent tabular body 3 is evaluated by image analysis using the determined stripe pattern 1 and only the reflected image by the surface of the transparent tabular body 3 of the stripe pattern 1.例文帳に追加

その後、決定されたストライプパターン１を使用して、ストライプパターン１の透明板状体３の表面による反射像のみを用いて画像解析によって透明板状体３の表面形状を評価する。 - 特許庁

Since the device surface has no contact with air during a period from just after production until just before analysis, adhesion of an organic substance onto the device surface can be prevented.例文帳に追加

デバイス表面は、製造直後から分析直前の間に空気と接触することがないため、デバイス表面への有機物の付着を防止することができる。 - 特許庁

To provide a surface analyzer capable of easily adjusting samples S at a desired angle and scanning an analysis position on the surface of one sample S at various angles.例文帳に追加

試料Ｓを容易に所望の角度に調整でき、かつ、一の試料Ｓ表面上において分析位置を様々な角度で走査できる表面分析装置の提供。 - 特許庁

To directly and rapidly analyze a component in a molten metal through atomic absorption analysis, even in case where the surface of the molten metal does not become a stationary surface.例文帳に追加

溶融金属の表面が静止面とならない場合においても、原子吸光分析法を用いて溶融金属中の成分を直接且つ迅速に分析する。 - 特許庁

SILICON ELIMINATION METHOD FOR SILICON WAFER SURFACE, LIQUID SAMPLE EXTRACTION METHOD FOR REGION UNDER SURFACE LAYER OF SILICON WAFER, AND ANALYSIS METHOD FOR METAL IMPURITY IN THE REGION例文帳に追加

シリコンウェーハ表面の珪素脱離方法、シリコンウェーハ表層下領域の液体サンプル採取方法及びその金属不純物分析方法 - 特許庁

The sample etched to a predetermined depth in the specific regions of the substrate surface is prepared by using this etching device, and the analysis of the etched surface is carried out.例文帳に追加

このエッチング装置を用いて、基板表面の特定領域を所定深さエッチングした試料を作製し、そのエッチング表面の分析を行う。 - 特許庁

According to an analysis by high-frequency glow discharge atomic emission spectrometry, the maximum value of Si concentration in a surface layer extended 20 nm from the surface of the copper or copper alloy tube is 0.3-30 atom%.例文帳に追加

高周波グロー放電発光分光分析法により分析したときの前記銅又は銅合金管の表面から２０ｎｍまでの表層部におけるＳｉ濃度の最大値が０．３乃至３０原子％である。 - 特許庁

To achieve a particle behavior analysis with high accuracy by reducing the effect of position deviation between a place boundary and a motion boundary corresponding to a wall surface in consideration of impact force receiving from the wall surface.例文帳に追加

壁面から受ける作用力を考慮しつつ、壁面に対応する場境界と運動境界の位置ズレの影響を緩和し、高精度の粒子挙動解析を実現する。 - 特許庁

There is provided a mounted type lens (1) for reverse surface analysis which is used while mounted on a semispherical substrate integrated type SIL (2c) formed on a substrate reverse surface (2b) of a semiconductor device (2).例文帳に追加

半導体装置（２）の基板裏面（２ｂ）に形成した半球状の基板一体型ＳＩＬ（２ｃ）の上に搭載して使用するための裏面解析用搭載式レンズ（１）である。 - 特許庁

To provide a detection surface for biosensors used for a surface plasmon resonance analysis in which the variations in a signal change at a position in a chip are small.例文帳に追加

チップ内の位置による信号変化のバラツキが小さい表面プラズモン共鳴分析で用いるバイオセンサー用検出表面を提供する。 - 特許庁

Based on captured image data from the image sensor 151, an image analysis unit 43 determines whether or not a piece of paper adhering to the ink ejecting surface is blocking a plurality of ink ejection outlets formed in the ink ejecting surface.例文帳に追加

画像解析部４３は、画像センサ１５１からの撮像データに基づいて、インク吐出面に紙片が付着しており、インク吐出面に形成された複数のインクの吐出口が紙片によって遮蔽されているか否かを判定する。 - 特許庁

A surface element object area calculation part 14 calculates an object area of surface elements in each component on the basis of the heating value of the component composing an analysis target.例文帳に追加

面要素目標面積算出部１４は、解析対象物を構成する部品の発熱量に基づいて、部品ごとの面要素の目標面積を算出する。 - 特許庁

According to the road surface roughness detection method, the road surface roughness can be detected based on the detection signal of the acceleration sensor 22 even when the frequency analysis (FFT) or the like is not performed.例文帳に追加

このような路面粗さの検出方法によれば、周波数分析（ＦＦＴ）などを行わなくても、加速度センサ２２の検出信号に基づいて路面粗さを検出することが可能となる。 - 特許庁

Then, a boundary surface in the analysis region Ω is divided into surface elements having a size according to a target frequency, and the boundary integral equation is solved by using a discretization method to calculate speed potential distribution on the boundary.例文帳に追加

次に、解析領域Ω内の境界面を、対象とする周波数に応じた大きさの面要素に分割して、離散化手法を用いて前記境界積分方程式を解くことにより境界上の速度ポテンシャル分布を算定する。 - 特許庁

Secondary ions emitted from the irradiation surface of an analysis sample 5 are extracted by an extraction electrode 15 while holding the two-dimensional information of the irradiation surface and enter a pulse gate electrode.例文帳に追加

分析試料５の照射面から放出される二次イオンは、照射面の二次元情報を保持したまま引出電極１５で引き出され、パルスゲート電極部に入射する。 - 特許庁

To quickly form an extremely thin conductive thin film on the surface of an insulator sample for a method of forming a conductive film onto a sample surface in an Auger analysis device.例文帳に追加

オージェ分析装置における試料表面への導電膜形成方法に関し、絶縁物試料表面に極薄い導電薄膜を短時間に形成させることを目的としている。 - 特許庁

To provide a module for detecting road surface condition which can detect a condition of a road surface based on a detection signal from a sensor without performing frequency analysis or the like, and to provide a module for detecting tire air pressure including the same.例文帳に追加

周波数分析などを行なわなくてもセンサからの検出信号に基づいて路面状況の検出を行なえる路面状況検出用モジュールおよびこれを備えるタイヤ空気圧検出用モジュールを提供する。 - 特許庁

The unit for biochemical analysis comprises an adsorptive film 4 formed of an adsorptive material wherein the adsorptive film exhibits higher liquid permeability in the direction perpendicular to the film surface as compared with the direction parallel with the film surface.例文帳に追加

吸着性材料によって形成された吸着性膜４を備え、吸着性膜が、膜面に平行な方向に比して、膜面に垂直な方向に、より高い液体浸透性を有していることを特徴とする生化学解析用ユニット。 - 特許庁

The apparatus for analysis of a sample includes a radiation source, which is adapted to direct a converging beam of X-rays toward a surface of the sample and to direct a second collimated beam of the X-rays toward the surface of the sample.例文帳に追加

試料分析装置は、第１のＸ線収束ビームを試料表面に向け、第２のＸ線平行ビームを試料表面に向けるように構成された照射源を含む。 - 特許庁

To provide a surface acoustic wave device of high quality which can facilitate the inspection, measurement, analysis of failures, etc., of a surface acoustic wave element that is mounted on a base.例文帳に追加

ベース21に実装した弾性表面波素子11に対して、例えば検査、測定および不良解析などを容易に実施でき、品質の高い弾性表面波装置を提供する。 - 特許庁

When analysis is performed by a single- beam measurement device, a magnetic-layer side surface of a floppy disk as a sample S is brought into close contact with a bottom surface of the prism at a contact pressure of 10 kgf/cm2 or less.例文帳に追加

シングルビーム測定装置による分析に際しては、サンプルＳとしてのフロッピーディスクの磁性層形成側の表面をプリズム底面に接圧１０ｋｇｆ／ｃｍ^2以下で密着させる。 - 特許庁

The computing and setting part 15 of a corrected heat transfer coefficient corrects the heat transfer coefficient based on a ratio of a surface area of the analysis object before element breakdown with a surface area of the corresponding approximation model.例文帳に追加

補正熱伝達係数の計算及び設定部１５は、前記解析対象物の要素分割前の表面積と、これに対応する前記近似モデルの表面積との比に基づいて、熱伝達係数を補正する。 - 特許庁

To provide an etching apparatus used in sample preparation for more accurately carrying out a substrate surface analysis, and an apparatus and a method for evaluating a substrate surface using it.例文帳に追加

基板表面分析をより正確に行うための試料作製用エッチング装置、およびこれを用いた基板表面評価装置と基板表面評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a glow discharge emission spectrophotometer and a method capable of accurate analysis, even when the thickness of a thin film is extremely thin relative to the sample having the thin film on a substrate, where the surface of the substrate or the thin film has a mirror-surface shape.例文帳に追加

基板の上に薄膜を有し、かつ基板や薄膜の表面が鏡面状の試料について、薄膜の厚さが極めて薄い場合であっても、正確に分析ができるグロー放電発光分光分析装置および方法を提供する。 - 特許庁

The first node moving means moves each mesh node of the surface layer in a plate thickness direction in accordance with a deviation in the plate thickness of the surface layer calculated by the fluid analysis means from a design value.例文帳に追加

第１節点移動手段は、流動解析手段によって算出された表皮層の板厚の設計値に対する偏差に応じて、表皮層の各メッシュ節点を板厚方向に移動させる。 - 特許庁

To provide a tire performance analysis system capable of accurately analyzing tire performance by road surface modeling a road surface as an elastic element and a viscous-elastic element.例文帳に追加

路面を弾性体及び粘弾性体として路面モデル化して正確なタイヤ性能解析を行うことができるタイヤ性能解析システムを提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus in which analysis of a surface of an image carrier is more minutely performed and the surface conditions of the image carrier are made suitable for a developing step and a cleaning step such that high-quality high-definition images are formed.例文帳に追加

像担持体表面の分析をより詳細に行い、像担持体の表面状態を現像工程並びにクリーニング工程に適した状態として、高画質で高精細の画像を形成する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

A nozzle descent distance is calculated based on information regarding the nozzle penetration distance of the analysis condition setting part 32 and the liquid surface position information of the liquid surface detection part 34 by a nozzle descent distance calculation part 30.例文帳に追加

ノズル下降距離算出部３０により、分析条件設定部３２のノズル侵入距離に関する情報及び液面検知部３４の液面位置情報に基づいてノズル下降距離を算出する。 - 特許庁

To provide an analysis method of functional group on the surface of a molded product, capable of precisely analyzing the kind, the distribution state and the density of the functional group on the surface of the molded product.例文帳に追加

成形品表面における官能基の種類、その分布状態と密度について、精度良く分析できる、成形品表面の官能基分析方法を提供する。 - 特許庁