「surface observed」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Thus, the brazing material 13 is melted and solidified, and the heat sink 11 and the copper plate 15 are firmly brazed to each other, and the development of the alloy layer is not observed on the jointed surface.例文帳に追加

これによって、ろう材１３は溶融・固化し、ヒートシンク１１と銅版１５とは強固にろう付けされ、その接合界面に合金層の生成は認められなかった。 - 特許庁

To provide a confocal microscope for acquiring height information (e.g., ruggedness value) about a surface of a sample object to be observed, which is configured more easily and more inexpensively than in a conventional manner.例文帳に追加

観察する試料物体の表面の高さ情報（凹凸値など）を得るのに、従来に比べ、容易かつ安価に構成可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In the laterally laid display state, the flower design expression 11 provided in one end side in the left/right direction of the outer surface of each mini disk 1 can be observed from the upper part.例文帳に追加

この横置き陳列状態において、各ミニディスク１の外表面の左右方向一端側に設けた花柄のデザイン表示１１が上方から一望できるようにする。 - 特許庁

To make a finder image bright and to reduce the loss of the light quantity of subject luminous flux guided to an exposure surface in a single-lens reflex camera constituted so that the finder image can be observed even in the midst of an exposure action.例文帳に追加

露光動作中もファインダ像を観察可能な一眼レフカメラで、ファインダ像を明るくし、露光面に導かれる被写体光束の光量ロスを減じる。 - 特許庁

An electron optical lens barrel 3 is mounted on an upper end part of a specimen chamber 2, and electron beam EB is irradiated on an observed surface S1 of a specimen S put on a driving stage 4.例文帳に追加

試料室２の上端部には電子光学鏡筒３が配置され、駆動ステージ４上に載置された試料Ｓの被観察面Ｓ１に電子ビームＥＢが照射される。 - 特許庁

When the substrates 10 and 20 are stuck to each other, the common pad 12 surface can be observed over the substrate 20 through the opening 21K provided on the black masks 21.例文帳に追加

基板１０，２０を貼り合わせる際に、ブラックマスク２１に設けられた開口２１Ｋを通じて基板２０越しにコモンパッド１２上を観察することが可能になる。 - 特許庁

In the wiring embedded in the insulating material, the electron beams are made to enter the test piece, and the existence of wiring is projected as a variation of electrostatic charge amount on the surface, and observed.例文帳に追加

絶縁物に埋没した配線では、電子ビームを試料内に進入させ、配線の有無を表面の帯電量の変化として映し出し、これを観察する。 - 特許庁

By projecting the virtual beam 22 obliquely, the region (refer to the arrow p in the figure) which is shaded by the inner wall surface of the tubular tissue 23 can be clearly observed.例文帳に追加

仮想光線２２を斜めに投影することによって、管状組織２３の内壁面の陰になっている部分（矢印ｐ参照）を明瞭に観察することができる。 - 特許庁

To provide a method for producing a main histocompatibility antigen class II protein (hereinafter, abbreviated as MHC class II) observed on the surface of an antigen presenting cell and the like.例文帳に追加

本発明は、抗原提示細胞表面などに見られる主要組織適合性抗原クラスＩＩ蛋白質（以下ＭＨＣクラスＩＩと略す）の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a main tissue-compatible antigen class II protein (MHC (major histocompatibility complex) class II) observed at the surface or the like of an antigen-presenting cell.例文帳に追加

本発明は、抗原提示細胞表面などに見られる主要組織適合性抗原クラスII蛋白質(以下ＭＨＣクラスIIと略す)の製造方法を提供する。 - 特許庁

A lens barrel 3 is provided with a lens 20 for forming an observed image on the image pickup surface of the camera with the objective lens of the microscope and the photographing lens 53a on the inside.例文帳に追加

レンズ鏡筒３内には、顕微鏡の対物レンズと撮影レンズ５３ａとともにカメラの撮像面に観察像を結像するためのレンズ２０が設けられている。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope equipped with an observational optical system enabling a surface of a sample to be optically observed with a high magnification while having a wide scanning range.例文帳に追加

広い走査範囲を有しながらも、試料表面を高倍率で光学的に観察できる観察光学系を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Through Raman spectroscopic analysis where the excitation wavelength of the surface layer is set at 532 nm, an LO (longitudinal optical) peak derived from polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C is observed.例文帳に追加

表層の励起波長を５３２ｎｍとするラマン分光解析によって、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に由来のＬ０ピークが観察される。 - 特許庁

To easily and quickly prepare a geographical pattern which can be be observed at the time of irradiating a three-dimensional curved surface with parallel beams having an appropriate pattern from a certain direction.例文帳に追加

３次元曲面に、適宜なパターンを有する平行光線を、ある方向から照射したときに観察できる幾何学模様を容易に、短時間で作成する。 - 特許庁

This observation device has a constitution, wherein the light intensity distribution generated by the light modulation element of the surface irregular type and a transmission type and an imaging optical system, in a prescribed optical device, is observed.例文帳に追加

所定の光学装置において表面凹凸型で透過型の光変調素子と結像光学系とにより生成される光強度分布を観察する観察装置。 - 特許庁

To provide a method of determining surface tension by observing the interface shape of a small amount of liquid placed on a solid sample that vibrates vertically and comparing the observed surface tension with surface tension calculated by numerical analysis, and to provide a measuring apparatus.例文帳に追加

上下振動をする固体試料上に設置した小量の液体の界面形状を観測し、数値解析により求められる界面形状との比較により表面張力を決定する方法と測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To put it concretely, three measuring routes 36B, 36A and 36C for which a departure point is the center point O of the lower aorta are set, and distances (a), b and c from the center point O to a fat layer surface (inner surface) on the body surface side are observed on the respective measuring routes.例文帳に追加

具体的には、下大動脈の中心点Ｏを出発点とする３つの計測経路３６Ｂ，３６Ａ，３６Ｃが設定され、各計測経路上において中心点Ｏから体表側の脂肪層表面（内面）までの距離ａ，ｂ，ｃが観測される。 - 特許庁

To provide an epoch-making cubic curved surface expression device by which a cubic curved surface is easily and promptly created, used for observation in mechanism, the cubic curved surface to be created has a feeling of a real thing and is freely observed even from a position with different viewpoint.例文帳に追加

機構的に３次曲面を簡易かつ迅速に作出して観察に供することができ、しかも作出される３次曲面は実物感があって視点の異なる位置からも自由に観察することができる画期的な３次曲面表現装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image processor keeping secret a predetermined symbol formed and designated on an image formed surface of a printed matter when the image formed surface of the printed matter is visually observed from the direction of an acute angle with respect to the image formed surface.例文帳に追加

印刷物の画像形成面が当該画像形成面に対し鋭角な方向から目視された場合に、当該印刷物の画像形成面に形成され指定される所定の記号については秘匿の状態とすることのできる画像処理装置を提供する。 - 特許庁

The processor for an electronic scope has an image pickup means for picking up images of the part to be observed, by accumulating a charge corresponding to an optical image formed on a light-receiving surface only when the part to be observed is illuminated, during a predetermined period in which charge can be accumulated.例文帳に追加

電子スコープ用プロセッサは、所定の電荷蓄積可能期間のうち観察部位が照明されている時だけ受光面に形成された光学像に対応する電荷を蓄積することにより前記観察部位を撮像する撮像手段を有する電子スコープ用のプロセッサである。 - 特許庁

The pitch-based carbon short fiber filler has >10 to ≤40 μm average fiber diameter (L1) observed under an optical microscope, a closed graphene sheet in observation of a filler end face under a transmission type electron microscope, and a substantially flat surface observed under a scanning electron microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡で観測した平均繊維長（Ｌ１）が１０μｍ以上４０μｍ以下であって、透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラー。 - 特許庁

In the pitch-based carbon short fiber filler, a graphene sheet is closed at a filler end face when observed by a transmission electron microscope, while a surface observed by a scanning electron microscope is substantially flat, and the number average fiber length is 80 to 500 μm.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラーであり、個数平均繊維長が８０μｍ以上５００μｍ以下であることをピッチ系炭素短繊維フィラー。 - 特許庁

To provide a microscope sample preparing technique, wherein by solving the problem of ions injected by ion irradiation and remaining in the vicinity of the surface of a sample when of preparing a sample to be observed through the use of FIB, the sample is properly observed without being affected by the ions.例文帳に追加

ＦＩＢを用いて観察試料を作製する場合に、イオン照射によって注入され、試料表面近傍に残留するイオンの問題を解決し、その影響を受けることなく本来の試料観察ができる顕微鏡試料作製手法を提示することにある。 - 特許庁

The pitch-based carbon short fiber filler has a mean fiber length (L1) of 40 μm or more but less than 80 μm observed with an optical microscope, a closed graphene sheet by filler end face observation with a transmission electron microscope, and a substantially flat surface observed with a scanning electron microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡で観測した平均繊維長（Ｌ１）が４０μｍ以上８０μｍ未満であって、透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラー。 - 特許庁

To allow indirect observation under the condition where a desired voltage is impressed to a diffusion area of a sample surface part observed actually, without affected by sample structure, when a state of a local depletion layer in the diffusion area of a semiconductor sample is observed by an SCM.例文帳に追加

半導体試料の拡散領域の局所的な空乏層の状態をSCM により観察する際、試料構造の影響を受けることなく、実際に観察している試料表面部の拡散領域に所望の電圧を印加した状態で間接的に観察することを可能にする。 - 特許庁

In the inspection method of the nonmetal inclusion in steel, the surface of steel subjected to mirror surface polishing is observed using an optical microscope using a single wavelength laser beam source as an illumination light source and the nonmetal inclusion is discriminated on the basis of the brightness difference between steel and the nonmetal inclusion in the observed variable density image.例文帳に追加

本発明に係る鋼中非金属介在物検査方法は、照明光源として単波長レーザ光源を使用した光学顕微鏡を用いて鏡面研磨した鋼の表面を観察し、観察した濃淡画像における鋼と非金属介在物との輝度差に基づいて、非金属介在物を識別することを特徴とする。 - 特許庁

Subsequently, by using a camera 205 provided on the surface side of the semiconductor wafer 100, the surface side element structure part of the semiconductor wafer 100 is observed, and a cutting position adjusting mark of the semiconductor wafer is formed on the rear surface of the semiconductor wafer 100 based on a forming position P of the surface side element structure part.例文帳に追加

つづいて、半導体ウエハー１００の表面側に設けられたカメラ２０５を用いて半導体ウエハー１００の表面側素子構造部を観察し、表面側素子構造部の形成位置Ｐに基づいて半導体ウエハーの切断位置調節用マークを半導体ウエハー１００の裏面に形成する。 - 特許庁

To provide a double-sided display type liquid crystal display device which attains a double-sided display by using one liquid crystal display element, reduces occupied area, and displays an image observed from the one surface side and that observed from another surface side respectively with display using illumination light from a surface light source and with that using external light which is light from external surroundings.例文帳に追加

１つの液晶表示素子を用いて両面表示し、しかも占有面積を小さくするとともに、一方の面側から観察される画像と他方の面側から観察される画像をそれぞれ、前記面光源からの照明光を利用する表示と、外部環境の光である外光を利用する表示とにより表示することができる両面表示型の液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface protection film for a transparent electrical conductive film in which there is not observed large curl of the transparent electrical conductive film adhered to the surface protection film even after heat treatment process at about 150°C.例文帳に追加

表面保護フィルムが透明導電性フィルムに貼付けられた状態で、１５０℃程度の加熱工程を経ても、透明導電性フィルムが大きくカールすることがない透明導電性フィルム用表面保護フィルムを提供すること。 - 特許庁

To provide a lens sheet capable of inhibiting occurrence of luminance unevenness even when utilizing a liquid crystal panel in which the luminance unevenness is prone to be observed, a surface light source device using the lens sheet and a liquid crystal display device using the surface light source device.例文帳に追加

輝度ムラが見え易い液晶パネルを用いた場合にも、輝度ムラの発生を抑制することのできるレンズシート、このレンズシートを用いた面光源装置、及び、この面光源装置を用いた液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

A primary image is formed between the 1st and the 2nd reflection surfaces 2 and 3 by the 1st reflection surface 2, and a secondary image is formed by the 2nd reflection surface 3 and observed through the ocular 11.例文帳に追加

前記第１の反射面２で第１の反射面２と第２の反射面間３に第１次像を形成し、前記第２反射面３で第２次像を形成し、前記第２次像を接眼レンズIIで観察するように構成されている。 - 特許庁

The penetrant 3 remaining in the surface opening flaw 2 is irradiated with ultraviolet rays to emit fluorescence, so that the shape thereof is observed externally to easily and certainly detect the surface opening flaw 2.例文帳に追加

表面開口欠陥部２の内部に残存した浸透剤３を、紫外線を照射することにより蛍光発光させ、その形状を外観的に観察することにより、表面開口欠陥２を容易かつ確実に検出することができる。 - 特許庁

The light, having excited an outside end surface 4c of the glass rod 4, picks up an image of the pinhole actual image 4b as an observed image 6a on an imaging surface of a two-dimensional imaging element 6 by an action of a second optical system 5 as an imaging optical system.例文帳に追加

ロッド４の出側端面４ｃから出た光は、結像光学系である第２の光学系５の作用により、ピンホール実像４ｂの像を、２次元撮像素子６の撮像面に観測像６ａとして結像する。 - 特許庁

When the projection 52 is detected in the first process, an interface part between the transparent substrate 54 and the opaque film 56 is observed from the opposite surface side opposite to the film-formation surface by the second camera 16.例文帳に追加

第１工程で突起５２が検出された場合に、その突起５２の位置において、第２カメラ１６により、成膜表面とは反対の反対面側から透明な基板５４と不透明な膜５６との界面部を観察する。 - 特許庁

To provide a surface treated aluminum material which has a surface gloss and a color tone with little dependency on angles and dependency on directions when observed and with enough uniformity and reproducibility, and has warm touch and a calm texture, and further has high scratch resistance.例文帳に追加

表面光沢や色調において角度依存性がなく均一性や再現性に富み、あたたかみのある触感と落ち着いた質感を有すると共に、高い耐擦傷性を有する表面処理アルミニウム材を提供すること。 - 特許庁

The hemispherical translucent screen 16 is arranged on the front surface side of the inspected fish-eye lens 10, the picture of the projection chart 12 is projected on the inner surface side of the translucent screen 16, and the picture is observed from the outer surface side of the translucent screen 16 to perform the performance inspection.例文帳に追加

一方、魚眼レンズ１０の前面側には半球状の半透明スクリーン１６を配置し、投影チャート１２の絵柄を半透明スクリーン１６の内面側に投影させると共に、半透明スクリーン１６の外面側からその絵柄を観測し性能検査を行う。 - 特許庁

When an XY rectangular coordinate system is defined on the surface of an object, the alignment mark formed on the object is observed by an observation device having an optical axis inclined from a normal on the front surface of the object in a Y-axis direction, and the image of the alignment mark is formed on an image receiving surface.例文帳に追加

対象物の表面にＸＹ直交座標系を定義した時、対象物に形成されたアライメントマークを、対象物の表面の法線方向からＹ軸方向に傾いた光軸を有する観測装置で観測し、アライメントマークの像を受像面上に形成する。 - 特許庁

Moreover, this dimensional setting further allows the color of surface reflected light to be white, and even if an image formed by surface reflected light, and an image formed by reflected light from a reflecting film 26 interfered with by the surface reflected light, are visually observed, the afterimages hardly remain.例文帳に追加

しかも、上記の寸法設定とすることで、表面反射光の色彩を白色系とすることができ、仮に表面反射光により形成される像、及び、表面反射光に干渉された反射膜２６からの反射光により形成される像を目視しても、その残像が残りにくい。 - 特許庁

To provide a wafer observation position designating apparatus and a wafer display position designating method, which can move the observation position to a desired position with a single operation, when a wafer surface is observed.例文帳に追加

ウェーハ表面を観察する際に、ワンタッチで迅速に希望の観察位置に移動させることが可能なウェーハ観察位置指定装置及びウェーハ表示位置指定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing system allowing reduction of a burden on a user and allowing production of data on a land lot of agricultural land or the like, based on an observed image obtained by photographing a ground surface from a high altitude.例文帳に追加

高度上空から地表を撮影した観測画像に基き、ユーザの負担を軽減し、農地などの土地区画のデータを作成することができる画像処理システムを提供する。 - 特許庁

The UT unit 15 has an UT array 22 wherein five ultrasonic transducers UTa25-UTe29 are arrayed on a convex surface, and performs ultrasonic scanning to the part C to be observed.例文帳に追加

ＵＴユニット１５は、５個の超音波トランスデューサＵＴａ２５〜ＵＴｅ２９が凸曲面上に配列されたＵＴアレイ２２を有し、被観察部位Ｃに超音波走査を行う。 - 特許庁

All of the disordered damages applied to the surface can be photographed and can be observed on a monitor in a magnified state and the inspection of the damage can be performed easily and certainly.例文帳に追加

表面に付く無秩序な傷の全てを撮影することができ、またそれをモニタ上で拡大して観察することができるため、傷の検査を容易かつ確実に行うことができる。 - 特許庁

When looking the LED light-emitting portion (10) from an emitting surface (25) of the lens (20) through the lens (20), a fluorescent body containing portion (12) is reflected by the corner cube prisms (30) and becomes hard to be observed.例文帳に追加

レンズ（２０）の出射面（２５）からレンズ（２０）を通してＬＥＤ発光部（１０）を観たときには、コーナーキューブプリズム（３０）により反射し、蛍光体含有部（１２）が観察され難くなる。 - 特許庁

Consequently, the fine step structure on the processed surface is clearly observed without spoiling the polarization inversion structure formed in manufacturing stages and certainty of the inspection is secured.例文帳に追加

製造工程で形成される分極反転構造を損なうことなく、被加工面上の微細な段差構造を明瞭に観察することができ、検査の確実性を期すことができる。 - 特許庁

The detector 413 detects the light reflected again by the metal film 407a, and detects an optical property change in the observed object by means of surface plasmon generated on the metal film 407a.例文帳に追加

検出器413は、金属膜407aにより再び反射された光を検出し、金属膜407aに生ずる表面プラズモンを用いて観測対象の光学的特性の変化を検知する。 - 特許庁