「surface-defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(23ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for automatically detecting an external surface defect (outside diameter dimple) of a tubular material in production equipment in which a sizer is installed downstream of an elongator.例文帳に追加

延伸圧延機の下流に定径圧延機を設置した管材の製造設備において、管材の外面疵（外径凹み疵）を自動的に検出する方法を提供する。 - 特許庁

A method for measuring the fluorescence comprises the step of measuring a defective fluorescence present from a defect level of a surface site mainly having an energy level existing in a forbidden band of the energy level in the semiconductor nanoparticles.例文帳に追加

半導体ナノ粒子内部のエネルギーレベルの禁制帯内に存在するエネルギーレベルを持つ主に表面サイトの欠陥準位から現れる欠陥蛍光を測定する。 - 特許庁

To provide a transparent polyester film which has no frosting defect on the film surface and is hardly wounded and has good sliding properties while high transparency is ensured.例文帳に追加

フィルム表面に霜降り欠陥がなく、さらに傷付きにくく、しかも高い透明性を確保しながら良好な滑り性を有する透明積層ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To surely prevent a defect of precision of a form at a corner due to a delay in follow-up of a plasma arc processing machine and a delay of cutting of a lower part of a cutting surface without generating a waste of material.例文帳に追加

材料の無駄を生じずに、加工機の追従遅れや切断面下部の切断遅れに起因するコーナ部での形状精度不良を確実に防止する。 - 特許庁

To efficiently and easily obtain a substrate for epitaxial growth of a GaN compound semiconductor monocrystal membrane which has little crystal defect and favorable surface morphology.例文帳に追加

結晶欠陥が少なく、表面モフォロジーが良好な、ＧａＮ系化合物半導体単結晶薄膜エピタキシャル成長用の基板を、効率よく、且つ簡単に得る。 - 特許庁

To provide a compact electrophotographic device having a toner recycle mechanism, prevented from causing an image defect such as surface staining, and capable of performing excellent image formation over a long term.例文帳に追加

トナーリサイクル機構を有し、地汚れなどの画像欠陥が発生せず、長期に渡り、良好な画像形成を行うことが可能な小型の電子写真装置を提供する。 - 特許庁

To manufacture a vertical boat for heat treatment which can avoid generation of a surface defect called a slip in heat treatment steps of semiconductor substrate (silicon wafer) oxidization, CVD, annealing, etc.例文帳に追加

半導体基板（シリコンウェーハ）の酸化、CVD、アニール等の熱処理工程のいてスリップと呼ばれる表面欠陥の発生のない縦型熱処理用ボートを作成する。 - 特許庁

A material of removing a melamine resin layer of the melamine resin decorative sheet having the defect such as a gouge and a scratch on the surface by a sanding device, is used as the phenol resin laminated plate.例文帳に追加

更に、該フェノール樹脂積層板として、表面に打痕、擦り傷等の欠点のあるメラミン樹脂化粧板のメラミン樹脂層をサンディング装置で除去した物を用いる。 - 特許庁

To provide an internal surface reflection type simple matrix liquid crystal display element which can be manufactured in good yield by eliminating the occurrence of display defect due to a short circuit between electrodes.例文帳に追加

電極同士の短絡による表示欠陥の発生を無くし、歩留り良く製造することができる内面反射型の単純マトリックス液晶表示素子を提供する。 - 特許庁

To provide a molding sand by which, when the mold is produced by using urethane binder, the mold having a little gas defect and further, high strength and good surface flatness can be produced.例文帳に追加

ウレタンバインダーを用いて鋳型を製造する際に、ガス欠陥が少なく、より高強度で、表面平滑性も良好な鋳型を製造できる鋳物砂を提供する。 - 特許庁

A second interlayer insulation layer 7, the pixel electrodes 9a and an alignment layer 16 are flatly formed compatibly with the upper surface of the first interlayer insulation layer 4 and no alignment defect is generated.例文帳に追加

第２層間絶縁膜（７）、画素電極（９ａ）、配向膜（１６）は、第１層間絶縁膜（４）上と整合的に平坦に形成され、配向不良が生じることはない。 - 特許庁

To prevent faulty electrification and an image defect by excellent removing residual toner left on the surface of a photoreceptor drum after transferring a toner image in a cleaner-less type image forming apparatus.例文帳に追加

クリーナレス方式の画像形成装置において、トナー像転写後に感光ドラム表面に残った残留トナーを良好に除去して帯電不良、画像不良を防止する。 - 特許庁

To confirm and repair a defect extending to the surface of a turbine part, for example, a crack or other fine split occurring during operation of a turbine engine.例文帳に追加

タービン部品６２の表面に通じた欠陥、例えば、タービンエンジン運転中に発生し得る亀裂又は他の細かな裂け目を確認するとともに補修する方法の提供。 - 特許庁

To provide a surface defect inspecting apparatus dispensing with the coordinates convertion in a detection system with respect to a rotationally symmetric object and capable of easily performing inspection.例文帳に追加

回転対称な対称物に対して検出系での座標変換を不要とし、検査を容易に行うことを可能とした表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The catalytic effect of Pt constituting the surface electrode 7 decomposes oxygen into ions, thus compensate for the defect of the silicon oxide layer 64.例文帳に追加

このプロセスでは表面電極７を構成するＰｔの触媒作用により酸素がイオンに分解され、シリコン酸化膜６４の欠陥を補償をすることになるのである。 - 特許庁

WC-BASED CEMENTED CARBIDE CUTTING TOOL EXHIBITING EXCELLENT DEFECT RESISTANCE FOR HEAT-RESISTANT ALLOY CUTTING, AND SURFACE-COATED WC-BASED CEMENTED CARBIDE CUTTING TOOL例文帳に追加

耐熱合金の切削加工で優れた耐欠損性を発揮するＷＣ基超硬合金製切削工具および表面被覆ＷＣ基超硬合金製切削工具 - 特許庁

To improve the fluidity of molten metal and to surely produce a high quality cast product without developing the cast defect at a low cost by reducing the oxidized film formed on the surface of molten metal.例文帳に追加

溶湯の表面に形成される酸化被膜を還元して、溶湯の流動性を向上させ、鋳造欠陥のない高品質の鋳造製品を安価に確実に製造する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and high-resolution surface defect inspecting apparatus and its method for making a line sensor accurately track a location and a position fluctuation in an inspecting object.例文帳に追加

本発明は、被検査物の位置や姿勢変動にラインセンサを精度よく追従し、低コストで高解像度化が容易な表面欠陥検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

A temperature measuring instrument 19 measures the temperature on a surface of the inspected object in time sequence and outputs measurement data to a data recording means 13 of a defect inspection controlling apparatus 10.例文帳に追加

温度計測器１９は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置１０のデータ記録手段１３に出力する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a reflective board for eliminating display defect of a display by dissolving a scratch of the outside surface of a film, and to provide a TFT display with an inexpensive reflective board.例文帳に追加

フィルムの外側表面の擦り傷を解消し、ディスプレーの表示欠陥をなくす反射板の製造方法、また、安価な反射板付きＴＦＴディスプレーを提供する。 - 特許庁

To provide an electrode structure for a small sized surface acoustic wave element where defect of an interdigital transducer is suppressed due to a discharge caused by a pyroelectric effect in the manufacture process.例文帳に追加

製造過程で焦電効果に起因して発生する放電によるインタディジタルトランスデューサーの破損を抑制する弾性表面波素子の電極構造を提供する。 - 特許庁

In the manufacturing method of a SOI wafer, before the oxide film forming process, a reactive ion etching (RIE) defect annihilation process is performed in which a defect is annihilated that exists in a region having at least up to 5 μm depth from a surface being a bonding surface of a prepared silicon substrate and that is detected by an RIE method by applying a rapid thermal treatment to the prepared silicon substrate.例文帳に追加

酸化膜形成工程の前に、前記準備したシリコン基板に急速熱処理を施すことによって、少なくとも前記シリコン基板の貼り合わせ面となる表面から５μｍの深さまでの領域に存在するＲＩＥ法により検出される欠陥を消滅させるＲＩＥ欠陥消滅工程を行うＳＯＩウェーハの製造方法。 - 特許庁

Further, the crystal defect generated nearby the silicon wafer surface due to the injection energy in the silicon injection stage S2 can be removed by removing a surface layer portion where the defect is generated owing to the ion injection energy.例文帳に追加

また、洗浄・熱処理（工程Ｓ３）により評価対象元素であるＦｅもウェハ中へ均一に拡散させた後、イオン注入エネルギーにより欠陥が生じた表層部分を除去する（工程Ｓ４）ことにより、イオン注入工程Ｓ２において注入エネルギーによりシリコンウェハ表面近傍に生じた結晶欠陥を除去することができる。 - 特許庁

To provide a practical method and device for detecting a small surface irregularity defect, capable of detecting surely a small concave and convex defect having a contour of the irregularity of several micrometers which is difficult to an automatic detection like the detection by a grinding stone, in an object to be inspected with a coarse surface roughness and a visual inspection which is usually difficult.例文帳に追加

表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認困難で、砥石がけ検査により検出しているような自動検出が困難な凹凸が数μm程度でなだらかな輪郭を持つ微小凹凸性疵を確実に検出できる実用的な微小凹凸表面欠陥の検出方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method for manufacturing a mask blank substrate comprising a substrate having two main surfaces opposing to each other includes: a step of polishing the two main surfaces of the substrate; and a step of correcting a surface defect present on the main surface of the substrate by bringing flame at a burning temperature equal to or higher than the softening point of the substrate into contact with the surface defect.例文帳に追加

対向する２つの主表面を有する基板からなるマスクブランク用基板の製造方法であって、前記基板の２つの主表面を研磨する工程と、前記基板の主表面に存在する表面欠陥に対して、前記基板の軟化点以上の燃焼温度の火炎を接触させて前記表面欠陥を修正する工程とを有することを特徴とするマスクブランク用基板の製造方法である。 - 特許庁

This prevention relates to a method for repairing a defect 3 on the surface or in the vicinity of the surface of artificial marble 1 obtained by forming a coating layer 2 on the surface of a resin molded body composed of a polymer consisting mainly of a thermosetting resin or a thermoplastic resin and an inorganic filler.例文帳に追加

熱硬化性樹脂又は熱可塑性樹脂を主体とする重合体と無機充填材から成る樹脂成形体の表面にコーティング層２を形成して成る人工大理石１の表面又は表面近傍の欠陥３を補修するための方法である。 - 特許庁

To provide an apparatus for depositing an epitaxial semiconductor layer with which auto-doping of a front surface of a substrate as well as a back surface defect of the substrate possibly occurring during an epitaxial deposition process for forming the epitaxial layer on the front surface of the substrate are reduced, and to provide a method of using the apparatus.例文帳に追加

基板の前面にエピタキシャル層を形成するためのエピタキシャル堆積プロセス中に、該基板の該前面のオートドープを減少させ、かつ該基板の裏面の欠陥を減少させるエピタキシャル半導体層を堆積するための装置及びその装置を使用するための方法を提供する。 - 特許庁

To provide a film which reduces not only surface defects such as a film surface mark and an oligomer but also a defect due to omissions in the coating surface, and has good transparency and good optical performance when used as a liquid crystal constituting member such as a liquid crystal polarizing plate and a phase plate and as a PDP member.例文帳に追加

液晶偏光板、位相差板等の液晶構成部材、ＰＤＰ部材として用いた際に、フィルム表面キズやオリゴマー等の表面欠陥だけではなく、塗布面のヌケによる欠陥も少なく、透明性良好であり、光学的性能の良好なフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a substrate for a magnetic recording medium which is excellent in the surface accuracy while having only a small surface defect, minute waviness, etc., excellent in the mechanical strength and further excellent in the reliability for the surface stability, etc., and also to provide the magnetic recording medium using the above substrate and its manufacturing method.例文帳に追加

表面の欠陥や微小うねり等が少なく表面精度に優れ、また機械強度に優れ、さらに形状安定性等の信頼性に優れた磁気記録媒体用基板、その基板を用いた磁気記録媒体およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method by which a glass optical element can be manufactured in a high yield even when appearance defect (haze) occurs on the surface of a glass molded body due to the damage of a mold releasing film at the surface of a mold or the damage of a mold releasing functional film at the surface of a glass preform.例文帳に追加

成形型表面における離型膜の損傷又はガラス素材表面における離型機能膜に起因してガラス成形体表面に外観不良（クモリ）が発生した場合であっても、高い歩留でガラス光学素子を製造することができる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a resist surface modifying liquid and a method for forming a resist pattern using the resist surface modifying liquid used as a surface treatment liquid prior to the post exposure baking (PEB) processing of a resist film to reduce the water repellency of the resist film to thereby restrain the occurrence of a defect.例文帳に追加

レジスト膜の露光後加熱処理（ＰＥＢ）工程前の表面処理液として用いられるレジスト表面改質液であって、レジスト膜の撥水性を低下させ欠陥の発生を抑制できるレジスト表面改質液及びこれを利用したレジストパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a fixing device in which a fixing defect, such as density non-uniformity or image omission does not occur, by making a surface temperature of a fixing belt uniform in the peripheral direction and the lengthwise direction and by uniformly heating a toner image stuck on a surface of a sheet.例文帳に追加

定着ベルトの表面温度を周方向及び長手方向に均一とし、用紙表面に付着しているトナー像を均一に加熱して、濃度ムラ、画像ヌケ等の定着不良を発生させない定着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a printed-state inspection device that picks up an image formed of reflected light from a printed surface by projecting light upon the printed surface, detects a printing defect from the obtained image, and is improved in inspection efficiency.例文帳に追加

印刷面に光を照射し、その反射光により形成される像を撮像し、得られた画像から印刷の欠陥を検出する印刷状態検査装置であって、検査効率の向上を図ったものを提供する。 - 特許庁

FCl acts as an etching species and selectively etches only the nitrided film 20, and removes an organic matter 14 and a metal 16 sticking to a surface of the oxide film 12 and a defect 18 formed in a surface of the oxide film 12.例文帳に追加

ＦＣｌがエッチング種として作用し、窒化膜２０のみを選択的にエッチングし、酸化膜１２の表面に付着した有機物質１２、金属１４及び酸化膜１２の表面に形成された欠陥１６を除去する。 - 特許庁

To provide a method of inspecting surface defects and an apparatus for inspecting surface defects for detecting defects stably, even when an image of an object to be inspected includes constant, periodic variations in density, and there is a defect therein.例文帳に追加

被検査物を撮像した画像が、ある一定の周期的な濃淡を有し、その中に欠陥があるような場合でも、欠陥を安定して検出できる表面欠陥検査方法および表面欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an image forming device which eliminates foreign substances on the inner surface of a gap or a space surface of an image forming device in a short time with lot cost, and is hard to have breaking due to pixel defect or discharge during pixel display.例文帳に追加

画像形成装置のギャップ内表面やスペーサー表面の異物を短時間且つ低コストで除去し、画素欠陥や画像表示中の放電による破壊が起こりにくい画像表示装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cleaning method capable of cleaning a transfer surface, a side surface, and a side step part of a mold at the same time when a mold matrix for press-molding a glass substrate is cleaned, and of stably obtaining a mold free from a defect without requiring any manual work.例文帳に追加

ガラス基板のプレス成形用金型母材を洗浄する際に、金型転写面と側面及び側面段部を同時に洗浄でき、欠陥の無い成形金型を人手を介さず安定して得る方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for heating a steel slab, which can prevent surface defects on the steel slab, to solve such problems as crack generation on the steel slab and defect generation on the product surface.例文帳に追加

本発明は、鋼片の表面割れを起こし、製品表面に欠陥を生じるという問題を解決するためになされたもので、鋼片の表面の欠陥を防止できる鋼片の加熱方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a defect part marking method and a device capable of replacing a marker pen and replenishing ink quickly and continuously, when marking a surface or inside flaw position on the surface of an inspection material such as a thin steel plate.例文帳に追加

薄鋼板等の被検査材表面に、表面または内部の疵位置をマーキングするにあたり、迅速かつ連続にマーカーペンの交換またはインクの補充ができる欠陥部マーキング方法および装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a synthetic quartz glass substrate having high flatness to perform fine drawing as well as having a substrate surface with less defect and minimal surface roughness, as a synthetic quartz glass substrate for a photomask used in a photolithography process or the like.例文帳に追加

光リソグラフィー法等で使われるフォトマスク用合成石英ガラス基板として、平坦度が良く微細な描画を行うことができ、かつ基板表面が低欠陥で面粗さの小さい合成石英ガラス基板を提供する。 - 特許庁

In this surface inspection instrument, a first detection means 2a, 2b outputs a detective signal by finding the reflected light of a light-beam corresponding to the defect on the surface of the frontal side of the light- penetrating substrate having the semi-transparent film.例文帳に追加

第１の検出手段２ａ及び２ｂは、表面に半透明膜を有してなる透光性基板の基板表面側で該基板表面の欠陥に応じた光ビームの反射光を検出して、検出信号を出力する。 - 特許庁

As a result, a deformation and a failure of the ceramic member 11 started from outer periphery of blazing layer 21 can be prevented, because there are no notched part, no stress concentration, or no filling defect of blazing filler on the outer periphery surface of bonding surface.例文帳に追加

この結果、接合面の外周縁に切欠溝が存在せず、応力集中もロー材層の充填不良箇所もないから、ロー材層２１の外周縁が起点となってその変形やセラミック部材１１の破損も防止できる。 - 特許庁

The inspection device uses a light source arranged so that the light source is close to a Brewster angle where polarization dependence of reflected light becomes largest, and a polarization camera for photographing the reflected light to determine whether the defect is the one on the front surface or on the rear surface.例文帳に追加

反射光の偏光依存性の最も大きくなるブリュースター角に近くなるよう設置した光源と、その反射光を撮影する偏光カメラを用いて、表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを判別する。 - 特許庁

To provide a visual inspection device for a semiconductor device that protects adjacent non-defectives against damage by virtue of short-time and precise marking when marking a corresponding obverse surface after inspecting a defect in a reverse surface of a semiconductor substrate.例文帳に追加

半導体基板裏面の欠陥を検査した後、対応する表面にマーキングする際に、短時間かつ精度良くマーキングを行うようにし、隣接する良品に傷を付けることのない半導体素子の外観検査装置を提供する。 - 特許庁

For example, as shown in a microphotograph of Fig. 1, a cleavage surface of a DAST (4-dimethylamino-N-methyl-4-stilbazolium tosylate) crystal has a cleavage surface in a direction parallel to an axis (a) and parallel to a (001) plane and the linear defect exists here.例文帳に追加

例えば、図１の顕微鏡写真に示すように、ＤＡＳＴ結晶の劈開面は、ａ軸と平行方向および（００１）面と平行方向に劈開面を有しており、ここに前記直線状欠陥が存在する。 - 特許庁