| 意味 | 例文 |
surface-defectの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2108件
To provide an image forming method and an image forming apparatus which prevent occurrence of image defects due to surface flawing of a photoreceptor, improve the transferability of a toner by an image forming system using an intermediate transfer member and cause neither streaky image defect nor image defect such as a void.例文帳に追加
本発明の目的は感光体の表面傷の発生に原因する画像欠陥の発生を防止し、中間転写体を用いた画像形成方式のトナーの転写性を改善し、筋状の画像欠陥や中抜け等の画像欠陥を発生させない画像形成方法、画像形成装置を提供。 - 特許庁
To provide a defect correction method by a laser beam in which a compound substrate disposed with a resin section of a correction object and an underlayer composed of ITO which is the underlayer thereof, successively from the surface side of a substrate on the substrate can be readily and surely subjected to correction of a projection defect of the resin section.例文帳に追加
基材上に、その表面側から順に、修正対象の樹脂部とその下地であるITOからなる下地層を配設した複合基材において、下地層を損傷することなく、簡単に、且つ、確実に、樹脂部の突起欠陥の修正を行える、レーザ光による欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁
To provide a surface observation method for an optical member suitable for observation as to quality determination of the optical member, capable of correcting a shift between respective images about two surfaces of the optical member to correlate an image of a defect itself with a reflected image of the defect, while adopting a so-called one-face imaging method.例文帳に追加
いわゆる片面撮像方法を採用しつつも、光学部材の二つの表面に関する各画像のずれを補正して欠陥そのものの像と該欠陥の映り込み像とを対応づけることができる、光学部材の良否判定に関する観察に好適な光学部材の表面観察方法を提供すること。 - 特許庁
Since the substrate warp state in component mounting processes can be obtained from the substrate ID information and its approximate curved surface data when a substrate defect occurs as the years pass, it is possible to analyze the causal relationship of the defect and the substrate warp and take appropriate measures to meet the situation such as review of production conditions.例文帳に追加
経年的に基板に不具合が発生した場合に、基板のID情報に基づいて近似曲面データから実装過程における基板の反り状態を把握することができるので、不具合と基板の反りとの因果関係を解析し、生産条件の見直し等の有効な対策を講じることができる。 - 特許庁
The device is provided with a camera 14 which detects a defect 2 existing in a metallic member 3, a flux coating device 16 which supplies flux consisting essentially of Ti, Cr, and Si into a welded zone, a washing device 11 which washes the surface of the welded zone, and a welding torch 10 which repairs the defect 2 by welding.例文帳に追加
金属部材3に存在する欠陥2を検出するカメラ14と、溶接施工部にTi、CrおよびSiを主成分とするフラックスを供給するフラックス塗布装置16と、溶接施工部の表面を洗浄する洗浄装置11と、欠陥2を溶接により補修する溶接トーチ10と、を有する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a glass substrate for magnetic disc capable of enhancing the yield of glass substrates, by discriminating an included substance generated at the manufacturing process of the glass substrate from a recessed defect and a projected defect included in the surface, a glass substrate for magnetic disk, and to provide a magnetic disc.例文帳に追加
本発明は、ガラス基板の製造工程で生じる内包物と表面に含まれる凹欠陥および凸欠陥とを区別することで、ガラス基板の歩留まりを向上させることが可能な、磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスク用ガラス基板および磁気ディスクを提供することを目的としている。 - 特許庁
This defect detector for detecting the defect of the plate-like body 2 comprises a light projector 5 for making light come into one surface 33 of the plate-like body 2 containing the material having light transmitting properties, and an imaging device 3 for imaging the plate-like body 2 using the reflected light reflected by the plate-like body 2.例文帳に追加
板状体2の欠陥を検出する欠陥検出装置は、透光性を有する材料を含んだ板状体2の一の面33に光を入射させる投光装置5と、板状体2で反射した光の反射光を用いて板状体2を撮像する撮像装置3と、を有している。 - 特許庁
When a defect 13 is detected by applying various types of image processing to an image of a surface of the sheet like product 1 picked up by an image pickup means 12, a marking means 14 applies marking scratches 15 parallel to a conveying direction 11a on both sides in a width direction of a defect position.例文帳に追加
撮像手段12が撮像するシート状製品11の表面の画像に対して各種の画像処理を施すなどによって、欠陥13が検出されると、マーキング手段14は、欠陥位置を、幅方向の両側から挟むように、搬送方向11aに平行なマーキング用の傷15をつける。 - 特許庁
When an optical disk 1 which serves as the information recording medium is inserted, a control unit having a CPU controller 11 as the main component judges whether the optical disk 1 needs defect detection depending on whether defect detection (verification) of the optical disk 1 has been finished and, if the verification has not been finished, the whole surface of the optical disk 1 is formatted and verified.例文帳に追加
情報記録媒体である光ディスク1が挿着されたとき、CPUコントローラ11を中心とする制御部によって、その光ディスク1が欠陥検出(ベリファイ)済みか否かによって欠陥検出の要否を判定し、ベリファイ済みでなければ光ディスク1の全面をフォーマットした後ベリファイする。 - 特許庁
To provide an injection molding mold device for a product having an appearance surface where an appearance defect such as a flow mark or the like to be trouble on the appearance, an injection molding method for a product having an appearance surface, and a resin molded article molded with its injection molding method.例文帳に追加
外観上支障となるフローマーク等の外観不良の発生のない外観面を備える製品の射出成形金型装置、外観面を備える製品の射出成形方法及びその射出成形方法で成形された樹脂成形品を提供する。 - 特許庁
To provide a quality improving method and device for improving product finishing surface quality, by cladding and contracting a fine casting defect in the vicinity of a surface in a cast steel workable at the rotation center like a round bar.例文帳に追加
丸棒のような、回転中心にて加工可能な鋳鋼品に対して、表面近傍の微少鋳造欠陥を圧着・縮小させることにより、製品仕上げ表面性状を向上させるための性状改善方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁
To suppress the generation of distortion in a glass substrate due to eccentric wear of a surface plate and suppress the generation of a defect in the glass substrate due to an outer edge of the surface plate in a grinding work or a polishing work using a planetary gear mechanism.例文帳に追加
遊星歯車機構を用いた研削加工又は研磨加工において、定盤の編摩耗に起因してガラス基板に歪みが生じることを抑制すると共に、定盤の外縁に起因してガラス基板に欠陥が生じることを抑制することを目的の一とする。 - 特許庁
Preferably, a depth di from the surface 2 to the internal defect 5 or the buried body in the diagnosed portion 4 is calculated based on a concrete elastic characteristic v of the diagnosed portion 4 and a time ti from the detection of the surface wave 9 to the detection of the each elastic wave 10i.例文帳に追加
好ましくは、被診断部位4のコンクリート弾性特性vと表面波9の検出から各弾性波10iの検出までの時間tiとから被診断部位4における表面2から内部欠陥5又は埋設物までの深さdiを算出する。 - 特許庁
To determine, even if minute irregularity is made at an irradiation position of light in the surface of an object, while eliminating an influence of the irregularity, whether or not a defect of a foreign substance equal to or higher than a predetermined height exists on the surface of the object.例文帳に追加
対象物の表面における光の照射位置に微小な凹凸が形成されている場合でも、この凹凸の影響を排除しつつ、予め規定された高さ以上の異物欠陥が対象物の表面上に存在するか否かを判定する。 - 特許庁
To provide an adhesive sheet for an electronic photographic recording free from the failures in label releasability, stacking and the like attributable to curling generated by the heat shrinkage of a surface base material, and the troubles of appearance defect of flapping and the like caused by the heat shrinkage of the surface base material.例文帳に追加
表面基材の熱収縮により発生するカールが原因となるラベル剥がし性不良、スタッキング不良等がなく、かつ表面基材の熱収縮により波打ち等の外観不良の問題がない電子写真記録用粘着シートを提供する。 - 特許庁
Because the white defect part has greater influence, the adhesion strengths of the first and second close contact surfaces are set such that the generation of cavities with the time degradation of the adhesion member progresses in the second close contact surface more than in the first close contact surface.例文帳に追加
白欠陥の方が影響が大きいため、密着部材の経時劣化に伴う空隙の発生が第1の密着面内よりも第2の密着面内で進行するように、第1の密着面の密着力及び第2の密着面の密着力を設定する。 - 特許庁
To provide a treatment method which can remove fine particles and metal impurities on the surface of a semiconductor substrate without causing corrosion or oxidation of the semiconductor substrate and a metal wiring, and can simultaneously remove carbon defect on the surface of the substrate without removing a metal corrosion inhibitor-Cu coating film.例文帳に追加
半導体基板や金属配線の腐食や酸化を起こすことなく、基板表面の微細粒子や金属不純物を除去し得、金属腐食防止剤-Cu皮膜の除去せずに基板表面のカーボン・ディフェクトをも同時に除去し得る処理方法。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a semiconductor device, capable of easily processing shapes different in etching depth on a same surface without inducing a defect (group V atomic vacancy) by desorption of a constituent atom of a semiconductor and causing degradation of a surface morphology.例文帳に追加
半導体の構成原子の脱離による欠陥(V族原子空格子)の誘起または表面モフォロジーの劣化を生じさせずに、同一面内でエッチング深さが異なる形状を容易に加工することができる半導体素子の作製方法を提供する。 - 特許庁
To consistently manufacture a product steel strip of excellent quality and performance without raising degradation of the surface quality of the product steel strip or problems associated with the secondary working such as pressing by defect removal trace caused by removing surface defects of a hot-rolled steel strip.例文帳に追加
熱延鋼帯の表面欠陥除去で生じた欠陥除去痕により製品鋼帯の表面品質の低下やプレス成形などの2次加工に伴う問題を生じさせることなく、優れた品質及び性能を有する製品鋼帯を安定して製造する。 - 特許庁
To effectively suppress looseness by minutely coping with the unevenness of a building floor face while suppressing the occurrence of a defect that the strength of one of a surface material and a backing material is lowered in comparison with that of the other in a floor panel with the surface material placed over the backing material.例文帳に追加
表材と裏材とを重合させている床パネルにおいて、表材又は裏材の一方の強度が他方の強度と比べて低下する不具合の発生を抑えつつ建築床面の不陸にきめ細かく対応させてがたつきを効果的に抑える。 - 特許庁
The device for inspecting photosensitive material for surface defect has the reflection type optical sensor 12 and detects the defective part formed on the surface of the heat developable photosensitive material 10 by projecting inspection light upon the material 10 from a light source 14 and receiving the reflected light from the material 10 by means of a light receiving section 16.例文帳に追加
本発明に係る表面欠陥検査装置は、反射型光センサ12を有し、光源14から熱現像感光材料10に検査光を照射し、その反射光を受光部16で受光することによって表面欠陥部を検出する。 - 特許庁
To provide a defect inspecting device inspecting defects with a change in the surface state including projection and recesses, transparent foreign matter, fish eyes and lines, and colored defects including very faint yellow defects without change in the surface state, such as burn and oil spots by a single series of optical systems.例文帳に追加
凹凸、透明異物、フィッシュアイ、スジなど表面状態が変化した欠陥と、焼け、油汚れなど表面状態が変化しない非常に淡い黄色などの有色欠陥を1系列の光学系で検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a visual inspection device and a visual inspection method, capable of confirming the propriety of a production process of forming a pattern appearing on the surface of a semiconductor wafer or the like, at the same time as with the visual inspection of a defect appearing on a wafer surface.例文帳に追加
半導体ウエハなどの表面に現れるパターンを形成した製造プロセスが適切であるか否かを、このウエハ表面に現れる欠陥の外観検査と同時に確認することが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus that suppresses occurrence of an image defect such as a streak caused by deformation of an image carrier surface and provides good and high image quality for a long time.例文帳に追加
像担持体表面の変形によるスジなどの画像欠陥の発生を抑制して長期に亘り良好かつ高品質の画像品質を付与することを可能とする画像形成装置を提供する。 - 特許庁
The illumination means irradiates a light of 420-530 nm wavelength range to an inspection surface of the wood to be inspected, and the processing means extracts a defect part based on the luminance in the photographed image.例文帳に追加
上記照明手段は検査木材の検査面に420nm〜530nmの波長域の光を照射し、上記処理手段は撮像された画像における輝度を基に欠陥部を抽出する。 - 特許庁
To provide a surface coated cutting tool, preventing a defect at the knife edge of a cutting tool and the oxidation of a base material, and having a coating layer exhibiting excellent cutting performance, and a manufacturing method thereof.例文帳に追加
切削工具の刃先における欠損や基材の酸化を防止し、かつ、優れた切削性能を発揮する被覆層を備えた表面被覆切削工具およびその製造方法を提供すること - 特許庁
To provide a method of advantageously manufacturing a cylindrical precision member having no bump defect, and a method of manufacturing a transferred body to which the shape of such roll surface is transferred.例文帳に追加
瘤欠陥のない円筒状精密部材を製造する上で有利な円筒状精密部材の製造方法このようなロール面の形状を写し取った転写物を製造する方法を提供する。 - 特許庁
To provide a mold for continuous casting and its continuous casting method capable of preventing the surface defect and the restrictive breakout of a solidified shell caused by ununiform cooling of a cast slab at the initial stage of solidification.例文帳に追加
凝固の初期段階における鋳片の不均一冷却に起因する表面欠陥や凝固シェルの拘束性ブレークアウトを防止する連続鋳造用鋳型および連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a silicon wafer wherein no crystal defect is present in a surface layer part of the wafer, and an oxygen precipitate and other crystal defects are reduced in the wafer as well, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加
ウェーハの表層部に結晶欠陥が存在せず、ウェーハ内部においても酸素析出物やその他の結晶欠陥が低減されたシリコンウェーハ、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a cutting tool formed of a surface-coated cubic boron nitride base ultra high-pressure sintered material, that exhibits excellent chipping resistance, defect resistance and finished face accuracy in the high-speed cutting of high-hardness materials.例文帳に追加
高硬度材の高速切削加工で、すぐれた耐チッピング性、耐欠損性と仕上げ面精度を発揮する表面被覆立方晶窒化ほう素基超高圧焼結材料製切削工具を提供する。 - 特許庁
To provide a method for forming the gate of a semiconductor element capable of obtaining the gate electrode having no defect by reducing the generation of an alien substance at the upper part of the surface of a doped silicon film.例文帳に追加
ドープトポリシリコン膜の表面上部に異常異物が発生することを抑制し、欠点のないゲート電極を実現することが可能な半導体素子のゲート形成方法を提供すること。 - 特許庁
A second detection means 3a, 3b outputs a detective signal by finding a transmission light of the beam corresponding to the defect on the surface of the opposite side of the above substrate.例文帳に追加
第2の検出手段3a及び3bは、上記透光性基板の基板表面とは反対側で該基板表面の欠陥に応じた光ビームの透過光を検出して、検出信号を出力する。 - 特許庁
The magnetic disk unit carries out surface defect checking (S5) after raising the temperature of the unit by a temperature raising operation (S2) which controls a voice coil motor to repeatedly move a head on the magnetic disk.例文帳に追加
磁気ディスク装置は、ヘッドが磁気ディスク上で繰返し移動するようにボイスコイルモータを制御する温度上昇動作(S2)によって装置温度を上昇させた後に、表面欠陥検査(S5)を行う。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of an inkjet recording material having glossiness comparable to a conventional silver salt photograph with no surface defect such as pits or losses and which can be operated for a long period of time.例文帳に追加
従来の銀塩写真に匹敵する光沢を有し、ピットやトラレ等の表面欠陥が無く、長時間での連続操業も可能なインクジェット記録材料の製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a cast slab cooling apparatus in a continuous casting facility with which the cast slab can be cooled without developing surface defect, such as crack, at both edge parts in the width direction of the cast slab drawn out from a mold.例文帳に追加
鋳型から引抜かれた鋳片の幅方向両端部に割れ等の表面欠陥を発生させることなく鋳片を冷却することのできる連続鋳造設備の鋳片冷却装置を提供する。 - 特許庁
To produce a hot-dip galvanized steel sheet in which the surface quality of the produced hot-dip galvanized steel sheet can be improved by restraining the occurrence of wrinkle-like defect while achieving the uniformity of galvanized matter stuck amount.例文帳に追加
鍍金付着量の均一化を図りつつ、シワ状の欠陥発生を抑えることで、製造する溶融亜鉛鍍金鋼板の表面品質を向上可能な溶融亜鉛鍍金鋼板を製造する。 - 特許庁
To provide a moving handrail defect detector of passenger conveyer capable of reducing measurement errors of positions or speeds of respective parts of the moving handrail even when aging deterioration occurs on the surface of the moving handrail.例文帳に追加
移動手摺の表面に経年劣化を生じている場合でも、移動手摺の各部の位置あるいは速度の計測誤差を少なくすることができる乗客コンベアの移動手摺探傷装置の提供。 - 特許庁
To provide an on-load tap changer that suppresses excessive abrasion due to a defect in lubrication on a slide surface of a change-over contact with compact and simple constitution.例文帳に追加
本発明は、小型かつ簡易な構成で切換接点の摺動面における潤滑不良による過大な磨耗を抑制することができる、負荷時タップ切換装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
Dirt on the concrete surface is reflected by every image data therefore does not appear on the difference image due to cancellation; however, the shadow of the defect 3a appears on the difference image due to generation or non-generation.例文帳に追加
コンクリート表面の汚れは、どの画像データにも映っているので、差分画像では相殺されて現れないが、欠陥部分3aの影は、出来たり出来なかったりするので、差分画像に現れる。 - 特許庁
The ultrasonic wave UT is thus made to enter the pipe 1, so that defective surface echo Ep and defective tip echo Et occur certainly, thereby the defect K can be accurately detected and sized.例文帳に追加
このようにして超音波UTを管体1に入射するため、欠陥面エコーEpと欠陥先端エコーEtが確実に発生して、欠陥Kの検出及びサイジングを正確に行うことができる。 - 特許庁
Thus, the accuracy of defect detection can be improved by minimizing the width of the mask 37, and the deviation correction can be performed in parallel with the surface inspection, so that the reduction in productivity is prevented.例文帳に追加
これにより、マスク37の幅を極力細くして欠陥検出の精度を高めることができ、さらに、表面検査と並行してずれ補正を実施できるので生産性の低下が防止される。 - 特許庁
To provide a polishing composition capable of polishing a quickly polishing target material even if grain diameter of alumina is small, and reducing surface defect of the polishing target material after being polished.例文帳に追加
アルミナの粒径が小さくても迅速に研磨対象物を研磨することができ、尚かつ研磨後の研磨対象物の表面欠陥を低減することができる研磨用組成物を提供する。 - 特許庁
To provide a paper guide device, removing toner adhering to be deposited on the surface of a guide rib for guiding paper by simple constitution, thereby restraining the occurrence of an image defect such as a linear scratch.例文帳に追加
用紙を案内する案内リブ表面に付着、堆積したトナーを簡便な構成により除去し、線状擦痕等の画像不良の発生を抑制することが可能な用紙案内装置を提供する。 - 特許庁
Thereby, a film-deposition defect and partial perturbation of an alignment direction of a liquid crystal layer are not generated and the reflection surface of a pixel part 500 can have high reflectance.例文帳に追加
このため、下部配向膜208には成膜不良や部分的な液晶層の配向方向の乱れは発生せず、よって画素部500の反射面は極めて高い反射率を有することができる。 - 特許庁
To provide an image forming device capable of preventing an image defect such as irregularity in an image or the uneven gradation of the image from occurring by correcting the lowering of the sensitivity of the surface of a photoreceptor by an electrifying device.例文帳に追加
帯電装置による感光体表面の感度低下を補正して、画像の乱れ、画像の濃淡ムラなどの画像不具合が発生するのを防止する画像形成装置を提供する。 - 特許庁
Since the whole surface of the food packaging sheet has a double structure of the film 1 and the laminate 3, a defect is hardly generated so as to provide highly closable properties to the food packaging sheet compared with a known example having a single layer part.例文帳に追加
また、全面がフィルム1+ラミネート3の2重構造であるため、単層部分のある公知例のシートと比較して欠陥が発生しにくく、密閉性が高いという効果がある。 - 特許庁
To provide an inspection method, capable of obtaining the distribution or the trend of the electric resistance and electric capacity of the entire surface of a substrate in a short time in inspection of defect in a substrate, such as a semiconductor device or liquid crystal.例文帳に追加
半導体装置や液晶等の基板欠陥検査において、基板全面の電気抵抗および電気容量の分布や傾向を短時間に求めることが可能な検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a film deposition method in which a defect repair process for structures by which both of projecting defects and recessed defects can flatly be repaired in accordance with the surface of a base board can be utilized.例文帳に追加
凸状欠陥或いは凹状欠陥のいずれであっても基板表面に合わせて平坦に修正することのできる構造体の欠陥修正プロセスで利用可能な成膜方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a method of controlling flow of molten steel in a casting mold, a method by which continuous casting is achieved without causing internal defect or surface grade deterioration of a cast slab, even in casting under high throughput conditions.例文帳に追加
高スループット条件で鋳造を行う場合にも、鋳片の内部欠陥や表面品位を招くことなく連続鋳造が可能な、溶鋼の鋳型内流動制御方法を提供する。 - 特許庁
To provide an image forming device capable of suppressing an image defect such as ground fogging and poor gradation by preventing reverse charge of the drum surface of a photoreceptor drum during non-image formation.例文帳に追加
非画像形成時において感光体ドラムのドラム表面が逆帯電することを抑制して、地カブリ、諧調不良等の画像欠陥を抑制することが可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁
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