1153万例文収録!

「test vector」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > test vectorの意味・解説 > test vectorに関連した英語例文

セーフサーチ:オフ

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

test vectorの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 110



例文

To perform a simple and efficient test by facilitating formation of a test vector, when testing the operation state of an electronic control system having a plurality of electronic control units.例文帳に追加

複数の電子制御装置を有する電子制御システムの動作状態を試験するにあたり、テストベクタの作成を容易なものとして、簡便且つ効率的に試験を行えるようにする。 - 特許庁

A referring address of a test pattern 114 is registered in a test vector table 115 to be correlated with the core number and the version number of the IP used in the LSI of an inspection object.例文帳に追加

検査対象のLSIに利用されているIPのコア番号及びバージョン番号とに対応付けられたテストパタン114の参照先がテストベクタテーブル115に登録されている。 - 特許庁

To reduce test time and test vector length, when examining access between all the logics (using a register, in the example following) which have storage functions inside a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置内の全ての記憶機能を持つロジック(以下例としてレジスタを用いる)間のアクセス検査を行うに際し、テスト時間及びテストベクタ長の削減を図る。 - 特許庁

Each formation of tests 102, 202 is processed so that a redundant test is removed, and that a space for inserting therein new genetic material 108 into a group in the form of a random test vector is formed.例文帳に追加

更に、冗長なテストが排除され、及びランダムテストベクトルという形で集団内に新たな遺伝材料108を挿入する余地を形成するように、テスト102,202の各生成が処理される。 - 特許庁

例文

This device is provided with a compression means for forming only the change portion from the previous pattern, while paying attention to a test pattern file used for a semiconductor test every pattern vector, to compress the test pattern file, and a memory means for storing the test pattern file compressed by the compression means.例文帳に追加

また、半導体の試験に使用するテストパターンファイルをパターンベクタ毎に着目し、前のパターンベクタからの変更分のみをファイル化して上記テストパターンファイルの圧縮を行う圧縮手段と、該圧縮手段で圧縮されたテストパターンファイルを記憶する記憶手段とを備える。 - 特許庁


例文

A fault-generating vector specifying unit 8 inputs data D2, regarding a comparison result from the comparator 11, and specifies a fault generating vector from a plurality of test vectors TB1 to TBn.例文帳に追加

異常発生ベクタ特定部8は、比較結果に関するデータD2を比較器11から入力し、そのデータD2に基づいて、複数のテストベクタTB1〜TBnの中から、異常発生ベクタを特定する。 - 特許庁

A positioning assisting apparatus 12 outputs a computed result necessary for stopping the unbalance vector of the test piece 1 at a specified angle position, on the basis of the present angle position and the unbalance vector.例文帳に追加

位置決め補助装置12では、現在角度位置P2と不釣合いベクトルとに基づき、供試体1の不釣合いベクトルを所定の角度位置に停止させるために必要な演算結果を出力する。 - 特許庁

Original test vectors stored in an ROM 4 are shifted alternately into two shift registers SR-A2 and SR-B3 on a vector basis.例文帳に追加

ROM4に格納されたもととなるテストベクトルはベクトル単位で交互に2つのシフトレジスタSR_A2及びSR_B3にシフトインされる。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING TEST VECTOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD AND APPARATUS FOR VERIFYING SAME例文帳に追加

半導体集積回路のテストベクタ評価方法、検証方法、並びに半導体集積回路のテストベクタ評価装置及び検証装置 - 特許庁

例文

ALLYL HYDROCARBON RECEPTOR CHIMERIC PROTEIN, GENE ENCODING THEREOF, EXPRESSION VECTOR, TRANSFORMED CELL, AND METHOD FOR DETECTING TOXICITY OF TEST ARTICLE例文帳に追加

アリルハイドロカーボン受容体キメラタンパク質、それをコードする遺伝子、発現ベクター、形質転換細胞、および被験物質の毒性検出方法 - 特許庁

例文

In a test vector formation support part 13, a test cycle time, a delay time of an input signal value and an expected value checking time are extracted from a pseudo peripheral circuit model, and a file for specifying extraction timing of test data is formed based thereon.例文帳に追加

テストベクタ作成支援部13において、疑似周辺回路モデルから、テストサイクル時間、入力信号値の遅延時間及び期待値照合時間を抽出しこれらをもとにテスト用データの抽出タイミングを指定するファイルを生成する。 - 特許庁

Common defect types to the number of L are collected in each test, and each test of the tests to the number of N is expressed as correlation vectors to the number of N, and a complementary number of the correlation vector having the most non-zero components among the correlation vectors to the number of N is set as the initial value of a vector W.例文帳に追加

上記課題は、各試験ごとにL個の共有欠陥型を収集し、N個の試験の各試験をN個の相関ベクトルとして表現し、N個の相関ベクトルのうち最も多くの非零成分を有する相関ベクトルの補数をベクトルWの初期値に設定する。 - 特許庁

To provide a program analysis device, a program analysis method and a program analysis program which automatically identify a factor point preventing generation of a test vector for an optional test item.例文帳に追加

任意のテスト項目に対してテストベクタを生成できない場合にその要因箇所を自動的に特定するプログラム解析装置、プログラム解析方法及びプログラム解析プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

An LSI tester 111 acquires the core number and the version number of the used IP, referring to the register block 106, and acquires the test pattern 114, referring to the test vector table 115.例文帳に追加

LSIテスタ111は、レジスタブロック106を参照して、利用されているIPのコア番号及びバージョン番号を獲得し、それによりテストベクタテーブル115を参照してテストパタン114を獲得する。 - 特許庁

Next, in an actual semiconductor logic circuit device, a failure presence alleged region of the semiconductor logic circuit device is specified according to the comparison results between an observation output vector when the test input vector VEC is input into the input signal line and a simulation output vector.例文帳に追加

次に、実際の半導体論理回路装置に対してテスト入力ベクトルVECを入力信号線に入力した際の観測出力ベクトルとシミュレーション出力ベクトルとの比較結果に応じて半導体論理回路装置の故障存在被疑領域を特定化する。 - 特許庁

Video signals of the test chart RC obtained by the video scope 30 and a video processor 40 are sent to a vector scope 50 and the colors are adjusted.例文帳に追加

ビデオスコープ30およびビデオプロセッサ40により得られるテストチャートRCの映像信号をベクトルスコープ50に送り、色調整を行う。 - 特許庁

A Z operation part 9 determines respective measured output values of the vector ratio measuring device 8, and calculates the test impedance from the ratio between the output values.例文帳に追加

Z演算部9では、測定されたベクトル比測定器8のそれぞれの出力値を求め、これら出力値の比から供試インピーダンスを算出する。 - 特許庁

Therefore, since it is necessary and sufficient that only access inspection be using the register 104 for test of each of function blocks be conducted and that it is not necessary to conduct the access inspections for all the registers, the test time for the access examination between registers and the test vector length can be reduced.例文帳に追加

そのために、各機能ブロックのテスト用レジスタ104を用いたアクセス検査のみを行えば必要十分であり、全てのレジスタのアクセス検査をする必要がなくなるので、レジスタ間のアクセス検査のテスト時間、およびテストベクタ長の短縮化を図ることができる。 - 特許庁

In the verification processing part 13, the number of division of the test patterns and the location of its storage stored in the memory 11 for storing the test patterns are recognized on the basis of the division information, and read regions from the memory 11 for storing the test patterns are sequentially changed by a read region switch circuit 12 to read each test vector and verify the circuit to be tested 20 accordingly.例文帳に追加

検証処理部13では、分割情報からテストパターン格納用メモリ11に格納された分割テストパターン数及びその格納位置を認識し、テストパターン格納用メモリ11からの読出領域を読出領域切替回路12によって順次切り替えて各テストベクタを読み出し、これにしたがって被テスト回路20に対する検証を行う。 - 特許庁

To provide a method and a system for forming a test and a test vector, for confirming performance and operation of simulated VLSI and silicon- based VLSI, and discriminating error and defect in logic layout, circuit spectrum manufacture or the like.例文帳に追加

シミュレートされたVLSI及びシリコンベースのVLSIの性能及び動作を確認し、及びロジック、レイアウト、回路スペクトル、作製その他における誤り及び欠陥を識別するための、テスト及びテストベクトルを生成する方法及びシステムを提供すること。 - 特許庁

The respective coordinates of an output vector VY can be calculated by an N+1 step algorithm and this calculation is performed by a bit test unit to be operated parallel with the ALU.例文帳に追加

出力ベクトルVYの各座標をN+1ステップアルゴリズムにより計算することができ、この計算はALUと並列に作動するビットテストユニットにより行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus in which generation of a vector pattern for VPG from an ALPG side can be controlled in real time and the generation of a pattern can be controlled with a synchronous relation, in a semiconductor test device provided with ALPG and VPG.例文帳に追加

ALPGとVPGとを備える半導体試験装置において、ALPG側からVPGに対するベクタパターンの発生制御がリアルタイムに、且つ同期した関係でパターン発生の制御が可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The master 11 performs test vector address synchronization to the slave 12 upon receiving the first control signal, and adjusts the starting timing of an actual test program at both the master 11 and slave 12 upon receiving the second control signal.例文帳に追加

マスター11はスレイブ12に対して、第1の制御信号の受信によってテストベクタアドレスの同期を行い、第2の制御信号の受信によって、マスター11およびスレイブ12双方における実際の試験プログラムの開始タイミングを調整する。 - 特許庁

This system includes a circuit for determining the places of synchronized word bits in the bit stream packets and this circuit includes a circuit which compares a bit test pattern vector 32 and the sample vector 34 of bits from the bit stream packets with each other several times.例文帳に追加

このシステムはビットストリーム・パケットの中の複数の同期化ワード・ビットの場所を決定するための回路(30)を含み該回路はビット・テスト・パターン・ベクトル(32)と、ビットストリーム・パケットからのビットのサンプル・ベクトル(34)との間で何回かの比較を実行するための回路(36)を含む。 - 特許庁

An input vector composed of the value of the clinical test result of a subject is inputted to the completed self-organizing map to display the medical examination and treatment support information corresponding to an fired cell.例文帳に追加

完成された自己組織化マップに被験者の臨床検査結果の値からなる入力ベクトルを入力し、発火したセルに対応する診療支援情報を表示させる。 - 特許庁

The invention provides a new HCV replicon shuttle vector cloning in an HCV polynucleotide sequence from a sample of an HCV-infected patient and useful for the drug sensitivity test of the obtained replicon.例文帳に追加

本発明は、HCV感染患者のサンプルからHCVポリヌクレオチド配列中にクローニングし、かつ得られたレプリコンを薬物感受性について試験するのに有益な新規のHCVレプリコンシャトルベクターを提供する。 - 特許庁

The differential current of an adjacent IDDQ is calculated in the second array data, and third array data including as elements the identifier of the test vector and the differential current is created (S110).例文帳に追加

第2配列データにおいて隣接するIDDQの差分電流を算出し、テストベクタの識別子および差分電流を要素とする第3配列データを生成する(S110)。 - 特許庁

Specifically, the unit 8 specifies one or a plurality of test vectors, in which the detected Iddq value is larger than the threshold Ith1 as the fault generating vector.例文帳に追加

具体的に、異常発生ベクタ特定部8は、検出されたIddq値がしきい値Ith1よりも大きい一又は複数のテストベクタを、異常発生ベクタとして特定する。 - 特許庁

To reduce a test vector length and a test time including a maximum and a minimum propagation delay due to an interconnection noise of a signal wiring in a semiconductor integrated circuit device having a configuration to connect a plurality of circuit blocks in an interconnection region.例文帳に追加

複数の回路ブロックを配線領域で接続する構成を持つ半導体集積回路装置において、信号配線の相互接続ノイズによる最大及び最小の伝搬遅延を含む試験のテストベクタ長と試験時間を削減することを目的とする。 - 特許庁

There are also provided a DNA encoding the monitor protein, its expression vector, a cell expressing the vector, a method for the detection and determination of the monitor protein, and a method for determining the inhibiting or promoting activity of a test substance to the expression of the membrane protein on a cell membrane and the intracellular transportation of the membrane protein.例文帳に追加

また、それをコードするDNA、その発現ベクター、それを発現する細胞、それを検出・定量する方法、細胞膜上での膜タンパク質の発現及び膜タンパク質の細胞内輸送に対する被験物質の阻害又は促進活性を測定する方法も提供される。 - 特許庁

This method comprises the steps of transducing, into a yeast, the first vector expressing the above transcription factor in a yeast and the second vector containing a promoter whose activity is controlled by the transcription factor and an assay reporter operably linked to the downstream of the above promoter and comparing the activity of the promoter in the presence of the test agent with the activity of the promoter in the absence of the test agent.例文帳に追加

酵母において前記転写因子を発現する第1のベクターと,その活性が転写因子により制御されるプロモーターおよび前記プロモーターの下流に動作可能なように連結されたアッセイリポーターを含有する第2のベクターとを酵母に導入し,試験薬剤の存在下におけるプロモーターの活性を試験薬剤の非存在下におけるプロモーターの活性と比較する。 - 特許庁

Log data at the performance of a manual operation are read from a log file 110, and continuous log data in which an input signal value and an output signal value are neither changed are identified, and integrated into one test vector.例文帳に追加

ログファイル110からマニュアル操作した際のログデータを読み込み、入力信号値と出力信号値とが共に変化していない連続したログデータを識別して1個のテストベクタに統合する。 - 特許庁

A test circuit for extracting a function included in a circuit from a circuit topology or function descriptions, and for inputting a verification vector corresponding to the extracted circuit function is generated, and a verification result is obtained.例文帳に追加

回路トポロジや機能記述から、その回路に含まれる機能を抽出し、抽出された回路機能に応じた検証ベクタを入力可能なテスト回路を生成し、検証を行って結果を得る。 - 特許庁

A test vector is generated with a program that segments the part between the breakpoint of the real program 18 and the fail point FP and the internal status of the defective sample 30 or the non-defective sample 32 at the breakpoint.例文帳に追加

実プログラム18のブレークポイントからフェイルポイントFPまでを切り出したプログラムと、ブレークポイントにおける不良品サンプル30又は良品サンプル32の内部ステータスとにより、テストベクタを生成する。 - 特許庁

(ii) Individual rocket stages, or re-entry vehicles or components therefor, guidance sets or thrust vector controllers, or production equipment or tools, test equipment, or parts therefor 例文帳に追加

(二) 多段ロケットの各段、再突入機若しくはその部分品、誘導装置若しくは推力の方向を制御する装置又はこれらの製造用の装置若しくは工具、試験装置若しくはこれらの部分品 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The evaluation method of the kinase inhibitor includes steps of: (1) preparing a vector including CRE base sequence and/or RLM1 binding sequence and the luciferase gene at a downstream of the sequence; (2) introducing the vector to yeast; and (3) measuring emission intensity by culturing the yeast under the presence or absence of a test compound.例文帳に追加

(1)CRE塩基配列および/またはRLM1結合配列と、その下流にルシフェラーゼ遺伝子を有するベクターを調製し、(2)前記ベクターを酵母に導入し、(3)供試化合物存在下または非存在下で前記酵母を培養して発光強度を測定する工程を含む、キナーゼ阻害剤の評価方法。 - 特許庁

Base band data read from a waveform memory 2 are D/A converted 7 into an analog base band signal and waveform-shaped 8 and vector- modulated 9, and a vector-modulated modulation signal (b) is power-controlled 11 according to a data presence/absence signal d_1 read from a waveform memory 3, and outputted as a modulation test signal a_1.例文帳に追加

波形メモリ2から読出したベースバンドデータを、アナログのベースバンド信号へD/A変換7及び波形整形8してベクトル変調9し、ベクトル変調された変調信号bに対して、波形メモリ3から読出したデータ有無信号d_1に従って、電力制御11を実施して変調試験信号a_1として出力する。 - 特許庁

In receiving an image captured by a sensor, a reflectance spectrum for a test surface is decomposed into a linear combination of reflectance spectra of a set of test targets, and a coefficient vector calculated in this decomposition is used to predict a response of an imaging sensor to the test surface, where a plurality of such predicted responses include human skin tone detection.例文帳に追加

センサによって取得された画像を受け取る際に、試験用表面の反射率スペクトルを試験用目標のセットの反射率スペクトルの線形組合わせに分解し、この分解において計算された係数ベクトルが試験用表面に対する画像センサの応答を予測するために用いられ、複数のそのような予測応答が人間の皮膚の色調の検出を含んでいる。 - 特許庁

A compatibility matrix 631 for the candidate scene vector is decided (step 630), and the probability of the compatibility matrix is propagated to be constricted by the network, in order to estimate a scene from the test image (step 640).例文帳に追加

候補情景ベクトルに対する互換性マトリックス631が決定され(ステップ630)、また、互換性マトリックスの確率は、テスト画像から情景を推定するために収斂するまでネットワークで伝搬される(ステップ640)。 - 特許庁

A transgenic non-human animal in which a dementia-related gene is expressed is created by introducing an expression vector carrying the dementia-related gene into the inner ear hair cells of a non-human animal being a test subject.例文帳に追加

認知症関連遺伝子を担持する発現ベクターを被験対象である非ヒト動物の内耳有毛細胞に導入させて、その認知症関連遺伝子を発現させたトランスジェニック非ヒト動物を作製する。 - 特許庁

An input data vector comprises, as elements, brain radioactive data within prescribed period as to a plurality of positions in brains about a plurality of subjects collected in a load test using a brain blood flow SPECT.例文帳に追加

入力データベクトルは脳血流SPECTを用いた負荷試験において収集された複数の被験者に関する脳内の複数の位置についての所定期間内における脳放射能データを要素とする。 - 特許庁

To provide a transforming device or the like, which transforms a test vector set so as to reduce differences of logical values occurring before and after scan capture about outputs of a scan cell contained in a full-scan sequence circuit.例文帳に追加

フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようにテストベクトル集合の変換を行う変換装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a generation device or the like for generating a test vector set, capable of reducing the difference between each logic value generated before and after scan capture, concerning the output of a scan cell included in a full-scan sequential circuit.例文帳に追加

フルスキャン順序回路に含まれるスキャンセルの出力について、スキャンキャプチャの前後において発生する論理値の相違が低減されるようなテストベクトル集合の生成を行う生成装置等を提供する。 - 特許庁

These expected value generating means are composed in the same connection mode as the blocks in the single chip circuit to generate expected values by using the input supply group A supplied from the test vector supply means A.例文帳に追加

そして、これらの期待値生成手段を、1チップ回路内のブロックと同一の接続形態となるようにし、テストベクタ供給手段Aから供給される入力信号群Aを用いて、期待値を生成する。 - 特許庁

This toxic compound in a test sample is detected by transforming cells by a vector containing a polynucleotide obtained by linking a polynucleotide encoding a marker protein with a promotor of a specific yeast gene as operable, bringing the test sample in contact with the transformed cells and detecting the expression of mRNA encoding the marker protein.例文帳に追加

特定の酵母遺伝子のプロモターにマーカータンパク質をコードするポリヌクレオチドを作動可能に連結したポリヌクレオチドを含むベクターで細胞を形質転換し;被験試料を、形質転換した細胞と接触させ;マーカータンパク質をコードするmRNAの発現を検出することにより被験試料中の毒性化合物を検出する。 - 特許庁

Further, a chi-square test part 83 conduct a chi-square test by using the series of codes outputted by the vector quantization part 81 and the expectancy of each code stored in the storage part 84 and finds the propriety as to whether the integrated parameter corresponds to the specific object to be recognized.例文帳に追加

さらに、カイ二乗検定部83において、ベクトル量子化部81が出力するコードの系列、および期待度数記憶部84に記憶された各コードの期待度数を用いてカイ二乗検定を行うことにより、統合パラメータが、所定の認識対象に対応するものであるかどうかの適正さが求められる。 - 特許庁

A slave 12 having no condition branching function transmits a second control signal indicating the start of a test to a master 11, after transmitting a first control signal indicating the position of a test vector in execution to a control signal receiving circuit 7 by a fixed number of times through a control signal transmitting circuit 6.例文帳に追加

条件分岐機能をもたないスレイブ12は、制御信号送信回路6を通じてマスター11の制御信号受信回路7に対して実行中のテストベクタの位置を示す第1の制御信号をあらかじめ定められた回数だけ送信した後、テスト開始を示す第2の制御信号をマスター11に対して送信する。 - 特許庁

The diffraction conditions of X-rays are related to not only a component r_ijy in the y-direction of a bond vector r_ij, connecting an atom A_i and an atom A_j, but also to a component r_ijx in the x-direction in a test piece which causes diffraction.例文帳に追加

X線の回折条件は、回折を起こす、試験片内の、A_i原子及びA_j原子を結ぶボンドベクトルr_ijのy方向成分r_ijyのみならず、x方向の成分r_ijxとも関係する。 - 特許庁

To provide a verifying method for design which automatically generates a smart test bench having a function of automatically deciding proper restriction conditions of vector generation according to information on both the design and characteristics of an object to be inspected.例文帳に追加

検査対象の設計と特性の両方の情報に基づいて、適切なベクトル生成の制約条件を自動的に判定する機能を備えるスマート・テストベンチを自動的に生成する、設計の検証方法を提供する。 - 特許庁

例文

A diffraction condition of an X-ray relates not only to a y-directional component r_ijy of a bond vector r_ij connecting an A_i atom and an A_j within a test piece generating diffraction but also to an x-directional component r_ijx.例文帳に追加

即ち、X線の回折条件は、回折を起こす、試験片内の、A_i原子及びA_j原子を結ぶボンドベクトルr_ijのy方向成分r_ijyみならず、x方向の成分r_ijxとも関係する。 - 特許庁




  
日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS