「試料移動」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

不活性ガス雰囲気にて金属試料と対電極との間で多数回のスパーク放電を行なう発光分光分析にて、各元素ごとに金属試料と対電極とをそれぞれ最適の位置に移動させて定量する。例文帳に追加

The quantitative determination is carried out by moving the metal sample and the counter electrode respectively to the optimum position the element by the element, in emission spectrochemical analysis of executing spark discharge many times between the metal sample and the counter electrode under an inert gas atmosphere. - 特許庁

スライド式試料注入部におけるスライダ移動時の液体試料の飛散現象を無くし、測定精度の再現性を向上させた元素分析計を提供する。例文帳に追加

To provide an element analyzer enhanced in the reproducibility of measuring accuracy by eliminating the scattering phenomenon of a liquid sample at the time of movement of a slider in a slide type sample injection part. - 特許庁

このプロセスでは、励振周波数でのプローブ振動の振幅が、ティップと試料との間の力によって多少影響を受けるまで、プローブを試料表面に移動する。例文帳に追加

In this process, the probe is moved to the sample surface, until the amplitude of probe vibration in excitation frequency receives effect slightly by the force between a tip and a sample. - 特許庁

測定中の試料に、グランドに対して正のバイアス電圧を印加したところ、試料から検出されたオージェ電子の運動エネルギーが、負の方向に平行移動したように減少した。例文帳に追加

With this, kinetic energy of auger electron detected from the sample is reduced as if it were moved in parallel to a negative direction. - 特許庁

固体試料に対して液体試料が数ｍ／秒程度以上で高速移動する場合であっても、動的接触角を良好に測定することのできる動的接触角測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a dynamic contact angle measuring device for measuring a dynamic contact angle excellently, even when a liquid sample is moved at high speed of about several meters/second or higher relative to a solid sample. - 特許庁

実験室用分析装置は、二つまたはそれ以上の試料を収容するための複数の収容部５を設けた試料トレイ４を移動可能に支持する基部ハウジング１を備えている。例文帳に追加

This analytic device for a laboratory comprises the base housing 1 for movably supporting the sample tray 4 having a plurality of housing parts 5 for housing at least two samples. - 特許庁

前処理ディスクから分析ユニットへと前処理試料を分注、または移送する機構を設け、前処理ディスクと各分析ユニットの間で、前処理容器の試料の分注、前処理容器の移動を可能とする。例文帳に追加

A mechanism for dispensing or transferring a pretreatment sample to the analyzing units from the pretreatment disk is provided enable the dispensation of the sample of a pretreatment container and the movement of the pretreatment container between the pretreatment disk and the respective analyzing units. - 特許庁

この発生気体分析装置１０はで、減圧室３０を減圧することにより対向した両オリフィスの間の試料ガスの移動を分子流領域で行うことが可能であり、試料ガスの不要な拡散を抑制可能である。例文帳に追加

The generated gas analyzig apparatus 10 can transfer a sample gas existing between both of the orifices opposed to each other by decompressing the decompression chamber 30, in a molecular flow region, and can suppress unnecessary diffusion of the sample gas. - 特許庁

本発明は簡単に目的の薄膜試料片が観察視野に入るように多軸ステージ移動することができる電子顕微鏡における薄膜試料位置認識装置を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a device for recognition of a thin-film sample position in an electron microscope, allowing multi-axial stage movement to bring easily an objective thin film sample piece within an observation visual field. - 特許庁

インジェクションバルブ８は、液体クロマトグラフ装置の検出器に試料を供給する移動相流路に接続される試料貯留ループ５を有する。例文帳に追加

An injection valve 8 has a sample storage loop 5 to be connected to a mobile phase channel feeding a sample to a detector of a liquid chromatographic device. - 特許庁

本発明は、試料に移動抵抗を与えるための抵抗体２と、抵抗体２において試料を通過させるための動力を付与するための動力源３３，５４と、を備えた分析装置１に関する。例文帳に追加

This analyzer 1 comprises the resistance element 2 for applying moving resistance to a sample, and power sources 33 and 54 for applying power for passing the sample in the resistance element 2. - 特許庁

その位置における介在物分析終了後再び試料ステージの定速移動と高速ビームスキャンを再開させ、上記動作を試料全面に亘って実行する。例文帳に追加

After the analysis of the inclusion at that position is completed, the constant-speed move and high-speed beam scanning of the sample stage are resumed and the above operation is executed for the entire surface of a sample. - 特許庁

また、２次元駆動機構８により試料Ｓを２次元的に移動させ、試料Ｓ上の各点からの測定値を合成し、２次元画像としてイメージ化する。例文帳に追加

In addition, the sample S is two-dimensionally moved by a two-dimensional driving mechanism 8 to compose measurement values from each point on the sample S and form images as two-dimensional images. - 特許庁

インジェクター２より導入された試料は送液ポンプ１による移動相６の送液で分離カラム４に送られ、分離カラム４で分離された後、試料分析部５に導入され分析される。例文帳に追加

A sample introduced by an injector 2 is sent to the separation column 4 by liquid sending of a moving phase 6 by a liquid sending pump 1, and after being separated in the separation column 4, introduced into a sample analysis part 5 and analyzed. - 特許庁

電子ビームの走査領域中の画像を取り込む領域を単位として試料を仮想的に格子状に区画した各区画に対して電子ビームの走査が行われるように試料が移動される。例文帳に追加

A sample is moved such that an electron beam can be scanned for each partition, in which the sample has been virtually partitioned in a lattice form, by making a region where an image in a scanned region of the electron beam is taken in, a unit. - 特許庁

ドリフト検出手段１４は、求められた時刻Ｔ_１，Ｔ_２，Ｔ_３と移動距離ｄ_１２，ｄ_２３に基づいて試料側のドリフト速度Ｖを求め、また、試料側のドリフト方向を求める。例文帳に追加

A drift detecting means 14 obtains a drift speed V on the side of the sample, on the basis of the obtained times T1, T2, and T3 and the distances d12 and d23 of movement and the direction of a drift on the side of the sample. - 特許庁

従来のＹテーブル（トップテーブル）１をガイドを保持する移動テーブル２１と、Ｘバーミラー５，Ｙバーミラー６および試料３０を搭載する試料テーブル２０に分割し、テーブル間を弾性体２５を介して連結する。例文帳に追加

A conventional Y table (top table) 1 is divided into a transfer table 21 for holding a guide, an X bar mirror 5, a Y bar mirror 6 and a sample table 20, on which samples are placed and the tables are linked via elastic bodies 25. - 特許庁

この結果、陰極線管１７の画面上には、試料４の走査電子顕微鏡像が表示されると共に、試料４の移動方向を示すＸ軸輝線、Ｙ軸輝線が表示される。例文帳に追加

As a result, the scanning electron microscope image of a sample 4 is displayed on the screen of a cathode-ray tube 17, and the X-axis bright line and the Y-axis bright line showing the moving direction of the sample 4 are displayed. - 特許庁

閉鎖部材（１４）は、試料ホルダ（１６）の中央キャビティ（７８）の頂端部を閉鎖し、容器（１２）内における試料ホルダ（１６）の移動を制限する本体部材（５２）を含む。例文帳に追加

The closure member 14 includes a body member 52 to close the top end of the central cavity 78 of the sample holder 16 and to limit movement of the sample holder 16 in the container 12. - 特許庁

オペレータが試料交換の時に操作する搬送用グリップ12と試料搬送機構８と一体で動くブロック13の間を、ばね15と一方向のみに移動可能なスライダで連結する。例文帳に追加

A conveyance grip 12 an operator operates at the time of sample replacement and a block 13 moving in piece with the sample replacement mechanism 8 are coupled by a spring 15 and a slider capable of moving only in one direction. - 特許庁

試料３をＸＹＺステージ２４により移動操作し、試料３上の各点について、ディテクタ１０の出力が極大となる位置を合焦位置とする。例文帳に追加

The work 3 is traveled by a XYZ stage 24 and the position where the output from the detector 10 becomes a maximum is defined as the focussed position for each point on the work 3. - 特許庁

ベース２と、該ベース２に対して移動可能に設けられ試料Ａを搭載するステージ３と、該ステージ３に固定され試料Ａの画像を取得する可動画像取得装置４とを備える観察装置１を提供する。例文帳に追加

The observation apparatus 1 includes: a base 2; the stage 3 which is provided to be moval to/from the base 2 and mounts a specimen A; and a movable image acquisition device 4 which is fixed to the stage 3 and acquires an image of the specimen A. - 特許庁

試料整列治具１００は、第１透孔１１２が形成された試料整列治具本体１０２と、第２透孔１１６が形成された移動体１０４とによって構成されている。例文帳に追加

The sample alignment tool 100 is constituted of a sample- alignment-tool frame 102, in which first through-holes 112 are formed and a moving body 104 in which second through-holes 116 are formed. - 特許庁

そして、凹部近傍の試料表面についても同様に、試料を光軸方向に移動させながら反射光強度を検出し、反射光強度が最大となる光軸方向の位置を検出する。例文帳に追加

Similarly, the intensity of the reflected light from the surface of the sample near the recessed part is detected while moving the sample in the optical axis direction, so as to detect a position in the optical axis direction, where the intensity of the reflected light becomes the largest. - 特許庁

フィンガを用いて試料容器を把持する構造を有する熱分析装置において、フィンガの移動によって試料容器や感熱板や天秤用ビーム等が破損するのを防止する。例文帳に追加

To prevent the damage of a sample container, a heat-sensitive plate, the beam of a balance and the like by the movement of fingers in a thermal analyzer having a structure for grasping the sample container using fingers. - 特許庁

試料Ｓが測定位置Ｐｓにある状態で天秤ビーム２３ｂを矢印Ａ方向へ直線スライド移動させ、さらに軸線Ｘ０を中心として旋回させることにより、試料Ｓを離隔位置Ｐｒへ持ち運ぶことができる。例文帳に追加

When the sample S is at the measurement position Ps, by making the balance beam 23b to linearly slide in the arrow A direction subsequently to with an axial line X0 as center, to thereby carry the sample S to the distant position Pr. - 特許庁

取付位置の制約の大きいＷＤＸを備える電子顕微鏡としても、搭載できる試料のサイズや試料の移動範囲および観察範囲の大きい電子顕微鏡としても利用できる電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an electron microscope usable not only as one which has a WDX with a big constraint of its installation position but as one which can mount a large-sized testpiece and has a large shifting and observation range of a testpiece size. - 特許庁

電子顕微鏡において、真空の試料室２内で複数の指片１５，１６により微小試料３０を掴んで微小な回動，移動，開放動作が可能なマニュピレータ１０を備える。例文帳に追加

This electronic microscope is provided with a manipulator 10 capable of gripping a minute sample 30 by a plurality of fingers 15, 16 in a vacuum sample chamber 2 to perform minute turn, travel, and open operations. - 特許庁

グラジェント分析工程で試料吸引流路系７をグラジェント溶出流路系と切り離し移動相を試料吸引流路系７を介すること無く分離カラム５に供給できる。例文帳に追加

In the gradient analysis step, the sample suction channel system 7 is separated from the gradient elution channel system, and the mobile phase can be supplied to the separation column 5 without passing it via the sample suction channel system 7. - 特許庁

次いで、カメラ６に映るスリット像が予め決められた大きさとなるように試料ステージ９を光軸１１方向に移動させることにより、試料８を光軸１１方向に位置合わせする。例文帳に追加

Then, the sample stage 9 is moved in the optical axis 11 direction to bring the slit image reflected on the camera 6 into a prescribed size, and the sample 8 is aligned thereby in the optical axis 11 direction. - 特許庁

本発明は、荷電粒子ビームを試料に照射する荷電粒子線装置において、試料の周囲における複数の所望位置に検出器を移動させ、検出器位置を最適化することに関する。例文帳に追加

For the charged particle beam device for irradiating charged particle beams on a sample, positions of the detector are to be optimized by moving the detector to a plurality of desired positions around the sample. - 特許庁

搬送手段１４は、観察手段による試料の観察時に、培養容器を移動して試料の各部を観察光学系の光軸上に位置決めする。例文帳に追加

The conveying means 14 sets the position of each of the parts of the sample on the optical axis of the observation optical system by moving the culturing container on observing the sample by the observing means. - 特許庁

試料を光軸方向に移動させながら試料の凹部からの反射光強度を検出し、反射光強度が最大となる光軸方向の位置を検出する。例文帳に追加

The intensity of the reflected light from the recessed part of the sample is detected while moving the sample in an optical axis direction, so as to detect a position in the optical axis direction, where the intensity of the reflected light becomes the largest. - 特許庁

試料ステージ及びプローブ装置の移動範囲が温度制御装置によって制限されることなく半導体試料の温度特性測定を行うことができる不良検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection apparatus, capable of measuring the temperature properties of a semiconductor sample, without limiting the movement ranges of a sample stage, and to provide a probe device with a temperature control device. - 特許庁

このキットは、少なくとも試料導入部と判定部とを有する試料泳動体と、複数種類の固定相抗体および少なくとも１種類の移動相抗体とを包含する。例文帳に追加

In the kit, a sample migration body 210 which comprises at least a sample introduction part 202 and a judgment part 204 is contained, a plurality of kinds of fixed- phase antibodies are contained, and at least one kind of a mobile-phase antibody is contained. - 特許庁

動作アセンブリは、照射源を、Ｘ線が試料表面にかすめ角で向けられる第１の光源位置と、Ｘ線が表面に試料のブラッグ角近傍で向けられる第２の光源位置との間で移動させる。例文帳に追加

A motion assembly moves the radiation source between a first source position, in which the X-rays are directed toward the surface of the sample at a grazing angle, and a second source position, in which the X-rays are directed toward the surface in a vicinity of a Bragg angle of the sample. - 特許庁

試料の高さ計測の精度を高め、Ｚステージの移動回数を少なくしつつも、試料の反射率の影響を受けず、また全ての面にピントの合った画像も取得することが可能な高さ測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a height measuring apparatus in which the accuracy of the height measurement of a sample is increased, which is not influenced by the reflectance of the sample while the number of times of the movement of a Z-stage is reduced and which can acquire an image focused on the whole face. - 特許庁

試料台１にスケールＳ（１）…Ｓ（Ｎ）を設け、このスケールを視野３を備える専用の光学系で観察して、試料台１の実際の移動距離をモニタする。例文帳に追加

Scales S (1) to S (N) are provided on a sample stage 1, the scale is observed by an exclusive optical system provided with a visual field 3, and the actual moving distance of the stage 1 is monitored. - 特許庁

次に、第２のビーム照射系を水平方向に移動させて、第１ビーム軸と試料の表面の交点Ｏｉと、第２ビーム軸と試料の表面の交点Ｏｅの間のＹｉ方向の距離ΔＹｉをゼロにする。例文帳に追加

Then, the second beam irradiation system is moved in a horizontal direction to make to zero a distance ΔYi in a Yi direction between the point of intersection Oi of the first beam axis and the surface of the sample and the point of intersection Oe of the second beam axis and the surface of the sample. - 特許庁

保持した試料が自重で撓んでいる場合であっても、撓み変形前の座標値で表された試料表面上の特定点を所定の目標位置に移動させることができるようにする。例文帳に追加

To make a conveyance device movable a specific point on the sample surface shown by coordinate values before bending deformation to a prescribed target position, even if a retained sample is bent by its own weight. - 特許庁

液体試料を滴下すると標識パッド１１中の標識成分を溶出させ、液体試料は溶出した標識成分とともに流路９内を移動しメンブレン１３に達する。例文帳に追加

The liquid sample is dropped down to elute a marker component in a marker pad 11, and then the liquid sample moves in a passage 9 together with the eluted marker component to reach a membrane 13. - 特許庁

試料溶液をイオンクロマトグラフィー装置に導入し、無機酸と有機酸の内２種類以上を含有する水溶液を移動相に用いて、陽イオンの分離・定量をすることにより試料中の元素の分析をする。例文帳に追加

The method for quantitatively analyzing cation comprises steps for introducing a sample solution into an ion chromatograph, separating and determining the cation by using an aqueous solution containing two or more types of an inorganic acid and an organic acid as a moving phase, thereby analyzing an element in the sample. - 特許庁

試料ホルダおよび冷熱源を接続するフレキシブルなホルダ冷却熱伝導部材が、前記試料ホルダの移動時に他の部材と接触するのを防止して、前記他の部材に冷熱が逃げるのを防止すること。例文帳に追加

To prevent a flexible holder-cooling heat conductive member connecting a sample holder and a cooling heat source from getting in contact with other members at time of movement of the sample and thus to prevent cooling heat from getting away to the other members. - 特許庁

試料ステージの移動距離を相対的にカウントするカウンターと、該カウンターのカウント値を試料の位置ずれに応じて補正する補正手段とを備えた。例文帳に追加

This system is equipped with a counter that relatively counts transfer distance of the sample stage and a correcting means that corrects counting value of the counter. - 特許庁

試料プレート上にて試料が吸着固定されるセルの配置分解能に応じた軸径からなり、軸先端部が小径に形成された中空軸部材にて軸線方向へ移動可能に微小間隙を有して可動子を遊嵌する。例文帳に追加

The hollow shaft members have fine spaces movably in the axial direction, and movable members are freely fit into the fine spaces. - 特許庁