「試料移動」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

試料の３次元的な元素構成を原子レベルで高精度に分析する際に、分析中の試料の移動を不要とし、試料の取り付け・取り外し等の作業が不要な元素分析装置および当該元素分析装置に使用可能な試料ホルダ等を提供する。例文帳に追加

To provide an element analyzer which dispenses with the movement of a sample during analysis when the three-dimensional element constitution of the sample is analyzed in an atomic level with high precision and also dispenses the attaching/detaching work of the sample, and the sample holder or the like usable in the element analyzer. - 特許庁

これによって、試料台３３上に固定された可視光撮像部は、試料台３３の移動に拘わらず試料との相対位置が変化しないため、常時所望の位置を撮像することが可能となり、試料の可視光観察像を容易に撮像できる。例文帳に追加

By this, the visible light imaging part fixed on the sample table 33 can image a desired position all the time because a relative position to the sample does not change regardless of movement of the sample table 33, and the visible light observation image of the sample is imaged easily. - 特許庁

イオン移動度計１は、試料分子をイオン化するイオン化装置２と、イオン化された試料分子の移動度を計測するドリフト室１１とを備える。例文帳に追加

The ion mobility meter 1 is provided with an ionization device 2 to ionize the sample molecules and a drift chamber 11 to measure mobility of the sample molecule ionized. - 特許庁

基板１０上には試料台１５を試料台レール１２に沿ってカッター６Ａによる切れ目の間隔だけ移動するように規定する切れ目間隔移動設定手段２０を配置する。例文帳に追加

Means 20 for setting the sample stage 15 to move along the sample stage rail 12 by the interval of cuts made by means of the cutter 6A is disposed on the board 10. - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡１を、物質供給プローブ装置１ａと、試料捕捉プローブ１５と、試料捕捉プローブ１５を相対移動させる移動部１６とを備えて構成した。例文帳に追加

A scanning probe microscope 1 has a constitution equipped with the material supply probe device 1a, a sample capturing probe 15, and a moving part 16 for moving relatively the sample capturing probe 15. - 特許庁

制御部１２は、上記焦点位置情報に応じた試料５および／または対物レンズ４の位置になるように対物レンズおよび／または試料を移動させる際に、駆動機構７が特定移動方法を実施するように制御する。例文帳に追加

A control part 12 is configured to control the driving mechanism 7 to execute the specific moving method in the case of moving the objective lens and/or the sample to the position of the sample 5 and/or the objective lens 4 corresponding to the focal position information. - 特許庁

移動相溶媒Ｍに対して定量の試料溶液Ｓを注入し、移動相溶媒Ｍと共に試料溶液Ｓを吐出するサンプルインジェクタ１３である。例文帳に追加

The sample injector 13 injects a constant amount of the sample solution S into a mobile phase solvent M and discharges the sample solution S together with the mobile phase solvent M. - 特許庁

液体試料を採取する前に、ニードル９の先端を液体試料と移動相のいずれとも反応しない所定の流体（例えば空気や水等）が存在する領域に移動させ、その先端から所定の流体を吸引する。例文帳に追加

Before collecting a liquid sample, the tip of a needle 9 is moved to a region in which a prescribed fluid (for example, air, water or the like) that reacts neither with the liquid sample nor a mobile phase is present and the prescribed fluid is sucked through the tip. - 特許庁

次に、その状態で試料台上に試料整列治具１００をセットし、移動体１０４を移動させて第１透孔１１２と第２透孔１１６とを連通させる。例文帳に追加

Then, in this state, the tool 100 is set on the sample base, the moving body 104 is moved, and the holes 112 are made to communicate with the holes 116. - 特許庁

移動機構３０は、試料収容部３が積分球１４内に位置する第１の状態、及び試料収容部３が積分球１４外に位置する第２の状態の各状態となるように、積分球１４を移動させる。例文帳に追加

The movement mechanism 30 moves the integrating sphere 14 so as to obtain respective states of a first state in which the sample storage part 3 is located inside the integrating sphere 14 and a second state in which the sample storage part 3 is located outside the integrating sphere 14. - 特許庁

リフト範囲内でベースに対しプラットフォームを垂直方向に平行に移動させるリフトシステム、特に計量システムが有する試料交換装置の試料交換プラットォームを移動させるリフトシステムの提供。例文帳に追加

To provide a lift system for moving a platform in the direction perpendicular to a base and horizontally in a liftable range, a system for moving the specimen replacing platform of a specimen replacing device that a meter system has in particular. - 特許庁

光学顕微鏡によって検出した分析位置におけるＸ線分析において、試料の移動、および試料の移動に伴う分析対象位置の位置合わせを要することなくＸ線分析を行う。例文帳に追加

To perform X-ray analysis without requiring the move of a specimen or the aligning of an analysis object position accompanying the move of the specimen, as to X-ray analysis at an analysis position detected by an optical microscope. - 特許庁

この結果、試料が基準高さ位置にセットされていない場合でも試料の傾斜による観察視野の移動は補正され、観察者は視野移動のない画面を観察することができる。例文帳に追加

Thus, a movement of the observation visual field due to the inclination of the sample is corrected, even when the sample is not set at a standard height position to enable an observer to observe a screen without visual field movement. - 特許庁

探針１３をＸ−Ｙ−Ｚ軸方向に移動させる探針側スキャナ１０と試料１２をＸ−Ｙ−Ｚ軸方向に移動させる試料側スキャナ１１の２つのスキャナを設ける。例文帳に追加

Two scanners, that is, a scanner 10 on a probe side for moving a probe 13 in an X-Y-Z axis direction and a scanner 11 on a sample side for moving a sample 12 in the X-Y-Z axis direction are provided. - 特許庁

位置制御サーボ機構の長所と、非サーボ制御方法の長所とを兼ね備えた電子顕微鏡等の試料移動装置および試料移動方法を提供する。例文帳に追加

To have both advantage of a position control servo mechanism and advantage of a non-servo control method. - 特許庁

試料ステージ（１２）は回転移動すると共にｒ方向にも並進移動するため、試料表面はｍ×ｎ個のマトリックス状の光スポットにより走査されることになる。例文帳に追加

Since a sample stage (12) both rotates and translates in r-direction, the sample surface is scanned by the optical spot of m×n pieces in matrix. - 特許庁

移動相抗体は、複数種類の抗原に結合し得、かつ試料導入部に導入された試料と共に判定部を移動し得る状態にある。例文帳に追加

The mobile- phase antibody can be bonded to a plurality of kinds of antigens, and it is set to a state that the judgment part 204 can be moved together with the sample introduced into the sample introduction part 202. - 特許庁

ＸＹ面内の移動量を測定する段階では、変位計測器、又は、断面形状が既知の試料を測定し、観察像から得られる断面像と試料の断面形状を比較することにより移動量を求める。例文帳に追加

At stages which measures the traveling amount within the XY face, it is instrumentation that is only strange, profile measures known a test piece, and travelling rate is calculated by comparing profile of cross-sectional image obtained from observed image, and test piece. - 特許庁

このように構成することで、試料８の移動に連動してカメラ４も移動するので、試料８がカメラ４の視野から外れたり、周辺に設置された各種機器６で遮られたりすることがなくなる。例文帳に追加

Since the camera 4 is moved in conjunction with the movement of a sample 8 by composing the electron microscope like that, the sample 8 is prevented from deviating from the visual field of the camera 4 or being interrupted by various types of apparatuses 6 installed around it. - 特許庁

画像センサを試料に対し相対的に移動させることにより、試料全体の光学画像を取得しながら、所定時間毎に試料内に設けた別のパターンに画像センサを移動させて、画像センサの感度の時間的変動を求めることが好ましい。例文帳に追加

It is preferred that the change in sensitivity with time of the image sensor is determined by moving the image sensor to the other pattern provided in the sample for each predetermined time while obtaining an optical image of whole sample by relatively moving the image sensor with respect to the sample. - 特許庁

このように構成したことにより、サンプリングニードル７を試料容器８からインジェクションポート５に移動させて試料を採取導入した後、同じ駆動機構により捕集容器１３の位置に移動させた捕集ノズル１２により試料成分を捕集することが可能となる。例文帳に追加

The sample needle 7 is moved from a sample container 8 to an injection port 5 to collection-introduce a sample, and a sample component is collected thereafter by the collection nozzle 12 moved to a position of the collection container 13 by the same driving mechanism, by this constitution. - 特許庁

試料画像を観察中に、試料ステージの移動機構を用いて試料の位置を所定の距離だけ移動させた後、再びもとの位置に戻しても、観察画像が観察視野内で位置ずれを起こさないような荷電粒子線装置を提供する。例文帳に追加

To provide a charged particle beam device in which displacement of the observed image is not caused within the observation field even when moving the sample for a predetermined distance using a moving mechanism of a sample stage and then returning it to the original position during observation of an image of the sample. - 特許庁

試料導入部１０に導入された液体試料は、気体導入部８から導入された気体の圧力により試料移動流路１１を移動し、血球溶解物等含有試薬と発光合成基質を順次溶解し、光学セル１２内で生物発光又は化学発光を発する。例文帳に追加

A liquid sample introduced into the sample introducing part 10 moves through the sample moving passage 11 owing to a pressure applied by a gas introduced from the gas introducing part 7, dissolves successively the reagent containing a blood cell lysis or the like and the emission synthetic substrate, and causes bioluminescence or chemiluminescence in the optical cell 12. - 特許庁

試料を移動可能なステージ上にロード後、試料の高さ計測を行った後、試料に電子線ビームを走査させ、得られた画像から欠陥部を求めるＳＥＭ式外観検査方法及び装置において、高さ計測がステージ移動による補正処理機能を備えている。例文帳に追加

An SEM system appearance inspection method and a device thereof, in which, after loading a sample on a portable stage and carrying out measurement of a height of the sample, electron beams are scanned over the sample to find a defective part from an image thus obtained, include a height measurement with a correction processing function through stage movement. - 特許庁

試料の計装時等において、試料を傾けるための試料傾け補助具は、台となるベースと、前記ベースに回転可能に支持された回転体と、前記ベースに移動可能に支持された可動体と、前記可動体を一軸方向に移動させる駆動体とを具備する。例文帳に追加

This sample inclination auxiliary tool for inclining a sample in measurement of the sample or the like is provided with a base serving as a table, a rotor supported rotatably on the base, a movable body supported movably on the base, and a driving body for moving the movable body uniaxially. - 特許庁

移動機構３０は、試料収容部３が積分球１４内に位置する第１の状態、及び試料収容部３が積分球１４外に位置する第２の状態の各状態となるように、試料収容部３、光出射部７及び光入射部１１を移動させる。例文帳に追加

The movement mechanism 30 moves the sample storage part 3, the light emission part 7, and the light incident part 11 so as to obtain respective states of a first state in which the sample storage part 3 is located inside the integrating sphere 14 and a second state in which the sample storage part 3 is located outside the integrating sphere 14. - 特許庁

試料と電子ビームとを相対移動させながら、試料に対して電子ビームを照射するに当たり、上記相対移動の停止や低速化によるドーズ量の急激な増大を防止し、試料を保護できる電子ビーム装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an electron beam device which can prevent a rapid increase of an amount of dose which may happen when a relative movement of an electron beam and a sample stops or they move at low speed when radiating the electron beam to the sample with relatively moving the two, and to provide an electron beam which can protect the sample. - 特許庁

電子顕微鏡１は、電子ビーム鏡筒１０を移動させる電子ビーム鏡筒移動部６０、６１、７０、７１と、試料Ｓａ、Ｓｂをそれぞれ収納する複数の試料室２０ａ、２０ｂと、複数の試料室の内部を個別に真空状態にする真空ポンプ３２、３３と、を備えて構成する。例文帳に追加

The electronic microscope 1 is constituted of electronic beam lens barrel moving parts 60, 61, 70, 71 to move the electronic beam lens barrel 10, a plurality of sample rooms 20a, 20b to respectively house the samples Sa, Sb, and vacuum pumps 32, 33 to evacuate inside of the plurality of sample rooms. - 特許庁

円弧状の経路４０に沿って移動し、試料や試薬の吸引・吐出を行う１本のプローブと、プローブの移動経路上に配置されて各々異なる検体試料を収容する複数の試料容器と、複数の試薬カートリッジを保持して回転可能なローター１５を備える。例文帳に追加

The autoanalyzer is equipped with a single probe which is moved along an arcuate route 40 to suck and discharge a sample or a reagent, a plurality of the sample containers arranged on the moving route of the probe, to respectively house different specimen samples and a rotor 15, which holds a plurality of reagent cartridges to rotate. - 特許庁

試料分注機構の移動範囲の上方及び側方を覆う保護カバーを備えた自動分析装置において、保護カバーの側面に開口を設けることなく、上方から見て筐体の外の筐体外試料吸引位置に試料プローブを移動させる。例文帳に追加

To move a sample probe to a sample suction position set outside a housing, when seen from above, without having to provide an opening to the side surface of a protective cover, in an autoanalyzer equipped with a protective cover for covering the upper and lateral parts of the moving range of a sample-dispensing mechanism. - 特許庁

円弧状経路に沿って移動し、試料や試薬の吸引・吐出を行う１本のプローブと、該移動経路上に配置され各々異なる検体試料を収容する複数の試料容器２１と、複数の試薬カートリッジを保持して回転可能なローターを備える。例文帳に追加

This analyzer is equipped with one probe moving along an arc-shaped route, for sucking/discharging a sample or a reagent; a plurality of sample containers 21 arranged on the moving route, for storing each different specimen sample; and a rotor rotatable, while holding a plurality of reagent cartridges. - 特許庁

このとき、Ｚ方向移動装置４およびＸ方向移動装置５の微小移動により、試料保持治具２と共に液晶表示パネル１２がＺ方向およびＸ方向に最小０．１ｎｍで微小移動される。例文帳に追加

At this time, a sample-retaining tool 2 and a liquid crystal display panel 12 are subjected to minute movement by a minimum of 0.1 nm in Z and Y directions, by the minute movement of a Z-directional shifter 4 and an X-directional shifter 5. - 特許庁

本発明は、反応容器を移動させる移動用ガイドラインと、試薬や検査する試料を前記反応容器に分注する分注機構と、試薬と試料を前記反応容器内で反応させる反応促進機構と、反応した試料の検査を行う検出機構を有し、前記反応容器を載置して前記移動用ガイドラインを移動する個別の台車を備えたことを特徴とする。例文帳に追加

The autoanalyzer includes a moving guideline for moving the reaction container; a dispensation mechanism for dispensing a reagent or a sample to be inspected in the reaction container; a reaction acceleration mechanism for making the reagent react with the sample in the reaction container; and a detection mechanism for performing the inspection of the reacted sample and is equipped with an individual truck receiving the reaction container thereon to move on the moving guideline. - 特許庁

すなわち、中央制御手段５６は、移動体１９を予備排気室１２に移動させるときは、ガイドレール切換部３６をｈ方向に移動させる一方、移動体１９を試料室２に移動させるときは、ガイドレール切換部３６をｇ方向に移動させる。例文帳に追加

That is, the central control means 56 moves the guide rail switching part 36 in h direction when the moving body 19 is moved to the spare exhaust chamber 12 and moves the guide rail switching part 36 to the g direction when the moving body 19 is moved to the sample chamber 2. - 特許庁

さらに試料を搭載し基準面上で移動するＸＹ移動部１２と、走査範囲の広さが異なる２つの移動方式のいずれかを選択しＸＹ移動部を基準面上で移動させるＸＹ移動機構（１２ａ，１５，１３，３１）とを備えている。例文帳に追加

And besides, this device is equipped with an XY moving part 12 for loading the sample 16 and for moving it on a reference plane, and an XY moving mechanism (12a, 15, 13, sliding members) for selecting either of two moving systems having different-area scanning ranges and for moving the XY moving part 12 on the reference plane. - 特許庁

本発明は透過電子顕微鏡の試料移動方法に関し、グリッド部分にさしかかった時にスムーズに次のメッシュ位置まで移動することで、操作性を向上させることができる透過電子顕微鏡の試料移動方法を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a sample transfer method for a transmission electron microscope with operability improved by transferring a sample smoothly to a next mesh position when it approaches a grid part. - 特許庁

移動機構制御装置１１は、トンネル電流検出装置１０の出力に基づき、探針７ｂと試料６間に所定のトンネル電流Ｉ_０（Ａ）が流れた時点で、移動機構８のｚ方向（試料方向）への移動を停止させる。例文帳に追加

A moving mechanism control apparatus 11 stops movement of a moving mechanism 8 in the z direction (the direction toward the sample) based on an output from a tunnel current detection apparatus 10 when a predetermined tunnel current I_0 (A) flows between the probe 7b and the sample 6. - 特許庁

試料Ｓの測定領域Ｂがコリメータ１によるＸ線照射領域Ａよりも広い場合には、ＸＹ平行移動装置６によって試料Ｓをコリメータ１に対して平行移動させることにより、Ｘ線照射野Ａを走査移動させて測定領域Ｂを規定する。例文帳に追加

When the measuring region B of the sample S is wider than the X-ray irradiation region by the collimator 1, the sample S is moved in parallel to the collimator 1 by an XY parallel moving device 6 to scan and move the X-ray irradiation field A to regulate the measuring region B. - 特許庁

所定時間ごとに第１の移動機構２および第２の移動機構３により、試料１個体ごとに複数試料から独立した撮影位置に移動し、カメラ４で撮影を行い、得られた画像データおよびその画像に基づく解析データを記憶媒体６に格納する。例文帳に追加

In the analyzer, the first transferring mechanism 2 and the second transferring mechanism 3 move to the photographing position for every sample apart from the plurality of other samples; taking a picture thereof with a camera 4; and storing the obtained image data and analysis data based on the image data in a storage medium 6. - 特許庁

試料容器１７を保持する試料ラック１８を第１のサンプラ６０から第２のサンプラ８０に受け渡し移動して、固定された位置で試料ラック１８をラックの水平方向及び上下方向に移動させることで、単一のサンプリング位置におけるサンプル分注プローブ１６による試料吸引ができる自動分析装置。例文帳に追加

There is provided the automatic analyzer which can suck a sample by a sample dispensation probe 16 at the single sampling position by delivering and moving a sample rack 18 which holds the sample container 17 from a first sampler 60 to a second sampler 80, and moving the sample rack 18 in horizontal and vertical directions of the rack at the fixed position. - 特許庁

先端に微小な探針を有するカンチレバーとカンチレバーの変位を検出する手段とカンチレバーまたは試料を一定周期で所望の振幅量で振動させる手段と試料を移動させる試料移動手段からなり、試料の表面物性を測定する走査型プローブ顕微鏡において、探針の端部に球状のものを設けたカンチレバーを使用することにした。例文帳に追加

A cantilever provided with a spherical member in a tip part of a probe is used in this scanning probe microscope for measuring the sample surface properties, comprising the cantilever having the fine probe in its tip part, a means for detecting a displacement of the cantilever, a means for oscillating the cantilever or the sample at a fixed cycle by a desirable amplitude quantity, and a sample moving means for moving the sample. - 特許庁

本発明の半導体評価装置１００は、薄型平板状の被測定試料１０にレーザ光１７を照射し、被測定試料１０に発生するキャリアを被測定試料１０の表面方向に移動させることにより電流を生成し、その電流の持続時間から被測定試料１０のキャリア移動度を評価する。例文帳に追加

The semiconductor evaluating apparatus 100 irradiates a thin planar device under test 10 to be measured with a laser beam 17, generates a current by moving a carrier generated in the device under test 10 to be measured in the surface direction of the device under test 10 to be measured, and evaluates the carrier mobility of the device under test 10 to be measured from the duration of the current. - 特許庁

さらに、この遮蔽板５の位置を固定し試料３を保持する試料ステージ２を二次元面内で移動させることにより、試料３上での粒子線の照射部位４を移動させる走査を行い、それにより試料３上の所定範囲の定性情報や定量情報の二次元分布を取得可能とする。例文帳に追加

In addition, a sample stage 2 for fixing the position of the shielding plate 5 and holding the sample 3 is moved in a two-dimensional plane, whereby scanning for moving the irradiation part 4 of the particle beam on the sample 3 is carried out, and thereby two-dimensional distributions of qualitative information and quantitative information in a predetermined range on the sample 3 can be acquired. - 特許庁

軟Ｘ線を用いてベースガスイオンを生成し、このベースガスイオンと試料分子とのイオン分子反応により試料分子イオンを生成することによって、安全性が高く、装置の汚染、試料の分解、及びイオン化室の電界への影響などを抑制でき、試料分子を効率よくイオン化できるイオン移動度計およびイオン移動度計測方法を提供する。例文帳に追加

To provide an ion mobility meter and an ion mobility measuring method in which base gas ions are generated using soft X-rays and sample molecule ions are generated by an ion molecular reaction of this base gas ions and sample molecules, thereby contamination of the device, decomposition of the sample, and effect to electric field of an ionization chamber etc. can be suppressed with high safety, and the sample molecules can be ionized efficiently. - 特許庁

本発明は、ウエルに微量の試料を注入する際に試料が他のウエルに移動し、或いは溢れ出ることを防止するための構造、及び注入された試料のウエル内における位置を調整し、或いは、次のウエルに制御しながら試料を移動させることができる構造を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a structure with which the movement to another well or the overflowing of a sample is prevented when a small amount of sample is injected into a well, the position of the injected sample in the well is adjusted, or the injected sample can be moved to a next well under control. - 特許庁