「Dark Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Finally, the dark current component 130 caused by the defect is added to all of the signal charges, thereby partial black level depression in a screen can be improved because variation of a clamp level is eliminated.例文帳に追加

最終的に、全ての信号電荷に欠陥に起因した暗電流成分１３０が加算されることになり、クランプレベルの変動がなくなり、画面の部分的な黒沈みが改善される。 - 特許庁

To provide a barrier substrate for an organic EL element which can make an excellent image display without a defect such as a dark spot, and to provide an organic EL display device.例文帳に追加

本発明は、ダークスポット等の欠陥のない良好な画像表示が可能な有機ＥＬ素子用バリア性基板および有機ＥＬ表示装置を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide: an imaging device that can accurately detect a defect even if dark current noise occurs when performing noise reduction, and can prevent as much as possible reduction of an imaging dynamic range caused by increase of dark current noise; and a noise elimination method; and a noise elimination program using the imaging device.例文帳に追加

ノイズリダクションを行う際、暗電流ノイズが発生しても精度の良い欠陥検出を行うこと、また暗電流ノイズの増加による撮像ダイナミックレンジの低下をできるだけ防ぐことが可能な撮像装置、該撮像装置によるノイズ除去方法およびノイズ除去プログラムを提供すること。 - 特許庁

In this surface defect inspection device, the light emitting elements 30 are arranged consecutively to remain a prescribed shape of dark face in an inside, in the lay-out pattern, and arranged to receive the irradiation light of each of the light emitting elements 30 reflected from the inspected face on at least one dark face 31 by the imaging camera 4.例文帳に追加

レイアウトパターンが発光素子３０を内側に所定形状の暗面を残すように連続的に配置させたものであり、少なくとも１つの暗面３１に撮像カメラ４が被検査面から反射される各発光素子３０の照射光を受光するように配置する。 - 特許庁

To provide an imaging device which is capable of accurately detecting a defect even if dark current noise occurs when performing noise reduction, and preventing as much as possible reduction of an imaging dynamic range caused by increase of dark current noise, and noise elimination method and noise elimination program using said imaging device.例文帳に追加

ノイズリダクションを行う際、暗電流ノイズが発生しても精度の良い欠陥検出を行うこと、また暗電流ノイズの増加による撮像ダイナミックレンジの低下をできるだけ防ぐことが可能な撮像装置、該撮像装置によるノイズ除去方法およびノイズ除去プログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a gas barrier film for an electronic display medium whereby an excellent image display can be obtained, because even if it has a defect such as a dark spot or the like, the visibility of the defect is low, or it has a wide angle of visibility.例文帳に追加

本発明は、ダークスポット等の欠陥がある場合であってもその欠陥の視認性が低く、あるいは、広視野角性を有することにより、良好な画像表示を得ることが可能である電子表示媒体用ガスバリア膜を提供することを主目的とするものである。 - 特許庁

With further scanning, since reflected light from a right slope of the protruding defect 201 is reflected in a direction of retreating from the reflected light intensity measuring device 108 as shown in 207 when the reflected light intensity measuring device 108 passes through the right slope, the protruding defect looks dark at this part.例文帳に追加

さらに走査して、反射強度測定器１０８が凸欠陥２０１の右斜面を通過すると、右斜面からの反射光は、２０７に示すように反射光強度測定器１０８からより遠ざかる方向に反射するので、この部分では凸欠陥が暗く見える。 - 特許庁

Consequently, since it is possible to form the protection membrane continuously with the cathode without coming into contact with external air, this device according to this invention has an advantage that reduces a dark spot by covering the cathode with the protection membrane, even if a defect occurs in the cathode.例文帳に追加

これにより、陰極と連続して外気に触れずに保護膜を形成できるので、陰極に欠陥が生じていても、保護膜で覆うことで、ダークスポットが低減できる利点を有する。 - 特許庁

To provide a Ge light receiving element having high photosensitivity and low dark current characteristics, and to provide a method for manufacturing the same by establishing a method for forming a Ge of a large area and low defect density on an Si substrate.例文帳に追加

Si基板上に大面積且つ低欠陥密度のGeを形成する手法を確立し、高い受光感度と低暗電流特性を有するGe受光素子及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor photodetector, having a light-receiving layer which provides a wide detecting sensitivity in the long-wavelength zone and suppresses dark current by reducing defect density, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

長波長域に検出感度が広くあり、欠陥密度を小さくして暗電流を抑制することが可能な受光層を有する半導体受光素子およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

In this method for correcting a barrier rib defect part 81 in a backboard of the plasma display panel by using a laser beam, the method is characterized in that the defect part 81 is corrected by attaching a dark coloring material 86 on the defect part before radiating a laser beam in the case that a barrier rib is white or light color near white.例文帳に追加

本発明のプラズマディスプレイパネルの修正方法は、プラズマディスプレイパネルの背面板のバリアーリブ欠陥部８１をレーザー光線を用いて修正する方法において、バリアーリブが白色またはそれに近い明色である場合に、レーザー光線照射前に当該欠陥部に暗色の着色材料８６を付着させて、欠陥部修正を行うことを特徴とする。 - 特許庁

In a method for inspecting presence/absence of a defect in a mask for semiconductor exposure, an optical system is used for making light of an arbitrary wavelength incident on the mask to acquire the dark field image, and an arbitrary partial area where an even dark field image is obtained on the mask is arranged at a defocus position separated from a just-focus position to acquire an image.例文帳に追加

半導体露光用マスクの欠陥の有無を検査する方法であって、マスクに任意波長の光を入射させ暗視野像を取得する光学系を用い、マスク上にて均一な暗視野像が得られる任意の一部領域をジャストフォーカス位置から離れたデフォーカス位置に配置して像を取得する。 - 特許庁

To simplify an inspection method for distinguishably specifying whether a defect like a bright line or a dark line of a liquid crystal panel is caused due to the liquid crystal panel or an IC chip of a COF.例文帳に追加

液晶パネルの輝線、滅線といった不良が、液晶パネルに起因する不良であるか、ＣＯＦのＩＣチップに起因する不良であるか、ということを切り分けて特定するための検査方法を簡易化する。 - 特許庁

Afterward, the dark current component 130 caused by the defect is added to signal charges 131 to 133 by reading out the signal charges generated in a light receiving element column 13b-1 to the vertical transfer path 13b-2.例文帳に追加

その後、受光素子列１３ｂ−１に発生した信号電荷を垂直転送路１３ｂ−２に読み出すことにより、信号電荷１３１〜１３３には、欠陥に起因した暗電流成分１３０が加算される。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a solid-state imaging apparatus which weakens the intensity of an electric field generated between a photodiode and a well; reduces a white defect, a dark current, and so on; and improves a photodiode characteristic of after-image or the like.例文帳に追加

フォトダイオードとウェル間に発生する電界の強度を緩和させ、白キズ・暗電流等を低減させるとともに、残像等のフォトダイオード特性を向上させた固体撮像装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Since the light reflected from the substrate 0 is absorbed by the filter 11 in this case, the image image-formed in the image picking-up means 6 is brought into a dark field to make the defect distinct on the monitor 9.例文帳に追加

この場合において、透光性基板から反射された光は、光吸収フィルタ１１によって吸収されるので、撮像手段に結像される像は暗視野となりモニタ上で該欠陥が明瞭となる。 - 特許庁

Furthermore, by operating the element drive transistor in its saturation region, a dark point defect due to characteristics fluctuation of the element drive transistor is detected based on the cathode current and the emission luminance when the EL element is made an emission level.例文帳に追加

また素子駆動トランジスタをその飽和領域で動作させてＥＬ素子を発光レベルとしたときのカソード電流や発光輝度に基づくことで素子駆動トランジスタの特性ばらつきに起因した暗点欠陥を検出する。 - 特許庁

As a result, the stress applied to the organic EL element due to the application of the inverse bias is reduced, so that it is possible to restrain a change in characteristic of the organic EL element or dark dot defect due to the stress.例文帳に追加

その結果、逆バイアスがかかることによって有機ＥＬ素子に与えられるストレスを軽減できるため、当該ストレスに起因して有機ＥＬ素子の特性が変化したり、滅点となったりするのを抑えることができる。 - 特許庁

To provide an easy-to-fabricate light receiving element having a small dark current in which middle infrared light in the range of 1.65-3.0 μm can be received by forming a light receiving layer of good crystallinity with little defect on an InP substrate.例文帳に追加

ＩｎＰ基板の上に結晶性の良い欠陥の少ない受光層を形成することによって１．６５μｍ〜３．０μｍの中赤外光を受光できる製造容易で暗電流の小さい受光素子を与えること。 - 特許庁

To provide a semiconductor light receiving element in which carriers excited to the level of crystal defect in the heterointerface of lattice mismatch are not trapped but can migrate smoothly and can respond quickly, a recombination current caused by the level of crystal defect, i.e.,, a dark current in applying a reverse bias voltage, is reduced and noise of the element is suppressed.例文帳に追加

格子不整合のヘテロ界面での結晶欠陥による準位に励起されたキャリアがトラップされることなく、円滑に移動ができて高速応答ができ、結晶欠陥による準位に起因する再結合電流、すなわち逆バイアス電圧を印加したときの暗電流を低減させ、素子の雑音を抑えた半導体受光素子を提供する。 - 特許庁

As a result, the stress applied to the organic EL element due to the application of the inverse bias is reduced, so that it is possible to restrain a change in characteristic of the organic EL element or dark dot defect due to the stress caused by application of inverse bias.例文帳に追加

その結果、逆バイアスがかかることによって有機ＥＬ素子に与えられるストレスを軽減できるため、逆バイアスがかかることによるストレスに起因して、有機ＥＬ素子の特性が変化したり、滅点となったりするのを抑えることができる。 - 特許庁

To prevent stray light, such as lens-reflected light reaching an image surface from disturbing the inspection sensitivity in a dark field defect detection method by high elevation angle illumination for detecting groove bottom short-circuit defects or scratch, after the completion of etching.例文帳に追加

エッチング完了後の溝底ショート欠陥やスクラッチを検出するための高仰角照明による暗視野欠陥検出方法において、レンズ反射光などの迷光が像面に到達することによる検査感度を阻害することを防止する。 - 特許庁

A high contrast defect image is obtained by the dark field illumination, while the defect is observed without relating to the defect direction by having scanning images in different two directions of the wafer.例文帳に追加

ラインセンサを撮像素子として備える撮像手段と、暗視野照明となるようにウエーハ裏面の撮像部位を照明する照明手段と、前記撮像手段および前記照明手段とウエーハとの間を一定方向に相対移動させる移動手段と、ウエーハの略円形の中心を回転中心として回転させるウエーハ回転手段とから成り、暗視野照明によりコントラスト高い欠陥画像が得られるとともに、ウエーハの異なる２方向のスキャン画像を得ることにより欠陥の方向に関係なく欠陥を観測できる。 - 特許庁

Polarization elements are provided, respectively in the first and second detection optical paths branched in a dark field optical system, and are set to bring lights transmitted, through the polarizing elements arranged in the first and second detection optical paths into different characteristics, and the defect-capturing rate is enhanced thereby.例文帳に追加

また、暗視野光学系にて分岐した第１及び第２の検出光路にそれぞれ偏光素子を備え、第１と第２の検出光路に配置した偏光素子を透過する光が異なる特性となるように設定し、欠陥の捕捉率を向上する。 - 特許庁

To enable a semiconductor solid-state image pickup device to eliminate an OB pixel, shorten the period required for a clamping means, and supply a stable clamping level, with respect to dark level fluctuations due to the defect of the OB pixel and stray light.例文帳に追加

半導体固体撮像装置において、（１）ＯＢ画素が必要でなくなる、（２）クランプ手段に必要な期間を短縮できる、（３）ＯＢ画素の欠陥や迷光等によるダークレベルの変動に対して安定したクランプレベルを供給できる、ということを課題とする。 - 特許庁

To (1) eliminate an OB (Optical Black) picture element, (2) reduce time required for clamp method, (3) provide stable clamp level with respect to fluctuation of dark level due to defect, stray light, or the like in the OB picture element in a semiconductor solid-state image pickup device.例文帳に追加

半導体固体撮像装置において、（１）ＯＢ画素が必要でなくなる、（２）クランプ手段に必要な期間を短縮できる、（３）ＯＢ画素の欠陥や迷光等によるダークレベルの変動に対して安定したクランプレベルを供給できる、ということを課題とする。 - 特許庁

The defect inspection apparatus is provided with a path roll, an irradiation device irradiating the magnetic tape traveling on the path roll with parallel light, a ceramic screen projecting the light reflected from the magnetic tape, and a photodetector capturing the image formed on the ceramic screen as a bright and dark signal.例文帳に追加

パスロールと、該パスロール上を走行する磁気テープに平行光を照射する照射装置と、該磁気テープから反射した光を投影させるセラミックスクリーンと、該セラミックスクリーン上に結像された像を明暗信号として取り込む受光装置と、を備えたことを特徴としている。 - 特許庁

To provide a backlight structure for a flat light source unit such as a liquid crystal display in which a defect of a yellow-brown color of a resin component such as a polyimide resin in a FPC appearing when switched on on a display or a lighting face and the like in yellow lines (dark lines) and a pattern can be eliminated and a cost can be reduced.例文帳に追加

ＦＰＣのポリイミド樹脂等の樹脂成分の黄褐色が点灯時に表示面や照明面等に黄線（暗線）やパターンとなって現れると言う欠陥を除去しつつ、コスト的にも安価となる液晶表示装置等の面光源装置用のバックライト構造体を提供する。 - 特許庁

To enable manufacturing of an organic EL element which is superior in wetproofness and which has a superior productivity without a dark spot by being provided with a transparent conductive substrate in which there is no defect of a transparent electroconductive layer, and which is suitable for a roll winding working method, and which is superior in the wetproofness.例文帳に追加

本発明の課題は、透明導電層の欠陥がなく、ロール巻取り工法に適し、耐湿性に優れた透明導電性基材を提供することにより、ダークスポットがなく耐湿性に優れ生産性の良い有機ＥＬ素子の製造を可能とするものである。 - 特許庁

A microcomputer 15 judges a defect when the pushed-up dark level output is not a prescribed value while at least one of the low luminance range output and the high luminance range output in effective pixels not to be the object of light shielding is a saturated value or a minimum value.例文帳に追加

マイコン１５は、遮光の対象とならない有効画素における低輝度レンジ出力および高輝度レンジ出力の少なくとも一方が飽和値または最小値になっている時に、押し上げておいた暗レベル出力が所定値となっていないと不良であると判定する。 - 特許庁

In an electronic microscope 5 for observing the defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and a distribution filter is inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁

To automatically generate an inspection mask image for extracting pixels to be inspected at a dark region from the imaging image of an object to be examined for examining the defect such as an off-setting in a black print section having a low concentration level on the object to be examined such as a drink container using digital image processing.例文帳に追加

飲料容器などの被検査物上の濃度レベルの低い黒色印刷部の印刷ハゲ等の欠陥検査をデジタル画像処理で行うため、被検査物の撮像画像から暗部領域の検査対象画素を抽出する検査マスク画像を自動生成する。 - 特許庁

To provide a coating liquid for color filter for forming a colored layer or a light-shielding layer which hardly generates gas, to provide a substrate for an organic electroluminescence (EL) element capable of excellent image display without a defect such as dark spot, and to provide an organic EL display device.例文帳に追加

本発明は、ガスの発生が少ない着色層や遮光部を形成するためのカラーフィルタ用塗工液、ならびに、ダークスポット等の欠陥のない良好な画像表示が可能な有機ＥＬ素子用基板および有機ＥＬ表示装置を提供することを主目的とする。 - 特許庁

In this defect inspection device 1, a lens 2 supported on an inspection axis L is sequentially illuminated by reflection type dark-field illumination devices 5_1-5_4 having LEDs 6_1-6_4 for irradiating light at different irradiation angles to the lens 2 one by one, and is imaged by a camera 4.例文帳に追加

欠陥検査装置１においては、検査軸線Ｌ上に支持されたレンズ２は、レンズ２に対して異なる照射角度で光を照射するＬＥＤ６_１〜６_４を有する反射型暗視野照明装置５_１〜５_４よって１装置ずつ順次照明され、カメラ４によって撮像される。 - 特許庁

An electronic microscope 5, for observing defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, is configured in such a manner that an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and that a distribution polarization element and a spatial filter are inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁

To provide a coating liquid for color conversion layer formation by which a color conversion layer that has less generation of gas, superior fluorescence performance, and low sintering temperature is formed and a substrate for organic EL element capable of displaying excellent image without a defect such as a dark spot, and an organic EL display device.例文帳に追加

本発明は、ガスの発生が少なく、蛍光性能に優れ、焼結温度の低い色変換層を形成するための色変換層形成用塗工液、ならびに、ダークスポット等の欠陥のない良好な画像表示が可能な有機ＥＬ素子用基板および有機ＥＬ表示装置を提供することを主目的とする。 - 特許庁

In the device for inspecting the defect in the mask blank, a first iris diaphragm is positioned at a light source to limit irradiation angels of light emitting from the light source and a scattering control unit is positioned at the outgoing port of a dark field optical unit so as to control scattering angles of scattered light after being reflected from the mask blank.例文帳に追加

マスクブランクの欠陥を検査する装置において、第一の虹彩絞りが光源に位置されて光源から放出される光の照射角を制限し、散乱制限ユニットがマスクブランクから反射したのちの散乱光の散乱角を制限するために暗視野光学ユニットの出射口に位置される。 - 特許庁

The substrate inspection method detects the defect on the basis of a plurality of detection brightness values and a plurality of comparison brightness values determined to detect diffusion light from a detection position on a substrate and a comparison position corresponding thereto with a plurality of detectors arranged in different directions under dark field illumination.例文帳に追加

本発明に係る基板検査方法は、暗視野照明下において基板上の検査位置及びこれに対応する比較位置からの散乱光を異なる方向に配置された複数の検出器により検出して得られた複数の検査用輝度値及び複数の比較用輝度値に基づいて欠陥を検出する基板検査方法である。 - 特許庁

A lipped-mold type fluorescent lamp 100 uses a coloring agent of either black or dark color as a base component for improving image recognition when a mounting defect of pins 112 to a base 110 is detected by carrying out an image processing of an image of the base 110 with pins 112 mounted around a projected part.例文帳に追加

この発明に係る片口金形蛍光ランプ１００は、突出部分の周囲にピン１１２が取り付けられた口金１１０の画像を画像処理して口金１１０に対するピン１１２の取り付け不良を検出する場合の画像認識性向上のための口金組成物として黒色と暗色とのいずれかの着色剤を使用することを特徴とする。 - 特許庁