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N layerの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 6825件
Further, an n^+ diffusion region 7 acting like a drain of the MOSFET in the MIS region and the p-GaN layer 11 of the pn diode of the bulk region are electrically connected bi a short-circuit electrode 8.例文帳に追加
そして、MIS領域のMOSFETのドレインとなるn^+拡散領域7と、バルク領域のpnダイオードのp−GaN層11を、短絡電極8を介して電気的に接続する。 - 特許庁
The junction FET 1 has a built-in pn diodes 2, 3 formed on the main face of the n^+ substrate 12 to electrically connect the p^+ layer 9 in the gate region to the gate electrode 14.例文帳に追加
この接合FET1は、さらに、n^+基板12の主面に形成され、ゲート領域のp^+層9とゲート電極14とを電気的に接続するpnダイオード2、3を内蔵している。 - 特許庁
Then, by appropriately setting the impurity concentration of the n+GaAs layer 4, the conductivity is adjusted, and increase in the forward rising voltage due to the improvement of withstand voltage characteristics is inhibited.例文帳に追加
そしてn^+ GaAs層4の不純物濃度を適宜に設定することにより、その導電性を調整し、耐圧特性の改善に伴う順方向立ち上がり電圧上昇を抑えるようにした。 - 特許庁
The upper electrode 20 is sandwiched by an upper substrate composed of an insulating material and the insulating layer 50 and has a structure not touching the n-type and p-type thermoelectric semiconductor elements 16 and 18 directly.例文帳に追加
上部電極20は、絶縁材料からなる上部基板と絶縁層50とに狭持され、n型およびp型熱電半導体エレメント16,18と直接接触しない構造となる。 - 特許庁
The light emitting element includes: a semiconductor core 11 made of a bar-like n-type GaN having a circular cross section, and a semiconductor layer 12 made of a p-type GaN formed so as to cover part of the semiconductor core 11.例文帳に追加
断面円形の棒状のn型GaNからなる半導体コア11と、上記半導体コア11の一部を覆うように形成されたp型GaNからなる半導体層12とを備える。 - 特許庁
Further, annealing processing is carried out to form an interface bond state in which the Ga-N bond is dominant in a nitriding layer 5, thereby the interface level density can be made to be much lower.例文帳に追加
また、アニール処理することにより、窒化処理層5においてGa−N結合が支配的となった界面結合状態を形成し、界面準位密度を一段と低減させることができる。 - 特許庁
The drift region 1 has such a resistivity that a depletion layer extended from a collector region 10 provided on the rear surface of the n^- type drift region 1 toward the shell region 5 does not reach the shell region 5.例文帳に追加
ドリフト領域1は、n^-型のドリフト領域1の裏面に設けられたコレクタ領域10からシェル領域5に向かって拡がる空乏層がシェル領域5に到達しない抵抗率を有する。 - 特許庁
Further, a second inductive impurity is ion-implanted to a deep region 4B, deeper than the region 4A and to the depth where C, is ion-implanted in the surface layer of the n-type drift region 2.例文帳に追加
そして、n型ドリフト領域2の表層部のうち、Cが注入された領域4A及び該Cが注入された深さよりも深い領域4Bまで第2導電型不純物をイオン注入する。 - 特許庁
The charge accumulation film has a two-layer structure consisting of an Si-rich first silicon nitride film 44 formed on the tunnel oxide film and an N-rich second silicon nitride film 45 formed on the first silicon nitride film.例文帳に追加
電荷蓄積膜は、トンネル酸化膜上に形成されたSiリッチな第1シリコン窒化膜44と、第1シリコン窒化膜上に形成されたNリッチな第2シリコン窒化膜45の2層構造で形成される。 - 特許庁
A sputtering target is used for forming the n-layer of the solar cell, contains Zn, Sn and O, and has atomic ratio of Zn and Sn from 20:80 or more to 80:20 or less.例文帳に追加
本発明のスパッタリングターゲットは、太陽電池のn層を形成するために用いられ、Zn、Sn及びOを含有し、ZnとSnとの原子数比が20:80以上80:20以下である。 - 特許庁
With this structure, a channel region is efficiently arranged to suppress occurrence of parasitic currents in the P-type diffusion layer, thereby preventing fluctuation in on-resistance value of an N-channel MOS transistor 1.例文帳に追加
この構造により、効率的にチャネル領域が配置され、P型の拡散層での寄生電流の発生が抑制され、Nチャネル型MOSトランジスタ1のオン抵抗値の変動が防止される。 - 特許庁
Also, a phosphorus ion 21 is implanted on condition that it stays on the insulating film 13 for the implantation mask at the P-type region forming position 9 and it stays in the SOI layer 5 at the N-type region forming position 11.例文帳に追加
また、リンイオン21を、P型領域形成位置9では注入マスク用絶縁膜13に留まり、N型領域形成位置11ではSOI層5に留まる条件で注入する。 - 特許庁
To prevent the generation of a carrier (electron) movement reduction phenomenon, which is generated due to the diffusion of In atoms, contained in an i-InGaAs channel layer, to the sides of n-AlGaAs carrier supply layers in a field effect transistor (FET).例文帳に追加
電界効果トランジスタにおけるi−InGaAsチャネル層中のIn原子がn−AlGaAsキャリア供給層側へ拡散することによるキャリア(電子)移動度低下の現象を防止する。 - 特許庁
A photovoltaic cell element 1 is formed which is provided with an n-type silicon substrate 2 and through-holes 3 penetrating the silicon substrate 2, and has a p-type diffusion layer 4 provided at least on a top surface of the silicon substrate 2.例文帳に追加
n型シリコン基板2と、シリコン基板2を貫通するスルーホール3を設け、シリコン基板2の少なくとも表面に設けたp型の拡散層4を有する光電池セル素子1を形成する。 - 特許庁
A novel inclined band gap interface layer of p-i and i-n is formed by continuous growth method, and electrical contact resistance is decreased by improving the characteristics of a composition surface.例文帳に追加
本発明では連続成長の方法で新規の傾斜バンドギャップのp−iとi−n界面層を製造しており、接合面の特性を改善することで接触電気抵抗を減少させる。 - 特許庁
It is preferable that total 0.05-10 wt.% of one or two or more kind of elements out of B, C, Al, Si, Ti, Fe, Zr, Mo, W, Hf, Nb and V other than Cr, N, O are contained in at least B layer of the hard coating 3.例文帳に追加
硬質皮膜3の少なくともB層には、Cr,N,Oの他に、B,C,Al,Si,Ti,Fe,Zr,Mo,W,Hf,Nb,及びVの中の一種又は二種以上を合計で0.05〜10重量%含有していることが好ましい。 - 特許庁
A lining layer of 700-3,000 g/m^2 containing a propylene resin and an EVA resin as main components is provided on the back surface of a fiber skin material, and the bending strength (maximum load) thereof is set to 6-40 N.例文帳に追加
繊維表皮材の裏面にポリプロピレン樹脂とEVA樹脂を主成分として含む700〜3000g/m^2の裏打層からなり、その曲げ強さ(最大荷重)が6〜40Nにする。 - 特許庁
In a heat treatment process after the storage node 151 is formed, diffusion of N-type impurities in the storage node 151 is restrained by oxygen in the layer 151a containing oxygen, and junction leakage is prevented.例文帳に追加
ストレージノード151の形成後の熱処理工程で、ストレージノード151中のN型不純物の拡散が酸素含有層151a中の酸素により抑制され、ジャンクションリークが防止される。 - 特許庁
To provide a semiconductor device in which an ohmic electrode of low contact resistance over a long period of time to an n-type nitride semiconductor layer, and to provide a manufacturing method therefor.例文帳に追加
本発明は、n型窒化物半導体層に対して長期にわたって接触抵抗の低いオーミック性電極を形成した半導体装置およびその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
A semiconductor laser 1A includes an n-type semiconductor region 3a, a p-type semiconductor region 7a, a semiconductor mesa 5A, and a semiconductor buried region 19A having a deeply buried layer 20A.例文帳に追加
半導体レーザ1Aは、n型半導体領域3aとp型半導体領域7aと半導体メサ5Aと深部埋め込み層20Aを有する半導体埋め込み領域19Aとを備える。 - 特許庁
To provide a tetrazine derivative stable to atmosphere and light, and exhibiting n type semiconductor characteristics by using thereof as a semiconductor layer in an organic transistor element.例文帳に追加
本発明の目的は、大気及び光に対して安定であり、有機トランジスタ素子における半導体層として用いることでn型半導体特性を示すテトラジン誘導体を提供することにある。 - 特許庁
Therefore, in the island regions 8 and 9 constituting the small signal 2, the substrate 4 and the first epitaxial layer 5 are substantially demarcated by the n-type embedded diffusion regions 29 on which a power-supply potential is applied.例文帳に追加
そのことで、小信号部2を構成する島領域8、9では、実質、電源電位が印加されたN型の埋込拡散領域29で、基板4と第1のエピタキシャル層5とが区分される。 - 特許庁
The reflective films 19 in the regions at the lower side of the wiring-shaped portion 17B of the n-electrode 17 and the wiring-shaped portion 18B of the p-electrode 18 among those are located under a light-emitting layer 12.例文帳に追加
そのうち、n電極17の配線状部17B、p電極18の配線状部18Bの下側にあたる領域の反射膜19は、発光層12よりも下側に位置している。 - 特許庁
Thus, the constructed vegetation foundation layer 10 can shorten a period until the root entwines with the vegetation net 11 more than a conventional period for seeding and planting the face of a slope N by growing from a seed.例文帳に追加
そのため、構築された植生基盤層10は、種子から生育させて法面Nを緑化させていた従来と比較して、根が植生ネット11に絡み付くまでの期間を短縮することができる。 - 特許庁
An n-type InP board 90a (substrate) laminated with a compound semiconductor layer 20a is transferred and placed on a susceptor 11 in a chamber 13, to which CH_4/H_2/CL_2 mixed gas is supplied.例文帳に追加
まず、化合物半導体層20aが被着されたn型InP基板90a(基体)をチャンバ13内のサセプタ11に移載し、チャンバ13内にCH_4/H_2/Cl_2混合ガスを供給する。 - 特許庁
To restrain accumulation of carrier in an interface between an InAlAs buffer layer and an InP substrate in an epitaxial wafer of an n-type InAlAs/InGaAs system HEMT structure using InP in a substrate.例文帳に追加
基板にInPを用いたn型InAlAs/InGaAs系HEMT構造のエピタキシャルウェハにおいて、InAlAsバッファ層とInP基板との界面におけるキャリアの蓄積を抑制することを可能とする。 - 特許庁
After a channel protective layer is formed over an oxide semiconductor film containing In, Ga and Zn, a film having n-type conductivity and a conductive film are formed, and a resist mask is formed over the conductive film.例文帳に追加
In、Ga、及びZnを含む酸化物半導体膜上にチャネル保護層を形成した後、n型の導電型を有する膜と、導電膜を成膜し、導電膜上にレジストマスクを形成する。 - 特許庁
After an n-type semiconductor region 6 is formed on the principal surface of a semiconductor substrate 1Sub, a memory gate electrode MG and the charge accumulation layer CSL of a split-gate type memory cell are formed thereon.例文帳に追加
半導体基板1Subの主面にn型の半導体領域6を形成した後、その上にスプリットゲート型のメモリセルのメモリゲート電極MGおよび電荷蓄積層CSLを形成する。 - 特許庁
The first oxide layer 12 contains a silsesquioxane-containing acrylamide based polymer of a copolymer [p(DDA/SQ)] (the introduction ratio of SQ being 22%) of N-dodecyl acrylamide and a silsesquioxane and includes silicon.例文帳に追加
第1酸化物層12は、シルセスキオキサンを含むアクリルアミド系ポリマーの、N−ドデシルアクリルアミドとシルセスキオキサンとの共重合体[p(DDA/SQ)](SQの導入率22%)から成り、ケイ素を含んでいる。 - 特許庁
Then, an n-type semiconductor area 14 made of gallium nitride, active layer 15 made of gallium nitride indium, and p-type semiconductor area 16 made of gallium nitride are successively formed on the titanium nitride film 12.例文帳に追加
窒化チタン膜12の上に窒化ガリウムから成るn形半導体領域14、窒化ガリウムインジウムから成る活性層15、窒化ガリウムから成るp形半導体領域16を順次に形成する。 - 特許庁
Erasing action is carried out by sequentially impressing a forward bias to the p-type well region 2 and the n-type impurity region 3 to generate hot carriers, and by injecting them into the insulating layer 7 for charge storage.例文帳に追加
p型ウエル領域2とn型不純物領域3とに順バイアスを印加することによりホットキャリアを生成して電荷蓄積用絶縁層7に注入することで消去動作が行なわれる。 - 特許庁
The semiconductor laser 1 has optical reflection surfaces 1c, 1d on the end faces of a light waveguide having an optical layer held between an n- and p-clad layers in its light wave guiding direction.例文帳に追加
半導体レーザ1は、活性層がn型クラッド層とp型クラッド層とにより挟まれてなる光導波路の当該光導波方向の両端面に光反射面1c,1dが形成されている。 - 特許庁
To provide a power supply circuit device which can improve the S/N ratio of the output signal of a meter, by reducing the noise mixing in the output signal of a sensor, using an electric double layer capacitor.例文帳に追加
電気二重層コンデンサを用いて、センサの出力信号に混入するノイズを低減し、計測器の出力信号のS/N比の向上を図り得る電源供給回路装置を提供すること。 - 特許庁
The frequency is 50 to 300 kHz, a heated processing time by the electromagnetic induction is 0.5 to 5 s, and a peel strength between the inductive core material and the rubber layer is 0.1 N/mm^2 or more.例文帳に追加
該周波数は50kHzから300kHzであり、該電磁誘導による加熱処理時間が0.5sから5sであり、該導電性芯材と該ゴム層との剥離強度が0.1N/mm^2以上である。 - 特許庁
To provide a semiconductor light emitting element having no problem of optical oozing-out to a GaN substrate and the generation of crack or dislocation of an n-type clad layer while being small in the half-value width of an FFP (Far Field Pattern) in the vertical direction.例文帳に追加
GaN基板への光滲み出し、及びn型クラッド層のクラックや転移の発生の問題なく、垂直方向のFFP(遠視野像)全半値幅の小さな半導体発光素子を提供する。 - 特許庁
Accordingly, excessive carriers in the N^--type substrate 10 are removed through re-coupling in the regional damage layer 20 on the occasion of recovery of FWD to reduce the carriers making contribution to a backward current.例文帳に追加
これにより、FWDのリカバリ時に領域部ダメージ層20にてN−型基板10内の過剰キャリアを再結合によって消滅させ、逆方向電流に寄与するキャリアを減少させる。 - 特許庁
The development may be carried out by blowing (jetting) the developer on the photosensitive layer at 15-75° angle and the blowing may be carried out under a high pressure, e.g. about 700-5,000 N/cm2 pressure.例文帳に追加
現像は、現像剤を感光層に対して15〜75°の角度で噴射(噴出)させることにより行ってもよく、噴出は高圧(例えば、700〜5000N/cm^2程度の圧力)で行ってもよい。 - 特許庁
The n-type charge transportation layer is formed of an acicula 17 having irregularity on its side faces.例文帳に追加
一対の基板間に、n型の電荷輸送層、光吸収層、p型の電荷輸送層を有する光電変換装置において、n型の電荷輸送層は、側面に凹凸を有する針状結晶17で構成する。 - 特許庁
At least one layer of a hard heat-resistant film consisting of at least one element selected from among C, N, and O, and Ti and Al as the main component is provided on a part related to at least cutting.例文帳に追加
C、NおよびOの中から選択される少なくとも1種の元素と、Tiと、Alとを主成分とした少なくとも1層の硬質耐熱被膜を少なくとも切削に関与する箇所に有する。 - 特許庁
The memory cell region 100 and the dummy cell region 300 include a first conductive (p-type) first well 42, a second conductive (n-type) second well 44 and a second conductive embedded layer 50.例文帳に追加
メモリセル領域100およびダミーセル領域300は、第1導電型(p型)の第1ウェル42と、第2導電型(n型)の第2ウェル44と、第2導電型の埋込み層50を含む。 - 特許庁
The ridge 26 is filled up with an n-GaN filling layer 28 except the uppermost p-GaN contact 24 of the ridge 26, and an electrode 29 on the (p) side is provided on the p-GaN contact 24.例文帳に追加
リッジ26は、リッジ26上部のp−GaNコンタクト24を除いて、n−GaN埋め込み層28によって埋め込まれ、p−GaNコンタクト24上にはp側電極29が設けられている。 - 特許庁
By this, even if the communication infrastructure used for connection to the other station is changed, no switching occurs with a session C 1a-Cna that connects application programs dev-1 to dev-n to the protocol layer 22.例文帳に追加
このため、相手局との接続に用いる通信インフラを切り替えても、アプリケーションプログラムdev−1〜dev−nとプロトコル層22とを接続するセッションC 1a〜Cnaについては切り替わらない。 - 特許庁
A local lifetime control region 2 is formed inside the low-concentration n^--type base layer 1, thus relaxing the inclination of field strength in the diode, suppressing the occurrence of an avalanche, and reducing power loss.例文帳に追加
低濃度のn-型ベース層1の内部に局所ライフタイム制御領域2を形成するため、ダイオード内の電界強度の傾斜を緩和できアバランシェの発生を抑制でき電力損失を低減できる。 - 特許庁
A plurality of p guard ring layers 34 are formed by dispersion on the other surface of the n-layer 31 with intervals between each other selectively and in flat stripes, and conduits are formed and filled with insulators 37.例文帳に追加
n- 層31の他方の表面には複数のpガードリング層34が互いに間隔をおいて選択的、且つ、平面ストライプ状に拡散形成され、溝が形成されて絶縁物37で埋め込まれている。 - 特許庁
Then, a mask layer 41 having an opening 40 is so formed on the region surrounded by the gate contact region 29 as to form an N-type channel region 33 and a top gate region 34 through the opening 40.例文帳に追加
ゲートコンタクト領域29で囲まれた領域上に、開口部40を有するマスク層41を形成し、該開口部40を通してN型のチャネル領域33とトップゲート領域34を形成する。 - 特許庁
A trench 24 is formed partially in the surface layer of the N-type well 22 which is exposed two-dimensionally and regularly over a plurality of positions on the surface of the residual region 20.例文帳に追加
N型ウエル22の表層の一部には溝部24が形成されており、N型ウエル22が残余領域20の表面において複数箇所に渡って二次元的に規則的に露出している。 - 特許庁
Even if forward-direction surge is applied, an n^- drift layer 102 is subjected to conductivity modulation, on-state resistance is lowered, and calorific value is reduced, thus improving resistance to forward-direction surge.例文帳に追加
順方向サージが印加されても、N^−ドリフト層102が伝導度変調され、オン抵抗が低下し、発熱量が低下するので、順方向サージに対する耐性を向上することができる。 - 特許庁
In addition, one impurity 106 is introduced into a region within 30 nm from the surface of the semiconductor layer 101 between the p-type region 102 and the n-type region 103.例文帳に追加
加えて、p型領域102とn型領域103とに挟まれた半導体層101の表面より30nm以内の領域に導入された1個の不純物106を備えている。 - 特許庁
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