「Probe」に関連した英語例文の一覧と使い方(368ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a primer, probe, microarray for detecting mutation of c.4957-4958InsA, a novel genetic mutation of a gene EYS responsible for retinitis pigmentosa (RP), a test kit having the same, a test method for genetic mutation responsible for RP, and a test method for genetic sensitivity to RP.例文帳に追加

網膜色素変性原因遺伝子ＥＹＳの新規遺伝子変異であるｃ．４９５７＿４９５８ＩｎｓＡ変異を検出するためのプライマー、プローブ、マイクロアレイ、及び、これらを備える検出キット、並びに、ＲＰ原因遺伝子変異の検査方法、ＲＰへの遺伝的感受性の検査方法を提供する。 - 特許庁

This calibration device of the present invention for calibrating a temperature probe for a heat treatment chamber has a light source of stable intensity, and the light source is coupled optically with the first end part of a fiber optical guide and emits light through the second end part of the fiber optical guide during the calibration.例文帳に追加

本発明の熱処理チャンバのための温度プローブの校正のための装置は、強度が安定した光源を有し、この光源がファイバ光ガイドの第１の端部に光学的に結合して校正中はファイバ光ガイドの第２の端部を通して光を発することを特徴とする。 - 特許庁

The method for manufacturing the ultrasonic probe for an ultrasonic treatment device includes a preparation process for preparing a rod of material 58 formed of titanium material, and an area reduction molding process for area reduction molding of at least one end side of the material 58 by use of an area reduction molding die 52.例文帳に追加

超音波処置装置用超音波プローブの製造方法は、チタン材で形成されている棒状の素材５８を準備する準備工程と、素材５８の少なくとも一端側を減面成形金型５２を用いて減面成形する減面成形工程と、を具備することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a surface shape measuring device capable of performing proper measurement to a measuring object having a large aspect ratio (height/width or height), especially a probe microscope such as an atomic force microscope or a magnetic force microscope which is a high-resolution surface shape measuring device.例文帳に追加

アスペクト比（高さ／幅又は高さ）が大きい測定対象に対し、適切な測定ができる表面形状測定装置を提供するもので、特に、高分解能な表面形状測定装置である原子間力顕微鏡や磁気力顕微鏡などのプローブ顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁

This device is provided with a focused ion beam optical system and an electron optical system in the same vacuum device, and a probe separating a trace sample including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and picking up the separated trace sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

A high degree complexity nucleic acid probe comprising a mixture of labeled hetero nucleic acid fragment pieces in which individuals are complementary is used to carry out in situ hybridization on the locus of the target chromosomal substance in the area including each suspect gene rearrangement to detect neighboring gene syndrome.例文帳に追加

各疑わしい遺伝子再配列を含む領域における標的染色体物質の座位に各々が相補的である標識された異種の核酸断片の混合物からなる高度コンプレッキシティ核酸プローブを使用して、インシトゥ ハイブリダイゼーションを行い、隣接する遺伝子症候群を検出する。 - 特許庁

Cooling water C is supplied to the continuously cast rod T casted continuously and horizontally, from a mold 35 outlet in the casting direction, immediately behind the mold 35 outlet, a probe 42 for ultrasonic inspection is brought into contact with the cooling water C, and internal defect is inspected.例文帳に追加

鋳型(35)出口から水平方向に連続的に鋳出される連続鋳造棒（Ｔ）に対し、鋳型(35)出口直後において冷却水（Ｃ）を鋳出し方向に供給するとともに、冷却水（Ｃ）に超音波探傷検査用プローブ(42)を接触させて内部欠陥を検査する。 - 特許庁

The support plate has a center part fixedly connected to a center part of the probe substrate, an annular rim part arranged, surrounding the center part, and at least two sets of spoke parts arranged point-symmetrically centering on the center part where the center part and the rim part should be connected.例文帳に追加

支持板が、プローブ基板の中央部に固定的に結合される中央部と、該中央部を取り巻いて配置される環状のリム部と、該中央部およびリム部を結合すべく中央部を中心として点対称に配置された少なくとも２対のスポーク部とを有する。 - 特許庁

The probe for ultrasonic diagnostic apparatus includes: a sound absorbing layer which is provided with a first electrode part; a piezoelectric body which is connected with the first electrode part; an acoustic matching layer which is provided with a second electrode part connected with the piezoelectric body; and a PCB which is connected with the first electrode part and the second electrode part.例文帳に追加

開示された発明の超音波診断装置用プローブは、第１電極部を備える吸音層と、第１電極部に連結される圧電体と、圧電体に連結される第２電極部を備える音響整合層と、第１電極部及び第２電極部に連結されるＰＣＢとを含む。 - 特許庁

The sensor cell comprises: a metal fine particle (20) for combining with the probe DNA (30) selectively reacting with a target DNA on a surface; an electric field transistor Tr2 where a number of metal fine particles (20) are combined on a gate insulating film (25); and the reference electrode (21) that becomes a potential reference.例文帳に追加

本発明のセンサセルは、ターゲットＤＮＡと選択的に反応するプローブＤＮＡ（３０）を表面に結合する金属微粒子（２０）と、ゲート絶縁膜（２５）上に金属微粒子（２０）が多数結合されてなる電界効果トランジスタＴｒ２と、電位基準となる参照電極（２１）とを備える。 - 特許庁

To manufacture inexpensively, and to heighten inspection accuracy of a flaw by removing dispersion of an interval between each flaw detection coil and an inspection object surface, concerning a multi-coil type probe of an eddy current flaw detector equipped with the plurality of flaw detection coils for detecting the flaw on the inspection object surface.例文帳に追加

検査対象面の傷を検出する複数の探傷コイルを備えた渦流探傷装置のマルチコイル式プローブにおいて、安価に製造でき、かつ、各探傷コイルと検査対象面との間隔のばらつきを無くして傷の検査精度の向上を図れるようにする。 - 特許庁

A human brain cDNA library is screened with a partial cDNA estimated to encode a human DSCAM-like protein as a probe, and a gene encoding the new cell adhesion molecule whose expression profile and subcellular localization are different from those of the DSCAM and which belongs to Ig superfamily is isolated.例文帳に追加

ヒトDSCAM様タンパク質をコードすると推定された部分cDNAをプローブとして、ヒト脳cDNAライブラリーをスクリーニングし、DSCAMと類似の機能を有し、かつDSCAMとは発現プロファイル及び亜細胞性局在が異なるIgスーパーファミリーに属する新規細胞接着性分子をコードする遺伝子を単離する。 - 特許庁

The nucleic acid fragment for detecting the algae belonging to the genus Dinophysis and the fine algae contributing the proliferation of the algae belonging to the genus Dinophysis has a specific base sequence or a base sequence complementary to the base sequence, and a function substantially acting as a primer or a probe.例文帳に追加

特定の塩基配列、又は該塩基配列に対し相補的な塩基配列を有し、かつプライマー又はプローブとして実質的な機能を有することを特徴とするディノフィシス属藻類及びディノフィシス属藻類の増殖に寄与する微細藻類の検出用核酸断片。 - 特許庁

This instrument is constituted portably of a press-abutting body 10 formed to include a substantial L-shape by a main body 11 and a measuring abutting body 12 provided perpendicular to the main body 11, and a dial gage 20 with a probe 23a of a linear displacement direction.例文帳に追加

本体１０と前記本体１０に対して垂直に設けた測定当接体１２とによって略Ｌ字形状を含むように形成された押当体１０と、測定子２３ａの変位方向が直線的であるダイヤルゲージ２０とから携帯式に構成されている。 - 特許庁

A pair of probes 28ai configuring a Kelvin probe is deployed, respectively, in a through-hole 30a with a circular section formed nearby a housing member 30ai shaped cylindrically with plastic between support substrates 26A and 26B prepared parallel to each other.例文帳に追加

ケルビンプローブを構成する一対のプローブ２８ａｉが、互いに略平行に配される支持基板２６Ａおよび２６Ｂ相互間であって、プラスチックで筒状に成形されたハウジング部材３０ａｉにおける隣接して形成される円形断面を有する貫通孔３０ａ内に、それぞれ、配されているもの。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of separately measuring frictional force deriving from surface force such as adsorptive force corresponding to the surface conditions of a sample and frictional force caused by the coefficient of friction of the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の摩擦力を測定する際に、試料の表面状態に対応した吸着力等の表面力に基づく摩擦力と、試料表面の摩擦係数に基づく摩擦力とを分離して測定することが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide ultrasonic diagnostic equipment securing the receiving performance of a continuous wave Doppler mode, etc., and providing favorable ultrasonic images by reducing the noise level of preamplifiers without increasing the power consumption and heat generation of the electronic circuit of a probe and increasing a dynamic range.例文帳に追加

プローブの電子回路の消費電力、発熱を増大させることなくプリアンプのノイズレベルを小さくし、ダイナミックレンジを増大して連続波ドプラモード等の受信性能を確保し、良好な超音波画像を得ることが可能な超音波診断装置を提供することである。 - 特許庁

A mechanism for freely adjusting a space dissolution improvement area in a visual field adjusts a focus area in a depth direction with a vibrator 5 as an annular array and also adjusts an angle direction by scanning the vibrator or a probe by a mechanical scanning system.例文帳に追加

空間分解能向上領域を視野内で自由に調整する機構は、振動子５をアニュラアレイとし深さ方向のフォーカスエリアを調整することに加え、振動子あるいはプローブをメカニカルスキャン方式によりスキャンすることにより角度方向の調整を行っている。 - 特許庁

In the micro testpiece processing and observation device, a focused ion beam optical system and an electron optical system are equipped in an identical vacuum device, and a micro testpiece including the desired region of the testpiece is separated by a charged particle beam forming process, and a probe for sampling the micro testpiece separated is equipped.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

The spring contact is housed in a hole part which is cylindrical and hollow and formed at an insulator, and its tip protrudes from the surface of the insulator to directly contact a prescribed contact surface, constituting a single spring contact or a spring probe.例文帳に追加

平常時において、内側ほど先端側に突出する形状に渦巻状に巻回するとともに、先端部が軸に直交する平面上にあるように形成したタケノコバネを少なくとも一つ含み、このタケノコバネの先端部を所定接触面に直接接触させるようにスプリングコンタクトを構成する。 - 特許庁

The trigger probe is composed of a stator 1, a guide 6 of insulating substance installed inside the stator, a stylus 2, a stylus support 20 and an electric circuit, wherein the stylus support 20 is held on the stator 1 through a spring 220, and the stylus 2 is movable from the standstill position in response to a deflecting force.例文帳に追加

このプローブは、固定子（１）と、その内側に設けた絶縁物の案内子（６）と、スタイラス（２）と、スタイラス支持体（２０）と電気回路とを含み、スタイラス支持体（２０）は固定子（１）に対し、ばね（２２０）により保持され、スタイラス（２）は静止位置から偏向力に対応して移動できる。 - 特許庁

A displacement of a plate spring member 3 generated by contact of the contact terminals 2 with the inspection object 15 is detected when the probe card X1 has structure held with the plurality of contact terminals 2 onto the plate spring member 3 with one portion fixedly supported to an elastically displaceable support member.例文帳に追加

プローブカードＸ１が，支持部材１に対して一部が固定支持されて弾性変位する板ばね部材３に複数の接触端子２が保持された構造を有する場合に，接触端子２と被検査物１５との接触によって生じる板ばね部材３の変位を検知する。 - 特許庁

Apertures 2 and 3 corresponding to semiconductor chips 11 and 12, respectively, are placed on a substrate 1, while probe groups 4a to 4e and 5a to 5e are hold on the substrate 1 in different configuration each other and are fixed so as to protrude slantwise downward through the apertures 2 and 3, respectively.例文帳に追加

半導体チップ１１、１２にそれぞれ対応して配置された開口部２、３を基板１に設け、プローブ群４ａ〜４ｅ、５ａ〜５ｅは、配置が互いに異なるように基板１に保持するとともに、開口部２、３をそれぞれ介してが斜め下に突き出すように配置する。 - 特許庁

To provide a coaxial probe for measurement, capable of inspecting and measuring a circuit board even if an electronic part is brought into contact with the circuit board mounting and signal lines are distributed on the surface of the circuit board from a measuring terminal, and measuring terminals are disposed closely on the surface of the circuit board.例文帳に追加

電子部品が搭載された回路基板に当接させ、測定端子から回路基板などの表面に信号ラインが引き回されていても、また回路基板の表面に測定端子が密に配設されていても、これを検査測定できる測定用同軸型プローブを提供する。 - 特許庁

Furthermore, a gas leading-in pipe 68 which has an air leading-in port 64 used for gas connecting port concurrently to connect to a dry nitrogen gas source at the base end, and furnishing the fifth switching valve 66 on the way of the pipe, joins to an installing piping between the high vacuum probe and the third switching valve 54.例文帳に追加

更に、乾燥窒素ガス源と接続するガス接続ポート兼用の空気導入ポート６４を基端に有し、かつ管途中に第５開閉弁６６を備えたガス導入管６８が、高真空測定子と第３開閉弁５４との間の取り付け配管に合流している。 - 特許庁

When a wheel located at an operational part 8 is rotated, a tilting angle calculating part 31 acquires a tilting angle ϕ of a scan plane scanned by a two-dimensional ultrasonic probe 2 based on a rotational angle of the wheel, and determines a direction to tilt the scan plane based on the rotational direction of the wheel.例文帳に追加

操作部８にあるホイールが回転させられると、チルト角算出部３１はホイールの回転角度に基づいて２次元超音波プローブ２がスキャンするスキャン面のチルト角φを求め、ホイールの回転方向に基づいてスキャン面を傾斜させる方向を決定する。 - 特許庁

To form the cross section of an ink transfer part by a focusing ion beam device, in the observation of the transfer and penetration of the ink transferred to a printed matter wherein ink is printed on paper or a written matter written by using a ball point pen or a marking pen, to observe the same by an electron microscope or an electron probe microanalyser.例文帳に追加

紙に印刷された印刷物や、ボールペンやマジックなどを用いて筆記された筆記物に転移したインキ等の転移及び浸透状態を、集束イオンビーム装置等により断面を作製し、該断面を電子顕微鏡或いはエレクトロンプローブマイクロアナライザーにより観察する。 - 特許庁

In this probe assembly, a plurality of probes including each belt-like mounting domain and each tip side needle tip domain extending further from the tip of the mounting domain are arranged in parallel on the lower side of a support so that a width direction of the mounting domain is a vertical direction.例文帳に追加

プローブ組立体は、帯状の取付領域及び該取付領域の先端からさらに前方へ延びる先端側針先領域を備える複数のプローブを、取付領域の幅方向が上下方向となる状態に支持体の下側に並列的に配置している。 - 特許庁

A microchemical system 100 as the fluorometric analysis device is equipped with this optical module 100a for the fluorometric analysis, a probe 50 for converging excitation light into sample solution in a passage 204 inside this chip 20 for the fluorometric analysis, and a sample stand 21 for placing thereon the chip 20 for the fluorometric analysis.例文帳に追加

蛍光分析装置としてのマイクロ化学システム１００は、蛍光分析用光学モジュール１００ａと、励起光を蛍光分析用チップ２０内部の流路２０４内の試料溶液に集光するプローブ５０と、蛍光分析用チップ２０を載置する試料台２１とを備える。 - 特許庁

The probe 5 fixed to a vertically driving mechanism and its tip is brought into contact with the electric circuit for transmitting a signal to an electric measuring instrument comprises a tip part 3 of cone shape, and main body of a rod shape 4, wherein the diameter of the bottom of the cone is smaller than the rod main body 4.例文帳に追加

プローブ５は上下駆動機構に取り付けられ、その先端が上方から電気回路に接触して電気計測器に信号を伝えるプローブにおいて、円錐の先端部３と棒状本体４とからなり、円錐の根元径が棒状本体４より細径である。 - 特許庁

In the side face part of the adaptor main body part 31, a housing part 35 housing the liquid or jelly sound matching medium and a supply part 36 for supplying the sound matching medium to a space 34a between the probe main body 2 and the body surface of the patient 50, are stored.例文帳に追加

アダプタ本体部３１の側面部内には、液状又はゼリー状の音響整合媒体を収容した収容部３５と、音響整合媒体をプローブ本体部２と被検体５０の体表との間の空間３４ａに供給する供給部３６とが格納されている。 - 特許庁

To provide an anisotropically conductive connector for surely achieving a satisfactory state of electrical connection to a wafer even if the pitch is extremely small between electrodes under inspection on the wafer which is an inspecting object with its contact members kept from being soon uncoupled, and to provide its manufacturing method, a probe card, and a wafer inspection device.例文帳に追加

検査対象であるウエハにおける被検査電極のピッチが極めて小さくても、ウエハに対する良好な電気的接続状態が確実に達成され、接点部材が早期に離脱しない異方導電性コネクターおよびその製造方法、プローブカード並びにウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁

In the ultrasonic wave probe provided with a piezoelectric element 1 and a rear load member 6 provided to one side of the piezoelectric element 1, the rear load member 6 is configured with a main material having a high attenuation characteristic with respect to an ultrasonic wave and a filling material filled in the main material with a high thermal conductivity.例文帳に追加

圧電素子１と、圧電素子の一方の面に設けた背面負荷材６とを備える超音波探触子において、背面負荷材を、超音波に対して高い減衰特性を有する主材と、この主材に充填した高い熱伝導率を有する充填材とで構成する。 - 特許庁

A transmitting section 21 sets the delay time and drive amplitude for a plurality of neighboring vibrator elements selected by an element selecting section 22 among vibrator elements arrayed by an ultrasonic probe 3, based upon those transmission delay conditions or transmission amplitude conditions.例文帳に追加

そして、送信部２１は、超音波プローブ３において配列された振動素子の中から素子選択部２２が選択した隣接する複数個の振動素子に対する駆動パルスの遅延時間と駆動振幅を前記送信遅延条件及び送信振幅条件に基づいて設定する。 - 特許庁

This contact probe is equipped with: the beam part 31 having a cantilever structure; two or more wires 33 insulated mutually, and extending from a fixed end toward a free end on the beam part 31; and two or more contact parts 2 formed near the free end of the beam part 31, and connected respectively to the wires 33.例文帳に追加

片持ち梁構造を有するビーム部３１と、互いに絶縁され、ビーム部３１上で固定端から自由端に向かって延びる２以上の配線３３と、ビーム部３１の自由端付近に形成され、配線３３にそれぞれ接続された２以上のコンタクト部２とを備える。 - 特許庁

By using a double-probe-type flaw detector with transmission and reception probes, ultrasonic waves are directly applied to a junction surface to be diffused at 45 degrees, and a reflection wave being reflected once on the surface of a material whose flaw is to be detected is captured while changing the distance between the two probes.例文帳に追加

発信探触子と受信探触子を備えた２触子式探傷器を使用して、超音波を被拡散接合面に対して４５度の角度で直接照射し、二つの探触子間の距離を変えながら被探傷材の表面で１回反射させた反射波を捕捉する。 - 特許庁

Thus, even when an error is caused at the contact position by thermal expansion or the like during the measurement, the error is automatically corrected, the excellent contact accuracy of a probe 32 and the electrode pad of a wafer W is secured, and the reliability of electrical measurement is improved.例文帳に追加

これにより測定中に熱膨張等によってコンタクト位置に誤差が生じたとしても、この誤差を自動的に補正してプローブ３２とウェハＷの電極パッドとの良好なるコンタクト精度を確保して、電気的測定の信頼度の向上させることが可能となる。 - 特許庁

The two-vibrator type ultrasonic probe is equipped with transmitting and receiving probes 10 wherein the center axes 11 of transmitting and receiving ultrasonic waves cross mutually in an article 1 to be inspected and a heat-resistant propagation auxiliary member 20 having two probes attached to it in a detachable manner and propagating ultrasonic waves with respect to the article 1 to be inspected.例文帳に追加

送信又は受信する超音波の中心軸１１が被検査物の内部で交差する送信用及び受信用の探触子１０と、２つの探触子を着脱可能に取り付け被検査物１との間で超音波を伝播する耐熱性の伝播補助部材２０とを備える。 - 特許庁

The device for removing weld spatter/slug residues is arranged on the upstream side of an ultrasonic probe and has a scraper with a blade tip being brought into contact with a weld joint, and an ejection nozzle in an ultrasonic flaw detector for performing the ultrasonic flaw detection of the weld joint of a welded steel tube.例文帳に追加

溶接鋼管の溶接継ぎ目部の超音波探傷を行なう超音波探傷装置において、超音波探触子の上流側に配設されて刃先が溶接継ぎ目部に接触するスクレーパーおよび噴射ノズルを有する溶接スパッター・スラグ残り除去装置である。 - 特許庁

To provide a method capable of accurately attaining purposes in a short time in a nucleic acid-measuring method using a nucleic acid probe labeled with a fluorescent dye, a quantitative PCR method in a real time utilizing the nucleic acid-measuring method and a method for analyzing data obtained by the quantitative PCR method in the real time.例文帳に追加

蛍光色素で標識された核酸プローブを用いる核酸測定法、該法を利用するリアルタイム定量的ＰＣＲ法、及び該リアルタイム定量的ＰＣＲ法により得られるデータを解析する方法において、短時間かつ正確に目的が達成できる方法を提供する。 - 特許庁

The purpose is attained by the fact that the stored contact position is image-formed when image-forming the needle tip, that the display of the contact position is changed until corresponding to a real height of a contact point proper to each probe card, and that setting therein is then stored as a new contact position.例文帳に追加

これは、ニードルチップを画像形成するときに、記憶された接触位置が画像形成され、この接触位置の表示がそれぞれのプローブカードに適切な接点の現実の高さに対応するまで変更され、次にこの設定は新たな接触位置として記憶される事実によって達成される。 - 特許庁

This probe card is equipped with: a substrate; a plurality of lead wires formed on the substrate; a contact part formed on a portion on the substrate of the lead wires, to be in contact with the specimen electrode; and the vibrator for vibrating the lead wires in the orthogonal direction to the thickness direction of the substrate.例文帳に追加

基板と、前記基板上に形成されている複数の導線と、前記導線の前記基板上の部位に形成され、検体の電極に接触する接触部と、前記基板の板厚方向と直交する方向に前記導線を振動させる振動子と、を備える。 - 特許庁

The probe 11 comprises an excitation coil, where two rectangular coils cross orthogonally and metals M1 and M2, and a pancake-type detection coil that is arranged at a position opposing the weld line W, and both the excitation coils generate a rotating magnetic field by excitation signals whose phases differ by 90 degrees and generates an eddy current Ie.例文帳に追加

プロ−ブ１１は、二個の矩形コイルを直交させた励磁コイルと金属Ｍ１、Ｍ２、溶接線Ｗに対向する位置に配置したパンケーキ型検出コイルとから成り、両励磁コイルは、位相が９０度相違する励磁信号により回転磁界を発生し、渦電流Ｉｅを発生する。 - 特許庁

This measuring device 11 is provided with: a measuring probe 18 for measuring the shape of a specimen; and a tiltable rotary table 14 whose upper surface for placing the specimen thereon can be tilted at the prescribed tilt angle with respect to the horizontal plane, having a rotary table 21 on which the plurality of reference holes 31 are formed.例文帳に追加

測定装置１１は、被検物の形状を測定する測定プローブ１８と、被検物を載置する上面が水平面に対して所定の傾斜角度で傾斜可能とされ、複数の基準穴３１が形成された回転テーブル２１を有する傾斜回転テーブル１４とを備えている。 - 特許庁

In this hydrogen manufacturing unit, at least an ultrasonic wave probe 16 for boundary surface detection is set on the bottom wall 11a of the reactor 11 of the hydrogen manufacturing unit using IS process, and ultrasonic wave probes, 17a, and 17b for sound velocity correction on the side wall 11b of the reactor 11.例文帳に追加

本発明に係る水素製造装置は、ＩＳプロセスを用いた水素製造装置の反応容器１１の底壁１１ａに１つ以上の境界面検知用超音波探触子１６を設置し、反応容器１１の側壁１１ｂに音速補正用超音波探触子１７ａ，１７ｂを設置する。 - 特許庁