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Probeを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 19554



例文

This probe card is equipped with: a substrate; a plurality of lead wires formed on the substrate; a contact part formed on a portion on the substrate of the lead wires, to be in contact with the specimen electrode; and the vibrator for vibrating the lead wires in the orthogonal direction to the thickness direction of the substrate.例文帳に追加

基板と、前記基板上に形成されている複数の導線と、前記導線の前記基板上の部位に形成され、検体の電極に接触する接触部と、前記基板の板厚方向と直交する方向に前記導線を振動させる振動子と、を備える。 - 特許庁

The probe 11 comprises an excitation coil, where two rectangular coils cross orthogonally and metals M1 and M2, and a pancake-type detection coil that is arranged at a position opposing the weld line W, and both the excitation coils generate a rotating magnetic field by excitation signals whose phases differ by 90 degrees and generates an eddy current Ie.例文帳に追加

プロ−ブ11は、二個の矩形コイルを直交させた励磁コイルと金属M1、M2、溶接線Wに対向する位置に配置したパンケーキ型検出コイルとから成り、両励磁コイルは、位相が90度相違する励磁信号により回転磁界を発生し、渦電流Ieを発生する。 - 特許庁

This measuring device 11 is provided with: a measuring probe 18 for measuring the shape of a specimen; and a tiltable rotary table 14 whose upper surface for placing the specimen thereon can be tilted at the prescribed tilt angle with respect to the horizontal plane, having a rotary table 21 on which the plurality of reference holes 31 are formed.例文帳に追加

測定装置11は、被検物の形状を測定する測定プローブ18と、被検物を載置する上面が水平面に対して所定の傾斜角度で傾斜可能とされ、複数の基準穴31が形成された回転テーブル21を有する傾斜回転テーブル14とを備えている。 - 特許庁

In this hydrogen manufacturing unit, at least an ultrasonic wave probe 16 for boundary surface detection is set on the bottom wall 11a of the reactor 11 of the hydrogen manufacturing unit using IS process, and ultrasonic wave probes, 17a, and 17b for sound velocity correction on the side wall 11b of the reactor 11.例文帳に追加

本発明に係る水素製造装置は、ISプロセスを用いた水素製造装置の反応容器11の底壁11aに1つ以上の境界面検知用超音波探触子16を設置し、反応容器11の側壁11bに音速補正用超音波探触子17a,17bを設置する。 - 特許庁

例文

In this contact probe unit with the plurality of contact probes 10 fixed on a printed circuit board 61, the contact probes 10 are pressed in a through-hole 8 formed by covering the periphery and an inside of the penetrated-through hole with a conductor to contact with the conductor, on the printed circuit board 61.例文帳に追加

複数のコンタクトプローブ10がプリント回路基板61に固定されるコンタクトプローブユニットにおいて、プリント回路基板61上に貫通させた穴の周辺と内側を導体で被って形成されるスルーホール8に、コンタクトプローブ10が圧入されて前記導体と接触することを特徴とする。 - 特許庁


例文

The method and the composition used in the method involve the use of TNA-specific probe nucleic acids, the production of nucleic acid binding regions and the use of nucleic acid target binding assemblies(TBA) to detect and locate a specific TNA, wherein TBA comprise nucleic acid recognition sequences having specific base sequences.例文帳に追加

TNAを検出および配置するために、TNAに特異的なプローブ核酸の使用、核酸結合領域の産生、および核酸標的結合集合体(TBA)の使用を含み、TBAは特定の塩基配列を持つ核酸認識配列からなる組成物及び方法。 - 特許庁

To provide a method for analyzing a nucleic acid wherein a non- specific linkage which can be formed between a specimen nucleic acid and a nucleic acid probe is diminished, especially such a method using a chip for nucleic acid detection, and to provide such a chip which is highly versatile and can be produced at low cost.例文帳に追加

検体核酸と核酸プローブとの間に生じ得る非特異的な結合が低減された核酸解析方法、特に、核酸検出用チップを用いた核酸解析方法と、そこにおいて使用され得る汎用性が高く且つ低経費で製造される核酸検出用チップを提供する。 - 特許庁

After an arbitrary device process is completed, one portion of a wafer 108 is extracted as a minute sample 110 exceeding one repetition pattern by a probe by using a finite sample extracting apparatus 102, transferred on a minute sample storage tool 109, and thus stored into a minute sample storage apparatus 103.例文帳に追加

任意のデバイスプロセス完了後に、微小試料摘出装置102でウェーハ108の一部を、1繰返しパターン以上のサイズの微小試料110として、プローブで摘出して微小試料保管具109に載せ替え、微小試料保管装置103に保管される。 - 特許庁

Otherwise, the foreign substance P is irradiated with an electron beam to deposit a solid material on the foreign substance P in a deposition gas atmosphere in which the solid material is generated by irradiation with the electron beam, and a force by the probe of an AFM (atomic force microscope) is applied to the solid material.例文帳に追加

又は、電子ビームが照射されることにより固体材料が生成されるデポジションガス雰囲気中において、異物Pに電子ビームを照射して異物P上に固体材料を堆積させ、この固体材料に対してAFMの探針により力を印加する。 - 特許庁

例文

This biometric probe retainer 4 includes first and second body sections 10L and 10R worn to the ears, otoscopes 17L, 17R movably attached to the first and second body sections 10L and 10R, and bolts 24L and 24R for locking the movements of the otoscopes 17L and 17R.例文帳に追加

生体測定プローブ保持具4は、耳に装着される第1、第2の本体部10L、10R、第1、第2の本体部10L、10Rに可動に取り付けられる耳鏡17L、17R、及び耳鏡17L、17Rの動きをロックするボルト24L、24Rを備えている。 - 特許庁

例文

A cup-like object 100 fittable over a breast comprises a suction port 110 for sucking the internal air, receiving windows 122 and 124 for receiving the tip of an ultrasonic probe 700, and puncturing holes 132 and 134 for inserting a puncturing needle 500.例文帳に追加

乳房に被せることが可能な椀状物体100に、内部気体の吸引を行うことを可能にする吸出口110、超音波プローブ700の先端を受容することを可能にする受容窓122,124および穿刺針500を通すことを可能にする穿刺孔132,134を設けた。 - 特許庁

This probe for a capacitance type displacement meter is equipped with an annular measurement electrode 12, an inside protection electrode 11 provided inside the measurement electrode 12, and an outside protection electrode 13 provided outside the measurement electrode 12, and further is equipped with a through hole 15 provided inside the protection electrode 11.例文帳に追加

静電容量式変位計用プローブ1は、環状の測定電極12と、測定電極12の内側に設けた内側保護電極11と、測定電極12の外側に設けた外側保護電極13とを備え、さらに内側保護電極11の内側に設けた貫孔15を備える。 - 特許庁

And then closing a proper part of the flow pass, pressing the typing reagent housing section 48 and the mixing part 50 alternately allowing mixing of the reaction liquid with the typing reagent and then feeding the reaction liquid to a position 30 provided with probes and detecting SNP by detecting fluorescence by a corresponding probe.例文帳に追加

その後、流路の適当な箇所を閉じ、タイピング試薬収容部48と混合部50を交互に押して反応液とタイピング試薬を混合した後、その反応液をプローブ配置部30に送り、対応するプローブで蛍光を検出することによりSNPを検出する。 - 特許庁

A system can include an interferometer having a reference arm that includes a first optical fiber of length of L1 and a sample arm that includes a second optical fiber of length of L2 and a first rotary coupler configured to conform with an optical tomography imaging probe, wherein the rotary coupler is in optical communication with the sample arm.例文帳に追加

長さL1の第一の光ファイバーを含む参照アームおよび長さL2の第二の光ファイバーを含むサンプルアームを有する干渉計、および光学断層撮影撮像プローブと適合するよう構成された第一のロータリーカプラーを含むことができ、ロータリーカプラーは、サンプルアームと光通信する。 - 特許庁

The system can increase or decrease the transformation coefficients included in the measured information data to change a data ratio between the measured information data and the road section reference data, so that the probe data collection device 80 can reproduce coarse or fine measured information accordingly.例文帳に追加

このシステムでは、計測情報データに含める変換係数を増減することによって、計測情報データと道路区間参照データとのデータ配分を変えることができ、それに伴い、プローブデータ収集装置80で再現できる計測情報は、粗くなり、あるいは細かくなる。 - 特許庁

To provide a nucleic-acid-fragment fixed electrode in which a probe nucleic-acid fragment is fixed onto an electrode stably and by controlling its amount, to provide a method of manufacturing the nucleic-acid-fragment fixed electrode and to provide an electrochemical detection method for a target nucleic acid using the nucleic-acid-fragment fixed electrode.例文帳に追加

電極上にプローブ核酸断片が安定にかつ量をコントロールして固定されている核酸断片固定電極、該核酸断片固定電極の製造法、並びに該核酸断片固定電極を用いるターゲット核酸の電気化学的検出方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test socket for semiconductor device having excellent maintainability in which good electrical contact with a probe is ensured regardless of variation in the height of external connection terminals and a test can be carried out continuously even if solder chips of the external connection terminals are deposited through repeated use.例文帳に追加

外部接続端子に高さばらつきがあっても、プローブとの良好な電気的接触が得られ、繰り返し使用により外部接続端子のハンダ屑が付着堆積しても継続的にテストが行なえ、メンテナンス性の良い半導体装置のテスト用ソケットを提供する。 - 特許庁

The exhaust gas introduced from the sampling probe is heat-exchanged with an atmosphere to decrease a temperature in the first heat exchanger, dehumidified and cooled in the dehumidifier, and the exhaust gas passed through the dehumidifier is heat-exchanged with the exhaust gas having passed through the first heat exchanger to increase a temperature thereof in the second heat exchanger.例文帳に追加

第1の熱交換器ではサンプリングプローブから導入した排ガスを大気と熱交換させて降温させ、除湿器では排ガスを除湿、冷却させ、第2の熱交換器では除湿器を通過した排ガスを第1の熱交換器を通過した排ガスと熱交換させて昇温させる。 - 特許庁

A socket board 16 is contacted on a main board 11, a probe pin 13 is inserted in the hole part 17 of the socket board 16, a guide pin 15 is inserted in the guide hole 20 of the socket board 16, and the socket board 16 is attached to the main board 11 by being fixed by a screw 19.例文帳に追加

ソケット基板16をメインボード11に当接し、プローブピン13をソケット基板16の穴部17に挿入すると共に、ガイドピン15をソケット基板16のガイド穴20に挿入し、ネジ19により固定することにより、メインボード11にソケット基板16を取り付ける。 - 特許庁

A probe system 40 including the combination of conductivity/resistance probes 42 and 44 and/or one or more time-domain reflectrometer (TDR) probes 46 is located at least partially inside the downcomer 22 to measure the coolant fluid level 38 and flow velocity of the coolant inside it.例文帳に追加

伝導率/抵抗率プローブ42、44及び/又は1つ以上の時間領域反射率計(TDR)プローブ46の組合せを含むプローブシステム40が、ダウンカマー22の内部に少なくとも部分的に配置され、ダウンカマー22の内部における冷却材液面38及び流速を測定する。 - 特許庁

A voltage is applied to a pad 33 in a prescribed wide pitch side of a circuit board 30 from a voltage supply mechanism 10 via a contact probe 20, and the electrical conditions (short-circuit) of the circuit pattern 32 of the circuit 30 is inspected by a voltage detector 40 and a determining device 50.例文帳に追加

電圧供給機構10からコンタクトプローブ20を介して、回路基板30の所定の広ピッチ側のパッド33に電圧を印加し、電圧検出装置40及び判定装置50で、回路基板30の回路パターン32の電気的状態(短絡)を検査する。 - 特許庁

By bending the wire rod at a bending point 105 in the core-expose part 102, it is possible to arrange a coated end 104 and a probe tip part on opposing sides of the bending point 105 and prevent large stress concentration on the vicinity of the coated end 104.例文帳に追加

この線材をコア露出部102内の屈曲点105において屈曲させれば、屈曲点105を挟んで被覆端104とプローブ先端部とを反対側に配置することができ、被覆端104付近に大きな応力が集中するのを防ぐことができる。 - 特許庁

The device is equipped with a focused ion-beam optical system and an electro-optical system in the same vacuum device, as well as a probe for separating a minute sample including a desired area of the sample by a charged particle beam forming process, and for extracting the separated minute sample.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するプローブを備えた。 - 特許庁

A substrate 31 is etched by using a first patterned masking layer 32 to form a flask 34 in the substrate 31, a first layer 33 is deposited on the flask 34 and the first patterned masking layer 32, and the first layer 33 is patterned to form a probe tip structure.例文帳に追加

第1のパターン化されたマスキング層(32)を使用して基板(31)をエッチングして基板(31)に型枠(34)を形成し、型枠(34)および第1のパターン化されたマスキング層(32)に第1の層(33)を蒸着し、第1の層(33)をパターン化することによりプローブチップ構造を形成した。 - 特許庁

A single still image of high magnification and an image of low magnification acquired in real time are put together and displayed because of characteristics of the target contact and probe necessary for probing to actualize the probing with a low magnification, and thereby effects of an electronic beam are reduced to obtain correct electric characteristics.例文帳に追加

プロービングに必要な目標コンタクトとプローブの特性から高倍で1回の静止画と低倍でリアルタイムに画像を取得した画像を合成して表示したことで、低倍でのプロービングが実現できたことで、電子線の影響を少なくし、正しい電気特性を取得することができる。 - 特許庁

Traffic jam information delivered from a traffic information providing center and probe information are stored in a traffic information center outside the car to obtain information on the traffic jam rate and average traffic jam frequency of each road section by each season, day of the week, time zone, and create the traffic jam statistical information.例文帳に追加

車外の交通情報センタで交通情報提供センタから配信される渋滞情報やプローブ情報などを蓄積し、季節や曜日,時間帯毎に各道路区間の渋滞渋滞率や平均渋滞度などの情報を求め、渋滞統計情報を作成する。 - 特許庁

After a relative position between a circumferential moving body 10 and a circumferential guide rail 8 is adjusted, a relative position between a radial moving body 12 and a radial guide rail 11 is adjusted for setting a position of the probe 17 to a convex spherical end plate connected to an inlet nozzle 4.例文帳に追加

周方向移動体10と周方向案内レール8との相対位置を調整したうえ、径方向移動体12と径方向案内レール11との相対位置を調整して、入口ノズル4に連なった凸球面状の鏡板に対する探触子17の位置を設定する。 - 特許庁

To conduct accurate measurement by correcting a measuring error caused by a value of fine parasitic resistance such as a cable between a measuring instrument and a measured object, a probe and a wire on a test pattern, in a measuring system by a direct current for an electric sample having three or more of terminals.例文帳に追加

3つ以上の端子を持つ電気的試料の直流での測定系において、測定器と被測定物の間のケーブル、プローブ、テストパターン上の配線等の微小な寄生抵抗の値による測定誤算を補正することで、より高精度な測定を行うことを目的とする。 - 特許庁

The stylus 20 is mounted directly on a detecting means 32, which is mounted directly on a holder 10 to constitute a touch signal probe 1 so that the holder 10 and stylus 20 are not in contact and the stylus 20 and detecting means 32 are in contact.例文帳に追加

検出手段32に直接スタイラス20を装着し、検出手段32をホルダ10に直接装着することで、ホルダ10とスタイラス20とを互いに非接触の状態で、かつスタイラス20と検出手段32とを接触の状態でタッチ信号プローブ1を構成した。 - 特許庁

Then, the mail server 3 instructs a base station 2 to transmit mail to the individual recognition number of the portable terminal 1 refined by the attribute information (for example, the type of occupation is a home delivery undertaker) corresponding to this for preparing desired probe information (for example, the traffic information of life road).例文帳に追加

次に、メールサーバ3は、所望のプローブ情報(例えば、生活道路の交通情報)を生成するために、それに応じた属性情報(例えば、職種が宅配業者)によって絞り込んだ携帯端末1の固体認識番号にメールを送信するように基地局2に指示する。 - 特許庁

The probe 2 has the signal pins 21, which are made to abut against the signal measurement pads, electrically connected to the signal layers 31 of the multilayered printed wiring board 3 and a ground pin 22, which is made to abut against a grounding measurement pad 34 electrically connected to the ground layer 32.例文帳に追加

プローブ2は,多層プリント配線板3における各信号層31とそれぞれ電気的に接続された信号用測定パッド33に当接させる複数の信号ピン21と,接地層32と電気的に接続された接地用測定パッド34に当接させる接地ピン22とを有する。 - 特許庁

A flow channel 110 has a flat part 110f, having a flat surface parallel to the flow direction of the solution, an inclined part 110s having an oblique surface protruding from the flat surface, along the flow direction of the solution and the probe electrode E, provided to the oblique surface of the inclined part 110s.例文帳に追加

流路110は、溶液の流れ方向に平行な平坦面を有する平坦部110fと、この流れ方向に沿って平坦面から突出する斜面を有する傾斜部110sと、この傾斜部110sの斜面に設けられたプローブ電極Eとを有している。 - 特許庁

This inspection method measures a reflection coefficient, a space distribution of the reflection coefficient or a frequency characteristic of the reflection coefficient when bringing an electromagnetic field probe or an optical fiber close to the semiconductor that is an inspected target, and compares it with one of the good product to decide whether the semiconductor is the good product or the defect product.例文帳に追加

被検査対象である半導体の近傍に電磁界プローブもしくは光ファイバを近づけたときの反射係数または反射係数の空間分布または反射係数の周波数特性を測定し、良品と比較することで良品/不良品の判別を行う。 - 特許庁

To readily confirm that a retainer is in a state that it is at complete locking position by visual observation or by using a test probe in an electrical connector, having the retainer which is inserted from the front face of a housing and locked to the housing at a tentative locking position and the complete locking position.例文帳に追加

ハウジングの前面から挿入され、仮係止位置と本係止位置とでハウジングに係止されるリテーナを備えた電気コネクタにおいて、リテーナが本係止位置にある状態を目視あるいは検査プローブを用いて容易に確認できる電気コネクタを提供する。 - 特許庁

To noncontactly supply or receive/detect electric power by a multi-electrode probe in a lead group of an IC mounted on a mounting substrate to be inspected, and to extract an electric condition thereof together with a one-to-multiple connection relation, as to a plurality of leads connected to a conductor pattern of the substrate.例文帳に追加

被検査実装基板に実装されているICのリード群に対して、多電極プローブにより非接触で給電又は受電・検出し、その電気的状態を、被検査実装基板の導体パターンに接続する複数のリードについて1対多の接続関係とともに抽出する。 - 特許庁

An error signal is obtained by a focus detecting optical system through a condensing lens 70 and a cylindrical lens 71, controllably driving a motor or a voice coil motor, and controlling the optical sensor probe 53 in the manner that converging illuminating light becomes the center of beam waist on the side of a magnetic head arm 45.例文帳に追加

集光レンズ70及びシリンドリカルレンズ71を介しフォーカス検出光学系により誤差信号を求め、モータ又はボイスコイルモータを制御駆動し、光学センサプローブ53を集光照明光が磁気ヘッドアーム45側面のビームウエスト中心となるよう制御する。 - 特許庁

To provide a probe unit, that properly brings about the elastic displacement in a lead section for supporting a conductive bump and an elastic body for supplementing pressure, brings about a wiping operation between the conductive bump and an external contact, and properly brings the conductive bump into contact with the external contact.例文帳に追加

本発明は導電バンプを支持するリード部及び補圧用弾性体の弾性変位を良好に惹起せしめ、且つ導電バンプと外部接点間にワイピング作用を惹起せしめて、導電バンプを上記外部接点に健全に加圧接触せしめるようにしたプローブユニットを提供する。 - 特許庁

To provide ultrasonic diagnostic equipment capable of appropriately correcting the positional deviation of two-dimensional ultrasonic images due to the hand shake of an ultrasonic probe or the like and generating three-dimensional images without distortion in the ultrasonic diagnostic equipment provided with a function of generating three-dimensional ultrasonic images.例文帳に追加

3次元超音波画像を生成する機能を備えた超音波診断装置において、超音波プローブの手ぶれ等に起因する2次元超音波画像の位置ずれを適切に補正し、歪みのない3次元画像を生成することのできる超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

The contact probe of the socket for the electronic parts such as an IC socket is provided with a cylinder having an electrical connection, a plunger having the electrical connection which can reciprocate in the cylinder, and a coil spring which is arranged outside along the cylinder and the plunger and compressed when equipped to the IC socket.例文帳に追加

電子部品用ソケット、例えば、ICソケットのコンタクトプローブは、電気的接続部を有するシリンダと、電気的接続部を有し、前記シリンダ内を往復動可能なプランジャと、前記シリンダ及び前記プランジャに沿って外側に配置され、ICソケットに設置されたとき圧縮されるコイルバネとを備える。 - 特許庁

Then, heat by a heater 12 in the vaporization chamber 18 is taken by the auxiliary gas, the auxiliary gas is heated and is introduced from an auxiliary gas supply opening 17a that is provided at the wall 26 to the space in an APCI probe retention section 22a, the sample gas is dried, and ionization is further accelerated.例文帳に追加

そして、気化室18の加熱器12による熱が補助ガスによって奪われ、補助ガスが暖められて、壁26に設けられた補助ガス吹出口17aからAPCIプローブ保持部22a内の空間に導入され、試料ガスを乾燥させ、イオン化をさらに促進する。 - 特許庁

A controlling device 90 controls the main motor 50 so as to change the guaranteed highest printing speed to 120 cpm when the set highest printing speed is 121 cpm or higher and the main motor current value sent from a probe 67 is larger than the limit current value of the main motor 50.例文帳に追加

制御装置90は、設定最高印刷速度が121cpm以上であり、かつ、プローブ67からのメインモータ電流値68がメインモータ50の限界電流値以上になったときに、120cpmの保証最高印刷速度に変えるべくメインモータ50を制御することを特徴とする。 - 特許庁

The contact part of the head part when unused is at a position projecting more than that of the first probe part.例文帳に追加

第2のプローブ部が、第1のプローブ部を囲むように形成される本体部と、接触部を含むヘッド部と、ヘッド部が第1のプローブ部の接触部を軸方向に突出するように弾性的に付勢する付勢手段を有するとともに、ヘッド部の接触部が不使用時に第1のプローブ部の接触部よりも突出した位置にある。 - 特許庁

A control member regulates the temperature of a sample in cooperation with a clock, the temperature probe 4 and heating and heat transfer members 5, 6, 8, and the member is automatically monitored by a microprocessor for performing connection or non-connection of the heating and heat transfer members 5, 6, 8 in cooperation with the clock.例文帳に追加

制御部材は、時計と、温度プローブ4及び加熱及び熱伝達部材5,6,8と協働して試料の温度を調整するとともに、時計と協働して、加熱及び熱伝達部材5,6,8の接続又は非接続を行うためのマイクロプロセッサによって自動的に監視される。 - 特許庁

The distance W1 between the ridgeline 221 of one projection part 22 between the pair of the projection parts 22, 23 and the center axis C is different from the distance W2 between the ridgeline 231 of the other projection part 23 and the center axis C, on a section orthogonal to the center axis C of the probe body part 21.例文帳に追加

プローブ本体部21の中心軸Cと直交する断面において、一対の突起部22,23のうち、一方の突起部22の稜線221および中心軸C間の距離W1と、他方の突起部23の稜線231および中心軸C間の距離W2と、が異なっている。 - 特許庁

By applying one to several dozens of high-pressure pulse signals to the integrated concave element within a prescribed period of time from the high-pressure pulse generating circuit 10, sound waves generated in the integrated recessed element are focused on the distal end of a contact part of the therapeutic probe 2, so that the therapy can be performed.例文帳に追加

高圧パルス発生回路10より所定時間内に1個から数十個の高圧パルス信号を一体形凹面素子に印加することにより一体形凹面素子で発生する音波が治療用探触子部2の接触部先端に集束し治療を行うことができる。 - 特許庁

By performing recording on the optical recording medium while utilizing the proximate field light emitting from the fine aperture of a proximate field light probe 1 as a recording head, a fine pit, which exceeds the diffraction limit of light, can be recorded and compatibility with the case of the conventional optical recording medium is secured.例文帳に追加

記録ヘッドとしての近接場光プローブ1の微小開口から出射する近接場光を利用して光記録媒体に記録を行うことで光の回折限界を超えた微小ピットの記録を可能とし、かつ、従来の光記録媒体の場合との互換性を確保する。 - 特許庁

In an ultrasonic transducer array 10 disposed at the tip 2a of the ultrasonic probe 2 for the internal diagnosis of the body cavities, a flexible circuit board 30, an electric circuit 31, a packing material 32, a piezoelectric array 33, an acoustic matching layer 34 and an acoustic lens 35 are laminated sequentially on a support body 11.例文帳に追加

体腔内診断用超音波プローブ2の先端2aに配設された超音波トランスデューサアレイ10は、支持体11上に、フレキシブル回路基板30、電気回路31、バッキング材32、圧電素子アレイ33、音響整合層34、および音響レンズ35が順次積層された構造を有する。 - 特許庁

A holder 26 for holding a tungsten probe 10 is arranged in a container 21 with an exposed tip part 10a, and carbon-based gas introduced into the container 21 is changed into plasma, and the tip part 10a is exposed to the carbon-based gas changed into plasma, to thereby grow the carbon nanotube 31 on the tip part 10a.例文帳に追加

先端部10aを露出させてタングステン探針10を保持するホルダー26を容器21内に配し、該容器21内に導入した炭素系ガスをプラズマ化し、該プラズマ化した炭素系ガスに先端部10aを曝すことにより、当該先端部10aにカーボンナノチューブ31を成長させる。 - 特許庁

The reinforcing plate is constituted by a main reinforcing plate and sub reinforcing plate having a different thermal expansion amount, and the joint state of the sub reinforcing plate to the main substrate is adjusted by a screw for fixing the sub reinforcing plate to the main reinforcing plate, thereby controlling the distortion amount of the probe cards.例文帳に追加

補強板を、異なる熱膨張量を有するメイン補強板およびサブ補強板から構成し、サブ補強板をメイン補強板に固定するネジにより、メイン基板に対するサブ補強板の結合状態を調整することにより、プローブカードの歪み量を制御する。 - 特許庁

例文

This structure makes it possible to automatically press and move the ultrasonic probe on the subject at a prescribed speed in one direction, so that high-quality elastic image data can be obtained at any time and the reproductivity of the pressing motion can be maintained.例文帳に追加

これにより、超音波探触子を被検体に対して、所望の一定速度にて、自動で一方向に圧迫操作させることができるから、任意の時刻において高画質な弾性画像データを取得することができ、かつ、圧迫動作の再現性を保持することができる。 - 特許庁




  
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