「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(231ページ目) - Weblio英語例文検索

Test pads 204, 205 for measuring the characteristics of an electric circuit formed on the inside of the multilayer printed board or that of an electronic component 16 mounted on the multilayer printed board by using the inspection probe are formed on the surface of the first layer of the multilayer printed board, on which the electronic component 16 is mounted.例文帳に追加

電子部品１６を搭載する多層プリント基板の１層目の表面に、検査プローブによって多層プリント基板の内部に形成した電気回路や実装した電子部品１６の特性を測定するためのテストパッド２０４、２０５を形成する。 - 特許庁

This standard sample for measuring and examining the number of general bacteria is characterized by uniformly dispersing spore-forming test bacteria such as a Bacillus subtilis spore solution in a base material containing agar as a gel substance and glycerol as a water-retaining agent in a base composition, and the method for producing the examination standard sample.例文帳に追加

ゲル物質として寒天、保水剤としてグリセリンを基本組成とする基材中に枯草菌芽胞液等の芽胞形成性試験菌を均一に分散してなる一般細菌数測定検査用標準試料及び該調査標準試料の製造方法。 - 特許庁

A test pattern is formed by forming a plurality of dot trains by first printing to a first printing region and a second printing region, by conveying a medium by a predetermined conveyance amount, and by forming a plurality of dot trains by second printing to the second printing region.例文帳に追加

第１印刷領域及び第２印刷領域に第１印刷にて複数のドット列を形成し、所定搬送量にて媒体を搬送し、第２印刷領域に第２印刷にて複数のドット列を形成することによって、テストパターンを形成する。 - 特許庁

Furthermore, a signal propagation time difference among the plural lines is detected based on a reception timing of the test pattern PB received through each of the plural lines and signals received via the plural lines are synchronized with each other according to the time difference.例文帳に追加

また、前記複数の回線各々を介して受信したテストパターンＰBの受信タイミングに基づいて、前記複数の回線間の信号伝搬時間差を検出し、この時間差にしたがい、前記複数の回線各々を介して受信した信号を互いに同期させる。 - 特許庁

Furthermore, the supply voltage and the supply current between the polarity test current pulses are monitored, and a direction of the current or the voltage is reversed for monitoring a current direction, and specifying a direction of the supply voltage or the supply current.例文帳に追加

さらに、極性試験電流パルスの間の供給電圧および供給電流の監視と、電流の方向を監視するため、供給電圧または供給電流の方向を特定するための、電流または電圧の方向の逆転とが行われる。 - 特許庁

Since a decrease in dicyanamide anion during life test can be suppressed, irrespective of humidity absorption during a manufacturing process, this electrolytic capacitor has the good life characteristic and the low impedance characteristic, and further has the low temperature characteristic and is excellent in capacitance stability.例文帳に追加

以上の本発明の電解コンデンサは、製造工程中の吸湿があっても寿命試験中のジシアナミドアニオンの減少が抑制されるので、寿命特性が良好で、さらに低インピーダンス特性を有し、低温特性、静電容量の安定性も良好である。 - 特許庁

In this method, a test pattern for color gamut confirmation is generated by configuring setting so that the signal levels of a luminance signal Y and a single color difference signal Cb may gradually change in a horizontal direction and a residual color difference signal Cr may gradually change in a vertical direction.例文帳に追加

本発明は、輝度信号Ｙ及び１つの色差信号Ｃｂの信号レベルが水平方向に順次変化するように、また残る色差信号Ｃｒが垂直方向に順次変化するように設定等して色再現領域確認用のテストパターンを生成する。 - 特許庁

The clutch device detects an abnormality of the hydraulic circuit based on whether or not an indication current value to the motor is within a predetermined range, by tentatively stroking an output rod according to a test pattern corresponding to the state of a vehicle or utilizing the stroke during changing gears.例文帳に追加

本発明に係るクラッチ装置は、車両状態に応じた検査パターンで前記出力ロッドをテスト・ストロークし、あるいは、変速中のストロークを利用して、前記モータへの指示電流値が所定の範囲内であるか否かにより油圧回路の異常を検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit that carries out a burn-in test without generating latch-ups for an internal circuit comprising a thin-film transistor that is subjected to an internal voltage especially for operating in an integrated circuit having a thick film and the thin-film transistor.例文帳に追加

厚膜および薄膜トランジスタを有する集積回路において、特に内部電圧を受けて動作する、薄膜トランジスタで構成される内部回路についてラッチアップを起こさせることなくバーンイン試験を実行する半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

Test writing is performed in a predetermined area of an optical disk by obtaining a maximum signal amplitude position and a minimum reproduced error signal position of an RF signal by varying a focal offset, setting the focal offset between both positions, and controlling an optical head based on the set focal offset.例文帳に追加

フォーカスオフセットを可変しＲＦ信号の信号振幅の最大位置と再生エラー信号の最小位置とを求め、該両位置間でフォーカスオフセットを設定し、該設定したフォーカスオフセットに基づき光ヘッドを制御し、光ディスクの所定領域に試し書きを行う。 - 特許庁

An output signal of an oscillator 21 used for generating a reference signal inputted into a PLL circuit 20 connected to a local oscillator 13 is divided by a frequency divider 24, thereby generating a test signal included in the receiving band of an AM broadcast.例文帳に追加

局部発振器１３に接続されたＰＬＬ回路２０に入力される基準信号を生成するために用いられる発振器２１の出力信号を分周器２４で分周することにより、ＡＭ放送の受信帯域に含まれる試験信号が生成される。 - 特許庁

In the recording procedure of the contents to an optical disk, CCI performs the recording without encryption in (1); CC1 performs the recording prohibition in (2); the encryption recording pursuant to CPRP is performed in (3) and a content identification number and the CC1 are recorded after the test data of a power calibration area (PCA).例文帳に追加

コンテンツの光ディスクへの記録手順では、ＣＣＩが(1)では暗号化せずに記録、(2)では記録禁止、(3)ではＣＰＲＭに準拠した暗号化記録を行い、パワーキャリブレーションエリア（ＰＣＡ）のテストデータの後にコンテンツ識別番号とＣＣＩを記録する。 - 特許庁

In focus control contents decision processing, a test laser beam is emitted to an area (for example, innermost circumferential area) with large reflectance in the optical disk, and focus control contents are decided on the basis of focus control contents executed at that time and stored in a memory.例文帳に追加

フォーカス制御内容決定処理では、光ディスクにおける反射率の大きい領域（例えば最内周領域等）に対してテストレーザ光照射を行い、その時に実行したフォーカス制御内容に基づいてフォーカス制御内容を決定しメモリに記憶する。 - 特許庁

Also, based on the reception timing of the test pattern PB received through the plurality of lines, respectively a signal propagation time difference between the plurality of lines is detected and the signals received through the respective plural lines are synchronized with each other corresponding to the time difference.例文帳に追加

また、前記複数の回線各々を介して受信したテストパターンＰBの受信タイミングに基づいて、前記複数の回線間の信号伝搬時間差を検出し、この時間差にしたがい、前記複数の回線各々を介して受信した信号を互いに同期させる。 - 特許庁

In focus control contents decision processing, an area (for example, innermost circumferential area) having large reflectance in the optical disk is irradiated with a test laser beam, and focus control contents are decided on the basis of focus control contents executed at that time and stored in a memory.例文帳に追加

フォーカス制御内容決定処理では、光ディスクにおける反射率の大きい領域（例えば最内周領域等）に対してテストレーザ光照射を行い、その時に実行したフォーカス制御内容に基づいてフォーカス制御内容を決定しメモリに記憶する。 - 特許庁

This penetration test machine is provided with a sound detecting means 10 capable of detecting the sound (acoustic signal) propagating through the penetration rod 7 when penetrating the penetration rod 7 into the ground, and the sound detecting means 10 detects the sound propagating through the penetration rod 7.例文帳に追加

地中に貫入ロッド７を貫入するのにともなって当該貫入ロッド７を伝播されてくる音（音響信号）を検出可能な音検出手段１０を設け、この音検出手段１０によりにより貫入ロッド７を伝わる音を検出する。 - 特許庁

The cooling fan control circuit 22, in coordination with a fan speed table setting utility 100 and under a condition that the fan speed table setting utility 100 is imposing a maximum load to a CPU11, performs test processing for monitoring the maximum temperature detected with the temperature sensor 21.例文帳に追加

この冷却ファン制御回路２２は、ファン速度テーブル設定ユーティリティ１００と協働して、ファン速度テーブル設定ユーティリティ１００が最大負荷をＣＰＵ１１に与えている状況で温度センサ２１が検出した最大温度を監視するテスト処理を実行する。 - 特許庁

In this method, a fluid sample (for example, whole blood sample) is introduced into an electrochemical cell of an electrochemical test strip, using a micro-needle integrated with one of a working electrode and a reference electrode arranged with a space in an opposed positions.例文帳に追加

この発明の方法では、流体サンプル（例えば全血サンプル）が、対向する位置に間隔をおいて配置された作用電極および参照電極の一方に一体化した微細針を用いて電気化学的検査細片の電気化学的セルに導入される。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device that applies voltage to a plurality of transistors at the same time and reduces time for a reliability test in the semiconductor memory device which is configured by connecting in series a plurality of memory cells configured with ferroelectric capacitors and transistors.例文帳に追加

強誘電体キャパシタ及びトランジスタから構成されるメモリセルを複数直列に接続して構成される半導体記憶装置において、複数のトランジスタに同時に電圧を印加して、信頼性試験の時間を短縮する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of testing the electrical property of an object under test correctly by contacting all the probe pins surely corresponding electrode pads when overdriven, without damage of probe pins and semiconductor elements, even when the object, such as an IC chip, is integrated highly and grown in size.例文帳に追加

ICチップ等の被検査体が高集積化、大型化しても、プローブピンや半導体素子が損傷を受けることなく、オーバードライブ時に全てのプローブピンを対応する電極パッドに確実に接触させて、被検査体の電気的特性の検査を正確に行うこと。 - 特許庁

Once a trigger signal is input to the mean value processing continuous sampling circuit 202 from a semiconductor test device 100, the mean value processing continuous sampling circuit 202 causes an IDDQ measurement part 201 to execute the IDDQ measurement repeated by a prescribed number of times.例文帳に追加

一度半導体試験装置１００からトリガ信号が平均値処理用連続サンプリング回路２０２に入力されると、平均値処理用連続サンプリング回路２０２が規定の回数繰り返してＩＤＤＱ測定をＩＤＤＱ測定部２０１に実行させる。 - 特許庁

The multilayered structure includes: a foaming layer comprised of a foaming bead molding where the flame resistance measured based on a UL-94 vertical method (20 mm vertical burning test) of a UL standard is V-0 or V-1; and a high gap layer of at least one layer.例文帳に追加

ＵＬ規格のＵＬ−９４垂直法（２０ｍｍ垂直燃焼試験）に準拠して測定される難燃性がＶ−０又はＶ−１である発泡ビーズ成形体からなる発泡層と、少なくとも一層の高空隙層とを備える多層構造体。 - 特許庁

The sealing rubber is press fit formed or injection molded for each piece using a material having a contrived compound ratio, cooled under cryogenic temperature and then surface treated and shaped before 100% test.例文帳に追加

そして、それにより生産される高品質で低コストな封口ゴムにより、面実装型アルミニウム電解コンデンサの需要を一層喚起して、例えば、自動車における監視・情報・制御系の一層のデジタル化の推進に貢献し、人々の利便性向上に寄与すること。 - 特許庁

It calculates the differences of the image data mean values between the regions under test, and, if a maximum value of the calculated differences is greater than a predetermined criterion value G, decides that the image data after the shading correction process has a read density nonuniformity.例文帳に追加

そして、各測定対象領域間でのイメージデータ平均値の差を算出し、その算出した差の最大値が予め定める判定基準値Ｇよりも大きければ、シェーディング補正処理後のイメージデータは読取り濃度むらを有していると判定する。 - 特許庁

A print unit 35 which is arranged on the upstream side from an exposure unit 3 forms a test print for judging the tilt quantity and snaking quantity of a printing paper 11 at a time when the printing paper 11 passes a printing position on the reverse surface of the printing paper 11.例文帳に追加

露光ユニット３よりも上流側に配置された印字ユニット３５において、印画紙１１が印字位置を通過する時点における印画紙１１の傾き量および蛇行量を判断するためのテスト用印字を、印画紙１１の裏面に形成する。 - 特許庁

To prevent a printed board from becoming larger in size due to terminal electrodes for test with which conducting probes are brought into contact when a plurality of printed boards of hybrid integrated circuit devices, etc., is simultaneously manufactured by using a base material substrate and the manufactured printed boards are tested.例文帳に追加

ハイブリッド集積回路装置等のプリント基板２の複数枚を、素材基板１を使用して同時に製作して、そのテストを行う場合に、通電用プローブを接触するテスト用端子電極７を設けることのためにプリント基板が大型化することを防止する。 - 特許庁

To provide a method stably producing a lightweight mortar board, which is low in bulk specific gravity (density) (e.g. about ≤1.0) and has a broken piece scattering-suppression effect in a shock fracture test, by using mortar slurry containing fibers.例文帳に追加

繊維を含有するモルタルスラリーで軽量モルタル板を製造しようとした場合、低嵩比重（密度）のもの（例えば、約１．０以下）で、かつ、衝撃破断時の破断片飛散抑制効果を有する軽量モルタル板を安定して製造することができる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a polarizer protection film which does not cause cracking even when a deformation stress due to a polarizer is applied, and has excellent durability, to provide a polarizing plate which does not cause cracking after a durability test and has excellent durability and to provide a liquid crystal display device having high durability.例文帳に追加

偏光子による変形応力がかかっても、クラックの発生しない耐久性に優れた偏光子保護フィルム、耐久試験後にクラックの発生しない高い耐久性を有する偏光板及び高い耐久性を有する液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

It is also functioned as a signature compressor 200 by connecting the plurality of scan registers 14 arranged at a final stage of the plurality of scan chains constructed by connecting the plurality of scan registers 14 in series for facilitating test, to EXOR gates 23.例文帳に追加

また、テスト容易化のために設けられたスキャンレジスタ１４を直列に接続して構成された複数のスキャンチェーンの最終段に配置されている複数の前記スキャンレジスタ１４とＥＸＯＲゲート２３とを接続してシグニチャー圧縮器２００としての機能を満たす。 - 特許庁

The device select signal output circuit includes a mask setting memory in which mask setting data are stored and masks the device select signal so that a device to be tested specified by the mask setting data is not selected as a device to be tested about the function test.例文帳に追加

前記デバイスセレクト信号出力回路は、マスク設定データを格納しているマスク設定メモリを有し、前記マスク設定データで特定された被試験デバイスが、前記機能試験が行われる被試験デバイスとして選択されないように、前記デバイスセレクト信号をマスクする。 - 特許庁

This probe cleaning device 48 for cleaning particles 54 attached to a probe tip 56 of a probe card 58 of a test probe device 60 includes a silicon wafer 50 having a ridged surface, and is brought into contact with the probe tip 56 in the pressurized state.例文帳に追加

テストプローブ装置６０のプローブカード５８のプローブチップ５６に吸着されているパーティクル５４を洗浄するためのプローブ洗浄装置４８は、隆起した表面を有するシリコンウェーハ５０を含み、圧力が加えられた状態でプローブチップ５６を接触させる。 - 特許庁

The bidirectional photothyristor test device 21 serially connects a second connection terminal 27, a power source V, a first switch SW1, a resistor R, a second switch SW2 and a first connection terminal 26, and is constituted to interpose a capacitor C between the second connection terminal 27 and a node 25.例文帳に追加

双方向フォトサイリスタテスト装置２１を、第２接続端子２７，電源Ｖ，第１スイッチＳＷ１，抵抗Ｒ，第２スイッチＳＷ２，第１接続端子２６を直列に接続し、第２接続端子２７とノード２５との間にコンデンサＣを介設して構成する。 - 特許庁

To provide a contact for electric test of a semiconductor device which is not give a contact mark and damage in a solder ball, corresponding to variation in the dimensions which occurs by the solder ball, such as, in BGA and CSP package of the semiconductor, and also having a proper electrical contact.例文帳に追加

半導体のＢＧＡやＣＳＰパッケージなどの半田ボールで起きている寸法のバラツキに対応して、電気的接触が良好な、且つ、半田ボールに接触痕やダメージを与えることの少ない半導体装置の電気テスト用接触子を提供すること。 - 特許庁

Since the output signal from the second prebuffer circuit 18 reaches the 'L' level by the output signal fixing circuit 19 at the time of ESD test, an NMIS transistor 12 is turned off, thus preventing a surge current from concentrating in the NMIS transistor 12.例文帳に追加

ＥＳＤ試験時には、この出力信号固定用回路１９によって、第２のプリバッファ回路１８の出力信号が“Ｌ”レベルになるため、ＮＭＩＳトランジスタ１２がＯＦＦ状態となり、ＮＭＩＳトランジスタ１２にサージ電流が集中するのを防止することができる。 - 特許庁

After finish of the test, the lifting stand 20 on which the right and left tires A, A are placed is lifted, while keeping the balance in the approximately horizontal state, and the right and left tires A, A are allowed to get out from between the pair of front-and-rear testing rollers 3, 3 journaled on the right and left upper faces.例文帳に追加

試験終了後において、左右タイヤＡ，Ａが乗せられた昇降台２０を略水平状態にバランスを保ちながら上昇動作させ、左右タイヤＡ，Ａを、左右上面に軸受された前後一対の試験ローラ３，３間から脱出させる。 - 特許庁

A characteristic curve 34 of γ-ray sensitivity is measured in an applied voltage range [VR_1, VR_2] shifted from an operating voltage VD for performing a general neutron measurement to high-voltage side by an offset voltage VOFFSET corresponding to the difference between the test dose rate and the standard dose rate.例文帳に追加

そして、通常の中性子測定を行う動作電圧Ｖ_Dから、試験線量率と規準線量率との差に応じたオフセット電圧Ｖ_OFFSETだけ高電圧側にシフトした印加電圧範囲［Ｖ_R1，Ｖ_R2］にてγ線感度の特性曲線３４を計測する。 - 特許庁

A test signal generator 2 has a false random code generator 20 for generating false random codes in a burst form while holding the continuity of the codes and is allowed to intermittently operated by the burst form in response to an operation control signals from circuits 22, 24.例文帳に追加

テスト信号発生器２は、擬似ランダム符号を、バーストの形式でかつ符号の連続性を保持したままで発生するような擬似ランダム符号発生器２０を有し、回路２２、２４からの動作制御信号に応答してバースト形式で断続的に動作する。 - 特許庁

In the case of evaluating a printed wiring board, a count determining means to count the number of test cycles of the alternate movements between the high-temperature tank 1 and the low-temperature tank 2 at the time when the control means 5 determines change in resistance values measured at all times as anomaly is provided.例文帳に追加

プリント配線板を評価する場合において、制御手段５は常時測定されている抵抗値の変化を異常と判定した際に、高温槽１と低温槽２との間を交互に移動した試験サイクル数をカウントするカウント判定手段を設ける。 - 特許庁

To provide an inkjet recording apparatus which can determine whether detection of poor ejecting nozzles taking place at other than poor ejecting nozzles intentionally given on a test pattern is normal, and to provide an inkjet recording system, a printing monitoring device, a printing monitoring method and a program.例文帳に追加

テストパターン上に意図的に与えた不良吐出ノズル以外で生じた不良吐出ノズルの検出が正常どうかを判定することができるインクジェット記録装置、インクジェット記録システム、印刷監視装置、印刷監視方法およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a coupling circuit which is capable of preventing quality degradation, i.e. throughput reduction, of a power-line carrier communication signal transmitted between a device to be tested and an opposite device at a lighting surge breakdown test of an information and communication technology (ICT) device for power-line carrier communication.例文帳に追加

電力線搬送通信用ＩＣＴ機器の雷サージ耐力試験において、被試験装置と対向装置間を伝送される電力線搬送通信信号の品質劣化を生じさせない、すなわちスループットの劣化防止が可能な結合回路を提供する。 - 特許庁

In the L-shape peeling test, an L-shaped jig made from stainless steel and an acrylic sheet are affixed via the pressure sensitive adhesive double-sided sheet, and it is treated at 50°C and 5 atm for 15 minutes, followed by pulling the jig made from stainless steel in a vertical direction with respect to the face of the acrylic sheet to measure the peel force.例文帳に追加

上記Ｌ字剥離試験では、Ｌ字型ステンレス製治具とアクリル板とを両面粘着シートを介して貼り合わせ、５０℃、５気圧、１５分間処理後、ステンレス製治具を、アクリル板の面と垂直方向に引っ張り、剥離力を測定する。 - 特許庁

In the load test device 10, a base concrete 14 is settled along with two or more low pedestals 18 while compressively deforming foundation 12 by way that two or more hydraulic jacks 20 makes a load act vertically downwardly onto the base concrete 14 through the two or more low pedestals 18.例文帳に追加

載荷試験装置１０では、複数の油圧ジャッキ２０が複数の下台座１８を介して基礎コンクリート１４に鉛直下方への荷重を作用させることで、地盤１２が圧縮変形されつつ基礎コンクリート１４が複数の下台座１８と共に沈下される。 - 特許庁

In the AC voltage setting mode, the control section 50 obtains the film thickness of the photosensitive layer based on the detection result of a DC voltage measuring circuit 104 at a frequency of once per 1,000 image formations, and sets an AC test current lower as the film thickness is reduced.例文帳に追加

制御部５０は、交流電圧設定モードでは、１０００枚の画像形成に１回の頻度で直流電圧測定回路１０４の検出結果に基づいて感光層の膜厚を求め、膜厚が小さくなるほど交流試験電流を低く設定する。 - 特許庁

Namely, the displacement detector 60 detects the moving amount of the load transmission shaft 36 to measure the amount (recessed depth) of an indenter 21 which is connected to a distal end of the load transmission shaft 36, being pushed in with a test piece 100 by applying the testing force.例文帳に追加

すなわち、この変位検出器６０は、負荷伝達軸３６の移動量を検出することで、負荷伝達軸３６の先端に接続された圧子２１が、試験力が与えられたことにより試験片１００に押し込まれた量（くぼみ深さ）を計測している。 - 特許庁

An input signal is applied to the input test terminals common to the drivers, and the outputs from the respective output terminals are measured simultaneously, so that both the liquid crystal driver chips are tested simultaneously with one time probing.例文帳に追加

そこで、両液晶ドライバ１４b,１４cに共通する入力テスト端子１７bに入力信号を印加して夫々の出力テスト端子１８a,１８cからの出力を同時に測定して、両液晶ドライバチップ１４b,１４cを１回のプロービングで同時にテストする。 - 特許庁