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Test Isの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 12773



例文

Waveform data 13 are prepared from the logical data 10 of a semiconductor integrated circuit prepared by a hardware description language and test pattern data 11 by using logical simulation and check item information 18 is prepared from the waveform data 13 and information inputted from a user specification part 15.例文帳に追加

ハードウェア記述言語にて作成した半導体集積回路の論理データ10とテストパターンデータ11より論理シミュレーションにて波形データ13を作成し、この波形データ13とユーザ指定部15にて与えた情報より、チェック項目情報18を生成する。 - 特許庁

In carrying out the stove test, in the case of cotton yarn a regain of 8 1/2 per cent shall be added to the weight obtained after the yarn is reduced to an absolute dry conditions, and the figure so obtained shall be regarded as the actual weight of the yarn under normal conditions.例文帳に追加

ストーブ検査を実施するに当たり,綿糸の場合は,当該綿糸が絶対乾燥状態にされた後に得た重量に対して水分率8.5パーセントを加算しなければならず,そのようにして得た数値は,標準状態での当該糸の実重量とみなす。 - 特許庁

A changeover means MUX is provided to each of test pattern supply routes and, by this changeover means, a state applying a terst pattern to each semiconductor device to be tested and a state applying an original parameter to each semiconductor device to be tested can be changed over.例文帳に追加

各試験パターン供給経路に切替手段MUXを設け、この切替手段により試験パターンを被試験半導体デバイスに印加する状態と、各被試験半導体デバイスの各個に独自のパラメータを印加する状態に切り替ることができる構成とした。 - 特許庁

The multilayered structure includes: a foaming layer comprised of a foaming bead molding where the flame resistance measured based on a UL-94 vertical method (20 mm vertical burning test) of a UL standard is V-0 or V-1; and a resin layer of at least one layer.例文帳に追加

UL規格のUL−94垂直法(20mm垂直燃焼試験)に準拠して測定される難燃性がV−0又はV−1である発泡ビーズ成形体からなる発泡層と、少なくとも一層の樹脂層とを備える多層構造体を提供する。 - 特許庁

例文

Thus, an image is confirmed by performing addressing in conformity to the configuration of the mounted expansion memory, writing internally generated test pattern data to all the areas of the expansion memory, further reading all pieces of the written data in the expansion memory and printing them on paper.例文帳に追加

このように、装着した増設メモリ構成にあわせたアドレッシングを行って、増設メモリの全ての領域に対して内部生成テストパターンデータを書き込み、さらに増設メモリへの書き込みデータを全て読み出して、紙に印刷することにより画像確認を行う。 - 特許庁


例文

The new assessment system affords a method for assessing the effect of a test substance on endoplasmic reticulum stress-derived cell death using as criteria(on) the death and/or morphological or biochemical change induced in undifferentiated cancer cell where the function of a Herp gene on a chromosome is deleted.例文帳に追加

染色体上のHerp遺伝子の機能が欠損している未分化癌細胞に誘起される細胞死および/または形態的あるいは生化学的変化を指標として、被験物質の小胞体ストレス由来細胞死に対する効果を評価する方法。 - 特許庁

Contents (14) containing the volatile substance is gelled or preferably oil-gelled so that it has few fluidity of 90 seconds to 24 hours or 90 seconds to 12 hours preferably, or 90 seconds to 30 minutes more preferably at the movement time of 30 mm in a fluidity confirmation test.例文帳に追加

揮散性の薬剤を含有した内容物(14)を、液状確認試験において30mmの移動時間が90秒〜24時間、好ましくは90秒〜12時間、より好ましく90秒〜30分のわずかな流動性を有するゲル、好ましくはオイルゲルとする。 - 特許庁

Preferably the specimen or the test solution is cultured by also using a process for culture in the presence of isopropyl-β-D-thiogalactopyranoside(IPTG) and/or by using a fluorescent substrate having excellent sensitivity to β-galactosidase as (5) a substrate, preferably 4-methylumbelliferyl-β-D-galactoside.例文帳に追加

イソプロピル−β−D−チオガラクトピラノサイド(IPTG)の存在下で培養する、および/または(5)基質としてβガラクトシダーゼの感度の良い蛍光基質、好ましくは4−メチルウンベリフェリル−β−D−ガラクトシドを用いて培養する工程と併用することが好ましい。 - 特許庁

To provide a cooling and moisture proof device for electric characteristic test of a flat display substrate, which cools a surface of the substrate by using compressed air and prevents a phenomenon that moisture in air is condensed to generate water drops on the surface of the substrate during cooling.例文帳に追加

圧縮空気を用いて基板の表面を冷却すると共に、冷却時、基板の表面に空気中の湿気が凝結して水滴が生じる現象を防止する平板ディスプレイ基板の電気的特性試験のための冷却及び防湿装置を提供する。 - 特許庁

例文

To inspect an LVDS with high accuracy and easily even by using a low-speed tester and to reduce the costs of a semiconductor device by generating a high-speed test pattern at the inside of the semiconductor device when the semiconductor device with the built-in LVDS is inspected.例文帳に追加

LVDS内蔵の半導体装置を検査する際に、高速テストパターンを半導体装置内部で生成することにより、低速テスタを用いても、高精度、かつ、容易にLVDSの検査を行うと共に、半導体装置のコストを削減することを目的とする。 - 特許庁

例文

A means 15 is provided, which calculates slope value of the original IL characteristic of semiconductor laser 3 by detecting emission result of erasing power DC in multi-stage recording-power emission recording in test write performed by optimum recording power determination means 10, and stores the slope value.例文帳に追加

最適記録パワー決定手段10で実施する試し書き領域での記録パワー多段階発光記録の消去パワーDC発光結果を検出することで、半導体レーザー3が持つ本来のIL特性の傾きを算出し、記憶する手段15を設ける。 - 特許庁

Moreover, in the case of the ordinary power supply voltage Vcc, the test control signal SW is set to a Lo level and double boosted with the electrostatic capacitance elements 33, 34 and the boosted voltage Vpp can be output by turning ON the transistor 32 using the double- boosted condition.例文帳に追加

また、通常の電源電圧V_CCの場合には、テスト制御信号SWがLoレベルとなり、静電容量素子33,34によってブーストされたダブルブーストとなり、ダブルブーストを用いてトランジスタ32をONさせることによって昇圧電圧V_PPを出力する。 - 特許庁

To make avoidable such situation that the load is concentrated to a specified member at the time of initial polishing in end face diagonal polishing for an optical fiber array, and to make restrainable and reducible peeling of adhesive as a result thereof to prolong the environmental test life.例文帳に追加

光ファイバアレイの端面斜め研磨における初期研磨時に特定の部材に負荷が集中するのを避けることができ、その結果、接着剤剥離を抑制、低減でき、環境試験寿命を長化できる光ファイバアレイの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a transparent conductive film having superior pen-input durability used for a touch panel is, where its transparent conductive thin film will not break, even in a friction test of 100 thousand times under the load of 4.9 N by using especially a pen made of polyacetal (tip shape of 0.8 mmR) in particular.例文帳に追加

タッチパネルに用いた際のペン入力耐久性に優れ、特にポリアセタール製ペン(先端形状:0.8mmR)を使用し、4.9Nの荷重で10万回の摺動試験でも透明導電性薄膜が破壊されない、透明導電性フィルムを提供する。 - 特許庁

This semiconductor testing apparatus is provided with a plurality of holding implements 11 for respectively holding a plurality of semiconductor packages 10, a test board 12 where the plurality of holding implements 11 are arranged, and a fluid feed portion 13 for feeding fluid F for heating or cooling the semiconductor packages 10.例文帳に追加

複数の半導体パッケージ10をそれぞれ保持する複数の保持治具11と、複数の保持治具11が配置されるテストボード12と、半導体パッケージ10を加熱又は冷却するための流体Fを供給する流体供給部13とを備える。 - 特許庁

The making needle 22 puts a distinguishable mark on the specific region SA of the chip region CHIP according to the test results when the probe touches the semiconductor wafer WF and only when the circuit board 12 (probe card 124) is brought near to the wafer WF (chip region CHIP).例文帳に追加

このマーキング針22は、探針21の接触時その試験結果に応じてさらに回路基材12(プローブカード124)とウェハWF(チップ領域CHIP)を接近させた時にのみチップ領域CHIPの特定領域SAに識別可能な傷跡を付ける。 - 特許庁

A first chromium mass concentration C and a first reference mass concentration A are extracted from a first test substance made by adding a predetermined amount of calcium to a predetermined amount of pellets, which are a raw material for molding a molded body; a reference value X is calculated on the basis thereof.例文帳に追加

成形体を成形するための原料である所定量のペレットに所定量のカルシウムを加えた第1の対象物質から、第1のクロムの質量濃度Cと第1の基準質量濃度Aとを抽出し、これらから基準値Xを算出する。 - 特許庁

In this model parameter sampling method, a more realistic distribution of characteristics is calculated, by accurately incorporating into a test element model the correlations between characteristics, dependent on the positional relations between the devices in the object system comprising a plurality of devices.例文帳に追加

本発明のモデルパラメータ抽出方法は、対象としている複数個の装置からなる系内の各装置の相対的位置関係に依存した特性の相関関係を素子モデルの中に正確に組み込むことによって、より現実に近い特性の分布を計算する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device having a test function for surely detecting a defective memory cell, of which the capacity value of a capacitor in a memory cell is lower for a standard range, since the possibility of causing a defective cell becomes high, as increase in the capacity proceeds in the future.例文帳に追加

今後大容量化が進むに連れて不良セルを生む可能性も高くなるため、メモリセルにおけるコンデンサの容量値が規格範囲に対して低い不良メモリセルを確実に検出するテスト機能を有する半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

This biodegradable resin composition, concerning a tensile storage modulus (E') at a test (JIS K 7244-4) on a temperature dependence in a dynamic mechanical property (tensile vibration), is stabilized in the range of 10^5-10^9 Pa over a temperature range of at least 30°C or more.例文帳に追加

この生分解性樹脂組成物は、動的機械特性(引張振動)の温度依存性に関する試験(JIS K 7244−4)での引張貯蔵弾性率(E´)が、少なくとも30℃以上の温度範囲にわたって10^5〜10^9Paの範囲内で安定している。 - 特許庁

Thus, the target suction pressure can be manually inputted by the fixed mode switch 34, and the target suction pressure corresponding to the season is automatically determined by the season mode switch 35 so that pull-down performance can be confirmed in a short time at a test run.例文帳に追加

これにより、固定モードスイッチ34により目標吸入圧力をマニュアル入力でき、また、季節モードスイッチ35により季節に対応した目標吸入圧力が自動的に決定され、試運転時等において、プルダウン性能を短時間で確認できる。 - 特許庁

It has been found that when multi-ply base paper of three or more layers for a paper container having a damage occurring angle obtained in a bending test of 25° or larger and smaller than 35° is used, high bending suitability may be attained and damage of a printed layer and a gas barrier layer may be prevented.例文帳に追加

曲げ試験における破壊発生角度が、25°以上35°未満の3層以上の多層抄き合わせ紙容器用原紙を用いることで、折り曲げ加工適性に優れるとともに、印刷層あるいは及びガスバリア層の割れを防止することを見出した。 - 特許庁

To solve the problem that an increase in the state number of a target results in a significant increase in a man-hour or a time for creating a test scenario for verifying the operation of the target because the number of state transition procedures for defining transition between states is increased with an increase in the number of states.例文帳に追加

ターゲットの状態数が多くなると、状態間の遷移を定義する状態遷移手続の数が状態数の増加と共に膨大になってしまい、ターゲットの動作検証のためのテストシナリオを作成する工数や時間が大幅に増大する。 - 特許庁

In the case of starting IP connection service from a service provider to a user home via an ATM network 100, an ATM line simple IP connection testing device 10 is directly connected to an ATM line connected to the user home to execute an IP connection test.例文帳に追加

サービスプロバイダから、ユーザ宅へATM回線網100を介してIP接続サービスを開始するとき、ユーザ宅に導入されているATM回線にATM回線簡易IP接続試験装置10を直接接続し、IP接続試験を実施する。 - 特許庁

To provide a method of preparing electrolytic corrosion test samples from which the declined insulation reliability of glass cloth which is in contact with the through hole of a printed board using a glass epoxy copper-plated laminated plate and the occurrence of copper migration in the glass cloth can be detected when hollow fibers occur in threads of the glass cloth.例文帳に追加

ガラスエポキシ銅張り積層板を使用したプリント板にて、スルーホールと接触するガラスクロスの糸に、ホローファイバーが発生している場合の絶縁信頼性低下および銅マイグレーションを検出可能とする電食試験サンプルの作製方法を提供する。 - 特許庁

An air permeation test can be performed by comparing the reference pressure with an air pressure outputted from the other end of the double filter cigarette C, and a determination circuit 48 determines whether the air permeability of the double filter cigarette C is satisfactory or not based on a differential pressure signal ΔP from a differential pressure sensor 32.例文帳に追加

通気検査は、この基準圧とダブルフィルタシガレットCの他端から出力された空圧とを大小比較して行うことができ、判定回路48では、差圧センサ32からの差圧信号ΔPに基づいてダブルフィルタシガレットCの通気度の良否を判定する。 - 特許庁

A linear ink jet printer 13 and a scanner 14 for scanning a sheet printed by the printer are disposed contiguously to each other along the carrying direction of a sheet 2 so that a test image printed by the printer is rested immediately at a scanning position and scanned.例文帳に追加

用紙2の搬送方向に沿って、ライン状のインクジェット式プリンタ13と、前記プリンタによってプリントされた用紙をスキャンするスキャナ14とを隣接させて配設して、プリンタで印刷されたテスト画像を直ちにスキャン位置に静止させてスキャンするようにした。 - 特許庁

The semiconductor device probing apparatus comprises: a housing configured to define a test chamber; a device holder 70 arranged in the housing and on which at least of one device 62 to be tested is to be loaded; and at least one probe stage 50 arranged in the housing.例文帳に追加

半導体デバイスプロービング装置は、試験チャンバを定めるように構成されたハウジング、ハウジング内に配置され、少なくとも1つの被試験デバイス62を載せるように構成されたデバイスホルダ70及びハウジング内に配置された少なくとも1つのプローブステージ50を備える。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device which is suitable for judging whether an image based on a dark field signal has appropriate atomic number contrast, and also to provide a computer program used for it, and a test piece observation method.例文帳に追加

本発明は、暗視野信号に基づく画像が、適正な原子番号コントラストを備えているか否かを判断するのに好適な荷電粒子線装置、それに用いられるコンピュータプログラム、及び試料観察方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

The NQR testing method which enables the test of a sample having at least one NQR characteristic to be changed together with a given environmental parameter is composed of a method which enables the sample to be excited so as to energize NQR resonance and an NQR response signal to be detected.例文帳に追加

所与の環境パラメータと共に変化する少なくとも1つのNQR特性を有する試料をテストするNQRテスト方法において、試料に励起を与えてNQR共鳴を付勢し、NQR応答信号を検出することからなる方法。 - 特許庁

To provide a program development device and a program development method, capable of suitably executing a test of a program by an emulator even when a current execution process is influenced by another process simultaneously driven in a general computer and to provide a recording medium and a development program.例文帳に追加

汎用コンピュータ上で同時に動作中の他プロセスからの影響を受ける場合においても、エミュレータによるプログラムのテストを適切に行うことが可能なプログラム開発装置およびプログラム開発方法ならびに記録媒体および開発プログラムを提供する。 - 特許庁

This feedback loop from simulation to refining of a test suite based on states of a coverage space not encountered during simulation may be recursively repeated until adequate validation (i.e. an adequate confidence level of validation) of the coverage space is achieved.例文帳に追加

シミュレーション中に遭遇されないカバレッジ空間の状態に基づいた検査スイートの精緻化への、シミュレーションからの前述の帰還ループは、カバレッジ空間の十分な検証(すなわち、検証の十分な信頼度)が達成されるまで再帰的に反復することができる。 - 特許庁

Further, the communication line state management means 321 is provided with a storage means for storing a result to a test command in a communication line storage part 331 for each communication route and a decision means for deciding a communication line to be operated by the storage means.例文帳に追加

更に、通信路状態管理手段321は、通信ルート毎に試験コマンドに対する結果を通信路記憶部331に格納する格納手段と、格納手段により運用すべき通信路を決定する決定手段を有することを特徴とする。 - 特許庁

This waste paper-compounded newsprint paper with water paper pulp is characterized by containing magazine waste paper pulp in an mount of5% and having an average frictional force of ≤3.00N with a metal plate, measured according to a friction test measuring method defined by JIS-P 8147.例文帳に追加

古紙パルプを配合した古紙配合新聞用紙において、雑誌古紙パルプを5%以上含有し、且つJIS−P 8147に規定される摩擦試験測定方法に準拠して測定される金属板との平均動摩擦力が、3.00N以下であるようにする。 - 特許庁

In the method, the number of viable cells is measured by storing a chloride peptone buffer solution with a test drug sample in a storage bag, treating the storage bag at intervals of 5 strokes per second at least for 30 seconds by a stomacher, and measuring the number of viable cells by an automatic viable cell number measuring device thereafter.例文帳に追加

ペプトン食塩緩衝液と被験生薬試料を収納袋に収容し、該収納袋をストマッカーにより1秒間あたり5ストロークの間隔で30秒以上処理をし、その後自動生菌数測定装置で生菌数を測定する方法。 - 特許庁

To provide a rack mounted distribution panel unit which is enables enlargement of the installation space of equipment within an equipment housing rack by housing a distribution panel unit and a receptacle unit in the same cabinet, and which improves workability at the time of carrying out insulation test.例文帳に追加

分電盤ユニットとコンセントユニットを同一筐体内に収納したことにより機器収納用ラック内の取り付けスペースを大きくすることができ、また、絶縁測定を行うの際の作業性を向上するラックマウント型分電盤ユニットを提供する。 - 特許庁

For the purpose, outlines of the test pattern image in picked-up images before and after the enlargement are compared and if there are matching parts, it is judged that the projection area projects from the object object, thereby putting the projection area back to the size before the enlargement.例文帳に追加

従って、拡大の前後の撮像画像内に写ったテストパターン画像の輪郭を比較し、一致する部分がある場合には、投写領域が投写対象物からはみ出したと判断し、投写領域の大きさを拡大前の大きさに戻すようにする。 - 特許庁

In the abnormal test for short-circuiting a terminal T1 of a primary coil L1 and a terminal T5 of a secondary coil L2 in a transformer 10, a limiting resistor R1 for limiting a current flowing in a testing resistor R10 is provided between the secondary coil L2 and the terminal T5.例文帳に追加

トランス10の1次側コイルL1の端子T1と2次側コイルL2の端子T5とを短絡させる異常試験において、試験用抵抗R10に流れる電流を制限するための制限抵抗R1を、2次側コイルL2と、端子T5との間に設ける。 - 特許庁

A plurality of IC chips 2, 3 and 4 including the nonvolatile memory chip 3 are packaged in one package 1 and history information containing the result of the operation test of each of IC chips 2, 3 and 4 is written on the specified region of the nonvolatile memory chip 3.例文帳に追加

不揮発性メモリチップ3を含む複数個のICチップ2、3、4を1つのパッケージ1内に搭載するとともに、不揮発性メモリチップ3の特定領域に、各ICチップ2、3、4の動作テストの結果を含む履歴情報を書き込んだことを特徴とする。 - 特許庁

This vinyl chloride-based resin composition is obtained by adding (b) 5-50 pt.wt. polyester resin having ≤2.0×105 Pa.s resin viscosity measured at 200°C, and 608 sec-1 shearing speed by a capillary flow test to (a) 100 pts.wt. vinyl chloride-based resin.例文帳に追加

(a)塩化ビニル系樹脂100重量部に対し、(b)キャピラリーフローテストにより、温度200℃、剪断速度608sec^-1で測定した樹脂粘度が2.0×10^5Pa・s以下であるポリエステル樹脂5〜50重量部が添加されてなる塩化ビニル系樹脂組成物。 - 特許庁

To provide an antireflection film which does not cause color generation such as interference irregularities, is excellent in resistance to scuffing and excellent in adhesiveness and, in particular, has superior resistance to scuffing and adhesiveness even after a light resistance test, and to provide a polarizing plate and an image display apparatus using the antireflection film.例文帳に追加

本発明の目的は、干渉むらのような色味発生がなく、耐擦傷性や密着性に優れ、特に耐光性試験後も優れた耐擦傷性や密着性を有する反射防止フィルム、これを用いた偏光板、画像表示装置を提供することにある。 - 特許庁

A test script correction part 13 corrects a moving original side screen element and a moving destination side screen element corresponding to a cursor moving operation according to a changed application when the objective application is changed, and instructs the retrieval of a cursor moving procedure to an operation control means 14.例文帳に追加

対象アプリケーションが変更されると、テストスクリプト修正手段13は、カーソル移動操作に対応する移動元画面要素と移動先画面要素を変更アプリケーションに合わせて修正し、カーソル移動手順の探索を操作制御手段14に指示する。 - 特許庁

A heat treatment method irradiates emission light from a Xe flash lamp, which serves as a heat source, to a test sample having an interface of a semiconductor substrate 15 including an insulating film containing oxygen, and Si, while at least part of ultra violet rays in the emission light is removed to carry out heat treatment.例文帳に追加

加熱源となるXeフラッシュランプの放出光を、前記放出光の内の紫外線の少なくとも一部を除去した状態で酸素を含む絶縁膜とSiを含む半導体基体との界面を有する試料に照射して熱処理を行う。 - 特許庁

A headgear 2 is a device worn on a head by a test subject, irradiates a head of a person to be tested with near-infrared light, and measures a hemoglobin amount responding to oxygen consumption by the activity of a brain of the person to be tested listening to a music content as a biological response.例文帳に追加

ヘッドギア2は被験者が頭に装着する機器であり、被験者の頭部に近赤外光を照射し、音楽コンテンツを聴いている被験者の脳が活動することによる酸素消費に反応するヘモグロビン量を生体反応として測定する。 - 特許庁

Article 7 (1) Any person shall not import goods listed in the following (hereinafter referred to as the "import-prohibited article"); however, this shall not apply if the permission of the Minister of Agriculture, Forestry and Fisheries is obtained for use in test and research and for other special purposes provided for in the Ordinance of the Ministry of Agriculture, Forestry and Fisheries: 例文帳に追加

第七条 何人も、次に掲げる物(以下「輸入禁止品」という。)を輸入してはならない。ただし、試験研究の用その他農林水産省令で定める特別の用に供するため農林水産大臣の許可を受けた場合は、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The drive unit 50 is fixed to a body 7 (base housing) in a diagonal region A of a region C, including the test head 9 among four regions A-D demarcated by two cross planes La, Lb as extensions of two cross side planes 9a, 9b.例文帳に追加

駆動ユニット50は、2側平面9a、9bの夫々を延長した2つの交差平面La、Lbによって画定される4領域A〜Dのうち、テストヘッド9を含む領域Cの対角領域Aで本体7(基部筐体)に固定されている。 - 特許庁

An anionic self-crosslinkable polyurethane material has a weight average molecular weight of less than 15,000 g per one mole and has a toughness of at least 20 MPa, as measured according to the toughness test method at a temperature of 25°C, when the material is cured.例文帳に追加

アニオン性の自己架橋可能ポリウレタン材料は、1モル当たり15,000グラム未満の重量平均分子量を有し、硬化する場合に、25℃の温度でのTOUGHNESS TEST METHODに従って少なくとも20MPaの靱性を有する。 - 特許庁

The ending node 2c discriminates, on the basis of the receiving status of the test light, whether or not the conduction in the downstream direction is normal (S9), switches an SW for data input/output if normal (S10), and notifies the starting node 2a of that effect (S11).例文帳に追加

終点ノード2cは、テスト光の受信状況に基づいて下流方向の導通が正常であるか否かを判別し(S9)、導通が正常である場合にSWをデータ入出力用に切り替え(S10)、その旨を始点ノード2aに通知する(S11)。 - 特許庁

Each optimum value required for compost-treating such as an optimum water content of a waste to be treated, an optimum air flow rate and a throwing timing of a new waste to be treated, is determined in advance using test equipment 10 for compost-treating.例文帳に追加

コンポスト化処理実験装置10を用いて被処理廃棄物の試料をコンポスト化処理し、被処理廃棄物の最適含水率、最適通気量、新規の被処理廃棄物の投入タイミング等のコンポスト化処理に必要な各最適値を予め求めておく。 - 特許庁

例文

In this test object, the steel beam 10 is surrounded with the fire-resistant wall 51, a floor sheet 62 provided in an upper part of an upper flange 11 in the steel beam 10, and a fire-resistant coating material 20 for coating an anti-fire-resistant wall side of the steel beam and a lower flange 14 side of the steel beam.例文帳に追加

試験体は、鉄骨梁10を、耐火壁51と、鉄骨梁10の上フランジ11上部へ設けられたフロア板62と、鉄骨梁の反耐火壁側および鉄骨梁の下フランジ14側を被覆する耐火被覆材20とによって囲繞させている。 - 特許庁




  
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日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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