「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(236ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an impact tester capable of reducing the pressure generated in a hydraulic cylinder and a valve and the impact force transmitted to the whole of an apparatus even if a piston is moved at a high speed to be suddenly stopped in order to apply high-speed impact load to a test piece.例文帳に追加

試験片に高速度の衝撃負荷を与えるべくピストンを高速度で移動させて急停止させても、油圧シリンダおよびバルブ内に発生する圧力並びに装置全体に伝わる衝撃力を従来に比して低減させることのできる衝撃試験機を提供する。 - 特許庁

A detector 2b is connected to a serial power connector 24 of an energy storage device 22 disposed in the container to detect a condition change of a test signal derived from the serially connected energy storage device and existence of failure on an insulation layer 27.例文帳に追加

容器内に配置されたエネルギー蓄積装置２２の直列電力接続体２４に対して検出器２ｂが連結され、直列接続エネルギー蓄積装置から導出された試験信号の状態変化を検出し、絶縁層２７における破損箇所の存在を検出する。 - 特許庁

To provide a component testing device and a component conveyance method for arranging flexibly an electronic component even onto a function station whose configuration of arrangement or the like is changed according to a test content or the like, by heightening flexibility of conveyance or arrangement of the electronic component by conveyance hands.例文帳に追加

搬送ハンドによる電子部品の搬送、配置にかかる自由度を高めることにより、試験内容等に応じて配列等の形態が変更される機能ステーションに対しても電子部品を柔軟に配置させることのできる部品試験装置及び部品搬送方法を提供する。 - 特許庁

A resin molding which has an average thickness of 50-1,000 μm and satisfies the V-0 standards and the VTM-0 standards based on the UL94 vertical burning test (UL94V and UL94VTM) is obtained by mixing a metal hydroxide and a silicone compound with a lactic acid-based resin.例文帳に追加

乳酸系樹脂に金属水酸化物およびシリコーン化合物を配合することにより、ＵＬ９４垂直燃焼試験（ＵＬ９４Ｖ、ＵＬ９４ＶＴＭ）に基づくＶ−０規格、ＶＴＭ−０規格を満足する平均厚みが５０〜１０００μｍの樹脂成形物としている。 - 特許庁

Only one side of a sample is abruptly heated and measurements are made in a short time, so that a test can be conducted with accuracy while reducing testing errors resulting from transfer of heat within the sample which will not cause problems in the case of porous ceramics of low heat conductivity which does not allow transmission of radiant heat therethrough.例文帳に追加

試料の片面のみを急激に加熱して、短時間で測定することにより、輻射熱を透過せずまた熱伝導率の小さい多孔質のセラミックスにおいては問題とならない試料内の伝熱に起因する試験誤差を小さくして、試験を精度良く実施できるようにする。 - 特許庁

While seeing the nano water with eyes or touching it with the tip of a finger, thrust pressures of a thumb of the other hand and one of the other fingers are measured, or the strength of an O-ring test is measured.例文帳に追加

本発明は、請求項１で示したナノ水に関し、ナノ水の製作方法及び使い方と活用範囲を示し、及びナノ水を目で視るか又は指先で触りながら、もう一方の手の親指と他のいずれかの指との押圧力を測定、或いはオーリングテストの強弱を測定。 - 特許庁

To enable the replacement of only the deformed part of a support stand for supporting a pipe even if the support stand is deformed and to enhance measuring accuracy to economically perform measurement of high accuracy, in a ball test device for testing a metal pipe by forming a cavity with a constant depth by pressing a sphere to a pipe wall.例文帳に追加

球体を管壁に押圧して一定深さの窪みを作ることにより行うボールテスト装置において、管を支持する支持台が変形しても、その変形部のみを交換することを可能とし、測定精度を高めると共に精度の高い測定を経済的に行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide a circuit with a control function in which a circuit to be controlled operates only when a predetermined environment meets a specific condition, and which is capable of testing whether or not the circuit with a control function operates normally under any predetermined environment, and to provide a test method thereof.例文帳に追加

所定環境が特定条件を満たす場合に限り被制御回路が作動する制御機能付き回路であって、いずれの所定環境下でも、当該制御機能付き回路が正常に作動するか否かを検査できる制御機能付き回路、及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

The lower chuck 5 is fitted with a shielding plate 10, whereby the current of air flows upward to by-pass the outside of the shielding plate 10, and goes to the outside through the upper gap 13 without directly touching a temperature measuring parts of a test piece 7 and a thermocouple 9.例文帳に追加

下チャック５には遮蔽板１０が取付けられているので、空気の流れは、矢印Ｆのように遮蔽板１０の外側を迂回するように上方へ流れ、試験片７および熱電対９の温度測定部に直接触れることなく上すきま１３から外部へ出て行く。 - 特許庁

To make only a nozzle head having a defective nozzle perform a suction recovery action by printing a test pattern even for a droplet discharge head whose nozzle pitch is unequal.例文帳に追加

ノズルピッチが不等ピッチである液滴吐出ヘッドであっても、テストパターンを印刷することにより、不良ノズルを有するノズルヘッドだけを吸引回復動作できるようにした液滴吐出装置におけるテストパターン印刷方法とメンテナンス方法及び液滴吐出装置の提供を課題とする。 - 特許庁

To make a crack hard to occur in solder balls arranged at four corners below a semiconductor substrate even if a temperature cycle test is conducted in a mounting method of a semiconductor device for mounting the semiconductor device having a plurality of the solder balls arranged in a matrix shape below the semiconductor substrate on a circuit board.例文帳に追加

半導体基板下にマトリクス状に配置された複数の半田ボールを有する半導体装置を回路基板上に実装する半導体装置の実装方法において、温度サイクル試験を行なっても、半導体基板下の４隅に配置された半田ボールにクラックが発生しにくいようにする。 - 特許庁

The leased line terminating device on the control side and that on the controlled side individually detect whether a leased line is faulty or not during the remote loop back test and are individually restored to the normal state from the remote loop state at the time of occurrence of a fault of the leased line.例文帳に追加

リモート・ループバック試験を行っている間、制御側の専用回線終端装置及び被制御側の専用終端装置が個別に専用回線の障害の有無を検出し、専用回生の障害が生じたときには、個別にリモート・ループ中の状態から通常状態に復帰する。 - 特許庁

An offset is applied to a focal position on a semiconductor device 28 by changing the diameter of an electron beam irradiated to the semiconductor device 28 by the operation of an objective lens 11 or regulating the height of alternatively the objective lens 11 or a test piece 14 in response to the unevenness generated in the case of processing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を加工する際に生じた凹凸に応じて、対物レンズ11の作用により半導体装置28へ照射する電子線の径を変える、あるいは対物レンズ11や試料台14の高さを調整することで半導体装置28上の焦点位置にオフセットをかける。 - 特許庁

When a CPU outputs a test mode signal to a flash memory 15 and reads out data, only an source of a memory cell transistor 16 belonging to a word column selected by a row decoder 17 is connected to ground by a switch array 21, the other sources are connected to a power source VDR.例文帳に追加

ＣＰＵが、フラッシュメモリ１５に対して検査モード信号を出力しデータの読出しを行う場合に、行デコーダ１７で選択されたワード列に属するメモリセルトランジスタ１６のソースだけをスイッチアレイ２１によってグランドに接続し、その他のソースを電源ＶDRに接続する。 - 特許庁

This leakage display device 1 consisting of a leakage display button 4 and a spring 5 is fit and guide-supported in the vertical direction between an electromagnetic device 7 for activating the switching mechanism when electric leakage occurs and a microswitch 8 for opening and closing a earth leakage test circuit linking with opening and closing of the switching mechanism.例文帳に追加

漏電発生時に開閉機構を作動させるための電磁石装置７と、開閉機構の開閉に連動して漏電テスト回路を開閉するためのマイクロスイッチ８との間に漏電表示ボタン４とバネ５から成る漏電表示装置１を嵌めて上下方向に案内支持する。 - 特許庁

Then, the mounting test evaluation device 1 can properly discriminate whether the integrated circuit 17 and the plurality of the signal lines 2-1 to 2-n are connected or not when the integrated circuit 17 is provided with prescribed electrostatic protection circuits 32-1 to 32-m.例文帳に追加

このとき、本発明による実装試験評価装置１は、集積回路１７が所定の静電保護回路３２−１〜３２−ｍを備えているときに、集積回路１７と複数の信号線２−１〜２−ｎとが接続されているかどうかをより適切に判別することができる。 - 特許庁

Also, a hard coat film having a blushing angle of 30° or higher in a bending test using a mandrel of 2 mm diameter is obtained by laminating the hard coat layer having a Martens hardness of 350 N/mm^2 or higher on a resin substrate film having a Martens hardness of 90 N/mm^2 or higher.例文帳に追加

また、マルテンス硬度が９０Ｎ／ｍｍ^2以上である樹脂基材フィルム上に、マルテンス硬度が３５０Ｎ／ｍｍ^2以上であるハードコート層を積層し、直径２ｍｍのマンドレルを用いた折り曲げ試験における白化角度が３０°以上であるハードコートフィルムとする。 - 特許庁

The waste liquid, containing the metallic elements discharged from a reaction vessel 18 and dissolved from a specimen, is treated by supplying supercritical water or subcritical water of the predetermined temperature and pressure including the reagent, to the reaction vessel 18 for storing the test specimen containing the metallic elements.例文帳に追加

金属元素を含む試験片が収容された反応容器１８に、試薬を含む所定の温度及び圧力の超臨界水又は亜臨界水を供給し、この反応容器１８から排出されかつ試験片から溶解した金属元素を含む廃液を処理する。 - 特許庁

To provide a method and a system for leak inspection which enable leak inspection with high accuracy, in a short time and by the simple system, by reducing the effect of compression heat generated on the occasion when the leak inspection is performed under test pressure higher than atmospheric pressure.例文帳に追加

大気圧より高いテスト圧力の下で漏れ検査を行う際に発生する圧縮熱の影響を低減することにより、精度が高く、短時間で、簡単な装置により漏れ検査が行えるリーク検査方法およびリーク検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a testing method thereof wherein complexity in configuration for testing can be reduced, in a circuit to be tested corresponding to a signal terminal in which inter-chip wiring is formed, and a test equivalent to the case of testing a single semiconductor chip can be performed.例文帳に追加

チップ間配線がなされた信号端子に対応するテスト対象回路について、テストを行うための構成が複雑化することを抑制しつつ、半導体チップ単体の場合と同等のテストを行うことができる半導体装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

IDDQ measured values of the semiconductor integrated circuit with respect to those test patterns are input to an IDDQ quantization section 23, and the quantization section quantizes an input IDDQ measurement value to 1 when the input value is larger than a predetermined threshold, and to 0 in cases other than that, and outputs those values.例文帳に追加

ＩＤＤＱ量子化部２３は、それらのテストパタンに対する半導体集積回路のＩＤＤＱ測定値を入力し、入力したＩＤＤＱ測定値が所定の閾値よりも大きい場合には１に、それ以外の場合には０に量子化して出力する。 - 特許庁

A voting operation analyzing device 2 receives the test voting operation time data of each terminal device from the ground stations, decides nontransmission time ts estimated to be needed until all of the terminal devices complete voting operation when real voting is performed on the basis of the data and sets the nontransmission time ts in the ground stations.例文帳に追加

そして投票動作解析装置２が地上局から各端末装置のテスト投票動作時間データを受け取り、これに基づいて、本番投票時に全端末装置が投票操作を完了するまでに要すると見込まれる無送信時間tsを決定し、地上局に設定する。 - 特許庁

The test mode decision circuit 40 makes the first sense amplifier signal SAP inactive during the period of data writing in the word line batch write operation mode, and a P channel type MOS transistor Qp4 as the transistor for power supply to the sense amplifier is made to be in an inactive state.例文帳に追加

テストモード判定回路４０は、ワード線一括書き込み動作モード時におけるデータ書き込み期間に第１のセンスアンプ起動信号ＳＡＰを非活性とすることにより、センスアンプへの電源供給用トランジスタであるＰチャネル型ＭＯＳトランジスタＱｐ４が非活性状態にされる。 - 特許庁

At the time of a gradation selection operation, different potentials IN, INb are inputted in each of the input lines 131, 132, different potentials are outputted from the output lines 142, 141 and at the time of the stress test, the same potential is outputted from both of the output lines 142, 141.例文帳に追加

階調選択動作時には、入力ライン１３１，１３２のそれぞれに異なる電位ＩＮ，ＩＮｂが入力され、出力ライン１４２，１４１から異なる電位が出力され、ストレステスト時には、出力ライン１４２，１４１の両方から同じ電位が出力される。 - 特許庁

This method includes a step to read out the DMA information to be generated or updated and a step to confirm the generated or updated DMA information read out by means of the reference DMA information that is previously decided for the test mode and then to supply the result of confirmation.例文帳に追加

この方法は、生成または更新されるＤＭＡ情報を読み出す段階と、テストモードのために予め定まった基準ＤＭＡ情報を用いて読み出された生成または更新されたＤＭＡ情報を確認し、確認の結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

The spinning dope having ≥10 wt.% and <20 wt.% polymer concentration is spun by the forming spinneret 1 to produce a cellulose acetate fibril having ≥10 m2/g specific surface area, ≥200 ml freeness and ≤10 wt.% of 150 mesh passing material by a screening test.例文帳に追加

前記賦形口金(1) により重合体濃度が10重量％以上20重量％未満である紡糸原液を紡糸することにより、比表面積が10m^2/g以上、濾水度が200ml以上、及び篩い分け試験による 150メッシュ通過分が10重量％以下であるセルロースアセテートフィブリルを製造できる。 - 特許庁

To provide an electrode which has an excellent safety that can steadily clear the 150°C heating test as defined in UL 1642 Regulation and which is capable of forming an electrochemical element having little generation of hydrofluoric acid even in the case of calcination at disposal, and an electrochemical element using this electrode.例文帳に追加

ＵＬ１６４２規定の１５０℃加熱試験を確実にクリアすることのできる優れた安全性を有し、廃棄時に焼却された場合であってもフッ酸の発生量が少ない電気化学素子を形成することが可能な電極及びそれを用いた電気化学素子を提供すること。 - 特許庁

In this semiconductor tester, a manipulator 4 supporting a performance board 5 and a test head 2 is capable of independently moving rectilinearly in the horizontal forward and backward direction (the X-axis direction), horizontal left and right direction (the Y-axis direction), and vertical up and down direction (the Z-axis direction).例文帳に追加

パフォーマンスボード5及びテストヘッド2を支持するマニピュレータ4を、水平前後方向(X軸方向)及び水平左右方向(Y軸方向)ならびに垂直上下方向(Z軸方向)に、それぞれ独立して直線的に移動可能に形成して半導体試験装置を構成した。 - 特許庁

To precisely conduct measurement of an analog device, by using not only a periphery of a test board but also a central part which is conventionally a hole part, as a mounting area for wafer measuring components, in a wafer measuring board for constituting a wafer testing system together with a prober and a tester.例文帳に追加

プローバ，テスタと共にウエハテストシステムを構成するウエハ測定用ボードにおいて、テストボードの周辺だけでなく、従来穴部であった中央部をもウエハ測定用部品類の実装エリアとして使用できるようにして、アナログ系デバイスの測定をより精度よく行うこと。 - 特許庁

A VCAT transmission apparatus 10 copies a test signal of a pseudo-random bit sequence, performs control so as to insert the same PRBS signal to each member of a VCAT signal, and transmits each member of the VCAT signal to which the PRBS signal is inserted to an opposing apparatus via a plurality of transmission paths.例文帳に追加

ＶＣＡＴ伝送装置１０は、擬似ランダムビット系列のテスト信号をコピーし、ＶＣＡＴ信号のメンバにそれぞれ同一のＰＲＢＳ信号を挿入するように制御し、ＰＲＢＳ信号が挿入されたＶＣＡＴ信号の各メンバを複数の伝送路で対向装置に送信する。 - 特許庁

The print management device compares the received image data with original data of the test pattern image stored in a print execution database 34 to determine whether print is abnormal or not and outputs maintenance data corresponding to the determination result to competent management servers 40 for managing execution of maintenance of corresponding printers.例文帳に追加

そして、受信した画像データと印刷実行データベース３４に記憶しているテストパターン画像の元データとを比較して印刷異常の有無を判定し、その判定結果に対応するメンテナンスデータを、対応する印刷装置のメンテナンスの実行を管理する管轄管理サーバ４０に出力する。 - 特許庁

When observing the shift frequency characteristics of a test article (FS receiver) 100, the program control part 2 performs control so that the demodulation output level of the FS receiver is measured and displayed on the display part 4 while changing the frequency shift amount of an FS signal outputted from the synthesizer part 5.例文帳に追加

試験品（ＦＳ受信機）１００の偏移周波数特性をみるときは、シンセサイザ部５から出力されるＦＳ信号の周波数偏移量を変化させながらＦＳ受信機の復調出力レベルを測定して表示部４へ表示するようにプログラム制御部２が制御する。 - 特許庁

The spacing A between a differential gearbox part 4a of the vehicle body 4 and a vehicle raising part 6 is set to be no more than half a value B, obtained by subtracting the radius of a wheel part 3a from the radius of the tire part 3b of the driving wheel 3 of the test vehicle through the operation of a raising button switch 13 or a lowering button switch 14.例文帳に追加

押上ボタンスイッチ１３又は押下ボタンスイッチ１４の操作により車体４のデファレンシャルギヤボックス部４ａと車体押上部６との間隔Ａを、試験車両の駆動輪３のタイヤ部３ｂの半径からホイル部３ａの半径を減算した値Ｂの半分以下とした。 - 特許庁

The measurement apparatus 2 for performing an operating test of a wireless apparatus 10 has a storage means 21 for storing its own recognition information (manufacturing number) acquired externally, and is provided with a plurality of shield boxes 7 capable of opened/closed to shield wireless apparatuses 10 against an external electromagnetic wave and contain them.例文帳に追加

無線機器１０の動作試験をする測定装置２において、外部から取得可能な自身の認識情報（製造番号）が記憶された記憶手段２１を有し、無線機器１０を外部の電磁波からシールドして収納するように開閉可能とされた複数のシールドボックス７を備える。 - 特許庁

A print management device 30 periodically reads data of the number of prints or the like from printers 50a and 50b and instructs print of a test pattern image to printers a prescribed period or longer after the latest day when print execution of the text pattern is instructed.例文帳に追加

印刷管理装置３０は、印刷枚数などのデータを定期的に印刷装置５０ａ，５０ｂから読み込み、テストパターン画像の印刷実行を指示した最新の日から所定期間以上経過したときなどに、該当する印刷装置に対してテストパターン画像の印刷の指示を行なう。 - 特許庁

In the IC test data output system 1, a data processing means 10 receives IC inspection data in a batch from a memory IC, and the data is processed into data complying with respective output formats on the basis of respective programs matching the various output formats in an output device 30.例文帳に追加

ＩＣ試験データ出力システム１は、メモリＩＣのＩＣ試験データをデータ加工手段１０が一括して受け取り、出力装置３０における種々の出力形式に対応した各プログラムに基づいて、当該データを各出力形式に応じたデータに加工する。 - 特許庁

To create printing image data for a reproduction test that precisely reproduces printing data during a fault on an image processing apparatus even when no printing data can be provided by a client in connection to a fault whose cause is hard to determine only from recorded log information.例文帳に追加

画像処理装置において、記録されたログ情報のみからでは原因の特定が困難な障害について、顧客から印刷データの提供を受けられない場合においても、障害発生時の印刷データを的確に再現した再現テスト用の印刷画像データを作成することを課題とする。 - 特許庁

The multi-layered printed wiring board (1) is formed by laminating an internal layer circuit board (4) between two outermost layer copper foils across prepregs in one body, the multi-layered printed wiring board having a closed circuit as a test pattern (6) outside a circuit formation region (5) of the inner circuit board (4).例文帳に追加

二枚の最外層銅箔の間に、プリプレグを介して内層回路基板（4）が積層一体化されてなる多層プリント配線板（1）であって、内層回路基板（4）の回路形成領域（5）外に、テストパターン（6）としての閉回路を有することを特徴とする多層プリント配線板とする。 - 特許庁

Preferably, at least one of (a) the collapse and deformation conditions of the granules and (b) the sticking conditions among the granules is evaluated, and, if required, (c) the separating conditions among the granules, when using the granules as-discharged from the vessel for a drop test, are further evaluated.例文帳に追加

好ましくは、（a）造粒物の崩れ・変形状況、（b）造粒物どうしの付着状況、のうちの少なくとも１つを評価し、必要に応じてさらに、（c）容器から取り出したままの造粒物を落下試験に供した際の造粒物どうしの分離状況、を評価する。 - 特許庁

A test pattern is recorded in a continuous recording medium by a first image recording part 7 and a second image recording part 8 in at least one period out of a period of acceleration until the conveyance speed of the continuous recording medium reaches the fixed speed and a period of deceleration for the stop of conveyance.例文帳に追加

連続記録媒体の搬送速度が一定の速度に到達するまで加速している間若しくは搬送を停止するために減速している間の少なくとも一方の期間において、テストパターンを第１画像記録部７と第２画像記録部８によって連続記録媒体に記録する。 - 特許庁

There is provided a curable composition comprising (A) an organic polymer having an reactive silicon group, (B) a curing catalyst and (C) a filler and having a 100% modulus of ≤0.4 MPa based on the H-type tension test defined in JIS A1439 and giving cured products having ≥80% gel fraction.例文帳に追加

（Ａ）反応性ケイ素基を含有する有機重合体、（Ｂ）硬化触媒、（Ｃ）充填材、からなり、ＪＩＳ Ａ１４３９に規定のＨ型引張試験での１００％モジュラスが０．４ＭＰａ以下で、かつ硬化物のゲル分率が８０％以上である硬化性組成物により上記課題を解決できる。 - 特許庁

The inkjet recording apparatus includes an upstream-side conveyor arranged on a conveyance upstream side of a recording head and a downstream-side conveyor arranged on a conveyance downstream side thereof, and determines, by recording a test pattern on a sheet, a conveyance correction amount when conveyance is performed only by the downstream-side conveyance part.例文帳に追加

記録ヘッドの搬送上流側に配された上流側搬送手段と搬送下流側に配された下流側搬送手段とを備え、シートにテストパターンを記録することによって下流側搬送手段のみで搬送を行うときの搬送補正量を求めるインクジェット記録装置である。 - 特許庁

To provide a resin film with an adhesive, which is imparted with antistatic properties, does not cause exfoliation even in a test under a severe environment assuming a use in vehicle mounting or the like when adhering to glass, and has an adhesive layer excellent in durability on the surface of the resin film.例文帳に追加

帯電防止性が付与されるとともに、ガラスに貼合したときに車載用途などを想定した過酷な環境下での試験においても剥れを生じず、耐久性に優れる粘着剤層を樹脂フィルムの表面に設けた粘着剤付き樹脂フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide an LED light source which is suitable as a replacement or substitution light source such as an incandescent lamp, a halogen lamp, and an HID lamp which are used as the light source of a vehicular lighting fixture, an optical device such as a projector, an industrial apparatus such as a test device, and a semiconductor manufacturing device or the like.例文帳に追加

車両用灯具や、プロジェクター等の光学装置、検査装置・半導体製造装置等の産業用機器等の光源として使用される、白熱電球、ハロゲン電球及びＨＩＤランプ等の交換用又は代替用光源として好適なＬＥＤ光源を提供する。 - 特許庁

To solve the problem that a recording medium formed of a normally used paper or the like does not guarantee a quality because the recording medium expands and contracts after recording a test pattern and an obtained medium conveyance amount error value is lowered in accuracy if the physical length or area of the medium expands and contracts due to moisture or the like.例文帳に追加

通常使用される紙等からなる記録媒体は、湿気等によって物理的長さ或いは面積が伸縮した場合には、テストパターンを記録した後に記録媒体が伸縮し、求めた媒体搬送量誤差値の精度が低くなり品質を保障しない。 - 特許庁