「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(238ページ目) - Weblio英語例文検索

This computer-to-plate lithographic printing plate material includes a lithographic printing aluminum support with the tensile force and yield strength in a tensile test (the tensile speed of which is 2 mm/min) of 16.5-18.5 kg/mm^2 respectively, and a light-sensitive layer overlying the lithographic printing aluminum support.例文帳に追加

引張試験（引張速度：２ｍｍ／分）における抗張力および耐力が、それぞれ１６．５〜１８．５ｋｇ／ｍｍ^２である、平版印刷用アルミニウム支持体、およびこの平版印刷用アルミニウム支持体の上に設けられた感光層、を有する、ＣＴＰ用平版印刷版材。 - 特許庁

An initial population is produced by specifying a plurality of loci of reference markers, specifying the site of at least one test gene locus corresponding the postulated gene locus having mutation which may cause a specific disease, and thereby specifying a gene locus.例文帳に追加

複数の参照マーカーの座並びに変異がある特定の疾患を惹起しているかもしれない遺伝子座であると仮定されるものに相当する少なくとも１つの検査遺伝子座の部位を特定することにより、遺伝子座を特定して、初期集団をもつことである。 - 特許庁

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.例文帳に追加

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁

In the dynamic circuit of the input portion 11 of the flip-flop circuit having the constitution with the scan, the number of serial connection stages of a MOS transistor applied with an input of a data signal D is set less than the number of the serial connection stages of the MOS transistor applied with a test input signal SI.例文帳に追加

スキャン付き構成を有するフリップフロップ回路の入力部１１のダイナミック回路において、データ信号Ｄの入力が加わるＭＯＳトランジスタの直列接続段数を、テスト入力信号ＳＩが加わるＭＯＳトランジスタの直列接続段数よりも少なく設定する。 - 特許庁

During the test operation of an integrated circuit 10, TIN2, 3 and TOUT2, 3 are not used, TIN1 is connected to IN1 and the input D of an FF circuit 13, and the outputs Q of the FF circuits 13, 14 are connected to TIN2, 3 via selecting circuits 15, 16.例文帳に追加

集積回路は、テスト回路と論理回路で構成されており、テスト動作時には、ＣＬＫを停止させＴＩＮ１からＩＮ３、ＩＮ２の入力データの順にシリアルに入力されたデータを、フリップフロップ回路１３，１４によりパラレルに変換しＩＮ３、２の入力に供給する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which enables a flip chip connection without the need for an underfill resin and the blow-out of a fuse is enabled based on the test result of electrical characteristics in a WLCSP including a stress relief layer, and moreover, the sealing of the upper part of the fuse can flexibley be dealt with.例文帳に追加

アンダーフィルの不要なフリップチップ接続を可能にするとともに、応力緩和層を設けるＷＬＣＳＰにおいて、電気的特性の検査結果をもとにヒューズの切断を可能にし、このヒューズの上部の封止に柔軟に対応することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a steel high pressure container which does not show an abnormal value in a pressure test after use as long as a steel material is sound, without producing red rust in long-time use, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

鋼製高圧容器にかかる上記問題を解決すること、具体的には、長期間の使用期間に亘って赤錆を発生することなく、かつ、使用後の耐圧試験において鋼材が健全である限り、異常値を示さない鋼製高圧容器及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

A method for specifically detecting the analyte is provided, which employs the test chip 4, includes: the working electrode 21 equipped with a conductive layer 32 and an electron acceptor layer 33; a probe 34 fixed on the electron acceptor layer 33; the counter electrode 24; and the reducing electrode 26.例文帳に追加

本発明の被検物質の特異的検出方法は、導電層３２および電子受容層３３を備えている作用電極２１と、電子受容層３３上に固定されたプローブ３４と、対極２４と、還元電極２６と、を備えている検査チップ４を使用する。 - 特許庁

In order to execute the quickest preliminary exhaust, the detection of the largest quantity of leak, the compensation of the largest quantity of gas leak, and the adaptation of the sensitivity of the device prior to a test, and also in order to suppress the background noise of helium caused from the primary pump 6, the rotating speed change of the primary pump 6 is used.例文帳に追加

テスト前に、もっと速い予備排気を実行する、もっと大量の漏れを検出する、大量のガス抜けを補償する、又は装置の感度を適合させるために、及び一次ポンプ（６）から生じるヘリウムの背景雑音を抑えるために、一次ポンプ（６）の回転速度変化が使用される。 - 特許庁

Under control of a controller 121, trial write is performed with a uniform recording power obtained by making a minimum recording power Pmin into a prescribed multiple with a recording area of a magneto-optical disk 101 as a Curie temperature in an area within one round of a test track provided on a magnetic domain wall movable magneto-optical disk 101.例文帳に追加

コントローラ１２１の制御の下で、磁壁移動型の光磁気ディスク１０１に設けられたテストトラックの一周以内の領域に、光磁気ディスク１０１の記録層をキューリ温度とする最小の記録パワーＰｍｉｎを所定倍して得られる均一な記録パワーで、試し書きを行う。 - 特許庁

Passages 431, 432 where the light and the reflected light pass are formed in the holder 43, and an optically transparent member 45 is installed on the tip part (part facing to the test paper) of the holder 43 so as to seal the passages 431, 432 through an O-ring (sealing member) 46.例文帳に追加

ホルダー４３には、前記光および前記反射光が通過する通路４３１、４３２が形成され、ホルダー４３先端部（試験紙に臨む部分）には、光透過性部材４５がＯリング（シール部材）４６を介して通路４３１、４３２を密閉するよう設置されている。 - 特許庁

At conservation inspection, variation of the facility state after the adjustment work of the electric switching machine is evaluated by setting set of measurement data D_4-D_6 immediately after the adjustment work to the reference group G_r and setting set of measurement data D_N-2-D_N after completion of the adjustment work to the test group G_t.例文帳に追加

保全検査時には、調整作業直後の測定データＤ_4，…，Ｄ_6の集合を基準グループＧ_rに設定し、調整作業終了後の測定データＤ_N-2，…，Ｄ_Nの集合を試験グループＧ_tに設定して電気転てつ機の調整作業後の設備状態の変化が評価される。 - 特許庁

In this fire alarm, a battery 13, a sensor part which detects fire, an alarm part which raises an alarm when the fire is detected by the sensor part and a test part which confirms an operation of the alarm part are provided inside a main body 1 in the shape of a flat box, equipped with a locking part 4 for wall hanging on its upper end.例文帳に追加

火災警報器は、壁掛け用の係止部４を上端に備えた扁平箱型の本体１の内部に、バッテリー１３と、火災を検出するセンサ部と、センサ部で火災を検出した際に警報を発する警報部と、警報部の動作を確認する試験部とを設ける。 - 特許庁

This culture unit is so designed as to have an elastic porous form 2 carrying a culture medium, a case 1 holding the porous form 2 inside, and an openable opening on part of the case 1 so as to charge or discharge via the opening a sample or culture medium to be subjected to the test for the presence/absence of microorganisms.例文帳に追加

培地を担持する弾力性を有する多孔体および前記多孔体を内部に保持するケースを具備し、前記ケースの一部に開閉可能な開口部を有し、この開口部から微生物の有無の検査に供される試料または培地を出し入れするように構成された培養装置。 - 特許庁

These impervious sheets 1 and 1 are superposed 50 mm on each other and while the superposed parts 2 and 2 are sandwiched from end edges by a heat ray welding machine having two hot wedges and are thermally fused by a not iron and hot air, the thermal fusing is progressed to form the adhered parts 3 and 3 of a width 15 mm and a test channel 4.例文帳に追加

それら遮水シート１，１を互いに５０mm重ね合わせ、２本のホットウェッジを有する熱鏝溶接機（図示せず）で重ね合わせ部分２，２を端縁から挟み込み、熱鏝と熱風とでそれらを熱融着させながら進行させ、幅１５mmの接着部３，３とテストチャンネル４とを形成する。 - 特許庁

The means 3a executes a test about the electric characteristic and other characteristics of a subscriber line between the network terminating device specified by the means 3a and itself when the means 3b detects that the network terminating device is not in the middle of communication.例文帳に追加

試験手段３ｃは、通信中検出手段３ｂによって通信中でないことが検出された場合には、対象特定手段３ａによって特定された網終端装置との間の加入者線の電気的特性その他の特性についての試験を実行する。 - 特許庁

To provide an optical disk drive and its control method in which a laser diode is controlled stably without affecting to other data by recording a test pattern in at least one region out of a run-in area and a run-out area of a recording unit block and detecting the characteristics of the laser diode.例文帳に追加

記録単位ブロックのラン−イン領域とラン−アウト領域のうち少なくとも一つにテストパターンを記録し、レーザーダイオードの特性を検出することで、他のデータに影響を及ぼすことなく、レーザーダイオードを安定的に制御する光ディスクドライブ及びその制御方法を提供する。 - 特許庁

In the verification of the logical operation of the information processor, the verification of the logical operation is realized with high accuracy, by generating more transaction competitive patterns by making an I/O emulator work together with a test program, and also by automatically preparing input data to the I/O emulator.例文帳に追加

情報処理装置の論理動作の検証において、Ｉ／Ｏエミュレータとテストプログラムを連動させ、且つＩ／Ｏエミュレータへの入力データは自動で作成することで、より多くのトランザクション競合パターンを発生させることにより、論理動作の検証を高精度に実現する。 - 特許庁

To provide a metal powder-filled welding wire in which filled flux is made of metal powder and/or alloy powder and which enables weld metal to have an absorbed energy at 0°C of 70 J or higher in 2 mm V notch Charpy impact test, in non-consumable nozzle type electroslag welding.例文帳に追加

非消耗ノズル式エレクトロスラグ溶接において、溶接金属の２ｍｍＶノッチシャルピー衝撃試験の０℃における吸収エネルギーが７０Ｊ以上となる、充填フラックスが金属粉および／または合金粉からなるメタル粉入り溶接ワイヤを得ることを課題とする。 - 特許庁

A test result of the relationship of relative revolutions and the dragging torque demonstrates that the dragging torque reduction effect is larger over a wide range of relative revolutions (500 to 3,000 rpm) as compared with a segment type friction material (having no oil grooves on the core metal) related to a prior art.例文帳に追加

従来例に係るセグメントタイプ摩擦材（芯金に油溝が設けられていないもの）と比較して、相対回転数と引き摺りトルクの関係を試験した結果、広い相対回転数の範囲（５００ｒｐｍ〜３０００ｒｐｍ）に亘って、引き摺りトルクの低減効果が大きいことが実証された。 - 特許庁

To provide a cup conveying device for a cup-type vending machine capable of avoiding the collision of a cup holder at a side of a vending machine body with a commodity outlet port at a side of a main door and preventing the breakage thereof securely when the main door is closed after performing test marketing.例文帳に追加

テスト販売の実行後、メインドアが閉鎖される際に、販売機本体側のカップホルダと、メインドア側の商品取出口部とが衝突するのを回避でき、それらの破損を確実に防止することができるカップ式自動販売機のカップ搬送装置を提供する。 - 特許庁

To prevent a pallet from rising up to the upper side of an installation plate and continuously transfer the pallet where a test tray or a customer tray is placed by improving the transfer method of the pallet in a module IC handler for testing a module IC.例文帳に追加

本発明は、モジュールＩＣをテストするモジュールＩＣハンドラーに関するもので、パレットの移送方法を改善して、設置板の上側にパレットが上昇しないようにして、なお、テストトレイ又はカストマトレイが載置されるパレットの移送が連続的に行われるようにしたものである。 - 特許庁

In this method, higher fatty acid or its derivative contained in the bacteria cell wall skeleton component (bacteria-CWS) is analyzed to evaluate quality of both pharmaceutical composition containing the bacteria-CWS as an active component and its manufacturing intermediate, test its potency, and then identify the active component.例文帳に追加

細菌の細胞壁骨格成分（細菌−CWS）に含まれる高級脂肪酸またはその誘導体を分析することによって、細菌−CWSを有効成分として含有する医薬組成物およびその製造中間体の品質を評価し、力価を検定し、有効成分を同定する。 - 特許庁

The operational amplifier is connected to the reference voltage circuit to provide a predetermined fraction of a reference voltage substantially equal to the test voltage applied to the first line, and has an output terminal configured for one of a connected or disconnected state to the first line.例文帳に追加

オペレーショナルアンプは、第１ラインに印加される試験電圧とほぼ等しい参照電圧の所定の一部分を供給するために、参照電圧回路に接続され、第１ラインに対して接続状態または切断状態のいずれかに設定される出力端子を有する。 - 特許庁

The detection electrode reaction layer 51 has a function oxidizing CO and/or H2 in a test gas and is disposed with plural detection electrode reaction layer units 511 mainly composed of a catalyst promoting oxidization of CO and/or H2 apart from each other.例文帳に追加

検出極反応層５１は、被験ガス中のＣＯおよび／またはＨ_2を酸化する機能を有するものであり、主としてＣＯおよび／またはＨ_2の酸化を促進する触媒で構成される複数の検出極反応層単位５１１が間隙を介して配設してなることを特徴とする。 - 特許庁

This IC test device for testing an object to be tested is provided with a plurality of pin electronics cards for giving and receiving signals to and from the tested object, and a daisy chain signal conductor for daisy-chain connecting between the pin electronics cards, thereby performing data transmission.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するＩＣ試験装置において、被試験対象と信号の授受を行う複数のピンエレクトロニクスカードと、このピンエレクトロニクスカード間をディジチェーン接続するディジチェーン信号線とを設け、データ伝送を行うことを特徴とするものである。 - 特許庁

In the optical writing printer printing image information by performing area halftoning and time halftoning, visibility is enhanced in toner save mode at the time of test print, for example, by performing time halftoning with higher resolution.例文帳に追加

本発明は面積階調と時間階調を行い、画像情報を印刷する光書き込みプリンタであり、時間階調についてより高分解能で階調処理を行うことによって、試し印刷等のトナーセーブモードにおいて、より視認性のよい光書き込みプリンタを提供するものである。 - 特許庁

To provide a telegram message recording apparatus capable of executing a reproduction test of occurrence of a failure by performing retransmission in the same timing as actual distribution intervals, performing high speed retransmission at short telegram message intervals for a part which is not required to be faithfully reproduced to efficiently perform simulation.例文帳に追加

実際の配信間隔と同じタイミングで再送を行って、障害発生の再現テストを実施できると共に、忠実に再現する必要がない部分については短い電文間隔で高速再送して、効率的にシミュレーションを行うことができる電文収録装置を提供する。 - 特許庁

The urine testing paper test bar for testing human urine, is made by print-applying an ink composition containing a urine testing indicator to a part of the surface of paper bar formed by threading a piece of paper with water solubility or water dispersibility.例文帳に追加

人間の尿を検査するための尿検査紙製試験棒であって、水溶解性乃至は水分散性の紙を撚ってなる紙製棒状体の表面の一部に尿検査用指示薬を含有するインク組成物を印刷により塗布したことを特徴とする尿検査紙製試験棒。 - 特許庁

Alternatively, the stimulation of a T cell is therapeutically useful because this method stimulates the antitumor response in the test object, stimulates the response to the pathogen or to vaccination and enhancing the immune response to the antigen.例文帳に追加

別法として、本発明方法にしたがったＴ細胞応答の刺激は、被検体における抗腫瘍応答を刺激すること、病原体あるいはワクチン化に対する応答を刺激することなどの抗原に対する免疫応答を強化することにおいて治療上有用である。 - 特許庁

Article 21-15 (1) A person who intends to undergo a test or lot inspection conducted by the Minister of Internal Affairs and Communications pursuant to the provision of Article 21-11, paragraph (1) shall, as provided for by Cabinet Order, pay the amount of fees which is specified by Cabinet Order in consideration of the actual costs. 例文帳に追加

第二十一条の十五　第二十一条の十一第一項の規定により総務大臣の行う試験又は個別検定を受けようとする者は、政令で定めるところにより、実費を勘案して政令で定める額の手数料を納付しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The memory tester provided with an ALPG 2 which generates a test pattern for digital signals based on vector data VD is enabled to verify the function of a DUT 100a having an A/D-converting function by adding a D/A converter 4 to the inside or outside of the tester.例文帳に追加

デジタル信号のテストパターンをベクタデータＶＤに基づいて発生させるＡＬＰＧ２を備えるメモリテスタの構成に、テスタ内蔵の、または、テスタ外部に設けられたＤＡ変換器４を追加して、ＡＤ変換機能を有するＤＵＴ１００ａの機能の検証を行えるようにする。 - 特許庁

Then, the developer image as a test pattern is formed on the transfer member by carrying out an image forming action transferring the developer image by applying the transfer bias set to the "ghost occurrence level" with a transporting member for transporting a medium for recording or a material for recording as the transfer member.例文帳に追加

そして、被記録媒体若しくは被記録媒体を搬送するための搬送部材を被転写部材として、ゴースト発生レベルに設定された転写バイアスを印加して現像剤像を転写する画像形成動作を行い、被転写部材にテストパターンとしての現像剤像を形成する。 - 特許庁

In a semiconductor processing adhesive sheet having at least a base material layer and an adhesive layer, a displacement amount in a holding power test (in conformity with JIS Z0237, a shearing load: 1 kg, a measurement time period: 30 min) is 100 μm or more and 800 μm or less.例文帳に追加

少なくとも基材層と粘着層とを有する半導体加工用粘着シートであって、保持力試験（ＪＩＳＺ０２３７準拠、せん断荷重：１ｋｇ、測定時間：３０ｍｉｎ）における変位量が１００μｍ以上８００μｍ以下である半導体加工用粘着シート。 - 特許庁

To overcome the problem such that, related to a functional test for an A/D converter in a semiconductor integrated circuit, testing of a fast A/D converter at an actual operation speed is difficult because wiring delay in the semiconductor integrated circuit from the output of A/D converter to the input of a tester affects much.例文帳に追加

半導体集積回路内のＡ／Ｄ変換器の機能テストでは、Ａ／Ｄ変換の出力からテスタ入力までの半導体集積回路内の配線遅延が大きく影響を与えるため、高速Ａ／Ｄ変換器の実動作スピードでのテストが困難である。 - 特許庁

For each of all attendance/absence patterns in attending or missing the remaining lectures not opened yet, a test score necessary for obtaining each achievement level (C, B, A) is listed in a condition list table 45d of the screen 45.例文帳に追加

その成績取得条件提示画面４５の条件一覧表４５ｄには、未だ開講されていない残りの講義に出席又は欠席する場合における全ての出欠席パターンそれぞれについて、成績の各レベル（可，良，優）を得るのに必要な試験の得点が、列挙されている。 - 特許庁

To provide the testing method of a semiconductor integrated circuit which can more easily and accurately test an integrated circuit on a semiconductor wafer, while eliminating post-processes, etc. after testing as well as a testing substrate, and to provide a semiconductor integrated circuit that is used in the method.例文帳に追加

テスティング基板はもとより、検査後の後処理等も不要としながら、より簡易且つ的確に半導体ウエハ上の集積回路を検査することのできる半導体集積回路の検査方法およびその方法の実施に使用される半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

A power source IC chip 3 which generates power source voltage for operations applied to the microcomputer chip 2 mounted on a common integrated circuit substrate, is equipped with an overvoltage applying circuit 4 which elevates the power source voltage VDD, and the elements making up the microcomputer chip 2 are applied with overvoltage stresses in the test.例文帳に追加

同一の集積回路基板上に搭載されるマイコンチップ２に供給する動作用電源を生成する電源ＩＣチップ３に、動作用電源電圧ＶＤＤを昇圧する過電圧印加回路４を備え、マイコンチップ２を構成する素子に過電圧ストレスを与えて試験を行う。 - 特許庁

In the quality decision of jitter, the test control circuit 12 controls delay in signals in the window signal generating circuit 11 for setting the window width to a jitter specification value, thus detecting whether the signal change edge in the clock signal DCLK for comparison is within the window by a comparison circuit 13.例文帳に追加

ジッタの良否判定ではテスト制御回路１２はウィンドウ信号生成回路１１内における信号の遅延を制御してジッタ規格値にウィンドウ幅を設定し、比較回路１３により比較用クロック信号ＤＣＬＫの信号変化エッジがウィンドウ内にあるか否かを検出する。 - 特許庁

When the tests for different addresses but the same in the value of a specified bit position result in failure determination continuously for a prescribed number of times, the determination results for the whole addresses of the same in the value of the specified bit position are made failure, and then, the test is not performed concerning the addresses.例文帳に追加

特定のビット位置の値が同一でありかつ異なるアドレスのテストで、連続して所定回数フェイルの判定結果が出たときは、その特定のビット位置が同じ値を取る全てのアドレスの判定結果をフェイルとし、そのアドレスについてはテストを行わないようにした。 - 特許庁

A plate-shaped impact block 5 equipped with the heavy bob G having a prescribed weight is suspended over the center of the tire width H of the test tire W through a lifting device 4 such as a hydraulic cylinder installed on a gate-shaped frame 3 installed outside of the support frame 1.例文帳に追加

試験タイヤＷのタイヤ幅Ｈの中心上方には、前記支持フレーム１の外側に設置された門型状のフレーム３上に設置された油圧シリンダー等の昇降装置４を介して所定重量の重錘Ｇを備えた板状の衝撃ブロック５が吊設してある。 - 特許庁

To provide a large-scaled thin ceramic substrate to be used for a wafer prober for preventing generation of bending even when it is exposed in a high temperature, and for preventing the damage to a silicon wafer even at the time of placing the silicon wafer on a chuck top conductive layer, and operating a continuity test.例文帳に追加

高温にさらされた場合にも、反りが発生せず、チャックトップ導体層上にシリコンウエハを載置して導通試験を行っても、シリコンウエハが破損することがなく、セラミック基板を大型で薄いものとすることができるウエハプローバに使用されるセラミック基板を提供すること。 - 特許庁

During an analysis of recorded data, conductivity measured relative to a reference well 16 holding only a cell proliferation medium is subtracted from conductivity measured relative to another well 16, thereby improving the display of test results obtained by monitoring and recording cell culture.例文帳に追加

記録されたデータの分析の間に細胞増殖培地のみを保持する基準ウェル（１６）に対して測定された導電率を他のウェル（１６）に対して測定された導電率から減算することによって、細胞培養を監視および記録することによって得られるテスト結果の表示を改良する。 - 特許庁

To provide a drive device for a flat panel type display that advance test/analysis are simplified, assembly is facilitated, productivity and product reliability are improved by using in common circuit substrates of drive control parts driving respective display electrodes of X, Y.例文帳に追加

Ｘ・Ｙの各表示電極を駆動する駆動制御部の回路基板を共通化することにより、事前の試験・解析の簡略化、組立て容易化、生産性向上及び製品の信頼性向上を図ることができるフラットパネル型ディスプレイの駆動装置を提供する。 - 特許庁

The relative tilt angle and the relative distance are determined based on this measured voltage between the probe card on which the probe needles 50 are installed and the wafer 10, and the probe needles 50 are connected to the bonding pads of the wafer 10 to carry out a current feeding test so that the relative position is maintained in accordance with them.例文帳に追加

この測定された電圧に基づいて、プローブ針５０が設けられているプローブカードとウェハ１０との相対傾斜角度及び相対距離とを決定し、これに応じた相対位置を維持するようにプローブ針５０をウェハ１０のボンディングパッドに接続させて通電試験を行なう。 - 特許庁