「Test Is」に関連した英語例文の一覧と使い方(239ページ目) - Weblio英語例文検索

A multi-function printer 10 is configured to, when receiving a test command to be repeatedly transmitted several times prior to the transmission of data by uni-directional communication by a portable telephone 80, execute the preparation of reception so that image data to be transmitted by uni-directional communication can be received.例文帳に追加

マルチファンクションプリンタ１０では、携帯電話８０が単方向通信によりデータを送信するのに先立って複数回繰り返し送信するテストコマンドを受信したとき、その後に単方向通信により送信されてくる画像データを受信できるよう受信の準備を実行する。 - 特許庁

Both ends of the belt-like eddy current flaw detection coil 4 to be wound around a test object include a pair of connectors including a connector 5a' having at least one through-hole 5f and a connector 5a having at least one protrusion 5e which is fit into the through-hole 5f.例文帳に追加

検査対象物に巻き回される帯状の渦電流探傷用コイル４の両端に、少なくとも一つの貫通孔５ｆを有する接続具５ａ’と貫通孔５ｆに嵌め合わされる少なくとも一つの突起５ｅを有する接続具５ａとからなる一対の接続具を備えるようにした。 - 特許庁

When type information is expectation value changing data, a main control section generates the expectation value changing data for changing the expectation value, generates authentication information with the expectation value changing data to transmit the authentication information to a subsequent stage section, and subsequently changes a test value depending on detection of a detection object control command.例文帳に追加

主制御部は種別情報が期待値変更用データの場合、期待値を変更する期待値変更用データを生成し、該期待値変更用データを有する認証情報を生成して後段部に送信し、その後検出対象制御コマンドの検出に応じて検査値を変更する。 - 特許庁

When not only a probe-mark is formed on an electrode pad for electrical conduction in performing the electrical characteristics test but also foreign matters are mixed, the probe-mark and foreign matters are separated by a series of treatments such as a binarization of the electrode pad image, a labeling treatment, a hole filling treatment and a histogram calculation.例文帳に追加

電気的特性検査をおこなった時の通電のために電極パッド上に形成される針痕だけでなくその他異物が混在している場合において、電極パッドの画像を２値化、ラベリング処理、穴埋め処理、ヒストグラム算出という一連の処理により針痕と異物とに分類する。 - 特許庁

A special-purpose water sprinkler for spraying water to a vehicle body of an automobile is provided to a car washing machine body 1 so as to execute a water-spray testing action for spraying water from a water sprinkler to test leakage of water of an automobile separately from car washing operation with a car washing processing unit.例文帳に追加

洗車機本体１に自動車の車体に向けて水を吹き付ける専用の散水装置を備え、洗車処理装置による洗車動作とは別に、散水装置から散水して自動車の水漏れ検査を行う散水検査動作を実行可能にしたものである。 - 特許庁

Accordingly, in the functional inspection of the fire detector 24, the elevating body 2 is raised and lowered by the operation of the test control device to oppose the testing means 25 to the fire detector 24, whereby the fire detector 24 can be tested by the operation of the testing means to facilitate the functional inspection work.例文帳に追加

これによって、火災検出器２４の機能点検時に試験用制御装置の動作により、昇降体２が昇降して火災検出器２４に試験手段２５が対向し、試験手段の動作によって火災検出器２４を試験でき、機能点検作業を容易化する。 - 特許庁

To provide a thermal transfer recording sheet for medical use, which has a thermal transfer aptitude of high density and high definition and has small contraction at a heat shrinkage test in which high temperature sterilization treatment is supposed, and hardly causes falling of not only a coating layer but also a printed part.例文帳に追加

高濃度、高画質の熱転写適性のある記録シートが得られ、かつ、高温滅菌処理されることを想定した熱収縮試験で収縮が小さく、塗工層はもちろんのこと印字部分も脱落が起きにくい医療用熱転写記録シートを提供すること。 - 特許庁

This liner board of the corrugated fiberboard for inkjet printing, which is formed by providing an ink accepting layer including at least three components consisting of a pigment, an adhesive and an ink fixing agent on the surface of the base paper of the liner board, does not develop peeling in the ink accepting layer at the execution of a printability test.例文帳に追加

ライナ原紙の表面に、顔料と接着剤とインク定着剤の三成分を少なくとも含有するインク受容層を設けてなり、下記条件の印刷適性試験を行なった際に、該インク受容層に剥がれが生じないことを特徴とするインクジェット印刷用段ボールライナ。 - 特許庁

A balloon 17 for airtightness provided inside a gas hose 51 is expanded by supplied water, and stuck on the inner wall of a gas pipe 5-1, and separates a space between the periphery of an inner pipe 11 and the inner wall of the gas pipe 5-1 from the gas pipe 5-1, and forms an airtight test section.例文帳に追加

ガスホース５１内部に設けられた気密用風船１７は供給された水により膨張し、ガス管５−１の内壁に密着し、内管１１の外周とガス管５−１内壁との間の空間をガス管５−１から分離し、気密試験区間を形成する。 - 特許庁

To provide a mounting method for a failure analysis memory in a semiconductor tester that enables a change of slave boards according to a change in type and an increase in capacity or the like of a semiconductor device under test, and can minimize a spacing between master boards even when the number of master boards is increased.例文帳に追加

被試験対象の半導体デバイスの種類の変更、容量等の増大に伴い、子基板の変更ができ、親基板の枚数が増えても親基板の間隔を最小限の間隔におさえることのできる、半導体試験装置における不良解析メモリの搭載方法を提供する。 - 特許庁

In a semiconductor memory device in which write-in and read- out of data are performed for a memory array in accordance with address information, the device is provided with an address converting circuit 23 generating new address information by performing some change for one part or all of the address information in accordance with a control signal for test.例文帳に追加

アドレス情報に応じてメモリアレイに対してデータの書き込み及び読み出しが行われる半導体集積回路において、テスト用制御信号に応じて、アドレス情報の一部又は全てに一定の変更を施して新たなアドレス情報を生成するアドレス変換回路２３を設ける。 - 特許庁

The test is performed in an actual operation mode or at an actual operating frequency.例文帳に追加

ＣＰＵ内蔵ＬＳＩ１１をセルフテストさせるための制御プログラムを格納するフラッシュメモリ１２と、ＣＰＵ内蔵ＬＳＩ１１との通信を制御する通信制御回路と、テストデータを格納したＦＰＧＡ１４と、ＦＰＧＡ用のコンフィグレーションデバイス１３とを有して、実動作モードまたは実動作周波数でのテストを行う。 - 特許庁

A simulation part 104 performs a logical simulation with the use of the assertion description 103, the net list 101, and a test pattern 105, and then outputs a warning message 106 for warning the operation when the operation violating the operation expressed by the assertion description 103 is detected.例文帳に追加

シミュレーション部１０４は、そのアサーション記述１０３、ネットリスト１０１、及びテストパターン１０５を用いて論理シミュレーションを行うことにより、アサーション記述１０３が表す動作に違反する動作を検出した場合に、その動作を警告する警告メッセージ１０６を出力する。 - 特許庁

A particle beam irradiated to a test substance 10 receives signal created in a condition where no scanning is implemented from one stopping irradiation spot to next stopping irradiation spot as a timing signal to create digital signal using collected charge acquired at a timing receiving the timing signal concerned.例文帳に追加

被検体10に対して照射される粒子線ビームが、停止照射点から次の停止照射点に走査されていない状態で生成される信号をタイミング信号として受信し、該タイミング信号を受信したタイミングで取得した収集電荷を用いてデジタル信号を生成する。 - 特許庁

The emission position and the luminance level of each stripe of the emission phosphor are calculated from the picked-up image and the luminance distribution of the test pattern in units of stripes (luminescent-non- luminescent-luminescent parts) is calculated by rearranging the luminance levels, based on the light emission position and a display device 52 displays the result of calculation.例文帳に追加

撮像画像から発光螢光体の各縞における発光位置と輝度レベルとが算出され、その発光位置に基いて輝度レベルを並べ替えることでテストパターンの縞単位（発光−非発光−発光の部分）の輝度分布が算出され、その算出結果が表示器５２に表示される。 - 特許庁

When a test signal is inputted to a state-transiting means 8 from the outside, the state transiting means 8 stops an operation clock to be supplied to each part of a controller, also stops each part of the controllers for a CPU 1, a ROM 2, a RAM 3, etc., and transits the microcontroller to a standby mode.例文帳に追加

外部から状態遷移手段８にテスト信号が入力されると、状態遷移手段８がコントローラ各部に供給する動作クロックを停止させ、かつＣＰＵ１、ＲＯＭ２、ＲＡＭ３等のコントローラ各部を停止状態にしてマイクロコントローラをスタンバイモードに遷移させる。 - 特許庁

The master device 2 transmits a command to the slave devices, the slave devices retransmit a command with the same contents as those of the received command to a prescribed device on the basis of a register value, and the master device determines whether response from the prescribed device coincides with expected response to determine that the test is a success or a failure.例文帳に追加

マスタ機器２はスレーブ機器にコマンドを送信し、スレーブ機器はレジスタの値を元に所定の機器に受信コマンドと同一内容のコマンドを再送信し、マスタ機器はスレーブ機器及びターゲット機器からの応答が期待している応答と一致しているかを判断し、テストの合否を行う。 - 特許庁

To prevent damage to semiconductor elements and socket, by pressing leads and balls of the semiconductor elements to the connecting pins of the socket at a fixed depth, without changing carriers, even if the thickness of the semiconductor element is varied, and to provide a socket assembly for a semiconductor element test capable of improving the testing reliability.例文帳に追加

半導体素子の厚さが変わってもキャリア等を交替せず、半導体素子のリード又はボールをソケットの接続ピンに一定の深さで押圧して、半導体素子及びソケットの損傷を防止し、テスト信頼性を向上させる半導体素子テスト用のソケットアセンブリを提供する。 - 特許庁

The internal combustion engine tester 1 is provided with sensors 20, 21 for obtaining data necessary for performance test of an engine 3, an indicator for displaying measured data of the respective sensors, a personal computer 70 for inputting the respective data, and an internal combustion engine control means for controlling driving of the engine 3.例文帳に追加

内燃機関試験装置１は、エンジン３の性能試験に必要なデータを取得するためのセンサ２０，２１と、各センサの測定データを表示する指示計と、各データが入力可能なパソコン７０と、エンジン３の駆動を制御する内燃機関制御手段とを備える。 - 特許庁

The method is useful in the storage of organs, internal organs, tissues, cells, blood preparations, purified proteins, recombinant proteins, cultured cells, cultured tissues, etc., and can find particular application in the fields of transplant, regeneration medicine, fundamental research, gene therapy, clinical laboratory test, pharmaceutical/reagent, etc.例文帳に追加

器官、臓器、組織、細胞、血液製剤、精製蛋白質、組換蛋白質、培養細胞、培養組織等の保存に有用であり、特に移植領域、再生医療領域、基礎研究領域、遺伝子治療領域、臨床検査領域、製薬・試薬領域等に利用することができる。 - 特許庁

The hardness (JIS A) of rubber as a material to constitute the projection member 7 is preferably 20-80° when measured by the A-spring type hardness test method of JIS K6301, and the periphery of the projection member 7 extends and covers wall faces of the embossed parts 6.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ６３０１のＡ型スプリング式硬さ試験法で測定したときの前記突起部材７を構成する材料のゴム硬度度（ＪＩＳ Ａ）が２０°〜８０°であること、また、突起部材７の周囲が延長されて、前記エンボス部６の壁面を覆っている態様であることが好ましい。 - 特許庁

This tester, used for testing the position indicator 100 for the control rod drive mechanism comprising a plurality of reed switches 201 provided at prescribed spaces, is equipped with a position indicator placing stand 300 for placing thereon the position indicator 100 in an operation checking test for the position indicator 100.例文帳に追加

所定間隔を置いて設けられた複数のリードスイッチ２０１を有する制御棒駆動機構用位置指示装置１００を試験する本発明の試験装置は、位置指示装置１００の動作確認試験時に、位置指示装置１００を設置する位置指示装置設置架台３００を備える。 - 特許庁

Thus, it is made possible to be immune to tensile stress between a laminated piezoelectric element 10, 16 and the supporting plate 14 generated at a moment of landing during a fall test, and the laminated piezoelectric element 10, 16 can be suppressed from being peeled off from the supporting plate 14 when the vibrator falls down.例文帳に追加

これにより、落下試験で着地する瞬間に発生する、積層型圧電素子１０、１６と支持板１４との間の引張応力に耐えることができ、振動体の落下時における積層型圧電素子１０、１６の支持板１４からの剥離を抑制することができる。 - 特許庁

In such a method, the test pattern is formed such that an interval (F) between some boundary part and an adjacent boundary part in the carrying direction becomes shorter than the carrying amount (2F) of a medium after forming the first pattern of some boundary part before forming the second pattern thereof.例文帳に追加

本発明では、ある境界部とこの境界部の隣の境界部との搬送方向に関する間隔（Ｆ）が、ある境界部の第１パターンを形成してから第２パターンを形成するまでの間の媒体の搬送量（２Ｆ）よりも短くなるように、テストパターンを作成する。 - 特許庁

Consequently, heat generated by the heat-generating electronic component 22a is efficiently dissipated from a heat sink 40 via TP wiring 34, the test points 32, and a silicon adhesive 48, thereby suppressing rises in the temperature of the heat-generating electronic component 22a and low-heat-generating electronic component 22b.例文帳に追加

これにより、発熱性電子部品２２ａで発生した熱をＴＰ配線３４，テストポイント３２，シリコン接着剤４８を介してヒートシンク４０から効率良く放熱することができ、発熱性電子部品２２ａや低発熱性電子部品２２ｂの昇温を抑制することができる。 - 特許庁

Since identification information is directly controlled in a voice and lamp controller 170 by signals which need not to be outputted to test terminals, variation of a second display 27 can be processed at a high speed without putting a burden on the capacity of a ROM or a CPU of the special figure controller 160.例文帳に追加

そして、第２表示部２７の変動は、試験端子に出力する必要のない信号により識別情報が音声ランプ制御部１７０で直接制御するので、特別図柄制御部１６０のＲＯＭ容量やＣＰＵに負担を掛けることなく高速で処理することができる。 - 特許庁

As a reset signal is transmitted to a plurality of indoor machines 5, 6 from an outdoor machine 3 through a communication wire, and a microcomputer 1 of the entire system can be reset, the air conditioner improved in workability in a test operation and engineering work performance by the service man in occurrence of abnormality, can be provided.例文帳に追加

室外機から通信線を介して複数の室内機にもリセット信号を送信し、システム全体のマイコンをリセットすることができ、試運転時の作業性や、異常発生時におけるサービスマンの工事性向上を改善した空気調和機を提供することができる。 - 特許庁

This analyzing instrument Y is provided with a liquid guide port 61 provided in a central part and a plurality of channels 51 communicated with the liquid guide port 61 and advancing the test liquid guided from the liquid guide port 61 from the center toward a circumferential edge part using capillarity.例文帳に追加

分析用具Ｙにおいて、中央部に設けられた液導入口６１と、液導入口６１に連通し、かつ液導入口６１から導入された試料液を、中央部から周縁部に向けて、毛細管現象を利用して進行させるための複数の流路５１と、を備えた。 - 特許庁

Focus variation in photolithography process is detected using photomasks with test features T1, T2 adapted to print patterns with critical dimensions that can be measured and analyzed to determine magnitude and direction of defocus from a best focus position of an exposure tool during a lithographic process.例文帳に追加

リソグラフィ工程の間露光装備の最適焦点からの焦点誤差のサイズ及び方向を決定するため測定及び分析できる最小線幅を有する印刷パターンに適したテストフィーチャーＴ１，Ｔ２を有するフォトマスクを用いてリソグラフィ工程において焦点変化を測定する。 - 特許庁

To provide a leak test method used for the respective filters for purifying a dialyzate in a dialysis system in which the dialyzate fed from its source into a dialysis means is purified with purification means each of which has a built-in filter for purifying the dialyzate and simplified in equipment and in operation.例文帳に追加

透析液供給源から透析手段に供給される透析液を、それぞれに透析液浄化フィルタが内臓された浄化手段で浄化してなる透析システムにおけるそれぞれの透析液浄化フィルタの、装備的に簡素化され、かつ、操作が簡素化されたリークテスト方法の提供。 - 特許庁

When type information is expectation value changing data, a main control section generates the expectation value changing data for changing the expectation value, generates authentication information with the expectation value changing data to transmit the authentication information to an intermediate section, and subsequently changes a test value depending on detection of a detection object control command.例文帳に追加

主制御部は種別情報が期待値変更用データの場合、期待値を変更する期待値変更用データを生成し、該期待値変更用データを有する認証情報を生成して中間部に送信し、その後検出対象制御コマンドの検出に応じて検査値を変更する。 - 特許庁

A burn-in test of first to sixth step in which voltage application time are equal is performed for a semiconductor memory constituted so that a pair of bit lines having twist structure in which bit lines cross each other and a pair of bit lines having non-twist structure in which bit lines are in parallel each other.例文帳に追加

ビット線が互いに交差するツイスト構造を有するビット線対と、ビット線が互いに平行な非ツイスト構造を有するビット線対とを交互に配置して構成された半導体メモリに、電圧印加時間が互いに等しい第１〜第６ステップのバーンイン試験を実施する。 - 特許庁

The semiconductor memory MEM has: plurality of address latch circuits 18A, 18B to latch the address AD; address lines RAD, CAD connected to the plurality of address latch circuits 18A, 18B respectively; and a plurality of address buffers ABUF0-2 to which a test signal AD0-2 is input.例文帳に追加

半導体メモリＭＥＭは、アドレスＡＤをラッチする複数のアドレスラッチ回路１８Ａ、１８Ｂと、複数のアドレスラッチ回路１８Ａ、１８Ｂのそれぞれに接続されるアドレス線ＲＡＤ、ＣＡＤと、試験信号ＡＤ０−２が入力される複数のアドレスバッファＡＢＵＦ０−２とを有する。 - 特許庁

After all the data outputted by the LSI 104 correspondently to the data 124 is taken in and held by the memory 6, a test control means 106 controls the memory 6 and an expected-value memory 4 so that the memories 4, 6 successively output their held data to a comparison circuit 112.例文帳に追加

そして試験制御手段１０６はテストパターンデータ１２４にそれぞれ対応してＬＳＩ１０４が出力するデータを結果メモリー６がすべて取り込んで保持した後、結果メモリー６および期待値メモリー４を制御して各メモリーが保持するデータを順次、比較回路１１２に出力させる。 - 特許庁

When performing the performance test of the mechanical brake 22 of the motor 20, the runaway of the motor 20 due to failure of the mechanical brake 22 or failure to apply it due to human error is detected with the position calculation circuit 17 and the comparator 18, to change over the switch 19A for zero-holding the speed command.例文帳に追加

電動機２０の機械ブレーキ２２の性能試験等を行う場合に、機械ブレーキ２２の故障や人為的ミスによる非投入時の電動機２０の暴走を上記位置演算回路１７、コンパレータ１８により検出し、スイッチ１９Ａを切り替えて速度指令を零ホールドする。 - 特許庁

This semiconductor memory activates column decoders 221, 222 of all banks 111, 112 based on a write-command WR or a read-command RD supplied after a refresh command REF is supplied at the time of a test operation of a refresh counter 15.例文帳に追加

開示される半導体記憶装置は、リフレッシュ・カウンタ１５のテスト動作時には、リフレッシュ・コマンドＲＥＦが供給された後に供給されるライト・コマンドＷＲ又はリード・コマンドＲＤに基づいて、すべてのバンク１１__１及び１１_２のカラム・デコーダ２２_１及び２２_２を活性化する。 - 特許庁

When Si dummy wafers are used in a continuous test, the amount of a reaction product is regulated in a dummy wafer etching condition, by which actual samples subjected to etching just after the dummy Si wafers can be processed without incurring a dimensional shift, so that expensive actual samples to prepare can be decreased in number.例文帳に追加

また、連続試験をＳｉダミーウェーハで行う場合、Ｓｉダミーウェーハエッチング条件も反応生成物量を調節することでＳｉダミーウェーハ直後の実サンプルの形状を寸法シフト異常なく加工することができ、コストのかかる実サンプルを用意する必要が低減される。 - 特許庁

This test device is formed by assembling a drive sprocket 15 for winding the chain C, a driven sprocket 21, a driving motor 11 for rotating and driving the drive sprocket 15, a brake 13 interposed between the drive motor 11 and the drive sprocket 15, and a flywheel 24 and an electric brake 25 connected to the driven sprocket 21 in this order.例文帳に追加

チェーンＣを巻き掛ける駆動スプロケット１５、従動スプロケット２１と、駆動スプロケット１５を回転駆動する駆動モータ１１と、駆動モータ１１、駆動スプロケット１５間に介装するブレーキ１３と、従動スプロケット２１に順に連結するフライホイル２４、電気制動機２５とを組み合わせる。 - 特許庁

Each of the direct current test parts 11a-11n is provided with a gain regulation DAC 24 for converting a control signal S3 of the digital signal, indicating a gain regulation value that regulates the gain of the signal S1 output from DAC 10 into a control signal S3 of the analog signal.例文帳に追加

直流試験部１１ａ〜１１ｎの各々には、ＤＡＣ１０から出力される信号Ｓ１のゲインを調整するゲイン調整値を示すディジタル信号の制御信号Ｓ３をアナログ信号の制御信号Ｓ３に変換するゲイン調整用ＤＡＣ２４が設けられている。 - 特許庁

To provide an output buffer circuit which implements the performance test of a receiving circuit in a state where a single LSI unit or short wiring is connected, by achieving the pseudo transmission loss of a practical use state by adjusting an adjustable pre-emphasis amount of the output buffer circuit including a pre-emphasis function.例文帳に追加

プリエンファシス機能を有する出力バッファ回路の、調整可能なプリエンファシス量を調整して、実使用状態の擬似的な伝送損失を実現して、ＬＳＩ単体または短い配線を接続した状態で、受信回路の性能テストを実施する出力バッファ回路を提供する。 - 特許庁

The grain oriented silicon steel sheet provided with an insulation film on the surface, has the dc maximum relative permeability in the rolling direction of ≥ 35,000, and adhesion to film that the insulation film is not peeled in a adherence test by bending at a diameter of 10 mm in a direction perpendicular to the rolling direction.例文帳に追加

表面に絶縁被膜を有する方向性電磁鋼板であって、圧延方向の直流最大比透磁率が３５０００以上、かつ圧延方向と直角方向の１０ｍｍ径曲げ密着試験において絶縁被膜が剥離しない被膜密着性を付与する。 - 特許庁

To provide a method for safely, efficiently conducting work when a confirming test for fixing force and stretching force and adjustment of the stretching force is conduced at an execution job site to a lock bolt and various anchor bodies such as a ground anchor, and provide a supporting table and a load cell used there.例文帳に追加

ロックボルト、グラウンドアンカー等の各種アンカー体について、定着力及び緊張力の確認試験、並びに緊張力の調整を施工現場で行うにあたり、安全に且つ効率よく作業を行うことができる方法と、そこで使用する支持台及びロードセルを提供する。 - 特許庁

In addition, a T-test is conducted for two groups of the patients having benign disease of pancreas and cholepathia and the patients suffering from pancreatic cancer to show significant difference (p<0.05) and specify two saccharide chains including 3031 m/z and 2362 m/z as the saccharide chains indicating twice or more difference in expression amount.例文帳に追加

さらに、膵胆道良性疾患と膵臓癌との２群間に対してＴ−ｔｅｓｔを行い、有意差（ｐ＜０．０５）を示し、且つ、発現量の差が２倍以上を示す糖鎖として、３０３１ｍ／ｚ及び２３６２ｍ／ｚの２つの糖鎖を特定した。 - 特許庁

To provide a radiation-resistant resin composition that is useful as a sheath material for BWR (Boiling Water Reactor) and a sheath material for PWR (Pressurized Water Reactor), has excellent flame retardance, heat resistance, radiation resistance and water resistance and deals with a test by a reverse sequential method and a radiation-resistant cable.例文帳に追加

ＢＷＲ用のシース材料、及びＰＷＲ用のシース材料として用いることができると共に、難燃性、耐熱性、耐放射線性、及び耐水性に優れ、逆逐次法による試験に対応することのできる耐放射線性樹脂組成物、及び耐放射線ケーブルを提供する。 - 特許庁

A charging voltage of a charging device 2 and a developing bias voltage of a developing bias power source 11 are so set that when a latent image potential value of a test latent image and a developing current integral value are detected, the difference (potential difference) between the latent image potential value and developing bias voltage is varied in steps.例文帳に追加

テスト潜像の潜像電位値と現像電流積分値を検出する際に、潜像電位値と現像バイアス電圧の差（電位差）を段階的に変化させるように、帯電装置２の帯電電圧と現像バイアス電源１１の現像バイアス電圧を設定する。 - 特許庁