Test Isの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 12773件
An error is found in its early stage by conducting an error test by attenuating the input signal from the magnetic head 2 of the disk device (making S/N worse) suitably to each drive by using an attenuator and a fault can be predicted with a sufficient margin before the fault actually occurs.例文帳に追加
ディスク装置の磁気ヘッド2からの入力信号を、減衰器4を使用して各ドライブに最適に減衰(S/N比を劣化)させてエラーテストを行うことで、エラーを早期発見し、故障発生状態に至るまでに十分に余裕をもって故障予知を行うことを可能にする。 - 特許庁
A second chromium mass concentration C' and a second reference mass concentration A' are extracted from a second test substance made by adding, to a predetermined amount of the substance contained in the molded body, an amount of calcium identical to the amount added to the pellets; a comparative value X' is calculated on the basis thereof.例文帳に追加
成形体に含有されている物質の所定量に、ペレットに加えたカルシウムと同量のカルシウムを加えた第2の対象物質から、第2のクロムの質量濃度C´と第2の基準質量濃度A´とを抽出し、これらから比較値X´を算出する。 - 特許庁
In concrete, the method for measuring the difference in resistance force is characterized by that it includes steps of driving the two objects under test simultaneously under the same conditions, measuring a change including the moment and/or resistance force occurring on the two objects, and evaluating at least the difference in the resistance force.例文帳に追加
具体的に、本発明の抵抗力差測定方法は、二つの被試験物を同時に同一条件で駆動し、該二つの被試験物に生ずるモーメント及び/または抵抗力を含む変化を計測し、少なくとも抵抗力差を評価したことを特徴とする。 - 特許庁
A device for the immunochromatography provided with protrusions 8 in at least two portions in the first case member a is used in this device of the present invention for the immunochromatography with the first case member a for covering an upper face of a test strip, and the second case member b for covering an under face thereof therebetween.例文帳に追加
テストストリップの上面を覆う第一ケース部材aと下面を覆う第二ケース部材bをその間に挟みこんだ免疫クロマトグラフィー用デバイスであって、該第一ケース部材aに少なくとも2箇所の凸部8を設けてなる免疫クロマトグラフィー用デバイスを使用する。 - 特許庁
An optical disk reproducing apparatus 101 executes a bench mark test program according to a control program which is read out from an optical disk 111 and executed, measures performance of the optical disk reproducing itself, and supplies the measured result to a server 131 with an additional program.例文帳に追加
光ディスク再生装置101は、光ディスク111より読み出して実行した制御プログラムに従って、ベンチマークテストプログラムを実行し、光ディスク再生装置101自身のパフォーマンスを計測し、その計測結果を追加プログラムの要求とともにサーバ131に供給する。 - 特許庁
To provide a venipuncture implement, which allows a main puncture needle to be guided along a course a test puncture needle not more than 22G and an operator to check that a tip of the main puncture needle has entered an intended vein by visually recognizing sucked venous blood when a catheter is indwelled in a deep vein.例文帳に追加
深部静脈にカテーテルを留置する際、22G以下の試験穿刺針が進行した経路に沿って本穿刺針を案内すると共に、本穿刺針の先端が目的静脈内に刺入したことを吸引した静脈血を視認することにより確認する。 - 特許庁
The backscattered beams of the test light produced on the optical cable are received by a receiving part 124 via the light circulator 123 and changes in strength of the received backscattered beams with time are totalized by an analyzing part 125, so that the optical cable is tested based on the result.例文帳に追加
光線路で発生した試験光の後方散乱光は、光サーキュレータ123を経て受光部124により受光されて、解析部125により、受光された後方散乱光の強度の時間変化が積算されて、この積算結果に基づいて光線路が試験される。 - 特許庁
FB control is made by a hybrid control system with a main difference {dis1(tn)-dis2(tn)}/2 of the two amounts of displacement of a measurement time series and sub difference {acc1(tk)-acc2(tk)}/2 of the two acceleration of the measurement time series as two control variables, thus speedily suppressing the yawing of the test stand.例文帳に追加
計測時系列の2変位量の主差分{dis1(tn)−dis2(tn)}/2と、計測時系列の2加速度の副差分{acc1(tk)−acc2(tk)}/2を2つの制御変数とした混成制御系(21,22)によりFB制御して、試験台のヨーイングの抑制を速やかに行う。 - 特許庁
To provide a sealing cap easy to attach to and detach from openings such as an inlet port and an outlet port of a compressor, securing a high degree of seal and an adhesion force, and allowing a leakage test of the compressor while the sealing cap is mounted on the compressor.例文帳に追加
圧縮機の吸入口及び吐出口等の開口に対する脱着が容易であると共に高い密閉度及び密着力を確保し、さらには、圧縮機への装着状態において圧縮機の漏れ試験を実施することを可能にするシールキャップを提供することを課題とする。 - 特許庁
To prevent the occurrence of a fault such as the breakage of a circuit element caused by the unlimited rise of an output voltage by the effect that a secondary-side output pin is opened due to a product safety test, an unexpected trouble or the like, and a light emitting element for transmitting a voltage signal cannot be lit.例文帳に追加
スイッチング電源装置において、製品安全試験や不測のトラブル等によりトランスの2次側出力ピンがオープンにされ、電圧信号発信用の発光素子が点灯不能になって、出力電圧が無制限に上昇し、回路素子が破壊される等の支障が生じることを防ぐ。 - 特許庁
To provide an adapter for a device of loading an explosive and a filling which is simple and capable of preventing an unforeseen accident such as blasting of a main dynamite due to excessive air pressure, without requiring a simulation test using the explosive and the filling, and to provide a method of loading the explosive and the filling using the same.例文帳に追加
爆薬及び込め物を用いた模擬試験を要することなく、過大な空気圧により親ダイが爆破するような不測の事態に到ることを防止できる簡易な爆薬及び込め物の装填装置用アダプター及びそれを用いた爆薬及び込め物の装填方法を提供する。 - 特許庁
This vibration table is provided with a table 1 carrying a test- piece, an vibration exciter 2 having one end fixed on a base 4 housing the table 1 and disposed laterally for laterally vibrating the table 1, and a static- pressure joint having one end connected with the table 1 and the other end connected with the vibration exciter 2.例文帳に追加
振動台は、供試体を搭載するテーブル1と、このテーブルが収容される基礎4に一端が固定され、テーブルを横方向に加振する横方向に配置された加振機2と、テーブルに一端が接続され、他端が加振機に接続された静圧継手とを備えている。 - 特許庁
As to the changeover processes (1), (3), time is considerably shortened in the case of adopting light switches 30a, 30b compared to the case of adopting a system of replacing a conventional optical connector, and time can be alotted to the connection test (2) by that portion, so that the total number of working days can be considerably shortened.例文帳に追加
上記 、 の切替工程につき、従来の光コネクタを差し替える方式を採用した場合に比べて、光スイッチ30a、30bを採用した場合には、大幅に時間が短縮化され、その分、上記 の接続試験に割り当てることができ、延べ作業日数が大幅に短縮された。 - 特許庁
Thereby, after the master chip 1 and a subordinate chip 2 are jointed, the operation confirmation of only the master chip 1 or the subordinate chip 2 and the connection confirmation of the master chip 1 and the subordinate chip 2 are enabled, by pressing test probes P against the parts of the extending part 14 which is drawn out to the outside of the junction region 12.例文帳に追加
これにより、親チップ1と子チップ2とが接合された後であっても、延設部14の接合領域12の外方に引き出された部分にテストプローブPを押し当てて、親チップ1または子チップ2のみの動作確認や親チップ1と子チップ2との接続確認を行うことができる。 - 特許庁
At evaluation of adjustment, properness of adjustment work of the electric switching machine is evaluated by setting set of ideal measurement data D_1-D_3 until the adjustment work of the electric switching machine to the reference group G_r and setting set of measurement data D_4-D_6 after completion of the adjustment work to the test group G_t.例文帳に追加
調整評価時には、電気転てつ機の調整作業時までの理想的な測定データD_1,…,D_3の集合を基準グループG_rに設定し、調整作業終了後の測定データD_4,…,D_6の集合を試験グループG_tに設定して、電気転てつ機の調整作業の妥当性が評価される。 - 特許庁
The circuits in such a configuration are connected in parallel as many as the number of capacitors to be tested, the terminal of each circuit connecting the anode of the diode 4 and a terminal connecting the cathode side of the capacitor 2 while sandwiching each measuring terminal 3b are used as power supply terminals, and a test voltage is impressed by a power source 5.例文帳に追加
この構成の回路を、被試験コンデンサ個数分並列に接続し、各回路におけるダイオード4のアノードを接続した端子と、コンデンサ2の陰極側を各測定端子3bを挟んで接続した端子とを電源端子とし、電源5により試験電圧を印加する。 - 特許庁
The apparatus for inspecting the surfaces of the disks is provided at least with a mounting substrate 1 for mounting a disk 2 for test; a steam supplying means 4 for supplying a gas 5 containing steam for the surface of the disk 2; and a dew formation observing means 8 for observing droplets caused by the dew formation of the steam over the surface of the disk 2.例文帳に追加
試験用のディスク2を装着する装着基板1、前記ディスク2の表面に蒸気を含んだガス5を供給する蒸気供給手段4、前記ディスク2の表面に前記蒸気が結露した液滴を観察する結露観察手段8を少なくとも備える。 - 特許庁
In the case where it is discriminated that, on the basis of a comparison result, any abnormality such as a delay error caused by a voltage difference occurs, in order to recover the functional circuit block D109 into a normal state, the test control section 103 outputs a voltage boost instruction for the power supply domain D113 to the power supply control section 104.例文帳に追加
当該比較結果に基づいて、電圧差による遅延エラー等の異常が発生したと判別した場合、テスト制御部103は、機能回路ブロックD109を正常な状態に戻すために、電源制御部104に電源ドメインD113の電圧昇圧指示を出す。 - 特許庁
To obtain a simple method for easily filling a thin-walled cylinder internally with gas, also for having the internal pressure of excellent reliability and an internal pressure-filled test tube, when the measurement of the high temperature deformation in cylinder material is done by loading the cylinder with internal pressure for many hours.例文帳に追加
薄肉円筒に長時間内圧を負荷して円筒材料の高温変形を測定する場合において、薄肉円筒内へのガスの封入が容易であり、且つその内圧の信頼性が優れた簡便な内圧封入方法および内圧封入試験管を得ること。 - 特許庁
To obtain an ultraviolet curable protective film composition having good protective performance in a high temperature and high humidity durability test in a photorecording medium having Ag or a metal and/or an alloy whose major component is Ag as a reflective film, and a photorecording medium using this composition.例文帳に追加
Ag(銀)又はAgを主成分とする金属及び又は合金を反射膜とする光記録媒体において、高温高湿の耐久性試験においても良好な保護性能を有する紫外線硬化型保護膜組成物及びそれを適用した光記録媒体を提供する。 - 特許庁
A semiconductor memory is provided with at least one memory array comprising many word lines sharing a bit line sense amplifier section, and a test circuit 14 activating simultaneously at least two word lines out of many word lines sharing the bit line sense amplifier section.例文帳に追加
半導体メモリ装置は、ビットラインセンスアンプ部を共有する多数のワードラインを含む少なくとも1つのメモリアレーと、テストモードにおいて、前記ビットラインセンスアンプ部を共有する多数本のワードラインのうち少なくとも2本のワードラインを同時に活性化させるテスト回路14を具備する。 - 特許庁
Using an exclusive mask wherein test patterns having a same shape and a same size are plurally and repeatedly arranged in the mask blanks corresponding to the chip region, a resist pattern is formed by the processing procedure after the exposure processing of the photoresist on a product wafer changing a focal position for every shot.例文帳に追加
同一形状で且つ同一寸法のテストパターンがチップ領域に対応するマスクブランクス内で複数繰り返し配置された専用マスクを用いて、ショット毎にフォーカス位置を変えながら製品ウエーハ上のフォトレジストを露光処理し、現像処理してレジストパターンを形成する。 - 特許庁
The composite material is made by integrally laminating a wood based plate or sheet material or a metal sheet material with an inorganic based plate or sheet whose amount of distortion plastic deformation increases even if cross-head speed increases from 5 mm/minute to 50 mm/minute in a three-point bending test.例文帳に追加
木質系の板もしくはシート材または金属系シート材と、3点曲げ試験においてクロスヘッド速度が5mm/分から50mm/分に増加しても、ひずみ可塑変形量が増加する特性を有する無機系の板もしくはシート材とを積層一体化してなる複合材。 - 特許庁
The composite member 3 is bonded to a test substrate 4 having specified concave-convex patterns by pressurization under heat and comprises a mixture of the ceramic powder having an average particle size of 1-50 μm and a degree of sphericity of at least 0.8 with the organic resin material.例文帳に追加
加熱下で押圧されることにより所定の凹凸パターンを有する試験用基板4に対して接合される複合部材3であって、1〜50μmの平均粒径を有し、かつ0.8以上の球形度を有するセラミックス粉末と、有機樹脂材料との混合物からなる。 - 特許庁
In this case, the probe is oriented so that the shaking direction axis L1 being the direction shaping the reference axis along the ultrasonic wave propagation route centering around the focus of the probe crosses the surface L2 of a propagation part including the surface of the test target of an ultrasonic propagation part.例文帳に追加
この場合、超音波の伝搬経路に沿った基準軸を前記探触子の焦点を中心に揺動させる方向である揺動方向軸L1を超音波伝搬部の試験体表面を含む伝搬部表面L2と交差させるように前記探触子を配向する。 - 特許庁
Before a load test, a transmission time between a processor element and a processor element is measured with one set at a time as an expected value on the basis of results obtained by combining processor elements PE0 to PE3 without excess and deficiency while the processor element of a transmission source and the processor element of a transmission destination are defined as one set.例文帳に追加
負荷試験の前においては、送信元のプロセッサエレメントおよび送信先のプロセッサエレメントを1組としてプロセッサエレメントPE_0 〜PE____3 を過不足なく組み合わせた結果に基づいて、プロセッサエレメント−プロセッサエレメント間の伝送時間が期待値データとして1組づつ測定される。 - 特許庁
The fixed potential of the element forming regions 6a, 6b differs from a fixed potential of the non element-forming region 7, and a prescribed voltage is respectively applied to the element-forming regions 6a, 6b and the non element-forming region 7 for a prescribed time, to apply the breakdown voltage screening test to the trench insulation isolation section 5U.例文帳に追加
素子形成領域6a、6b内の固定電位と、素子形成外領域7の固定電位とは異なり、素子形成領域6a、6b、および素子形成外領域7のそれぞれに所定の電圧を一定時間印加して、トレンチ絶縁分離部5Uの耐圧スクリーニング試験を行う。 - 特許庁
When video signals are transmitted through component signals from the tuner to the monitor and the harness connection is checked and tested for the bathroom television, the tuner outputs signals to the monitor for test display using at least blue or red.例文帳に追加
コンポーネント信号によってチューナ部からモニタ部に対して映像を送信するものにあっては、浴室に設置した際のハーネスの接続状態をチェックするテスト時に、モニタ部に、青と赤の内の少なくとも一方の色彩によるテスト用表示をさせる信号をチューナ部からモニタ部に出力するようにした。 - 特許庁
A test for this lamp shows that a plurality of spectrum changes causing chromaticity drift during dimming are localized in a narrow frequency band range of a spectrum, and lamp light emission in the range is reinforced (or increased or decreased) as compared with the residual spectrum.例文帳に追加
そのようなランプの試験は、減光中に色度ドリフトを引き起こす複数のスペクトル変化がスペクトルの狭周波数帯域に局在化し、これらの領域におけるランプ発光が、残りのスペクトルに比べて増強される(又は増加されるか又は減少される)ことを明らかにする。 - 特許庁
To solve the problem that warp and fragments occur and cracks occur after a heat cycle test when a magnet piece is injection-molded in a magnet roller molded by bonding a plurality of the magnet pieces formed of a mixture mainly composed of ferromagnetic powder and a resin binder.例文帳に追加
強磁性体粉末と樹脂バインダーを主体とする混合物を成型してなるマグネットピースを複数個張り合わせて成型したマグネットローラにおいて、マグネットピースの射出成形時に、成形品に反りや折れが発生したり、ヒートサイクル試験後にクラックが発生したりする。 - 特許庁
The DDR SDRAM is provided with a delay circuit 42 delaying a data signal IND outputted from a memory circuit, a delay circuit 44 delaying a strobe signal INS, and latch circuits 46, 50 latching data in accordance with output of the delay circuits 42 and 44 as a test circuit.例文帳に追加
メモリ回路から出力されるデータ信号INDを遅延させる遅延回路42とストローブ信号INSを遅延させる遅延回路44とを設け、遅延回路42および44の出力に応じてデータをラッチするラッチ回路46,50をテスト回路としてDDR SDRAM内部に設ける。 - 特許庁
An image density sensor 351 is provided in a sheet conveyance path disposed from a portion following fixation in a first stage apparatus 200 to a portion before transfer in a second stage apparatus 400 so as to detect a density of a test pattern (a pattern image) formed on a sheet P by the first stage apparatus 200.例文帳に追加
画像濃度センサ351は、前段機200における定着後から後段機400における転写前までの間における用紙の搬送経路に設けられており、前段機200により用紙Pに形成されたテストパターン(パターン画像)の濃度を検出する。 - 特許庁
The chip 1 is constituted of a chip main body 2, a fine pipe 3 formed on the upper surface of the chip main body 2 in a protruded state, a plurality of elastically deformable pawls 4 erected on the undersurface of the chip main body 2, and the test paper 5 arranged on the under surface of the chip main body 2.例文帳に追加
本発明のチップ1は、チップ本体2と、チップ本体2の上面側に突出形成された細管3と、チップ本体2の下面側に立設された複数の弾性変形可能な爪4と、チップ本体2の下面側に設置された試験紙5とで構成されている。 - 特許庁
In the first-time recording of the optical disk, the optimum recording power values ML1, ML2 are obtained for each of first and second layers of the optical disk by recording/reproducing a test signal using the OPC areas thereof, and the ratio ML2/ML1 thereof is stored (S2, S3).例文帳に追加
光ディスクの初回記録時には、光ディスクの第1層目と第2層目のそれぞれについてそれらのOPC領域を使用してテスト信号の記録再生により最適記録パワー値ML1、ML2を求めると共に、それらの比率ML2/ML1を記憶しておく(S2、S3)。 - 特許庁
To perform test exposure in an entire effective exposure area without requiring preparation of a wider photosensitive material neither performing distribution before exposure with respect to an exposure device having a line exposure means of which the effective exposure width is wider than a photosensitive material.例文帳に追加
有効露光幅が感光材料よりも広いライン露光手段を有する露光装置において、幅広の感光材料の準備を必要とせず、また、露光前に振り分けを行うことなく有効露光領域全域に渡ってテスト露光を行うことが出来る露光装置を提供する。 - 特許庁
Since a transfer roller is fouled, the secondary transfer and a transfer belt are separated and detached by a contact and separation mechanism while the test pattern written between the papers passes secondary transfer.例文帳に追加
中間転写ベルト上の通常画像は、2次転写部で通紙される媒体に転写されるが、テストパターンは無通紙で2次転写部を通り、転写ローラを汚すので、紙間に書込んだテストパターンが2次転写を通過する間、2次転写部と転写ベルトを接離機構で離脱させる。 - 特許庁
Further, in the zone of ≥10 mm in the thickness in the plate thickness direction, to the energy transition temperature obtained from the surface 2 mm V-notch Charpy impact test, the energy transition temperature in the plate thickness penetrating direction is made higher than 20°C.例文帳に追加
前記ミクロ組織の領域を含む、板厚方向の厚さ10mm以上の領域において、表面2mmVノッチシャルピー衝撃試験により得られるエネルギー遷移温度に対し板厚貫通方向のエネルギー遷移温度が20℃以上高くなるようにした鋼板である。 - 特許庁
The gain Kact of the material testing machine 12 becomes very large under test conditions and in this case, an amplification factor for an analog sensor signal SSa inputted to an A/D converter 32 of the digital signal processor 16 is adjusted to adjust a loop gain Klp to an optimum value.例文帳に追加
試験条件によって材料試験機12のゲインKact が非常に大きくなることがあり、その場合に、ディジタル信号処理装置16のA/Dコンバータ32へ入力するアナログセンサ信号SSaの増幅率を調節することで、ループゲインKlpを最適値に調整する。 - 特許庁
The tape library test device transfers a medium sequentially from the top cell to the final cell on the basis of cell information that is predetermined in a tape library device to be tested, and measures a medium conveyance time required for each inter-cell transfer of the medium.例文帳に追加
テープライブラリ試験装置は、試験対象のテープライブラリ装置において予め定義されるセル情報に基づいて、先頭セルから順次媒体を最終セルまで移動させて、各セル間ごとに、媒体を移動させるのに要した時間である媒体搬送時間を計測する。 - 特許庁
To provide a test piece, having an applied reagent for reacting to hydrogen sulfide, mercaptan and dimethyl sulfide generated by causative bacteria of a periodontal disease and changing its own color and a suspension having the dissolved reagent, and to conveniently indicate whether there is the contraction of periodontal disease.例文帳に追加
歯周病の原因菌によって産生される硫化水素,メチルカプタン,ジメチルサルファイドに反応して呈色変化する試薬を塗布した検査片及び該試薬を溶解した検査液を提供し、歯周病にかかっているか否かを、簡便に知ることができるようにする。 - 特許庁
To provide a resin stator for a torque converter capable of strictly keeping the accuracy in size and the strength required when the stator is combined with as a sprag-type one-way clutch, even under the hostile environments such as the thermal impact, the ATF high temperature dipping, and an endurance test.例文帳に追加
スプラグタイプのワン・ウェイ・クラッチと組み合わせる場合に要求される厳しい寸法精度及び強度を、冷熱衝撃やATF高温浸漬、或いは耐久試験といった厳しい環境下においても維持することが出来るトルクコンバーター用樹脂製ステーターを提供する。 - 特許庁
In a line image pattern formed by deviating the writing timing in a main scanning direction and/or a sub scanning direction, a toner image of line Y formed by an image forming means for Y in the test pattern is formed so as to be superposed within a matte patch range by M or C toner.例文帳に追加
主走査方向及び/又は副走査方向について書き込みタイミングをずらして形成した線像パターンで、該テストパターン内でYの画像形成手段によって形成されたY線のトナー像はM又はCトナーによるマット状のパッチ範囲内に重ねて形成されている。 - 特許庁
To provide an induction noise bench testing device between two circuits capable of performing an induction noise test by reproducing simulatively a cabling environment so that detection of the optimum design condition of a cable wherein the influence of a crosstalk between mutual signal wires is suppressed to the utmost can be performed easily.例文帳に追加
信号線相互間のクロストークの影響を極力抑制したケーブルの最適化設計条件の探知が容易に行えるよう、ケーブリング環境を模擬的に再現して誘導ノイズ試験を行うことができる2回路間の誘導ノイズベンチ試験装置を提供する。 - 特許庁
The loading test room T is constituted of the first wall 1 having an openable/closable inlet 10, the second wall 2 having an openable/closable outlet 20 and arranged oppositely to the first wall 1, and the third and fourth walls 3, 4 arranged adjacently and oppositely to the first and second walls 1, 2.例文帳に追加
開閉可能な入口10を有する第1の壁部1と、開閉可能な出口20を有しかつ第1の壁部1に対向配置された第2の壁部2と、第1、第2の壁部1、2と隣り合いかつ対向配置された第3、第4の壁部3、4とからロードテスト室Tを構成する。 - 特許庁
To develop technologies with which even when loss of fusion splice of optical fibers at a splice point is low for specifying a fault occurrence position in an optical pulse test of an optical cable line, actual detection accuracy can be improved by correction effectively utilizing the position of the splice point between optical cables.例文帳に追加
光ケーブル線路の光パルス試験において、障害発生位置の特定に、光ファイバケーブル同士の接続点における光ファイバ同士の融着接続が低損失であっても、前記接続点の位置を活用した補正によって、実際の検出精度を図ることを可能にする技術の開発。 - 特許庁
Choose the appropriate log level for the sun-bpel-engine from the drop down list.If logging is defined for a process activity, and the log level specified for it corresponds to the log level set for the BPEL SE, after you perform a test run of the process, the selected variable value will be written to the server log file.例文帳に追加
ドロップダウンリストから、sun-bpel-engine に適切なログレベルを選択します。 プロセスアクティビティーにログが定義されていて、指定されているログレベルが、BPEL SE に設定されているログレベルに対応している場合、プロセスのテスト実行を行なったあと、選択した変数の値がサーバーログファイルに記録されます。 - NetBeans
To provide a logic simulation apparatus, which extracts only parts, the logic of which is affected by circuit change, performs logic simulation, and shortens logic simulation execution time when performing logic simulation after circuit change using test patterns executed before circuit change.例文帳に追加
回路変更前に実行したテストパターンを用いて回路変更後の論理シミュレーションを行う場合、回路変更により論理に影響を受ける箇所のみを抽出して論理シミュレーションを行い、論理シミュレーションの実行時間を短縮する論理シミュレーション装置を得ること。 - 特許庁
In the ESD-testing device, a plurality of pogo pins are arranged into a matrix form, and an ESD test based on CDM is performed to LSI terminals connected to the selected pogo pins by a plurality of switches provided corresponding to the pogo pins.例文帳に追加
本発明のESD試験装置は、複数個のポゴピンをマトリックス状に配置し、前記ポゴピンに対応させて設けられた複数のスイッチにより選択されたポゴピンに接続するLSIの端子に対してCDMに基づくESD試験を行うことを特徴としている。 - 特許庁
To provide a transmission wavefront measuring method of a birefringence optical element measuring properly a transmission wavefront, even when imaging an interference fringe having a domain where transmission wavefront information is not carried correctly by an influence of birefringence carried by a test optical element.例文帳に追加
被検光学素子が有する複屈折性の影響により透過波面情報が正しく担持されない領域を有する干渉縞が撮像されるような場合でも、透過波面測定を適正に行うことが可能な複屈折性光学素子の透過波面測定方法を得る。 - 特許庁
The grafted product having at least two asphaltene dispersancy test (ADT) values is produced by melting a mixture comprising N-vinylimidazole, 4-vinylpyridine or other ethylenically-unsaturated nitrogen-containing graftable monomers, polyolefin copolymer having graftable site in the side chain and an initiator.例文帳に追加
N−ビニルイミダゾール、4−ビニルピリジン又はその他のエチレン系不飽和の窒素含有グラフト可能な単量体と、グラフト可能なサイトを側鎖に持っているポリオレフィン共重合体と開始剤とからなる混合物を溶融して、少なくとも2のADT値を持ったグラフト反応生成物を製造する。 - 特許庁
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