X- raysの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 2048件
The method is provided with a step for transmitting the fan beam of the X-rays through the object and a step for selectively combining the rows of the detector array including the columns of the different thickness as well and obtaining data for indicating at least one image slice of the object.例文帳に追加
この方法は、X線の扇形ビームに被写体を透過させるステップと、異なる厚みをもった列も含めた、検出器アレイの列を選択的に組み合わせて、被写体の少なくとも1つの画像スライスを表わすデータを得るステップとを含む。 - 特許庁
To provide a system for collecting a spectrum by diffraction of characteristic X rays from a sample that has been irradiated with an electron beam, which provides information on whether each peak of collected spectra is a measurement object or a composite peak of cathode luminescence and a higher order beam.例文帳に追加
電子線を照射した試料からの特性X線を回折させてスペクトルを採取するシステムにおいて、採取スペクトルの各ピークが、測定対象であるか、カソードルミネッセンスや高次線の複合ピークであるかの情報を提供する。 - 特許庁
The porous carbon includes a mesopore and a carbonaceous wall which constitutes the contour of the mesopore, wherein the X-ray diffraction spectrum to CuKα rays (a wavelength of 1.541 Å) has a peak at 26.45° of the Bragg angle 2θ.例文帳に追加
メソ孔とこのメソ孔の外郭を構成する炭素質壁とを備えた多孔質炭素であって、CuKα線(波長1.541Å)に対するX線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角度2θの26.45°にピークを有することを特徴とする。 - 特許庁
The negative chemical amplification type resist composition contains a compound which generates an acid and/or a radical when irradiated with electron beams or X-rays, an alkali-soluble resin, a crosslinker which causes crosslinking under the acid and a specified monomer.例文帳に追加
電子線又はX線の照射により、酸及び/又はラジカル種を発生する化合物、アルカリ可溶性樹脂、酸により架橋する架橋剤及び特定のモノマーを含有する電子線又はX線用ネガ型化学増幅系レジスト組成物。 - 特許庁
Laser light 1 from outside the chamber 8 is condensed by a laser condensing lens 2, passes through a laser light incidence port 3, is radiated onto a tape target 12 as a beam of dozens μm in diameter and generates plasma 13 and X rays 4 on the tape target 12.例文帳に追加
外部からのレーザ光1はレーザ集光レンズ2によって絞られ、レーザ光入射ポート3を通って、テープターゲット12上に数十μm径のビームになって照射され、その上にプラズマ13を発生しX線4を発生する。 - 特許庁
To reduce with superior reproducibility in-plane uniformity of a TaN film to be used as a barrier layer of a semiconductor element by a method wherein the peak intensity in a specified direction measured by an X rays diffraction method is specified on the surface of a sputtering target composed of high pure TaN.例文帳に追加
Cu配線のバリア層などとして用いられるTaN膜において、膜厚の面内均一性を例えば5%以下とすることが望まれており、そのようなTaN膜を再現性よく得ることを可能にしたスパッタターゲットが求められている。 - 特許庁
After a position detection means 14 detects the tip of the product 2, an area calculation means 13b adds a pixel part at which the electrical signal corresponding to the degree of transmission of the X rays exceeds the threshold to calculate the area of parts determined to be bubbles.例文帳に追加
面積算出手段13bは、位置検出手段14が被検査物2の先端を検出した後、X線透過量に応じた電気信号がしきい値を越える画素部分を加算して気泡と判別された部分の面積を算出する。 - 特許庁
The amorphous tin oxide thin film is formed on a transparent substrate through a vapor deposition process, and the thin film is such that the densification degree (ρ/ρ_0)×100 of the thin film is turned to 90-95% by an X-ray reflectivity technique using CuKα rays.例文帳に追加
透明基材上に蒸着プロセスを経て形成される非結晶性の酸化スズ薄膜であり、該薄膜はCuKα線を用いたX線反射率法により該薄膜の緻密化度(ρ/ρ_0)×100が90〜95%とすること。 - 特許庁
To prevent generation of variation in a signal after correction when the dose of irradiation with X-rays reaches a level (the maximum radiation dose) at which an image signal is saturated in a device for correcting the variation of the image signal read from a radiographic solid-state detector.例文帳に追加
放射線固体検出器から読み出された画像信号のバラツキを補正する補正装置において、画像信号が飽和するような量(最大放射線量)のX線が照射されたときに、補正後の信号にバラツキが生じないようにする。 - 特許庁
A plurality of places of the plastic standard material are irradiated with an exciting beam to suppress the irregularity of the intensities of fluorescent X rays emitted from the element to 10% or below in a relative standard deviation.例文帳に追加
このプラスチック標準物質の複数箇所に所定の励起ビームを照射し前記元素から発生する蛍光X線のX線強度のばらつきが、相対標準偏差10%以下に抑えられたものであることを特徴とする。 - 特許庁
A means for applying marking (a) different from the article Bi in the transmission efficiency T of X-rays per unit physical quantity to the article Bi and for detecting the marking (a) to discriminate the presence of the article Bi in the object M to be inspected is provided.例文帳に追加
単位物理量当たりのX線の透過効率Tが前記物品B_i とは異なるマーキングaを物品B_i に付し、前記マーキングaを検出することにより被検査物中Mの物品B_i の有無を判別する手段を備えている。 - 特許庁
A shielding means (case 211, shield plate 221) 200 to shield scattering electrons, reflecting electrons, X-rays by charged particle beam B is installed between a first hole 103 of the first wall 101 and a valve plate 113 of the vacuum sluice valve 111 in an open state.例文帳に追加
第1の壁101の第1の穴103と、開状態の真空仕切弁111の弁板113との間に、荷電粒子ビームBによる散乱電子、反射電子、X線を遮る遮蔽手段(ケース211、遮蔽板221)200を設ける。 - 特許庁
A set of markers (4a, 4b, 4c and 4d) being carried by one and the same support (5) are placed in the field of the X-rays and the positions of the projections of the markers onto the images acquired are processed so as to deduce from this the position of the source at the time of acquisitions.例文帳に追加
1つの同じ支持体(5)上に担持されている一組のマーカー(4a、4b、4c、4d)をX線の場の中に配置し、撮像した像へのマーカーの投影の位置を処理して、撮像時における線源の位置を推測する。 - 特許庁
Since a group, to which the sample S belongs is selected from a qualitative or semi-quantitative analytical result based on a first measured result, even if there are fluctuations in the measured value of the intensity of fluorescent X-rays, the errors in judgment of the sample S can be reduced.例文帳に追加
さらに、第1の測定結果に基づく定性分析結果または半定量分析結果から、試料Sが属するグループを選択するので、蛍光X線強度の測定値の変動があっても、試料Sの誤判定を少なくできる。 - 特許庁
As a result, a set of projection points f where X-rays passing through each lattice point (including a point e), arranged in the direction of the body axis A, for one column intersect the detecting surface are in parallel to the u axis out of virtual three-dimensional lattice point groups K in reconstruction processing.例文帳に追加
これにより、再構成処理において、仮想した3次元格子群Kのうち、体軸A方向に並ぶ1列分の各格子点(点eを含む)を通過したX線が検出面と交わる投影点fの集合は、u軸と平行になる。 - 特許庁
Then the means 3a-3f are provided with high X-rays contrast markers which are arranged at positions to be the both end parts of the structure body 2 in a state where the means 3a-3f keep the structure body 2 in the second outer diameter state.例文帳に追加
そして、維持手段3a〜3fは、維持手段3a〜3fが構造体2を第2の外径の状態に維持する状態における構造体2の両端部となる位置に設けられた高X線造影マーカ136,137を備えている。 - 特許庁
To improve detection accuracy and to eliminate the need for using a contrast medium by providing a method instead of a conventional method to use X-rays when detecting matrix cracks in a carbon fiber reinforced plastic laminated plate.例文帳に追加
炭素繊維強化プラスチック積層板中のマトリックスクラックを検出するに際して、従来のX線を用いる方法に代わる方法を提供することによって、検出精度を向上し、且つ、造影剤の使用を排除することを可能とする。 - 特許庁
This readily water-soluble and stable pharmaceutical composition containing conivaptane hydrochloride crystal as the active ingredient is characterized by having the most intense peak near the interplanar spacing 7.82 in the powder X-ray diffraction spectrum thereof given by the use of Cu-Kα rays.例文帳に追加
Cu−Kα線を使用して得られる粉末X線回折スペクトルにおいて格子間隔7.82付近に最も強いピークを有することを特徴とする塩酸コニバプタンの結晶を有効成分とする水易溶性且つ安定性医薬組成物。 - 特許庁
The light emission part 3 is configured to emit the irradiation rays of light LT so that the detecting accuracy of the position information to be detected by the light reception part 4 can be made different from each other in accordance with a Z-coordinate position of the object OB on a Z-axis which is orthogonal to the X-Y plane.例文帳に追加
光射出部3は、X−Y平面に直交するZ軸での対象物OBのZ座標位置に応じて、受光部4が検出する位置情報の検出精度を異ならせるように照射光LTを射出する。 - 特許庁
The image detector (1) has a sensor plate (2) for detecting X rays, a fixed frame (4) to attach the sensor plate to an imaging apparatus, a hood (3) covering the sensor plate, and a means to measure relative movement of the hood to the fixed frame.例文帳に追加
像検出器(1)は、X線を検出するセンサ・プレート(2)と、イメージング装置にセンサ・プレートを装着するための固定フレーム(4)と、センサ・プレートを覆うフード(3)と、固定フレームに対するフードの相対的な移動を測定する手段とを有する。 - 特許庁
This device includes a target supply device 6 that moves a target 30 shaped like a tape in the direction of its length, a support member 7 placed on the back face of the target 30 in a position where X rays are condensed and a means 80 for removing a residue to the target on the front surface of the support member 7.例文帳に追加
テープ状のターゲット30をその長手方向に移動させるターゲット供給装置6と、集光位置でターゲット30の背面に設けられた支持部材7と、支持部材7表面のターゲット残渣を除去する除去手段80とを有する。 - 特許庁
To provide an excellent positive type resist composition for electron beams or X-rays having high sensitivity and high resolution and giving a resist pattern whose profile is rectangular (free from a T-top shape peculiar to a resist for irradiation with electron beams).例文帳に追加
高感度かつ高解像度で、得られるレジストパターンプロファイルが矩形(特に電子線照射用レジストに特有のT−top形状とならない)である、優れた電子線またはX線用ポジ型レジスト組成物を提供することにある。 - 特許庁
A method for inspection includes directing a beam of X-rays to impinge upon an area of a sample containing first and second specified structures 24 formed respectively in first and second thin film layers, which are superimposed on a surface of the sample 22.例文帳に追加
検査のための方法が、サンプル22の表面上に重畳された第1および第2の薄膜層内に夫々形成された第1および第2特定構造24を含むサンプルの領域に衝当する様にX線のビームを導向する段階を含む。 - 特許庁
Target rings 113a and 113b are provided on the outside of the detector ring 120, and the target rings 113a and 113b irradiate X-rays from both sides of the detector ring 120 to intersect each other in the center of the detector ring 120.例文帳に追加
ターゲットリング113aおよび113bを検出器リング120の外側に設け、これらターゲットリング113aおよび113bが、検出器リング120の両側から、検出器リング120の中央で交差するようにX線を照射する。 - 特許庁
The detection processes S101 to S102 detect the distribution of elements contained in solder paste 16 applied on the lands 12 and is not contained in the solder balls 5 from the information obtained by irradiating the solder jointed parts with X-rays.例文帳に追加
検出工程S101〜S102は、はんだ接合される部分にX線を照射することにより得られる情報から、ランド12上に塗布されたはんだペースト16に含まれ、かつ、はんだボール5に含まれない元素の分布を検出する。 - 特許庁
To provide a new nitrogen-containing organic compound suitably used for a chemically-amplified resist material applicable to immersion exposure that gives a high-resolution image and reduces dependence on mask coverage in photolithography for microfabrication, especially in lithography using as a light source a KrF laser, an ArF laser, an F2 laser, extremely-short ultraviolet rays, an electron beam, X-rays and the like.例文帳に追加
微細加工のためのフォトリソグラフィー、特にKrFレーザー、ArFレーザー、F2レーザー、極短紫外線、電子線、X線などを露光源として用いたリソグラフィーにおいて、高解像性を達成すると共に、マスク被覆率依存性を低減し、更には液浸露光にも適用可能な化学増幅型レジスト材料に好適に用いられる新規な含窒素有機化合物の提供。 - 特許庁
To provide a high resolution resist material containing acid generation agent of polymer type which is highly sensitive and high resolution to high energy rays particularly to ArF excimer laser, F_2 excimer laser, EUV, X-rays and EB etc., small in line edge roughness and not water soluble, and stable to heat and preservation; and to provide a pattern formation method using the resist material.例文帳に追加
レジスト材料であって、高エネルギー線、特にはArFエキシマレーザー、F_2エキシマレーザー、EUV、X線、EB等に対して高感度、高解像でラインエッジラフネスが小さく水への溶解がなく、十分な熱安定性、保存安定性を有するポリマー型の酸発生剤を含有する高解像性レジスト材料、及び該レジスト材料を用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁
To provide an image capturing system for medical use, image processing apparatus, image processing method, and program capable of objectively discriminating the constituent of a subject also in an image in which density difference is not easily discriminated on a gray image obtained by image capturing for medical use using X-rays.例文帳に追加
X線を用いた医療用撮影による濃淡画像上で濃度差が判別しがたい画像についても、客観的に被写体の構成物質を判別することができる医療用撮影システム、画像処理装置、画像処理方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁
Even when positive electric charges are stored in a gate oxide film by irradiation with X rays, the P channel MOSFET has no false channel formed right below the gate oxide film and can reduce a leak through a channel as compared with an N channel MOSFET.例文帳に追加
X線の照射によってゲート酸化膜に正の電荷が蓄積した場合でも、PチャネルMOSFETではゲート酸化膜直下に擬似的なチャネルが形成されず、NチャネルMOSFETに比べてチャネルを通したリークを軽減することができる。 - 特許庁
To solve the problem that a flange (23) sometimes enters a lacrimal passage from a lacrimal punctum because of the softness and the flange (23) is not projected by X-rays when the flange (23) of a brim NST which is a lacrimal passage stent for a lacrimal passage surgery and lacrimal punctum plug is reduced.例文帳に追加
涙道手術のための涙道ステントであるブリムNST及び涙点プラグのツバ(23)を小さくするとその柔らかさのためにツバ(23)が涙点から涙道内に入って行くことがあり、ツバ(23)がX線で映らないということである。 - 特許庁
In this ultrahigh vacuum gage, a condition wherein ions do not pass an energy analyzer is set, and a circuit means for measuring and adjusting the offset of the whole measuring system such as a residual current by soft X-rays, an amplifier, a cable and a connector part is provided.例文帳に追加
本発明の超高真空計においては、イオンがエネルギーアナライザーを通過しない条件に設定して軟X線による残留電流、増幅器、ケーブル、コネクター部分等全ての測定系全体のオフセットを計測、調整する回路手段が設けられる。 - 特許庁
The lamination film 10 is obtained by laminating an aluminum foil layer 12 and a resin layer 13, and the aluminum foil layer 12 has a thickness large enough to transmit X-rays and electromagnetic waves of extremely high-frequency range but block electromagnetic waves of other than the high frequency range.例文帳に追加
積層フィルム10は、アルミニウム箔層12と樹脂層13が積層されたものであり、アルミニウム箔層12の厚さは、X線及び極超短波領域の電磁波を透過させるが短波領域の電磁波を遮断することができる厚さに設定されている。 - 特許庁
The electron beam radiated from the electron beam source 3 to the target retains in each of the plurality of target layers to generate characteristic X-rays by switching an acceleration voltage that is applied with: the electron source 3 as a cathode; and the target 4 as an anode.例文帳に追加
電子線源3を陰極、ターゲット4を陽極として印加される加速電圧を切り替えることにより、電子線源3からターゲットに照射される電子線が、複数のターゲット層のそれぞれの内部に留まるように照射し、特性X線を発生させる。 - 特許庁
An electron beam transmissive window section 10a which allows the electron beam irradiated from the electron beam emission part 9 to permeate outside the tube body 6 and a target 11 which generates X rays excited by an irradiated electron beam are provided at one end (lower end) of the tube body 6.例文帳に追加
管体6の一端部(下端部)には、電子線放出部9から照射された電子線を管体6の外部に透過させる電子線透過窓部10aと、照射された電子線によって励起されるX線を発生するターゲット11とを備える。 - 特許庁
A calibration curve showing the relationship of the value after the correction is performed with respect to the intensity of fluorescent X rays, from which the background is subtracted, with the measuring object component is predetermined, and the concentration of the measuring object component in the sample is calculated on the basis of the calibration curve.例文帳に追加
バックグラウンドを減算した蛍光X線強度に対して補正を行った後の値と測定対象成分との関係を示す検量線を予め定めておき、検量線に基づいて、試料中の測定対象成分の濃度を計算する。 - 特許庁
To provide an apparatus for correcting deviation of an irradiation position and precisely measuring strain through diffraction, when a position irradiated with electromagnetic waves is deformed by the movement and deformation of an object to be measured, during measurement in measurement of strain by a diffraction method of electromagnetic waves, such as X-rays.例文帳に追加
X線など電磁波の回折法によるひずみ測定において、測定中に被測定物の移動や変形により電磁波照射位置が変化した場合に、照射位置のずれを補正し、回折によるひずみ測定を精度良くする装置を提供する。 - 特許庁
In a connection board base 210, a plurality of openings are formed at locations coincident with an intersection of a lattice at an equal interval in plan view, and the openings are extended in a thickness direction, i.e., in a direction oblique to an incident direction of X-rays, and in the same direction with each other.例文帳に追加
接続基板基台210には、平面視で等間隔の格子の交点に一致する位置に形成された複数個の開口部は、その厚さ方向、即ちX線の入射方向に対して傾斜する方向であって、互いに同一の方向に延びている。 - 特許庁
A scanner 3 is provided with a traveling cart 4, a scanner main body 5 provided on the traveling cart 4 for exposing the subject to X-rays, a step 6 provided so as to be taken in and out of the traveling cart 4, and a monitor 7 attached to the scanner main body 5.例文帳に追加
スキャナ3は、走行台車4と、走行台車4上に設けられ被検者に対してX線を曝射するスキャナ本体5と、走行台車4に出し入れ可能に設けられたステップ6と、スキャナ本体5に取り付けられたモニタ7とを有している。 - 特許庁
To provide an inspection device for discriminating high-speed material capable of discriminating a material of an object, even if the material has unknown attenuation characteristics, in a short time, without the need for previously determining the detection output of X rays and the thickness and the thickness of the object, and to provide a method therefor.例文帳に追加
減衰特性が未知の物質であっても、短時間にその材質を識別することができ、かつ予めX線の検出出力と対象物の厚みとの特性データを求める必要がない高速材質識別検査装置および方法を提供する。 - 特許庁
Here, application of voltage to the transmission target starts at the time of generating X rays, and the electrons are emitted from the electron source after passing a designated period showing a time for making the transmission target reach designated voltage from starting of application of the voltage.例文帳に追加
ここで、X線の発生に際しては、透過型ターゲットに対して電圧の印加を開始し、当該電圧の印加が開始してから透過型ターゲットが所定電圧に達するまでの時間を示す所定期間が経過した後、電子源から電子を放出させる。 - 特許庁
To provide a method for producing lithium titanate for a lithium secondary battery active material that can provide excellent rapid charge and discharge characteristics to a lithium secondary battery when used as a negative electrode active material, by which method lithium titanate that is a single phase by X-rays can be obtained.例文帳に追加
X線的に単相なチタン酸リチウムを得ることできるとともに、負極活物質として用いたとき、リチウム二次電池に優れた急速充放電特性を付与することができるリチウム二次電池活物質用チタン酸リチウムの製造方法を提供する。 - 特許庁
The negative type resist composition contains a compound having a disulfone group and generating an acid when irradiated with electron beams or X-rays, a resin insoluble in water and soluble in an aqueous alkali solution and a crosslinker causing crosslinking with the resin under the action of the acid.例文帳に追加
ジスルホン基を有する、電子線又はX線の照射により酸を発生する化合物、水不溶でアルカリ水溶液に可溶な樹脂、及び酸の作用により該樹脂と架橋を生じる架橋剤を含有する電子線又はX線用ネガ型レジスト組成物。 - 特許庁
To provide a system for reading out a plurality of storage phosphor panels which are used for the individual usage of radiation and consecutively exposed to X-rays so as to avoid requirement for exchanging radiation transmission filters when the exposed storage phosphor panels are scanned.例文帳に追加
露光された貯蔵燐光体パネルを走査するときに放射線透過フィルターの変換が要求されないように別個の放射線用途のために使用され次々とX線に露光される複数の貯蔵燐光パネルを読み出すシステムを提供する。 - 特許庁
A scintillator 402 and photo-diodes 403a-403f are arranged so that the light converted from the X-rays having passed through the collimators by the scintillator 402 is made incident on the two photo-diodes (the width of the light corresponding to the distance L between the collimators-see attached illustration).例文帳に追加
402はシンチレータ、403a〜403fはそれぞれフォトダイオードで、コリメータ間を通ってきたX線がシンチレータ402により光に変換された場合、この光(同図コリメータ間の距離Lの幅の光)が2つのフォトダイオードに入射するように配置されている。 - 特許庁
A revolving support 3 is vertically provided on a movable truck 1 and a counter wt. 8 connected with the holding part of an X-rays tube 10 movable in the up and down direction along this support 3 with a wire 9 is hung movably up and down in the support 3.例文帳に追加
移動台車1上に旋回可能な支柱3を垂設し、この支柱3に沿って上下方向に移動可能なX線管10の保持部とワイヤー9で連結されたカウンターウエイト8が、支柱3の中で上下移動可能に懸垂されている。 - 特許庁
To calculate a composition corrected in the effect of a conductive film without preliminarily grasping the thickness of the conductive film when compositional analysis is performed using characteristic X rays emitted by irradiating a sample covered with the conductive film with an electron beam.例文帳に追加
導電性膜で被われた試料に電子線を照射し、発生する特性X線を用いて組成分析を行う際に、予め導電性膜の厚さを知ること無しに、導電性膜の影響を補正した組成を求めることができるようにする。 - 特許庁
The expansion correcting circuit divides the whole inspection region into a plurality of divided regions, and finds correction data corresponding to the divided regions by dividing the total quantity of X rays passing through each divided region by expansion rate of the detection region to the inspection region.例文帳に追加
拡大補正回路部は、検査領域全体を複数の分割領域に分割し、各分割領域を通過したX線量の合計を、検査領域に対する検出領域の拡大率で割ることにより、各分割領域に対応した補正データを求める。 - 特許庁
To obtain images, through a small amount of computations, the calculation of the displacement position of a shielding plate within a collimator and the detection of a channel which is shielded so that projection data are abruptly changed, in a CT device irradiating a set area with X-rays to obtain images.例文帳に追加
設定した領域内にX線を照射し画像を得るX線CT装置において、コリメータ内の遮蔽板の移動位置算出や、遮蔽することによって投影データが急変するチャンネルの検出に際し、少ない演算量で実現したい。 - 特許庁
To provide a method for producing a 2-alkyl-2-adamantyl (meth)acrylate having high purity and attracting attention as various resist raw materials for excimer laser such as KrF, ArF and F2 laser, X-ray, electron beam and EUV (extreme-ultraviolet rays) and as a raw material for highly functional polymers.例文帳に追加
KrFおよびArF、F2等のエキシマレーザ、X線、電子ビーム、EUV(極端紫外光)用各種レジスト原料や、高機能性ポリマー原料として注目を集めている高純度2−アルキル−2−アダマンチル(メタ)アクリレート類の製造方法を提供する。 - 特許庁
The form of the outgoing radiation 12 for outgoing radiation variable dimensional 4 is changed at the control unit 5 and a radiation field 13 for therapeutic X rays radiated from the radiation generating device 3 is changed by tracking the position and form of the treatment target part T.例文帳に追加
制御装置5で出射口可変式コリメータ4の出射口12の形状を変化させ、放射線発生装置3から出射される治療用X線の照射野13を治療対象部位Tの位置及び形状に追尾させて変化させる。 - 特許庁
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