「control sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a system for supporting a test strip for use in a fluid analyte meter to control fluid flow when the fluid first enters from a sample pad to a test strip and also the fluid moves thorough the test strip itself.例文帳に追加

流体が最初にサンプルパッドからテスト・ストリップに入るときと、流体がテスト・ストリップ自体を通って移動するときの両方で流体の流れが制御されるように、流体検体計に使用されるテスト・ストリップを支持するためのシステムを提供する。 - 特許庁

The motor 10 is controlled by the controller 13 so that the relative distance between the leading end part of the objective lens 5 and the sample table 3 may be kept constant based on information detected by the non-contact type sensor 1 during the control switch 12 is turned on.例文帳に追加

コントローラー１３は、制御スイッチ１２がＯＮの間、非接触式センサー１で検出される情報に基づいて、対物レンズ５の先端部と試料台３との間の相対距離を一定に保つようにモーター１０を制御する。 - 特許庁

In addition, while a low-pass filter 113, an integrator 114 and an amplifier 115 are used, a DC control voltage is supplied to the resonator 102 in such a way that a resonance frequency which is shifted due to the movement or the like of a sample is brought back to a carrier frequency.例文帳に追加

さらに、ローパスフィルタ１１３及び積分器１１５及び増幅器１１５により、試料の動き等によりずれた共振周波数を搬送波周波数に引き戻すように直流制御電圧が共振器１０２に印加される。 - 特許庁

To easily perform inspection when an observer compares a sample with an actual product to perform inspection and to immediately control a machine apparatus for manufacturing a product when a trouble place is discovered by inspection.例文帳に追加

観察者が見本と実際の製品を見比べて検査を行う際、容易に検査を行うことができ、さらに、検査によって不具合箇所が発見された際に、当該製品を製造する機械装置を直ちに制御することができるようにする。 - 特許庁

The microscope is also equipped with an optical microscope 17 for observing the measuring spot on the sample surface together with the cantilever, a camera 18 for generating image data from an observation image acquired by a second microscope, and transmitting the data to the control device, and a storage part 51 for storing the image data.例文帳に追加

さらに、試料の表面の測定箇所をカンチレバーと共に観察する光学顕微鏡１７と、第２顕微鏡で得られる観察像から画像データを作り、制御装置に送るカメラ１８と、画像データを記憶する記憶部５１を備える。 - 特許庁

Under this control, intensity detection of light passing a pinhole 8 arranged on a conjugate position to the condensing position of the objective lens 5, which is detected when the outgoing light is converged onto the sample 6, is performed by a light detector 9.例文帳に追加

この制御の下で、出射光を試料６に対して集束させているときに検出がされる、対物レンズ５の集光位置に対し共役な位置に配置されているピンホール８を通過した該光の強度の検出を光検出器９が行う。 - 特許庁

Further, a control apparatus 20 controlling an energization to the film heater, a supply of the refrigerant to the refrigerant pipeline, and a driving of the fan based on a measured temperature of the temperature sensor and a previously set temperature of the liquid sample is provided.例文帳に追加

さらに、温度センサーの測定温度とあらかじめ設定された液体試料の温度とに基づいて、前記膜ヒーターへの通電、前記冷媒管路への冷媒の供給及び前記ファンの駆動を制御する制御装置２０を備えている。 - 特許庁

The device for detecting the nucleic acid amplification in the sample comprises a loading mechanism (temperature control mechanism) 4 which is provided with a plurality of holes 3 for loading reaction containers and capable of arbitrarily controlling the temperatures of the individual holes 3, and a measuring mechanism 9 for measuring samples in the containers that are loaded in the holes 3.例文帳に追加

反応容器のローディング穴３を複数有し、穴３を個別に任意の温度に調整可能なローディング機構（温度調節機構）と、穴３にローディングされた容器内の試料を測定する測定機構９を備える。 - 特許庁

A cantilever 12 having a probe 12a for characteristic measurement is resonated by an exciting section 5, the vibration of the cantilever 12 is detected by a vibration detecting section 6, and AFM (Atomic Force Microscope) observation of a sample is determined based on the detection result by a control/arithmetic section 9.例文帳に追加

特性計測用プローブ１２ａが形成されたカンチレバー１２を励振部５により共振させ、カンチレバー１２の振動を振動検出部６で検出し、その検出結果に基づいて試料のＡＦＭ観察を制御・演算部９で求める。 - 特許庁

A predicted voltage command Ea based on a sample temperature Ts is output in a prediction controller in a control system for a first heater, and a voltage command Eb is output in a PID controller 42 to make the deviation ΔT zero.例文帳に追加

第１ヒータの制御系では、予測制御器において試料温度Ｔｓに基づいた予測電圧指令Ｅａが出力され、一方、ＰＩＤ制御器４２において上述の偏差ΔＴがゼロになる方向に電圧指令Ｅｂが出力される。 - 特許庁

The shape of a pattern to be exposed is rendered to be a bit map, the pattern data in the bit map format is rearranged and stored for every scanning line 401, 402, 403, and 404, and exposure beam scanning on the sample 108 is subjected to on/off control based on the stored data.例文帳に追加

露光すべきパターンの形状をビットマップ化し、該ビットマップ形式のパターンデータを走査線４０１、４０２、４０３、４０４毎に並べ替えて記憶し、記憶したデータに基づいて試料１０８上を走査する露光ビームをオンオフ制御する。 - 特許庁

An address arithmetic circuit 134 detects the arrival of the the read-out addresses of the SDRAMs 64 and 66 at the set jump source address, moves the read-out address to the jump source address and causes a buffer memory control circuit to continue the read-out of the sample data from the jump source address.例文帳に追加

アドレス演算回路１３４はＳＤＲＡＭ６４，６６の読み出しアドレスが該設定されたジャンプ元アドレスに到達したことを検出して、読み出しアドレスをジャンプ先アドレスに移動して、該ジャンプ先アドレスからサンプルデータの読み出しを続行させる。 - 特許庁

A sample and hold circuit 9 and a low band cut-off filter 10 are provided between a two-dimensional light reception sensor 2 and a binarization circuit 3, and at the same time, a conventional latching circuit, a binarization reference voltage setting/correction circuit and a light source light amount control circuit are not used.例文帳に追加

サンプルホールド回路９及び低域遮断フィルター１０を２次元受光センサ２と２値化回路３との間に設けると共に従来のラッチ回路、２値化基準電圧設定・補正回路及び光源光量制御回路は用いない。 - 特許庁

A detector for detecting electrons generated from a surface of the substrate is composed of divided detection elements, desired control according to a sample state is executed to orbits of the electrons, and a calculation process of an obtained output signal of each element is carried out.例文帳に追加

基板表面から発生する電子を検出する検出器を分割した検出素子で構成し、電子の軌道に対し試料状態に応じた所望の制御を行い、得られた各素子の出力信号の演算処理を行う。 - 特許庁

This control sample of glycated albumin contains the glycated albumin and a disaccharide such as sucrose or the like and is used for detecting the glycated albumin in a specimen by the enzymatic method.例文帳に追加

糖化アルブミン、及び、スクロース等の二糖類を含有することを特徴とする糖化アルブミンの管理試料を提供し、これを酵素法による検体中の糖化アルブミンの検出において用いることにより、上記の課題を解決し得ることを見出した。 - 特許庁

When the measurement value lowers than a set flow rate from the result of the arithmetic process, the flow rate of the sample water is maintained constant by providing a control signal from the controller 32 to the injection pump 11 to increase the set value of the pump 11.例文帳に追加

演算処理の結果により、流量計測値が設定流量値より低下したとき、コントローラ３２から制御信号が試料水注入ポンプ１１に与えられ、ポンプ１１の設定値を上昇させて、試料水の流量を一定にする。 - 特許庁

The controller 8 controls the drive unit 6, based on an optional orbit given preliminarily, monitors a posture of the probe 20 with respect to the sample 10, and conducts feedback control not to make an opposed portion between the both run out from the orbit.例文帳に追加

コントローラ８は、予め与えられる任意軌道に基づいて駆動装置６を制御し、測定子２０の試料１０に対する姿勢を監視して両者の間の対向部位が軌道から外れることのないように帰還制御をかける。 - 特許庁

By obtaining a movement with rotation in the plane by calculation by using a drive mechanism by a two-dimensional position detector of the rotating mechanism comprising a sample holder, a restriction device, a biprisim and the like and a drive mechanism by computer control, and by using calculation capability of a computer, drive and control are executed so as to cancel it.例文帳に追加

荷電粒子線装置における試料ホルダー、絞り装置、バイプリズムなどの、当該回転機構の２次元位置検出器とコンピュータ制御による駆動機構を利用し、さらにコンピュータの演算能力を利用することによって該平面内の回転に伴う移動量を演算によって求め、これを相殺させる様に駆動、制御を行なう。 - 特許庁

A system control part 50 performs control so as to extract shading data whose difference from standard shading data is the smallest among a plurality of pieces of shading data created by the image processing circuit part 20 and to sample image picked-up signals from pixels in an area other than the portion of area at sampling timing in the extracted shading data.例文帳に追加

そして、システム制御部５０は、画像処理回路部２０で作成された複数のシェーディングデータのうち、標準シェーディングデータとの差が最小となるシェーディングデータを抽出し、前記一部の領域以外の領域内の画素からの撮像信号を、抽出したシェーディングデータにおけるサンプリングタイミングでサンプリングさせる制御を行う。 - 特許庁

In the particle diameter distribution-measuring device where measuring conditions are set, data are arranged, or the like using an operation control part 16 for controlling the entire device, one portion or entire portion of the name of a sample and a dispersion medium is inputted to the operation control part 16, thus searching parameters required for calculating the particle diameter distribution.例文帳に追加

装置全体を制御する演算制御部１６を用いて測定条件の設定やデータ整理等を行わせるようにした粒子径分布測定装置において、前記演算制御部１６に試料や分散媒の名称の一部または全部を入力することにより、粒子径分布演算に必要なパラメータを検索できるようにした。 - 特許庁

A control method of a weld current for manufacturing this measuring sample is constituted so that a current attenuation point timing signal corresponding to the unwelded part of the welding can is inputted into a weld current wave forming part of a seam welding machine via CPU so as to control a current value to be a given attenuation volume.例文帳に追加

上記の測定用試料を製作するための溶接電流制御方法は、シーム溶接機の溶接電流波形生成部に、ＣＰＵを介して溶接缶の未溶接部位置に対応した電流減衰位置タイミング信号を入力し、溶接缶の未溶接部位置において所定の減衰量となるように電流値を制御する。 - 特許庁

The constant current control means 2 has a switching part 14 to ON/OFF control the switching means 4, and a sample hold circuit 12 that outputs a voltage signal to the switching part 14 corresponding to the drive current when the switching means 4 is ON controlling, and continuously outputs the voltage signals to the switching part 14 when the switching means 4 is controlling OFF.例文帳に追加

定電流制御手段２は、スイッチング手段４をオン・オフ制御するスイッチ部１４と、スイッチング手段４がオン制御している時に前記駆動電流に対応する電圧信号をスイッチ部１４に出力し、スイッチング手段４がオフ制御している時に前記電圧信号を継続してスイッチ部１４に出力するサンプルホールド回路１２とを有する。 - 特許庁

By control by a bias control circuit BCC, a preamplifier AMP of a comparator COP of the post stage performs amplification with a large amplification rate when differential voltage of differential input signals Vsig and Vref supplied from outputs of the sample/hold circuit SHC of the first stage is small, and performs amplification at a small amplification rate when the differential voltage is sufficiently large.例文帳に追加

バイアス制御回路ＢＣＣによる制御により後段のコンパレータＣＯＰのプリアンプＡＭＰは初段のサンプル／ホールド回路ＳＨＣの出力から供給される差動入力信号Ｖｓｉｇ、Ｖｒｅｆの差電圧が小さい場合に大きな増幅率で増幅して、差電圧が十分大きくなると小さな増幅率で増幅する。 - 特許庁

A drawing control unit 100 for deflecting an electron beam to perform drawing on a desired position of a sample surface makes graphic data include specified information on a least deflection address unit (LSB) and retrieves LSB every time it calls the graphic data within a pattern from a buffer memory, thereby allowing the changeover of LSB by a gain switch 7 of an analog control unit 6.例文帳に追加

電子ビームを偏向して試料面の所望の位置へ描画する描画制御部１００は、描画パターンの図形データに最小偏向アドレス単位（ＬＳＢ）の指定情報を持たせ、パターン内の図形データをバッファメモリ１から呼び出す度にＬＳＢを取り出し、アナログ制御部６のゲイン切替７によってＬＳＢ切替を可能にしている。 - 特許庁

This moisture meter is equipped with a sample cell 11, into which a measuring object gas is introduced, an optical chamber 19, a background signal control means for changing the influence of the background signal, by adjusting a pressure in the optical chamber; and an operation control part 34 for determining a moisture concentration value, based on a detection value from a photodetector.例文帳に追加

本発明の水分計は、測定対象ガスが導入されるサンプルセル１１と、オプティカルチャンバ１９と、オプティカルチャンバ内の圧力を調整することにより、バックグラウンド信号の影響を変化させるバックグラウンド信号制御手段と、光検出器の検出値に基づいて水分濃度値を求める演算制御部３４とを備えている。 - 特許庁

This sample inspection device comprises: a microscope 1 equipped with a CCD camera and an illumination device; an image processing device 8 for controlling the microscope 1; an inspection stage 2 for moving an inspection object 3 to an inspection position; a stage drive control device 4 for driving and controlling the inspection stage 2; and a system control device 6 for controlling the whole inspection system.例文帳に追加

試料検査装置は、ＣＣＤカメラ及び照明装置を備えた顕微鏡１、この顕微鏡１を制御する画像処理装置８、被検査対象３を検査位置に移動する検査ステージ２、この検査ステージ２を駆動・制御するステージ駆動・制御装置４及び検査システム全体を制御するシステム制御装置６で構成される。 - 特許庁

The image acquisition device is constituted of a macro image acquiring part 20 for acquiring respective macro images of the plurality of samples S and a control part 60 including a macro image acquisition control part for controlling a macro image acquisition operation and an imaging condition setting part for setting the imaging condition of the micro image of the sample S while referring to the macro image.例文帳に追加

複数の試料Ｓのそれぞれについてマクロ画像を取得するためのマクロ画像取得部２０と、マクロ画像の取得動作を制御するマクロ画像取得制御部、及びマクロ画像を参照して試料Ｓのミクロ画像の撮像条件を設定する撮像条件設定部を有する制御部６０とによって画像取得装置を構成する。 - 特許庁

The scanning electron microscope includes; a vacuum evacuation system 13 capable of low vacuum control; an energy dispersion type X-ray detector 14; and a sample holder 15 on which a slide can be mounted, thereby the slide using for observation by a polarization microscope can be mounted on the electron microscope as it is, and the scanning electron microscope can be provided which can perform observation and analysis for the same sample.例文帳に追加

本発明による走査電子顕微鏡は、低真空制御が可能な真空排気系１３と、エネルギー分散型Ｘ線検出器１４と、スライドを搭載できる試料ホルダ１５を有することで、偏光顕微鏡で観察するのに使用したスライドをそのまま電子顕微鏡に搭載することが可能となり、同一試料による観察および分析ができる走査電子顕微鏡の提供が可能となる。 - 特許庁

An autoanalyzer dispensing a sample and a reagent in a container by using a probe and measuring the mixture thereof includes a washing portion for washing the probe by using washing water and a control portion for changing the water quantity of the washing water used for probe washing based on either the kind or the dispensing amount of the sample or the reagent dispensed by the probe.例文帳に追加

プローブを用いてサンプル及び試薬を容器に分注し、その混合液を測定する自動分析装置において、前記プローブを洗浄水を用いて洗浄する洗浄部と、前記プローブが分注したサンプルあるいは試薬の、種別あるいは分注量のうち少なくともいずれか一方に基づいて、前記プローブの洗浄に用いる洗浄水の水量を変化させる制御部とを有することを特徴とする。 - 特許庁

The projection image-displaying apparatus 100 includes a photographing apparatus 500 which photographs the user X facing the projection surface 210, a first acquiring section 252 which acquires photographing data from the photographing apparatus, a second acquiring section 253 which acquires sample data separately from the photographing data, and an image control section 254 which controls the image displayed on the projection surface 210 based on the photographing data and the sample data.例文帳に追加

投写型映像表示装置１００は、投写面２１０に対向するユーザＸを撮像する撮像装置５００と、撮像装置から撮像データを取得する第１取得部２５２と、撮像データとは別に、見本データを取得する第２取得部２５３と、撮像データ及び見本データに基づいて、投写面２１０上に表示される映像を制御する映像制御部２５４とを備える。 - 特許庁

The XY control circuit 17 controls an XY scanning circuit 18 and adjusts the voltages to be impressed on the XY electrodes 2-5 from the XY scanning circuit 18 so that the probe 7 scans a predetermined region of a sample 16 at a constant speed in the XY planes.例文帳に追加

ＸＹ制御回路１７は、ＸＹ走査回路１８を制御し、プローブ７がＸＹ面上で一定の速度で試料１６の所定領域を走査するように、ＸＹ走査回路１８からＸＹ電極２〜５に印加する電圧を調整する。 - 特許庁

Then the control device 6 rotates the sample 3 on the basis of a set angle α for inspection between the scanning directions X, Y (coincident with reference coordinates) of the electron beam inputted by an input device 10 and the align direction of the contact hole group to be inspected.例文帳に追加

その後、制御装置６は、入力装置１０によって入力された電子ビームの走査方向Ｘ，Ｙ（基準座標に一致）と、検査すべきコンタクトホールが整列された方向との間の検査時の設定角度αに基づいて、試料３を回転させる。 - 特許庁

When receiving an analysis start command, a central control section for generally controlling the analysis instructs the number of a selected sample or the like and sends a pre-injection processing command to an automatic sampler, and sends a dark current measuring command to a multi-channel type spectrophotometer.例文帳に追加

分析を統括的に制御する中央制御部は分析開始指示を受けると、オートサンプラに対し選択する試料の番号等を指示するとともに注入前処理コマンドを送り、マルチチャンネル型分光光度計に対して暗電流測定コマンドを送る。 - 特許庁

A recorder 3 to store sensor information to control the operation of an analysis apparatus which measures the concentration of the analytical components is provided integrally in a sensor container 1 to store a plurality of sensors, for instance, biosensors 18, to measure concentration of analytical components in a sample.例文帳に追加

サンプル中の分析成分の濃度を測定するためのセンサ、たとえばバイオセンサ１８、を複数個収納するセンサ用容器１に、前記分析成分の濃度を測定する分析装置の動作を制御するセンサ情報を格納した記録部３を一体に設ける。 - 特許庁

Capillary tubes 63, 64 for introducing sample gas and ozone gas into a reaction chamber 62, a gas discharge hole 65, and a heater for temperature control are installed in a reaction vessel 61, and the reaction chamber 62 faces to a photoelectric conversion element 71 via a light transmission window 82.例文帳に追加

反応槽容器６１には、反応室６２に試料ガス、オゾンガスをそれぞれ導入するキャピラリ管６３、６４、ガス排出口６５、温度制御用ヒータ６６が設けられ、反応室６２は光透過窓８２を介して光電変換素子７１に対向する。 - 特許庁

In an analysis center having the analyzer 30 analyzing the sample by remote control carried out on the basis of an operation signal from the outside and indicating the analysis result, the server computer is connected to the analyzer for use.例文帳に追加

このサーバ・コンピュータは、外部からの操作信号に基づいて遠隔操作されることによって試料を分析してその分析結果を表す分析結果データを出力する分析装置３０を保有する分析センタにおいてその分析装置に接続されて使用される。 - 特許庁

To provide a method capable of performing film thickness control set by FIB processing without a processing recipe for film thinning, and performing simply fine processing of a TEM sample or the like by a skill in some degree, and a system for executing the method.例文帳に追加

本発明の課題は、薄膜加工の加工レシピなしでも、ＦＩＢ加工で設定した膜厚制御を行い、有る程度のスキルがあれば、簡単にＴＥＭ試料などの微細加工を行うことが出来る方法と、それを実行するシステムを提示することにある。 - 特許庁

To provide an environment control type electron beam device, in which the attachment, removal, position adjustment, and replacement of a differential exhaust diaphragm can be carried out within a short time by an easy work, without having to open to atmosphere the inside of a sample chamber, and high resolution becomes possible.例文帳に追加

本発明の目的は、試料室内を大気開放することなく容易な作業により短時間で差動排気絞りの着脱，位置調整，交換が行え、高分解能化が可能になる環境制御型電子線装置を提供することにある。 - 特許庁

The control apparatus for an analysis apparatus is designed so that the layout or the display manner of operation windows on the display can be set for each event concerning the analysis proceeding state or apparatus state such as start/completion of a serial analysis, start/completion of an analysis of one sample, occurrence of an error, or occurrence of warning.例文帳に追加

連続分析開始・終了、１つの試料に対する分析の開始・終了、エラー発生、警告発生などの分析進行状態や装置状態を示すイベント毎に、操作ウインドウのレイアウトや画面上での表示状態を設定できるようにする。 - 特許庁

To provide a method of analyzing saccharides in an electrolyte which can quantitatively analyze unionized saccharides being an additive, can sharply omit the investigation of the additive in the electrolyte, reduces the amount of a sample liquid and can deal with the automatic concentration control of the electrolyte.例文帳に追加

添加剤としてのイオン化していない糖類の定量分析を可能とし、電解液の添加剤の検討を大幅に省略でき、サンプル液が少量で済み、電解液の自動濃度管理に対応し得る電解液の糖類分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe control method of a scanning probe microscope capable of measuring an irregular shape or the like of the sample surface by a step-in method relative to a measuring point determined beforehand, heightening throughput of measurement, and reducing breakage or damage caused by collision of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状等を予め決められた測定点についてステップイン方式で測定し、測定のスループプットを高め、探針の衝突による破損・ダメージを減少できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

First, a selection part 13 is set to a side B, frequency is swept with a sinusoidal wave at a small, constant amplitude and at the same time a sample 1 is vibrated by displacement control, and a frequency where the output of a load sensor 6 reaches zero is obtained and is determined as a natural frequency f0 of a system.例文帳に追加

まず、選択部１３をＢ側に設定して、一定小振幅の正弦波により周波数を掃引しながら変位制御で試料１を加振し、荷重センサ６の出力がゼロとなる周波数を求め、これを系の固有周波数ｆ_0と決定する。 - 特許庁

When measuring the magnetic field from a sample, the magnetic field measuring device inputs the control signal based on each adjustment quantity stored in the storage unit to each adjustment unit, controls the light volume of pumping light incident to each cell, and detects the magnetic field with a magnetic field detection unit.例文帳に追加

磁場計測装置は、検体からの磁場を計測する際、記憶部に記憶された各調整量に基づく制御信号を各調整部に入力し、各セルに入射するポンプ光の光量を制御して磁場検出部により磁場を検出する。 - 特許庁

To provide a microscope control device, an image management server, an image processing method, a program, and an image management system which reduce delay due to a digital processing process to allow a sample image imaged by a microscope to be quickly browsed.例文帳に追加

デジタル加工処理に起因する遅滞を低減し、顕微鏡にて撮像したサンプル画像をより速やかに閲覧可能な状態とすることが可能な、顕微鏡制御装置、画像管理サーバ、画像処理方法、プログラム及び画像管理システムを提供すること。 - 特許庁

A static eliminator 4 and a charge monitor 3 are arranged and the charge monitor 3 is controlled on the basis of the position of the probe 2 of the atomic force microscope by a monitor position control means 7 so as to measure the charge quantity in the periphery of the position of the probe 2 of the sample 1.例文帳に追加

除電装置４と、帯電モニタ３を配置し、原子間力顕微鏡の探針２の位置に基づいて、試料１の探針２の位置周辺の帯電量が測定されるように帯電モニタ３をモニタ位置制御手段７により制御する。 - 特許庁