| 意味 | 例文 |
function testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 984件
A text storage section 31 stores station data generated by a network manager from an application system 11 via a transmitter-receiver 37, a difference extract function section 27 compares the data with in-operation station data stored in a text storage section 34 to extract difference data, and a test item extract function section 28 generates a test scenario on the basis of the difference data.例文帳に追加
ネットワーク管理者によって作成された局データは投入システム11から送受信機37を介してテキスト格納部31に格納され、差分抽出機能部27によりテキスト格納部34に格納されている稼働中局データと比較され、差分データが抽出され、試験項目抽出機能部28において差分データに基づき試験シナリオを作成する。 - 特許庁
To provide a misconnection monitoring system that a primary time switch of a main signal control signal inserts a test pattern, a monitor function is provided to each switch panel so as to monitor the test pattern between the switch panels, and each switch panel monitors the test pattern among them to particularize the position at which misconnection takes place.例文帳に追加
本発明は誤接続監視システムに関し、主信号制御信号の1次側時間スイッチからテストパターンの挿入を行ない、各スイッチ盤に監視機能を持たせることで、一連の接続の正当性を確認すると同時に、各スイッチ盤間でテストパターンを監視することで誤接続の発生した箇所を特定することができる誤接続監視システムを提供することを目的としている。 - 特許庁
Since a row of a number of test time fuses 2, a GO/NO-GO determination fuse 3 and a rejection item fuse 4 are mounted and the function test results of a semiconductor wafer are represented by a fact whether a fuse is blown out or not, an acceptable semiconductor device determined erroneously to be rejectable through a single test can be remedied by repeating the measurement.例文帳に追加
試験回数用ヒューズ2,良・不良判定用ヒューズ3及び不良項目用ヒューズ4の行を搭載し、半導体ウェハースの機能試験結果をヒューズを切断するか否かで表現することで、1回の試験で仮に誤判定されて本来良品半導体装置を不良品と判定された場合でも再度の測定により良品を救済することを可能とする。 - 特許庁
The light emission substrate 1003 is provided with: a pixel region 110 having bank regions 220 and light emission regions 230 divided by the bank regions 220; a droplet material spotting precision test region 210 disposed besides the pixel region 110; function layers disposed on the light emission regions 230; and a spotting precision test layer 226 disposed on the droplet material spotting precision test region 210.例文帳に追加
本発明の発光用基板1003は、バンク領域220およびバンク領域220によって区画された発光領域230を有する画素領域110と、画素領域110以外に設けられた着弾精度試験用領域210と、発光領域230に設けられた機能層と、着弾精度試験用領域210に設けられた着弾精度試験用層226と、を備える。 - 特許庁
The semiconductor memory test pattern forming method is structured; to make the operation data of the semiconductor memory test pattern described in a format independent of the types of semiconductor testing apparatus and; to output the test specifications of the above semiconductor memory based on the above operation data after verifying the above operation data with an emulation function corresponding to the above format.例文帳に追加
半導体メモリの試験パターンを作成する方法において、半導体試験装置の種類に依存しないフォーマットで記述された半導体メモリ試験パターンの動作データを作成し、上記動作データを上記フォーマットに対応するエミュレート機能により検証した後、上記動作データにもとづいて上記半導体メモリの試験仕様書を出力する構成とする。 - 特許庁
To provide a pinhole inspection machine with a self-diagnosis function having the built-in self-diagnosis function, capable of confirming properly pinhole detection accuracy of the pinhole inspection machine itself without inputting a test piece on which a pseudo pinhole is bored into a conveyance line, and without depending on the number of inspection times.例文帳に追加
搬送ラインに対し疑似ピンホールが穿孔されたテストピースを投入することなく且つ検査回数に依存せずに、ピンホール検査機自体のピンホール検出精度を適宜確認することが可能な自己診断機能を内蔵した自己診断機能付きピンホール検査機を提供する。 - 特許庁
To provide a circuit with a control function in which a circuit to be controlled operates only when a predetermined environment meets a specific condition, and which is capable of testing whether or not the circuit with a control function operates normally under any predetermined environment, and to provide a test method thereof.例文帳に追加
所定環境が特定条件を満たす場合に限り被制御回路が作動する制御機能付き回路であって、いずれの所定環境下でも、当該制御機能付き回路が正常に作動するか否かを検査できる制御機能付き回路、及びその検査方法を提供する。 - 特許庁
This constitution can detect the movement of the thyroid cartilage skin on a site attached with the small-size magnet by mounting the small-size magnet on the patient, allow the swallowing function evaluation means to evaluate the swallowing function based thereon and reduce the physical burden on the patient in the evaluation test.例文帳に追加
これにより、小型磁石を患者に装着することで小型磁石を付した部位の甲状軟骨皮膚の移動を磁気センサで検出し、これに基づき嚥下機能評価手段が嚥下機能を評価できるので、評価試験に際して患者への肉体的負担の軽減を図ることができる。 - 特許庁
To provide an antireflection film which has an excellent antireflection function having no irregularity of reflected colors, which has high film strength after a forced deterioration test which becomes the index of durability in particular, and which has an antistatic function excellent in scratch resistance, and to provide a polarizing plate and an image display device.例文帳に追加
本発明の目的は、反射色ムラのない優れた反射防止機能を有し、特に耐久性の指標となる強制劣化試験後の膜強度が強く、耐傷性に優れた耐電防止機能を有する反射防止フィルム、偏光板及び画像表示装置を提供することにある。 - 特許庁
To provide a combination of a basic power amplifier measuring function and a measuring system self-test function into one RF circuit to improve reliability and reproducibility, to reduce the costs and to improve the accuracy without cutting a high power RF switch or DUT.例文帳に追加
大電力RFスイッチまたはDUTの切断を必要とすることなく、高信頼性、高再現性、低コスト、及び、高正確度をもたらす、基本的な電力増幅器測定機能及び測定システム自己テスト機能の、1つのRF回路への組み合わせを提供する。 - 特許庁
The memory tester provided with an ALPG 2 which generates a test pattern for digital signals based on vector data VD is enabled to verify the function of a DUT 100a having an A/D-converting function by adding a D/A converter 4 to the inside or outside of the tester.例文帳に追加
デジタル信号のテストパターンをベクタデータVDに基づいて発生させるALPG2を備えるメモリテスタの構成に、テスタ内蔵の、または、テスタ外部に設けられたDA変換器4を追加して、AD変換機能を有するDUT100aの機能の検証を行えるようにする。 - 特許庁
In a system verification system, a function checker 29 compares a verification result of a test program 23 by an instruction level simulator 25 to a result from a function simulator 17 verifying an HDL 13 based on event information representing the verification item 11 related to operational specification.例文帳に追加
たとえば、テストプログラム23を命令レベル・シミュレータ25により検証した結果と、動作仕様に関する検証項目11をイベントで表現したイベント情報にもとづいて、HDL13を検証した機能シミュレータ17の結果とを機能チェッカー29により比較する。 - 特許庁
A heat generation speed by internal short-circuiting and/or thermal decomposition is converted into a function, based on a test result using a device for testing, a coefficient value contributing to a heat transfer speed is specified, and a heat balance expression is solved by using the heat generation speed converted into a function and the coefficient value, thus obtaining the temperature distribution.例文帳に追加
内部短絡及び/又は熱分解による発熱速度を試験用デバイスを用いた試験結果に基づいて関数化し、熱移動速度に寄与する係数値を特定し、関数化した発熱速度及び係数値を用いて熱収支式を解いて温度分布を求める。 - 特許庁
A failure diagnosis control unit 310 receives processed data from each image forming function unit 202 on the basis of test data for failure diagnosis via the I/O bridge unit 140, and executes failure diagnosis processing of each image forming function unit 202 independently on the basis of the processed data.例文帳に追加
故障診断制御部310 は、故障診断用のテストデータに基づく各画像形成機能部202 からの処理済データを I/Oブリッジ部140 を介して受け取り、この処理済データに基づいて画像形成機能部202 の故障診断処理をそれぞれ独立に実行する。 - 特許庁
To reduce the cost and size while enhancing regeneration efficiency of a motor drive for driving an AC motor and having a function for regenerating excessive energy during brake operation as electric energy, a load test supporting device for setting predetermined load test conditions to these AC motor and motor drive and a generator driven through the AC motor entirely or partially, and a load test device for achieving the load test.例文帳に追加
本発明は、交流モータを駆動し、制動時における余剰のエネルギーを電気エネルギーとして回生する機能を有するモータ駆動装置と、これらの交流モータおよびモータ駆動装置と、この交流モータによって駆動される発電機との全てまたは一部に所定の負荷試験の条件を設定する負荷試験支援装置と、その負荷試験を実現する負荷試験装置とに関し、回生の効率の向上に併せて、低廉化および小型化が図られることを目的とする。 - 特許庁
To provide a function verification device capable of verifying with ease and high accuracy interrupts to a model designed using a hardware description language, a test bench, a simulator program, and a storage medium.例文帳に追加
ハードウェア記述言語により設計されたモデルに対する割り込みの検証を容易かつ高精度に行うことができる機能検証装置、テストベンチ、シミュレータプログラム及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁
Such a configuration reduces a contact area of the lead 15 with the conductive pattern than in the conventional art, to reduce the release of heat at high-temperature function test.例文帳に追加
このような構造にすることにより、リード15と導電パターンを接触させた際の接触面積が従来よりも小さくなり、高温ファンクションテストにおける熱の逃げを小さくすることができる。 - 特許庁
To provide a lighting device and an inspecting device which can conduct the test of the saturating processing function of an imaging element in all regions, and can be performed on illumination conditions near actual taking photograph.例文帳に追加
撮像素子の飽和処理機能の検査を全領域で行うことができ且つ実際の撮影に近い照明条件で行うことができる照明装置および検査装置を提供する。 - 特許庁
Furthermore, employing digital signals for signals processed by a subscriber side switch 17, a repeater side switch 18 and the test circuit 19 allow the function blocks themselves to be realized through digital signal processing.例文帳に追加
また、加入者側スイッチ17と中継側スイッチ18と試験回路19が扱う信号をディジタル信号とすることにより、これら機能ブロック自体をディジタル信号処理により実現するようにする。 - 特許庁
A method for screening a substance for preventing and treating the urinary disturbance without inhibiting the urinary collection function comprises measuring and comparing the acetylcholinesterase inhibitory activity and the butyrylcholinesterase inhibitory activity of a test compound.例文帳に追加
試験化合物のアセチルコリンエステラーゼ阻害活性とブチリルコリンエステラーゼ阻害活性とを測定・比較することを特徴とする、蓄尿機能を阻害しない排尿障害予防・治療物質のスクリーニング方法。 - 特許庁
It is therefore possible to effectively utilize the margin of the paper generated in the test printing without wasting the margin, and to confirm the space from the installation position of the necessary apparatus when the function of the apparatus is used.例文帳に追加
このため、テストプリントにおいて発生する用紙の余白を無駄にせず有効に活用して、装置の機能を使用する際に必要な装置の設置位置からのスペースを確認することができる。 - 特許庁
To obtain topology information through a single link trace test by a communication system such that frames are capsulated on networks of different layers with respect to a communication system and device having a topology retrieval function.例文帳に追加
トポロジー検索機能を有する通信システム及び通信装置に関し、階層が異なる網でフレームがカプセル化される通信システムで、1回のリンクトレース試験によってトポロジー情報を得るようにする。 - 特許庁
Namely, an address signal contained in the test pattern generated by means of the ALPG 2 is not used for address designation, but for generating analog signals supplied to the DUT 100a having the A/D-converting function.例文帳に追加
つまり、ALPG2で生成したテストパターン中に含まれるアドレス信号を、アドレス指定のために用いるのではなく、AD変換機能を有するDUT100aへのアナログ信号の生成に用いる。 - 特許庁
To enable testing by pin-multiplex function by applying the operation of a logic circuit for example to the test, and effectively evading decrease of the number of measurable channels.例文帳に追加
本発明は、半導体試験装置に関し、例えば論理回路の動作を試験に適用して、測定可能なチャンネル数の減少を有効に回避してピンマルチにより試験することができるようにする。 - 特許庁
The technic realizes test and verification of the design and the product in high level abstraction using a message chart with an intensive expression function to solve a problem mentioned above.例文帳に追加
上記課題を解決するため、本発明による技術は、強力な表現機能を有するメッセージ図を用いたハイレベルな抽象化における設計及び製品のテスト及び検証を可能にする。 - 特許庁
When a faulty standby current occurs, it is possible to detect the failure in a function test by weakening the driving capability of the N- channel MOS transistors 74, 78 by a substrate effect.例文帳に追加
スタンバイ電流不良が生じた場合には、基板効果によりNチャネルMOSトランジスタ74,78の駆動能力を弱めることにより、ファンクションテストにおいて不良を発見することができる。 - 特許庁
To provide a static electricity tester added with the function of displaying a discharge current waveform so that a place where electro-static discharge current is propagated can be determined as soon as electro-static discharge test is performed.例文帳に追加
静電気放電の試験の実施と同時に、静電気放電電流の伝播箇所が特定できるように、放電電流波形を表示する機能を付加した静電気試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a pseudo clutter addition device, a target reception device and a radar device capable of facilitating test/adjustment of the target detection function of the radar device by simulating a meteorological condition in the device.例文帳に追加
気象条件を装置内で模擬し当該レーダ装置の目標検出機能の試験・調整を容易にすることが可能な擬似クラッタ付加装置、目標受信装置及びレーダ装置を提供する。 - 特許庁
A program generation part 132 sets a program code according to the function recorded in the operation content file to generate a test program for reproducing a series of operation executed to the Web page.例文帳に追加
プログラム生成部132は、操作内容ファイルに記録された関数に応じてプログラムコードを設定することにより、ウェブページに対して実行された一連の操作を再現するためのテスト・プログラムを生成する。 - 特許庁
The laser recording device 13 has a function for marking bar code data 17a and 17b serving as recording mediums, which are data of the performance characteristic test of the proportional solenoid valve 15 or the proportional solenoid device 16.例文帳に追加
レーザ記録装置13は、比例電磁弁15または比例電磁弁装置16の性能特性試験のデータを記録媒体であるバーコードデータ17a、17bを刻印する機能を有する。 - 特許庁
The test reagent of the present invention can contain one or more compounds with thrombin stabilizing function, selected from the group consisting of a calcium ion, an organic acid, a surfactant and a protein.例文帳に追加
また本発明の検査試薬は、カルシウムイオン、有機酸、界面活性剤、およびタンパク質から選択される1または2以上のトロンビン安定化機能を有する化合物を含有することもできる。 - 特許庁
When any value is not set, or when the value should be changed for the test, a user designates the value so that a function for generating and executing the command of the debugger can be offered.例文帳に追加
値が未だ設定されていない場合や、テストのために値を換える必要がある場合には、ユーザがその場で値を指定することによって、デバッガのコマンドを生成し実行する機能を提供する。 - 特許庁
Then the input signal is scanned and detected similarly in a normal manner, corresponding function processing is therefore carried out in the same manner as the case the phenomenon actually occurs to perform a test.例文帳に追加
すると、その入力信号が通常の場合と同様に走査、検出されるので、実際に現象が生じた場合と同様に、対応する機能処理が実行されることで、テストが実行される。 - 特許庁
Since influences of a state of an autonomic nerve can be eliminated from the measured baPWM value by using the graph, it is possible to more accurately test the vascular function.例文帳に追加
このグラフを用いることにより、測定されたbaPWVの値から自律神経の状態による影響を除くことができるため、血管機能をより高い精度で検査することが可能になる。 - 特許庁
To provide a test system which enables detection and quantification of anti-vWF-cp antibody in patient's blood plasma hindering any vWF-cp function other than enzyme-catalyzed protease activity.例文帳に追加
酵素触媒性のプロテアーゼ活性以外のvWF−cp機能を損ねる、患者の血漿中の抗vWF−cp抗体を検出および定量することを可能にする試験システムを提供すること。 - 特許庁
The brightness of the specimen which is a measuring object on the test piece is corrected by using the correction function, and concentration information is calculated therefrom, and a concentration correction coefficient is acquired on reference to a prior approximate straight line.例文帳に追加
試験片上の測定対象の検体の輝度を前記補正関数を用いて補正し、それより濃度情報を算出し、先の近似直線へ参照させて濃度補正係数を得る。 - 特許庁
It is desirable to analyze each of various functional groups (such as a DDR2/HDMI/USB I/F, a PLL circuit, a test terminal) in the LSI in order to improve quality of each function of the LSI and to increase speed of processing.例文帳に追加
前記解析はLSIが持っている各機能の高品質化と処理の高速化を目的に、LSI内の各種の機能グループ(DDR2/HDMI/USB I/F、PLL回路、テスト端子等)毎に行うことが好ましい。 - 特許庁
In such a structure, a contact area of the lead 15 and the conductive pattern is made smaller than in the prior art, so that release of heat at high-temperature function test can be made smaller.例文帳に追加
このような構造にすることにより、リード15と導電パターンを接触させた際の接触面積が従来よりも小さくなり、高温ファンクションテストにおける熱の逃げを小さくすることができる。 - 特許庁
The function switchable external terminal 153 is connected to the power source 156 of the internal circuit via a path switch 155 so that these are not conductive in the ordinary mode, while conductive in the test mode.例文帳に追加
機能切り替え可能な外部端子153と内部回路の電源156との間はパススイッチ155を介して接続し、通常モードでは非導通に、テストモードでは導通にするように制御する。 - 特許庁
The processor is made to have a test circuit for detecting a hardware error in one of instruction sequencing logic, execution circuit and data storage during the function operation of the processor in response to an instruction in an instruction stream supplied by the instruction sequencing logic, and the hardware error is detected by comparing a value outputted by a redundant circuit for executing the same function in response to the test instruction.例文帳に追加
プロセッサに、命令シーケンシング・ロジックによって供給される命令ストリーム内の命令に応答して、プロセッサの機能動作中に、命令シーケンシング・ロジック、実行回路、およびデータ・ストレージの1つにおけるハードウェア・エラーを検出する試験回路をもたせて、試験命令に応答して同一の機能を実行する冗長回路によって出力される値を比較することによってハードウェアエラーを検出する。 - 特許庁
A program verifying tool installed in a computer has a program reading function 11 of reading the program for digital data casting stored in an HDD, and an automatic test pattern generation function 12 of interpreting a BML language and an ECMA script language of the program, detecting a branch caused by user operation in the program, and automatically generating a test pattern on the basis of the branch.例文帳に追加
このコンピュータにインストールされている番組検証ツールは、HDD内に格納されているデジタルデータ放送用の番組を読み取る番組読取機能11と、番組のBML言語およびECMAScriptの言語を解釈し、番組の中でユーザ操作に伴ない発生する分岐を検出しこの分岐に基づいて試験パターンを自動的に作成する試験パターン自動作成機能12を有している。 - 特許庁
A wireless base station is provided with a line-switching base station wireless installation and a packet switching base station wireless installation, each of which comprises a test terminal provided with a line/packet- switching sharing mobile telephone set function connected via a 2-distribution coupler, etc.; and a maintenance terminal having the function of transmitting mail by way of an operation center to the test terminal via the Internet.例文帳に追加
無線基地局が備える、回線交換用基地局無線装置、パケット交換用基地局無線装置それぞれに、2分配結合器等を介して接続される回線/パケット交換共用携帯電話機機能を備えた試験端末装置と、インターネットを介して前記試験端末装置に宛てて前記オペレ—ションセンターを経由するメールを送信する機能を有する保守端末装置とを備えた構成とする。 - 特許庁
To provide an inexpensive and application-specifically constituted semiconductor test system for testing semiconductor device, by making various different types of testing devices modules, combining a plurality of them, and providing a measuring module corresponding to a function peculiar to a device to be tested in a test fixture.例文帳に追加
半導体デバイスを試験するための半導体テストシステムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスに固有の機能に応じた測定モジュールをテスト・フィクスチャ内に設けることにより、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁
Therefore, a decision on the result of address access time performance of the memory circuit 100 and a function test of the memory circuit 100 can be simultaneously performed in a test step without adding new external terminals by providing the speed decision circuit 120 in a semiconductor integrated circuit device incorporating the BIST circuit 110.例文帳に追加
これにより、スピード判定回路120を、BIST回路110を内蔵した半導体集積回路装置に設けることで、新たな外部端子を追加をすることなく、半導体集積回路装置のテストの段階において、メモリ回路100の機能テストと同時に、メモリ回路100のアドレスアクセスタイム性能の合否を判定することができる。 - 特許庁
The function for measuring the sound field generates test sounds at time intervals from each of speakers while a microphone is installed in the sound field to place the audio device, acquires levels of sound data after several dozens of milliseconds from acquired data, and adjusts output balance and frequency characteristics on the basis of the test sounds and sound data levels.例文帳に追加
音場を測定する機能は、音響装置が置かれる音場にマイクを設置した状態でスピーカ各々から1つずつ時間を置いてテスト音声を発生させ、取得したデータのうちから数10ミリ秒後以降の音声データのレベルを取得し、これらを基に出力バランス、周波数特性を調整する。 - 特許庁
The medium for predictably cleaning the contact elements and support hardware of a tester interface, such as a probe card or a test socket, while it is still in manual, semi-automated, and automated handling device and the electrical test equipment are disclosed so that the function and performance of the individual die or IC package may be electrically evaluated.例文帳に追加
個々のダイ又はICパッケージの機能及び性能を電気的に評価することができるように、手動、半自動、及び自動取扱装置にまだある間にプローブカード及び試験ソケットのような試験器インタフェースの接触要素及び支持ハードウエアを予測可能に清浄化するための媒体及び電気試験器具を開示する。 - 特許庁
A high-speed signal transmission path to which the transmitter having a pre-emphasis function is connected is characterized that a serial circuit of ferrite beads and a capacitor is connected between the transmission path and a return path, and is effective also as a pin electronics part path of the semiconductor test device which performs a highly reliable high-speed test.例文帳に追加
プリエンファシス機能を有する送信機が接続される高速信号伝送路において、前記伝送路とリターン路との間にフェライトビーズとコンデンサの直列回路が接続されたことを特徴とするもので、信頼性の高い高速テストを行う半導体試験装置のピンエレクトロニクス部経路としても有効である。 - 特許庁
Functional verification between a net list 12 generated by the test synthesis and a timing verified net list by the static timing analysis is verified (step S15), the function verified net list is released to a manufacturing section (step S17) and a test pattern is automatically generated by using the net list 15 by an ATPG tool (step S18).例文帳に追加
テスト合成により生成されたネットリスト12と、静的タイミング解析によるタイミング検証済みのネットリストとのファンクション検証をおこない(ステップS15)、ファンクション検証済みのネットリストを製造部門へリリースし(ステップS17)、そのネットリスト15を用いてATPGツールによりテスト・パターンを自動生成する(ステップS18)。 - 特許庁
A slave 12 having no condition branching function transmits a second control signal indicating the start of a test to a master 11, after transmitting a first control signal indicating the position of a test vector in execution to a control signal receiving circuit 7 by a fixed number of times through a control signal transmitting circuit 6.例文帳に追加
条件分岐機能をもたないスレイブ12は、制御信号送信回路6を通じてマスター11の制御信号受信回路7に対して実行中のテストベクタの位置を示す第1の制御信号をあらかじめ定められた回数だけ送信した後、テスト開始を示す第2の制御信号をマスター11に対して送信する。 - 特許庁
A connection between pads to be connected between the bare chips 103, 104 is electrically connected preliminarily on a probe card 102 to be inspected as a pseudo-multi-chip-module, and a defect in the multi chip module in a current consumption, a function test, an AC test or the like is thereby rejected in advance before wiring and the package sealing to reduce the yield loss.例文帳に追加
ベアチップ103、104間で接続されるべきパッド間の結線をあらかじめプローブカード102上で電気的に接続し、擬似的にマルチチップモジュールとして検査し、ワイヤリング及びパッケージ封止前に、消費電流、ファンクションテスト、ACテストなどのマルチチップモジュール不良を事前にリジェクトすることで、歩留ロスを低減できる。 - 特許庁
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