「test problem」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a skew adjustment method for an LSI tester that can resolve a tester skew problem independently of a test environment by obtaining skew detecting information before actual measurement for every test.例文帳に追加

テスト毎に実測前にスキュー検出情報を得ることによって、テスト環境に依存せずにテスタのスキュー問題を解消できるＬＳＩテスタのスキュー調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide carrying in and cut apparatus for a large-sized test object, for smoothly performing the moving work, when the large-sized test object is carried in and fed out and adjusted, and which is simple in structure and does not have problem in connection with a tester body.例文帳に追加

試験体の搬入搬出、及び調整時の移動作業が円滑で、構造が簡単かつ試験装置本体との取合いに問題のない構造とすることである。 - 特許庁

To solve the problem that malfunction occurs since changing of a scan test signal becomes a noise occurrence source during a normal mode in a semiconductor integrated circuit having a scan test signal wiring.例文帳に追加

スキャンテスト信号配線を有する半導体集積回路において、ノーマルモード時にスキャンテスト信号が変化することでノイズの発生源となり、半導体集積回路が誤動作してしまう。 - 特許庁

To decide a weak point while taking the difficulty of a problem into consideration by deciding the weak point by an adaptive test.例文帳に追加

アダプティブテストによる弱点判定を行うことで、問題の困難度を考慮した弱点判定を行うことを可能にする。 - 特許庁

This invention solves the problem to be solved by joining an inversion standing-up type handle stuck to the external surface of a conventional urine test cup.例文帳に追加

本発明は、従来の検尿カップの外面に密着する反転起立式取手を接合し、課題を解決するものである。 - 特許庁

To improve a problem on a soaking condition decision reached by observation with a microscope and ultrasonic test, etc., which are made in a conventional way.例文帳に追加

従来の顕微鏡による観察や超音波探傷試験等によるソーキング条件決定上の問題点を改善する - 特許庁

To solve the problem that the unexpected high frequency open defect of a capacitor due to breaking of the capacitor or wiring connected thereto can not be detected through a DC test.例文帳に追加

直流試験ではキャパシタやそれに接続される配線の切断によるキャパシタの予期しないオープンを検出できない。 - 特許庁

When a test fails, good prose can make it much easier to figure out what the problem is, and how it should be fixed.例文帳に追加

もちろん、コードベースのテストに詳しくコメントを入れるのも手ですが、そんなことをするプログラマはほとんどいません。 多くの人々が、 - Python

The test problem distributing system is provided with a filter for extracting a sentence, in accordance with previously set conditions so that the filter can extract the sentence meeting the conditions, for example, of specific genre, difficulty level, length, language and the sentence can be sent out to the test problem creating section 12.例文帳に追加

予め設定された条件に従って文を抽出するフィルタを設け、該フィルタで該条件に合った文、例えば特定のジャンル、文難易度、文長、言語の文を抽出してテスト問題生成部１２に送出するようにすることができる。 - 特許庁

To solve the problem that in testing an application running asynchronously to a unit test tool by use of the unit test tool, the application cannot be accurately tested since the application is tested by the unit test tool asynchronously with completion of the application.例文帳に追加

単体テストツールを用いて単体テストツールとは非同期で動作するアプリケーションのテストを行う場合、単体テストツールでテストの合否を判断するタイミングとアプリケーションの動作完了のタイミングが一致しないため、正しく合否判定ができないこと。 - 特許庁

To solve the undesirable problem that processing time occurs in a tester controller when the tester controller controls synchronous operation of a plurality of test modules.例文帳に追加

テスタコントローラが、複数の試験モジュールの同期動作を制御すると、テスタコントローラにおける処理時間が生じてしまい、好ましくない。 - 特許庁

In the test implementation method, a problem content data is distributed to terminals 12 used by examinees via a network 200.例文帳に追加

本発明にかかる試験の実施方法は、ネットワーク２００を介して受験者が使用する端末１２に問題コンテンツデータを配信する。 - 特許庁

This invention solves the problem that the prober must be set up when the tester or a test program is developed.例文帳に追加

本発明によれば、テスタまたはテストプログラム開発時に、プローバをセットアップしなければならないという問題を解消することができる。 - 特許庁

To solve the problem that a test requires a long time period since data are written and, then, read concerning whole addresses.例文帳に追加

全てのアドレスについてデータを書き込んだ後読み出すテストを行っていたので、テストに長い時間必要としたという課題を解決する。 - 特許庁

To provide a test method and device for electronic control system which may at least partially avoid any problem of overhead in environmental model, furthermore problem of operating time.例文帳に追加

本発明の課題は、環境モデルにおけるオーバーヘッドの問題、ひいては動作時間の問題を少なくとも部分的に回避する電子制御システムのテスト方法およびテスト装置を提供することである。 - 特許庁

To solve the problem that test patterns are not printed on a proper position on sheets and highly accurate alignment adjustment cannot be carried out when positional displacement or skew travel is generated in the sheets when printing the test patterns.例文帳に追加

テストパターンを印刷する際に用紙に位置ずれや斜行が発生していた場合、テストパターンが用紙上の正しい位置に印刷されなくなり、精度の高いアライメント調整ができなくなる。 - 特許庁

To solve such a problem that in a large scale semiconductor integrated circuit, such constitution is well known that the number of test terminals is decreased by inputting an output signal to an exclusive OR circuit to decrease many terminals for test.例文帳に追加

大規模化な半導体集積回路では、多数のテスト用の端子を減らすため、出力信号を排他的論理和回路に入力させることによりテスト端子の数を減らす構成が知られている。 - 特許庁

To solve a problem in a magnetic particle flaw detection test wherein the magnetic particle pattern that is applied to an inspection surface and adsorbs to and accumulates on a flaw is hidden in the magnetic powder precipitated from the test liquid and the detection of the magnetic particle pattern is difficult.例文帳に追加

磁粉探傷試験において、検査面に適用されキズに吸着して集積した磁粉模様が、検査液から沈殿した磁粉の中に隠れて、磁粉模様の検知が困難となっている。 - 特許庁

To provide a clock generation circuit, a semiconductor integrated circuit, and a test device therefor which can prevent a decrease in detection rate and an increase in circuit size, reduce the effect of a multi-cycle path, correctly identify problem parts, and test at a higher frequency even if provided with test objects with different frequencies in a non-scanned cell test.例文帳に追加

非スキャンセルの試験において、検出率低下、回路規模の増大を防止でき、マルチサイクルパスの影響を低減でき、不具合箇所を的確に特定でき、異周波数の試験対象があっても高速側の周波数で試験をすることが可能な、クロック生成回路、半導体集積回路およびその試験装置を提供する。 - 特許庁

A processing method of an electronic computer which associates a user table having user information and a test table having information on problems with an asking table to perform asking processing and access control of the problem content to a registered user according to the information when the problem is asked to the registered user in the online test.例文帳に追加

オンラインテストにて登録ユーザーに問題を出題する際、ユーザー情報を持つユーザーテーブルと問題の情報を持つテストテーブルを出題テーブルに関連付けて、その情報に従って登録ユーザーに対する出題処理と問題コンテンツのアクセス制御を行う電子計算機の処理方法 - 特許庁

To obtain a test burn-in board(TBIB) control method and a burn-in testing system which dissolves the overflow problem of the production numbers of TBIBs.例文帳に追加

テストバーンインボード（ＴＢＩＢ）の製造番号のオーバーフロー問題を解決したＴＢＩＢ管理方法及びバーンイン試験システムを提供する。 - 特許庁

To solve the problem of hydrogen embrittlement in a high-pressure hydrogen system, without depending on the selection of a material corresponding to a material test or the result thereof.例文帳に追加

材料試験やその結果に応じた材料選択によらずとも高圧水素システムにおける水素脆化の課題を解決可能にする。 - 特許庁

To solve the problem that a sample concentrating operation and a series of related operations necessary for a residual pesticide test and the like remain unautomated.例文帳に追加

残留農薬検査等において必要な、サンプルの濃縮作業と、それに関連する一連の作業の自動化が未だなされていない。 - 特許庁

A teacher resolves electronically a test based on paper, using an image processor, when giving marks to a paper test of a student, to be returned to every student while reconstructed in each student, after giving marks to a problem.例文帳に追加

教師が、学生が受けたペーパテストの採点をする際、画像処理装置を使用して、ペーパに基づくテストを電子的に分解して、問題を採点した後、学生毎に再組み立てして学生に返却する。 - 特許庁

To reduce the size of a device by integrating individual lancets with a test means and to provide a structure capable of preventing a problem in mutual contamination when one test sensor device is shared with two persons.例文帳に追加

従来装置における、別々のランセット及び試験手段を一体化して小型化すると共に、一つの試験センサ装置を二人以上で共用したとき相互汚染の問題を生じない構造にすること。 - 特許庁

To solve the problem that it is impossible to perform specification of nonconformity spots which aims at failure analysis or test development, and observation of its information by a limited number of terminals, in a test circuit which inputs an expected value to a semiconductor integrated circuit and performs comparison inside.例文帳に追加

半導体集積回路に期待値を入力し内部比較するテスト回路で、不良解析やテスト開発を目的とする不一致箇所の特定や、その情報を限られた端子で観測することができない。 - 特許庁

To solve the problem that the signal quality of signal lines degrades during normal operations in chip laminated semiconductor devices due to test stab conductors and test signal pins added to test each chip for a pad which establishes the connection only among laminated chips and does not include external terminal.例文帳に追加

チップ積層された半導体装置においては、積層されたチップ間のみの接続で外部端子を備えていないパッドに対し個々のチップをテストするためのテスト用スタブ配線、テスト用信号ピンが付加されるため通常動作時において信号線の信号品質が劣化する。 - 特許庁

To solve the problem that a system check list in which no omission exists in data items being test objects and no overlapping exist among confirmation data items can not easily be prepared in the conventional manner.例文帳に追加

従来は、テスト対象のデータ項目に漏れがなく且つ確認データ項目間に重複がないシステムチェックリストを容易に作成することができない。 - 特許庁

When the test printing result has no problem and the countermeasures are confirmed by user operation, the apparatus setting is changed in accordance with the confirmed countermeasures.例文帳に追加

テスト印刷結果が良好であり、対処方法を確定するユーザ操作が行われることにより、確定した対処方法に応じた装置設定に変更する。 - 特許庁

To solve the problem wherein proper determination of the progression degree of deterioration is difficult, when diagnosing the deterioration of a rotary machine by a nondestructive dielectric deterioration test result.例文帳に追加

回転機劣化を非破壊絶縁劣化試験結果によって診断する場合には、劣化の進行度を適切に判断することは困難となっている。 - 特許庁

To solve the problem that connecting measuring pins of an LSI tester to all terminals under measurement prevents multiple simultaneous measurement when performing an output voltage test on an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩの出力電圧試験を行う際に全被測定端子にＬＳＩテスタの測定ピンを接続すると、多個同測化の妨げになってしまう。 - 特許庁

To provide a method and a system estimating whether a defect detected in a test of a gas turbine engine is related to a performance problem of the engine or not.例文帳に追加

ガスタービンエンジンの試験において検出された欠陥がエンジンの性能問題に関連するのか否かを評価する方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To solve the problem of ON-resistance of a switching element or wiring resistance of a test signal supply line during simple lighting inspection in an organic EL display.例文帳に追加

有機ＥＬ表示装置において、簡易点灯検査時におけるスイッチ素子のオン抵抗やテスト信号供給線の配線抵抗の問題を解消する。 - 特許庁

To solve the following problem; since a test disk has a bonded structure of a center piece with a center hole and a disk main body, each eccentricity of an optical disk device cannot be measured.例文帳に追加

センターホールを備えたセンターピースとディスク本体とを接着した構成であるため、光ディスク装置の個々の偏心量が測定できない。 - 特許庁

To solve a problem that when a test pattern is formed on a conveying belt, as the difference between the color of the conveying belt and the color of ink is small, it is difficult to accurately read it.例文帳に追加

搬送ベルト上にテストパターンを形成すると搬送ベルトの色とインクの色の差が小さいため正確に読取ることが困難である。 - 特許庁

To solve a problem wherein a required power source voltage is not able to be supplied to an inspected semiconductor integrated circuit, when a burn-in board gets large, not to allow a proper burn-in test.例文帳に追加

バーンインボードが大型化すると被検査半導体集積回路に所要の電源電圧が供給できなくなり、適正なバーンインテストができない。 - 特許庁

To solve a problem wherein a user load is high from the viewpoint of cost and productivity when determining whether it is necessary to execute calibration by the recording and color measurement of a test pattern.例文帳に追加

テストパターンを記録・測色してキャリブレーションを実行する必要があるかを判定するとコストや生産性の観点からユーザー負荷が高い。 - 特許庁

To solve a problem wherein a liquid crystal panel is damaged by external force in an impact test, by improving the step structure of a main support that stores the liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネルを収納するメイン支持台の段差部構造を改善して衝撃テスト時の外力によって液晶パネルが破損する問題を解決する。 - 特許庁

To solve a problem in a liquid batching-off device for sequentially batching off a liquid having passed through a detector by a fraction collector into a plurality of arranged test tubes that it is difficult to search for and determine a test tube corresponding to the signal of the detector as to a multitude of test tubes arranged lengthwise and crosswise since a nozzle for batching-off moves like single-stroke drawing along the arranged test tubes.例文帳に追加

検出器を経た液体をフラクションコレクターにおいて，配列された複数の試験管に順次分取する液体の分取装置において，分取用ノズルは配列された試験管に沿って一筆書きのように移動するので，多数が縦横に配列されたものでは，検出器の信号に対応する試験管を探して特定するのが困難である。 - 特許庁

To solve a problem that when transmitting a test pattern from an LSI tester in the LSI tester or an LSI tester simulation model, which range of an address area in a DUT memory is accessed can not be known and a defect of the test pattern cannot be previously detected.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ又はＬＳＩテスタシミュレーションモデルでは、ＬＳＩテスタ側からテストパターンを送信する際に、ＤＵＴメモリのどの範囲のアドレス領域をアクセスしたかを知ることはできず、テストパターンの不備を事前に検出できない。 - 特許庁

To solve the problem that in a conventional self test, AD and DA converting circuits to be tested are used for testing and calibrating them at a low cost, while whether the self test method has a desired linearity or not can not be decided correctly when the converting circuits have opposite error characteristics mutually.例文帳に追加

ＡＤ変換回路およびＤＡ変換回路のテストおよび較正を低コストに実施するため、被測定対象であるＡＤ変換回路とＤＡ変換回路を互いに利用したセルフテスト方式が提案されている。 - 特許庁

To provide a friction test method and a friction tester capable of measuring stably a friction coefficient at a dry time by solving a problem of generation of a denatured layer of rubber having high adhesion generated on the surface of a rubber test piece.例文帳に追加

ゴム試験片の表面に発生する粘着力の高いゴムの変成層の発生の問題を解決し、ドライ時の摩擦係数の安定した測定を行うことが可能な摩擦試験方法及び摩擦試験機を提供する。 - 特許庁

Using these test blocks, it is made possible to integrate a periodic test or on-demand test of the field devices to normal and continuous operations of the process control system or safety system without causing any scheduling problem or connection problem and without the need for relying on a maintenance person or other workers, thereby enabling better monitoring of the operation status of the field devices.例文帳に追加

これらの試験ブロックを用いることにより、フィールドデバイスの定期試験またはオンデマンド試験を、スケ−ジュール問題または接続問題を引き起こすことなく、また保守作業員または他の作業員に依存する必要もなく、プロセス制御システムまたは安全システムの通常のかつ継続した動作に統合することが可能になり、それにより、フィールドデバイスの動作ステータスをよりよく監視することが可能になる。 - 特許庁

To solve the problem that it is necessary to repeat shifts, and launches and captures equal to the number of clock systems to cause a prolonged test time when a pass exists between a plurality of clock domains of asynchronous clocks.例文帳に追加

非同期クロックの複数クロックドメイン間でパスが存在する場合、クロック系統数分のシフトとラウンチ−キャプチャを繰り返す必要があり、テスト時間が長くなる。 - 特許庁

To provide a shearing jig capable of highly accurately executing a shearing test by applying load an object to be tested without bringing about a problem of bending moment or unbalanced load and having a simple structure.例文帳に追加

曲げモーメントや偏荷重の問題を招くことなしに供試体に負荷を加えて剪断試験の高精度な実行を可能とする簡易な構造の剪断治具を提供する。 - 特許庁