「Optical microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(27ページ目) - Weblio英語例文検索

A mask mark M (MX, MY) on the mask and a pallet mark MP (MPX, MPY) on the wafer pallet are simultaneously imaged with the microscope imaging apparatus including two pairs of focusing optical systems from the direction orthogonal to the mask and wafer surface to measure two-dimensional position displacement between these marks.例文帳に追加

マスク及びウエハの面と直交する方向からマスク上のマスクマークＭ（Ｍ_X 、Ｍ_Y ）とウエハパレット上のパレットマークＭＰ（ＭＰ_X 、ＭＰ_Y）とを２組の結像光学系を有する顕微鏡撮像装置によって同時に撮像し、これらのマーク間の二次元の位置ずれ量を測定する。 - 特許庁

The visual inspection device for inspecting an appearance of the V groove which is formed in the silicon substrate and on which the optical fiber is mounted by using a microscope is provided with a coaxial vertical illumination means and a spread illumination means installed outside.例文帳に追加

シリコン基板上に形成された光ファイバ搭載用のＶ溝の外観を顕微鏡下で検査する装置において、同軸落射照明手段と外部取り付け拡散照明手段を設けたことを特徴とする検査装置、及びこれを使用することを特徴とするＶ溝外観の検査方法。 - 特許庁

This microscope is provided with a light source, an objective lens condensing luminous flux from the light source on a sample, a scanning optical system for scanning the sample with the luminous flux from the light source, a photodetector 109 for detecting the luminous flux from the sample and an arithmetic part arithmetically operating the output of the photodetector 109.例文帳に追加

光源と、光源からの光束を標本上に集光する対物レンズと、光源からの光束を標本上で走査させるための走査光学系と、標本からの光束を検出するための光検出器１０９と、光検出器の出力を演算する演算部とを有する。 - 特許庁

To produce steel in which the generation of the change of the structure in which the size of crystal grains different from a mother phase whitely shown by an optical microscope is refined to several tens nm is suppressed in case hardening steel and having an excellent life, particularly, an excellent rolling life even under high vibration and high loads and to provide a method for producing it.例文帳に追加

肌焼鋼において光学顕微鏡で白く見える母相と異なった結晶粒の大きさが数１０ｎｍに微細化した組織変化の発生を抑制し、高振動・高荷重下でも優れた寿命、特に転動寿命を有する鋼およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

A inspecting pattern, which is etched through the intermediary of the checking resist patterns 31a and 31b, is observed visually through an optical microscope, it is determined whether or not space between the checking patterns is within an proper range, and it is inspected as to whether the wiring pattern 20 of a product is properly etched.例文帳に追加

検査用レジストパターン３１ａ，３１ｂを介してエッチングされる検査パターンを光学顕微鏡を通して目視し、この検査パターン間の間隔が所定の適正範囲内になっているか否かを判定することにより、製品の配線パターン２０が適正にエッチングされているか否かを検査する。 - 特許庁

Of the electron source used for an electron-optical equipment, such as, electron microscope and electron-beam lithographic apparatus, an electron-emitting section part consists of a surface-layer part and a base material part, of which the surface-layer part is of transition metal carbide, and the base material part is made of diamond single crystal.例文帳に追加

電子顕微鏡、電子ビーム描画装置等の電子光学機器に使用される電子源であって、電子放出部分は表層部と基材部からなり、該表層部は遷移金属炭化物であり、該基材部はダイヤモンド単結晶であることを特徴とする電子源により解決される。 - 特許庁

In second process step, the barrel part 23 with the built-in aberration correcting lens is attached to the microscope barrel part 24, thereafter, the optical element module lens part 27 is moved by a centering mechanism part 58 so as to make alignment between the center of the light-receiving/emitting part 28 and the center of the lens 29 with the aberration.例文帳に追加

第二工程では、収差補正用レンズ内蔵筒体部２３を顕微鏡筒体部２４に取り付け、この後に、調心機構部５８を用いて光素子モジュールレンズ部２７を移動させつつ受発光部２８の中心と収差を持たせたレンズ２９の中心との位置合わせを行う。 - 特許庁

To provide a lens barrel and a microscope using the lens barrel in which a horizontal distance from the optical axis of an objective lens to the position of an eye point, the height of the eye point and the angle of depression at the time of observation can be varied so that any person can perform observation in natural observation posture and also in posture causing little fatigue regardlessly of his or her build.例文帳に追加

どのような体格の人にも、観察姿勢に無理がなく疲労の少ない姿勢で観察できるように、対物レンズ光軸からアイポイント位置までの水平距離とアイポイントの高さと観察時の俯角を変えることの出来る鏡筒とそれを用いた顕微鏡を提供する。 - 特許庁

wt. polyamide, (B) 0.005-1 pt. wt. ethylene bis-oleic acid amide and (C) 0.01-2 pt. wt. barium stearate is characterized in that the mean value A and standard deviation B of a spherical crystal diameter observed by a polarlizing optical microscope satisfy the following formula (1): B/A≤0.3.例文帳に追加

ポリアミド（Ａ）１００重量部に対し、エチレンビスオレイン酸アミド（Ｂ）０．００５〜１重量部、ステアリン酸バリウム（Ｃ）０．０１〜２重量部からなり、偏光光学顕微鏡で観察した球晶直径の平均値Ａ、標準偏差Ｂが、次の（１）式を満たすことを特徴とするポリアミド樹脂組成物。 - 特許庁

To provide a DLP type slit optical scanning microscope capable of attaining slit light illumination by irradiating a sample with slit light under the control of a DMD, and capable of easily adjusting the position and the extent of the illuminating light on the sample and the thickness (size) of the slit through which the sample is irradiated.例文帳に追加

ＤＭＤの制御の下にスリット光を照射して、スリット光照明を実現し、標本上の照明光の位置及び範囲並びに標本を照射するスリットの厚さ（太さ）を容易に調整することができるＤＬＰ式スリット光走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A switching lever 29 is turned till the lever 29 abuts on a stopper 31 (32) centering a shaft 28, an LED 33 (34) is selectively positioned on an optical axis 41, so that the picture of a pointer 20 can be projected on an observed picture surface of a microscope in accordance with the light emission color of the LED 33 (34).例文帳に追加

切り換えレバー２９を、軸２８を中心にストッパ３１（３２）に当たるまで回動し、ＬＥＤ３３（３４）を選択的に光軸４１上に位置させことで、ＬＥＤ３３（３４）の発光色に応じたポインター２０の像を顕微鏡の観察像面に投影する。 - 特許庁

As to this array for irradiation by using several wavelengths inside a microscope, in a parallel optical path inside an irradiating and image forming lens system EO, a compensating a lens system for producing the wavelengths while adjusting the wavelengths to be accurately superposed inside a sample area P is arranged.例文帳に追加

顕微鏡内で数個の波長を用いて照射するための配列であって、照射・結像レンズ系EOの内部にある平行光路内で、諸波長を試料領域P内に正確に重ね合わせることを調整しながら作り出すための補正レンズ系が配備されている配列 - 特許庁

To provide: a method for highly precisely estimating a detection value of emitted electrons obtained by actual observation; a method for highly precisely simulating an SEM image obtained by actual observation; and a scanning electron microscope having an electronic optical system or the like set therein, so that a dummy SEM image is actually obtained.例文帳に追加

走査電子顕微鏡において、実観察で得られる放出電子の検出値を高精度に推定する方法、実観察で得られるＳＥＭ像を高精度にシミュレーションする方法と模擬ＳＥＭ像が実際に得られるように電子光学系等が設定される装置を提供する。 - 特許庁

The method of evaluating the vapor deposition film measures a phase change by scanning vibratingly a probe of an atomic force microscope on a vapor deposition film surface of an optical member having the vapor deposition film on a base material, and evaluates the vapor deposition film, based on the measured phase change.例文帳に追加

基材上に蒸着膜を有する光学部材の該蒸着膜表面上で、原子間力顕微鏡の探針を振動させながら走査して位相変化を測定し、測定された位相変化に基づいて前記蒸着膜を評価する蒸着膜評価方法。 - 特許庁

The container has sufficient resistance to a high temperature and change of the temperature during nucleic acid amplification reaction by integrally molding the side wall part 2 and the bottom wall part 3 with the resin while the inside thereof can be observed by an optical microscope through the flat plate shaped bottom wall part 3.例文帳に追加

平板状の底壁部３を介して光学顕微鏡によって内部を観察可能でありながら、側壁部２と底壁部３とが樹脂から一体成形されていることにより核酸増幅反応時の高温や温度変化にも十分に耐性を有している。 - 特許庁

A probe for a non-destructive determination of a complex dielectric constant of a material and for a near field optical microscope is based on a balance type multi-conductive transmission line structure formed on a dielectric support material which has a definite profile and limits a probe region within a sampling volume of a measuring material.例文帳に追加

材料の複素誘電率の非破壊的決定用及び近接場光学顕微鏡用のプローブは、明確な輪郭を有する、測定材料のサンプリング容積内にプローブ領域を制限する、誘電体支持部材上に形成された平衡型多導体伝送線構造に基づいている。 - 特許庁

This microscope has coefficient determining means (5) for determining a coefficient according to the arithmetic value of either one of the luminance value or contrast value of the optical information, detected by optical information detecting means (10) and setting means (6) for multiplying the signal from operation means (4) by the coefficient determined by the coefficient determining means and setting the result thereof in a driving means (7).例文帳に追加

光学情報検出手段（１０）により検出された光学情報の輝度値またはコントラスト値の内いずれか１の演算値に基づいて係数を決定する係数決定手段（５）と、操作手段（４）からの信号に係数決定手段により決定された係数を乗じてその結果を駆動手段（７）に設定する設定手段（６）とを備えた顕微鏡装置である。 - 特許庁

The three-dimensional confocal observation apparatus constituted by combining a confocal microscope and an optical tweezers technology has a pair of lenses for focal plane displacement of which one lens can be moved in an optical axis direction arranged between a fixed objective lens and a camera for fluorescent imaging, and includes means of correcting distortion of fluorescent confocal images obtained by the camera for fluorescent imaging.例文帳に追加

共焦点顕微鏡と光ピンセット技術を組み合わせた３次元共焦点観察用装置において、固定の対物レンズと蛍光撮像用カメラとの間に、一方のレンズが光軸方向に移動可能とされている焦点面変位用レンズペアを配置し、かつ、蛍光撮像用カメラにより得られた蛍光共焦点像の歪みを補正する手段を設ける。 - 特許庁

The optical observation apparatus 100 for an eye 22 includes a microscope 1 for observing the front side area of an eye 22, and a visualizing device 2 for the retina of the eye 22 which has at least one camera 21, wherein the retina visualizing device 2 is prepared as an auxiliary module in front of the microscope 1, is arranged at a positioning device 12 and can be positioned in front of the eye 22 through the positioning device 12.例文帳に追加

目（２２）の前側区域を観察するための顕微鏡装置（１）と、少なくとも１つのカメラを有する（２１）、目（２２）の網膜を視覚化する装置（２）とを備える、目（２２）を観察するための光学観察装置（１００）において、前記視覚化装置（２）は前記顕微鏡装置（１）の手前の補助モジュールとして構成されており、前記視覚化装置（２）は位置決め装置（１２）に配置されるとともに、前記位置決め装置（１２）を介して目（２２）の手前で位置決め可能である、光学観察装置である。 - 特許庁

This microscope includes a first white light source 302 for directing light along a first optical path, a ring opening 324 which is arranged within the first optical path, has an annular slit 326 and shields all of the light exclusive of the annular light corresponding to this annular slit and an objective lens 314 for achieving the total reflection fluorescent microscopy of a specimen by directing the annular light to the specimen 345.例文帳に追加

第１の光路に沿って光を向けるための第１の白色光源３０２と、第１の光路内に配置されていて、環状スリット３２６を有し該環状スリットに対応する環状の光を除く総べての光を遮光するリング開口３２４と、環状の光を標本３４５に向けて該標本の全反射蛍光検鏡が達成されるようにするための対物レンズ３１４とを含んでいる。 - 特許庁

To provide an economical optical microscope used for observing objects having different depths or a plurality of objects having distances in the direction of optical axis simultaneously and observing the overall images of the objects to be observed simultaneously and having an intuitive understanding characteristic, and, in particular, for clarifying three-dimensional form of a biological substance formed by coupling fluorescence dyes, analyzing its behavior, and clarifying properties of protein.例文帳に追加

異なる深さのある物体または光軸方向に距離がある複数の物体を同時に観察し、かつ、観察する全体像を同時観察すると共に、見てすぐに直感的に理解できる特性を保持し、かつ、経済性にも優れた光学顕微鏡を得ることにあり、特に、例えば、蛍光色素を結合した生体物質の立体形態を解明し、その挙動を解析してたんぱく質の性質を明らかにすること。 - 特許庁

This confocal microscope capable of obtaining a three- dimensional image by scanning the optical beam on a sample surface by a confocal scanner and axially scanning the optical beam by a moving mechanism, comprises a driving means for driving the moving mechanism, and the driving means outputs the driving waveform corrected on the basis of the reverse characteristic of the frequency characteristic on the displacement of the moving mechanism.例文帳に追加

共焦点スキャナにより光ビームで試料面を走査すると共に移動機構により光ビームを光軸方向に走査して試料の３次元画像が得られるように構成してなる共焦点顕微鏡装置において、前記移動機構を駆動する駆動手段を備え、この駆動手段からは前記移動機構の変位の周波数特性の逆特性に基づいて補正された駆動波形が出力されるようにする。 - 特許庁

Instead of a conventional Cassegrain mirror for use in an infrared microscope, a parabolic mirror 6 is installed behind a convex mirror 4 constituting a Cassegrain mirror, and light of a illuminating light source 10 is radiated to the parabolic mirror 6 through an optical fiber 7, and a surface of a sample 8 is illuminated by reflected light from the parabolic mirror 6.例文帳に追加

赤外顕微鏡に使用される従来のカセグレン鏡の代わりに、カセグレン鏡を構成する凸面鏡４の背部に放物面鏡６を設置し、この放物面鏡６に光ファイバー７を介して照明光源１０の光を照射し、放物面鏡６の反射光で試料８表面を照明する。 - 特許庁

To separate a constituent that depends on recess and projection, material quality, and the like from obtained light information by using multiple- azimuth simultaneous detection condensing equipment for mounting a plurality of optical waveguides or photo detectors in a condensing system used for a scanning type proximity field microscope.例文帳に追加

走査型近接場顕微鏡に用いる光集光系において、複数の光導波路または光検出器を搭載できる多方位同時検出光集光器を使う事で、得られる光情報の中から、これまで不可能であった、凹凸、材質などに依存した成分を分離する事が可能にする。 - 特許庁

To provide a compact damping device and a compact damping table capable of properly damping a damped object having a comparatively light weight and needing the immediate damping of vibration, such as an optical microscope and a measuring instrument placed on a working table, having high damping speed, and suitably used on the desk with superior vibration damping performance.例文帳に追加

作業台に載置される光学顕微鏡や測定機器などの比較的軽量で、振動を直ぐに減衰させる必要のある除振対象物の除振に好適であり、減衰応答が早く、優れた振動減衰性能を有する卓上使用に適した小型除振器と小型除振台を提供する。 - 特許庁

After a polishing process ends, a top surface of the glass substrate is observed using an optical microscope after a pit defect which has an easy-to-observe size is obtained through 5 μm etching using an acid etching solution including hydrogen fluoride, nitric acid, etc., and then isotropic etching of a processing deformed layer (a flaw etc.) remaining at a chamfer part.例文帳に追加

研磨工程終了後、ガラス基板の表面を、フッ酸や硝酸等を含む酸性のエッチング溶液を用いて５μｍエッチングし、面取り部に残留する加工変質層（キズなど）を等方的にエッチングして観察しやすい大きさのピット欠陥にした後、光学顕微鏡を用いて観察する。 - 特許庁

The negative electrode carbon material for a lithium ion battery is prepared by heat-treating coke at about 2,100-2,700°C, wherein a cross-sectioned optical structure of the coke observed with a polarizing microscope is of an anisotropic structure formed with a fine-mosaic structure and a flow structure and an area ratio of both structures is: the former/the latter=10/90 to 70/30.例文帳に追加

偏光顕微鏡で観察した断面の光学組織が、ファインモザイク組織と流れ組織とで形成された異方性組織であり、かつ両組織の面積割合が、前者／後者＝１０／９０〜７０／３０であるコークスを２１００〜２７００℃程度で熱処理して、リチウムイオン電池用負極炭素材を調製する。 - 特許庁

To provide a confocal microscope which is capable of observing a sample with multicolors by using a Nipkow disk system confocal scanner and a spectroscopic unit and does not require image processing with respect to an inversion image because a transmission image and a reflection image of dichroic mirror can be corrected in the same direction in the spectroscopic optical unit.例文帳に追加

ニポウディスク式共焦点スキャナと分光光学ユニットを用いて試料を多色で観察することができると共に、分光光学ユニット内でダイクロイックミラーの透過像と反射像を同じ向きに補正することにより、反転像に対する画像処理を必要としない共焦点顕微鏡を実現すること目的とする。 - 特許庁

From the observation of the structure under a scanning electron microscope, a target material for deposition of an optical recording medium protective layer has a structure which consists of, in the ratio to the whole, 4-20 mass % SiO2 constituting a network continuous phase and the balance essentially ZnS distributed as a disperse phase filling the meshes of the continuous phase.例文帳に追加

光記録媒体保護層形成用ターゲット材が、走査型電子顕微鏡による組織観察で、全体に占める割合で４〜２０質量％のＳｉＯ_2が網目状連続相を構成し、残りが実質的に前記連続相の網目を埋めた分散相として分布するＺｎＳからなる組織を有する。 - 特許庁

Furthermore, when the monofilament cross-section is observed by an optical microscope, it is distinguished into two layers of sheath and core layers, wherein the ratio R (%) of the average diameter r_2 of the core layer to the diameter r_1 of the monofilament cross section is 90% or less.例文帳に追加

凸型率（％）＝（凸型断面繊維の本数／マルチフィラメントの構成本数）×１００さらに、モノフィラメント繊維断面を光学顕微鏡によって観察した際、シース層とコア層の二層に識別可能で、コア層の平均直径ｒ_２の繊維断面直径ｒ_１に対する比率Ｒ（％）が９０％以下であるポリベンザゾール繊維。 - 特許庁

The illumination mechanism 28 has: a light guide part 32 having an illumination light irradiation part for irradiating out illumination light LB toward the observation field to the first end side, wherein the second end side is extended to the outside of the optical microscope; and a light source 23 for supplying the illumination light to the second end side of the light guide part 32.例文帳に追加

照明機構２８は、第一端部側に観察視野に向けて照明光ＬＢを照出する照明光照出部を有するとともに第二端側が前記光学顕微鏡外に延出するライトガイド部３２と、該ライトガイド部３２の第二端側に照明光を供給する光源２３とを有してなる。 - 特許庁

The position of the light emitting point (chip surface active layer) of the semiconductor laser 21 is detected by an adjusting optical system consisting of a microscope 32 and a CCD camera 33 through a polarizing beam splitter 22, and a deviation from a prescribed position is calculated to perform the translational adjustment (positional adjustment in X and Y directions) for the semiconductor laser 21.例文帳に追加

半導体レーザ２１の発光点位置（チップ面活性層）を、偏光ビームスプリッタ２２を介して顕微鏡３２およびＣＣＤカメラ３３からなる調整光学系により検出し、所定の位置からのずれを算出して半導体レーザ２１の並進調整（ＸＹ方向位置調整）を行う。 - 特許庁

In the confocal microscope apparatus where reflected light L3 from an object S to be measured and reference light L2 are coupled, and the interference light L4 is detected by an interference light detecting means 6, then, the tomographic image of the object S is obtained, an optical modulation part 20 for carrying out the frequency modulation of the reference light L2 is provided.例文帳に追加

測定対象Ｓからの反射光Ｌ３と参照光Ｌ２が合波され、その干渉光Ｌ４が干渉光検出手段６により検出され測定対象Ｓの断層画像が取得される共焦点顕微鏡装置において、参照光Ｌ２の周波数変調を行う光変調部２０が設けられている。 - 特許庁

To provide a local polarizing microscope analysis/spectral separation method and an apparatus for the method by composite evanescent wave dark field excitation capable of performing the microspectroscopy of optical isomerism, rotary dependency, circular polarization excitation fluorescence, magnetooptical characteristics, spin dependency, and the like in a minute substance, and to provide a substance operation method and a substance operation apparatus applying the method and the apparatus.例文帳に追加

微小物質の光学異性、回転依存性、円偏光励起蛍光、磁気光学特性、スピン依存性などを顕微分光できる合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a light deflector and a scanning optical microscope using the light deflector in which a high speed scan driven by resonance and a low speed scan in which a lower speed region and an arbitrary frequency are selected are realized with a single light deflector and various kinds of useful microscopic actions are realized.例文帳に追加

共振で駆動する高速スキャンと、高速スキャンよりも低速領域で且つ任意の周波数を選べる低速スキャンを一つの光偏向器で実現し、各種の有用な顕微鏡動作を実現できる光偏向器およびこの光偏向器を用いた走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The lighting part (a lighting system) 10 used for a microscope 100 as an optical device, is structured of a light source part 20 emitting illumination light and a deflection part 30 irradiating the illumination light from the light source part 20 on an object surface O and making its illumination visual field change in accordance with an observation visual view.例文帳に追加

光学装置である顕微鏡１００に用いる照明部（照明装置）１０を、照明光を放射する光源部２０と、この光源部２０からの照明光を物体面Ｏに照射するとともに、その照明視野を、観察視野に対応して変化させる偏向部３０と、から構成する。 - 特許庁

The fluorescence microscope system is provided with: a sample (S) containing fluorescent substance; a glass plate (G) for supporting the sample; an illumination light source (I_L) used for illuminating the sample; and a microscopic optical system (M) including an objective lens (Ob) facing the sample so as to obtain the illuminated image.例文帳に追加

本発明による蛍光顕微鏡システムは、蛍光物質を含む標本（Ｓ）と、前記標本を支持するガラスプレート（Ｇ）と、前記標本の照明に用いられる照明光源（Ｉ_L ）と、前記照明による像を取得するために前記標本に向けられている対物レンズ（Ｏｂ）を含む顕微鏡光学系（Ｍ）を備えている。 - 特許庁

The magnetic field objective lens for an electron microscope has a first magnetic field lens and a second magnetic field lens generating a magnetic field in the vicinity of a sample mounting region along an optical axis, and in the sample mounting region, the magnetic fields by the first magnetic field lens and the second magnetic field lens are canceled each other to zero.例文帳に追加

電子顕微鏡用磁界型対物レンズは、光軸に沿う試料配置領域の近傍に磁場を発生させる第１磁界型レンズおよび第２磁界型レンズを有し、前記試料配置領域において、前記第１磁界型レンズおよび前記第２磁界型レンズによる磁場が互いに打ち消されてゼロになる。 - 特許庁

This optical microscope is provided with an objective lens 2 forming a 1st real image by enlarging the image of a sample, a light amplification means whose photoelectric surface is arranged at a position where the 1st real image is formed and an ocular 3 enlarging a 2nd real image optically amplified and outputted from the light amplification means as a virtual image.例文帳に追加

光学顕微鏡において、標本を拡大して第１の実像を結像させる対物レンズと、第１の実像の結像位置に光電面が配置された光増幅手段と、この光増幅手段から出力される光増幅された第２の実像を虚像として拡大する接眼レンズとを設ける。 - 特許庁

To stain a thin section produced from a frozen embedded sample by using an adhesive plastic film as a support material for the thin section in a state attached to the adhesive plastic film, and thereafter enclose and preserve it in the form attached to the adhesive plastic film as a permanent specimen that can be observed by an optical microscope.例文帳に追加

粘着性プラスチックフィルムを薄切片の支持材として用いて、凍結包埋試料から作製した薄切片を、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で染色を行った後、粘着性プラスチックフィルムに貼り付けた状態で、光学顕微鏡で観察できる永久標本として封入保存する。 - 特許庁

The optical microscope 100 comprises a laser light source 10, a Y scanning device 40 for performing scanning of light beams in a Y direction, an objective lens 23, an X scanning device 20 for performing scanning of light beams in an X direction, the spectrograph 31 for measuring spectra, and a line CCD camera 50.例文帳に追加

第１の態様にかかる光学顕微鏡１００は、レーザ光源１０と、光ビームをＹ方向に走査するＹ走査装置４０と、対物レンズ２３と、光ビームをＸ方向に走査するＸ走査装置２０と、スペクトルを測定するための分光器３１と、ラインＣＣＤカメラ５０が設けられている。 - 特許庁

An electron microscope is provided with axial-symmetry lenses (10, 11) arranged between two multipoles (8, 9), a rotating compensation lens (12) giving rotating action to electrons in a surface perpendicular to the optical axis is arranged in a collecting light surface of an electron orbit to be made between the axial-symmetry lenses.例文帳に追加

２つの多極子（８，９）間に２つの軸対称レンズ（１０，１１）を配置した電子顕微鏡の球面収差補正装置において、軸対称レンズ間にできる電子軌道の集光面内に、光軸と垂直な面内で電子に回転作用を与える回転補正レンズ（１２）を配置したものである。 - 特許庁

A food composition comprising the food is diluted with an aqueous solution containing a low-molecular surfactant such as a sodium lauryl sulfate and a sugar ester to prepare a stable diluted emulsion, and the diluted emulsion is observed by an optical microscope to measure easily an emulsified state with satisfactory reproducibility.例文帳に追加

これら食品組成物を、ラウリル硫酸ナトリウムやシュガーエステル等の低分子界面活性剤を含む水溶液で希釈することで、安定した希釈乳化物を調製し、この希釈乳化物を光学顕微鏡で観察する事で、容易に再現性良く乳化状態を測定できる事を見いだした。 - 特許庁

To prevent measuring error and obtaining sufficient measuring precision when the reflection coefficient of a measuring object is low and a pattern having a higher reflection coefficient exists in the vicinity of the object, in an apparatus and a method for measuring the dimension of a pattern by obtaining an image with an optical microscope.例文帳に追加

光学式顕微鏡により画像を取得してパターンの寸法を測定する装置及び方法において、測定対象のパターンの反射率が低く、近傍に反射率のより高いパターンが存在する場合にも、測定ミスを防止でき充分な測定精度を得ることができるものを提供する。 - 特許庁

The illumination mechanism 30 has: a light guide part 32 having an illumination light irradiation part for irradiating out illumination light toward the observation field to the first end side, wherein the second end side is extended from the observation field to the outside of the optical microscope 13; and a light source 23 for supplying the illumination light to the second end side of the light guide part 32.例文帳に追加

照明機構３０は、第一端部側に観察視野に向けて照明光を照出する照明光照出部を有するとともに、第二端側が観察視野から光学顕微鏡１３外に延出するライトガイド部３２と、該ライトガイド部３２の第二端側に照明光を供給する光源２３とを有してなる。 - 特許庁