「Test System」に関連した英語例文の一覧と使い方(58ページ目) - Weblio英語例文検索

A data output means 32 selects a part of data acquired from the IC test system 1 according to the instruction accepted by the accepting means 31, and outputs the data in a prescribed output form.例文帳に追加

データ出力手段３２は、受付手段３１により受け付けた指示に従って、ＩＣテストシステム１から得られるデータの一部を選択し、所定の出力形式で出力する。 - 特許庁

To easily conduct a test of operation in case of trouble by causing dummy trouble without any anxiety about device breakage as to a computer system to which peripheral equipment is connected by an input/output interface.例文帳に追加

入出力インタフェースで周辺機器を接続するコンピュータシステムにおいて、装置破壊の懸念なく、簡便に疑似障害の発生による障害発生時運用試験等を行う。 - 特許庁

The focused ion beam device is provided with a plasma type gas ion source to generate ion beams and an ion optical system to concentrate ion beams generated from the plasma gas ion source on a test piece.例文帳に追加

イオンビームを発生させるプラズマ型ガスイオン源と、プラズマ型ガスイオン源から発生したイオンビームを試料上に集結させるイオン光学系を備えた集束イオンビーム装置である。 - 特許庁

This method for screening vegetable browning inhibitors comprises adding a test substance to a system of reaction between a substrate extracted from an object plant and a browning enzyme extracted from the identical plant.例文帳に追加

植物から抽出された基質、および同一の植物から抽出された褐変酵素との反応系に、被験物質を添加する方法で植物褐変防止物質をスクリーニングする。 - 特許庁

To provide an installation program capable of reducing the time and labor of a user for the updating of the firmware of an image forming apparatus and test printing, the image forming apparatus and a printing system.例文帳に追加

画像形成装置のファームウェアのアップデート及びテスト印刷に対するユーザの手間を軽減することができるインストールプログラム、画像形成装置、及び、印刷システムを提供すること。 - 特許庁

A system 10 includes a source for providing the scan-in sequence 14 of the state data as the input simulation to test object devices DUT 18, and the scan-out sequence 16 of the predicted state data.例文帳に追加

システム(10)は、テスト対象装置(DUT)(18)への入力刺激としての状態データのスキャンインシーケンス(14)と予測された状態データのスキャンアウトシーケンス(16)を提供するためのソースを含む。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a heavy load in an encryption system where a load is freely applied to server authentication and encryption processing so as to easily and properly test a server.例文帳に追加

サーバの認証および暗号化処理に対して負荷を自在にかけてサーバを簡単かつ適確に試験し得る暗号化システムにおける高負荷試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

A system relating tests design of a universal serial bus (USB) smart card device and contains a bus analyzer for running a test case to generate a USB bus traffic.例文帳に追加

本発明のシステムは、ユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）スマートカード装置の設計をテストし且つＵＳＢバストラフィックを発生するためのテストケースを稼動するためのバスアナライザーを包含している。 - 特許庁

To provide a test data totalization system which can accurately catch symptom changes and improve the objectivity of data by totalizing specific view data as the same data.例文帳に追加

所定の所見データを同じものとして集計することにより、症状変化を正確にキャッチし、データの客観性を向上することのできる試験データ集計システムを提供する。 - 特許庁

This spectrophotometer 12 has a lens system for transmitting the radiation reflected from the test patch 31 to the photosensor D12, and a lens magnification ratio is set to about 1:1.例文帳に追加

この分光光度計１２は、前記テストパッチ３１からの反射された照射を前記光センサＤ１２に伝達するレンズ系を有しており、そのレンズ倍率比は約１：１である。 - 特許庁

A test using the pulse having the narrower pulse width than the system clock can be performed simply by monitoring the pulse having the pulse width set beforehand simply and accurately by an external tester.例文帳に追加

予め設定したパルス幅のパルスを簡便かつ正確に外部テスタでモニタすることにより、簡便に、システムクロックよりもパルス幅の狭いパルスを用いた試験を行うことができる。 - 特許庁

To realize an antenna accommodating apparatus which enables a performance test of an antenna means such as an antenna for receiving to be easily performed and an antenna testing system using the antenna accommodating apparatus.例文帳に追加

受信用アンテナ等のアンテナ手段の性能検査を簡易に行うことを可能とするアンテナ収容装置およびアンテナ収容装置を用いたアンテナ検査システムを実現する。 - 特許庁

To provide an image forming system executing calibration after matching toner image density to target toner image density even in the case where test image data is stored in a control device.例文帳に追加

コントロール装置にテスト画像データが記憶されている場合においても、トナー像濃度を目標トナー像濃度に一致させてからキャリブレーションを実行できる画像形成システムを提供する。 - 特許庁

To provide a system for inspecting a sample for a defect and an inspection method which can make production start in a short time, make a reliability test appropriate, reduce initial defects in an element and improve the element reliability.例文帳に追加

製品の短期立ち上げ，信頼度試験の適正化，素子初期不良の低減，素子信頼度の向上を実現できる試料の欠陥検査システム、および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a diagnostic control system for safely and correctly perform diagnosis by preventing the malfunction of a module due to a test pattern or the error of a diagnostic report concerning the diagnosis of a common bus.例文帳に追加

共有バスの診断において、テストパターンによるモジュールの誤動作や診断報告の誤りを防止し、安全かつ正確な診断を実施するための診断制御方式を提供する。 - 特許庁

The test mask is one made by drawing a pattern regularly with the same pitch as the minimum pattern pitch of the mask pattern to draw over the drawing field of a pattern drawing system.例文帳に追加

ここで、テストマスクは、パターン描画装置の描画フィールドにまたがって、描画しようとするマスクパターンの最小パターンピッチと同一のピッチで規則的にパターンを描画したものである。 - 特許庁

To provide method and system for ultrasonic flaw detection using a single ultrasound probe to conduct flaw detection of throughout the full range, from the surface to the base of the test material with high sensitivity.例文帳に追加

単一の超音波探触子を用いて、被検材の表面から底面までの全探傷範囲を高感度で探傷することができる超音波探傷方法及び装置を得る。 - 特許庁

An accepting means 31 accepts a user's instruction on selection of data to be output in tester information acquired from an IC test system 1, and on the output form of the selected data.例文帳に追加

受付手段３１は、ＩＣテストシステム１から得られるテスタ情報のうち出力すべきデータの選択、および選択されたデータの出力形式についてのユーザの指示を受け付ける。 - 特許庁

A delayed copy 308 of the BMF signal to be used as a second perturbation signal of the system test is generated by shifting the selected BMF signal by delay time quantity of a sample.例文帳に追加

選択されたＢＭＦ信号をサンプルの遅延時間量だけシフトして、システムテストの第２の摂動信号として使用されるＢＭＦ信号の遅延された複製308を生成する。 - 特許庁

The system may automatically test the overspeed protection system by adjusting the speed of a shaft (137) while at least one of the power plant machines (105, 160) operates under full-speed-no-load (FSNL).例文帳に追加

本発明の別の実施形態は、発電プラント機械（１０５、１６０）の少なくとも１つが全速無負荷（ＦＳＮＬ）で運転している間にシャフト（１３７）の速度を調整することによって過速度保護システムを自動的に試験することができる。 - 特許庁

A data processing system on an integrated circuit 42 having a microprocessor 1 and pieces of peripheral equipment 60 and 61 is provided with an emulation unit 50 capable of realizing the debug and emulation of the integrated circuit 42 when this emulation unit 50 is connected to an outside test system 51.例文帳に追加

マイクロプロセッサ１及び周辺装置６０、６１を有する集積回路４２上のデータ処理システムには、外部テストシステム５１に接続するときに集積回路４２のデバッグ及びエミュレーションを可能にするエミュレーションユニット５０が設けられる。 - 特許庁

An apparatus route corresponding table storage part 16 stores an apparatus route corresponding table showing a connection route connected to an apparatus and whether the apparatus has an autonomous redundant function or not for each apparatus in a test target system 4 which is a redundant system.例文帳に追加

機器経路対応テーブル記憶部１６は、冗長システムである試験対象システム４内の機器ごとに、機器に接続されている接続経路と、機器が自律冗長機能を有する機器であるか否かが示される機器経路対応テーブルを記憶する。 - 特許庁

To provide an optical image capturing method capable of measuring the stable wavefront aberration if an optical system using the center of a lens to acquire the optical image of a test object is used in capturing the optical image using a compensation optical system.例文帳に追加

補償光学系を用いた光画像の撮像において、被検査物の光画像を取得するときにはレンズの中心部分を利用する光学系を用いても、安定した波面収差の測定が可能となる光画像の撮像方法を提供する。 - 特許庁

This ophthalmology test device sharing the objective lens 11 with a photographing optical system and an illuminating optical system is provided with a black point board 8 having a black point 8a shading an infrared area and a black point 8b shading a visible light area.例文帳に追加

対物レンズ１１を撮影光学系および照明光学系で共用する眼科検査装置において、赤外光領域を遮光する黒点８ａおよび可視光領域を遮光する黒点８ｂを有する黒点板８を設ける。 - 特許庁

To prevent the breakage of an internal power supply system circuit by suppressing applying of exceeding external power supply voltage to the internal power supply system circuit which originally has to be supplied with dropped voltage when making an LSI having a voltage dropping circuit enter a test mode.例文帳に追加

降圧回路を有するＬＳＩをテストモードにエントリーさせる際、本来は降圧電圧を供給するべき内部電源系回路に対して過剰な外部電源電圧が印加されることを抑止し、内部電源系回路の破壊を防止する。 - 特許庁

A magnetic disk device 10 inspects the state of a head 19 before storing the system information in a disk 18, and sequentially stores the system information from a head whose state is satisfactory first on the basis of a test write result obtained by inspecting the state of the head.例文帳に追加

磁気ディスク装置１０は、ディスク１８にシステム情報が保存される前に、ヘッド１９の状態を検査し、ヘッドの状態が検査された試験ライト結果から、ヘッドの状態が良好であるヘッドから順次システム情報を保存する。 - 特許庁

To provide a disk drive quality monitor system reducing the load with respect to an OS (operating system), CPU (central processor unit) of a user's computer, unnecessitating a new storage area, and capable of reducing also a load caused by the execution of a test, and to provide a disk drive quality monitoring method and a program.例文帳に追加

利用者コンピュータのＯＳ、ＣＰＵに対する負荷を軽減し、新たな記憶領域を不要とし、試験実施による負荷をも軽減することができるディスクドライブ品質監視システム、ディスクドライブ品質監視方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

TEST METHOD OF INTEGRITY OF GPS MEASURING, ERROR DETECTION METHOD IN SPECIAL VEHICLE, MAPPING METHOD AND SYSTEM OF GPS MULTIPATH LEVEL, AND SYSTEM INSTALLED IN VEHICLE FOR TESTING INTEGRITY OF GPS MEASURING例文帳に追加

ＧＰＳ測定の完全性の検査方法及び特定の車両におけるエラー検出方法及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピング方法及びＧＰＳ測定の完全性を検査するために車両内に設けられているシステム及びＧＰＳマルチパスレベルのマッピングシステム - 特許庁

[Employment promotion by financial incentive systems such as the Trial Employment System, etc.] Regular employment is encouraged by utilizing the "Trial Employment System" (40,000 yen per person, up to 3 months), that gives companies opportunities to test their new employees, who are introduced by Hello Work, for three months.例文帳に追加

【トライアル雇用制度等の助成制度の活用による就職促進】ハローワークの紹介により、企業における３カ月の試行雇用を行う「トライアル雇用」（1人４万円、最大３ヶ月）等の活用により、正規雇用化を促進。 - 厚生労働省

The margin test system can include a controller such as a base board management controller (BMC) in the interior of a computer system, and a digital frequency synthesizer communicating with the controller, and communicating with a component of one or a plurality of computer systems.例文帳に追加

このマージン試験システムは、コンピュータシステムの内部にあるベースボード管理コントローラ（ＢＭＣ）などのコントローラと、このコントローラと通信し、かつ、１つまたは複数のコンピュータシステムのコンポーネントと通信するデジタル周波数合成器とを含むことができる。 - 特許庁

To provide an exhaust treatment device capable of being used for an operation test of a fuel cell system, and free from the deterioration of the performance of a fuel cell even if a fuel cell system is in an idling stop state or power generation stop state at running of a vehicle.例文帳に追加

燃料電池システムの運転試験に用いることができるものであって、燃料電池システムがアイドルストップ状態や走行中発電停止になったとしても燃料電池の性能を劣化させることのない排気処理装置を提供する。 - 特許庁

Position coordinate information on a test target image on the image defects is subjected to coordinate conversion processing into position coordinate information in a coordinate system, in which a predetermined coordinate point on the test target image is rotated as rotation center coordinates by every predetermined angle at a time, and an occurrence state of the image defects in each coordinate system is detected, by using the position coordinate information in each coordinate system subjected to coordinate conversion processing in each angle.例文帳に追加

画像欠陥に関する検査対象画像上での位置座標情報を、検査対象画像上の予め定められた座標点を回転中心座標として予め定められた角度ずつ回転させた座標系における位置座標情報に座標変換処理し、角度ずつ座標変換処理された座標系各々での位置座標情報により、座標系各々での画像欠陥の発生状況を検出する。 - 特許庁

In a combination circuit 11 which is operated by being synchronized with a system clock, for example, the test circuit which makes a state machine as a verification target, in its test mode, the system clock is supplied only in its active period as the clock in a flip-flop circuit 12 which holds a simulation execution result through a clock enabler 132 to become active by a fact that a clock enable signal is set.例文帳に追加

システムクロックに同期して動作する組合せ回路１１、例えばステートマシンを検証対象とするテスト回路において、そのテストモード時には、シミュレーション実行結果を保持するフリップフロップ１２にはそのクロックとして、クロックイネーブル信号がセットされることでアクティブとなるクロックイネーブラ１３２を通してそのアクティブ期間においてのみシステムクロックを供給するようにする。 - 特許庁

The test system includes a test object circuit which outputs an output signal based on the input signal having been input, signature operation circuits 110, 111, and 112 which store signatures in which a value of the output signal outputted from the test object circuit is compressed, and a built-in CPU 120 which processes the signature outputted from the signature operation circuit according to the input from the outside.例文帳に追加

本発明の第１の態様にかかるテストシステムは、入力された入力信号に基づいて、出力信号を出力するテスト対象回路と、テスト対象回路から出力された出力信号の値を圧縮したシグネチャを記憶するシグネチャ演算回路１１０、１１１、１１２と、シグネチャ演算回路より出力されたシグネチャを外部からの入力に応じて処理する内蔵ＣＰＵ１２０を備えるものである。 - 特許庁

To provide a communication data confirmation test method in an MPLS communication system that can simply locate a fault location in the MPLS communication system in a short time so as to quickly recover the fault and to provide a router, exchange and a communication system utilizing this method.例文帳に追加

ＭＰＬＳ通信方式における障害箇所の特定を簡単且つ短時間に行なうことができ、迅速な障害復旧を行なうことが可能なＭＰＬＳ通信方式における通信データ確認試験方法及びその方法を利用するルータ，交換機，通信システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

A method and system for generating the engine fixing control boundary conditions of a test unit 10 on exhaust system and a corresponding actuator control signal reproduces both the dynamic behavior of a power train 28 in an operating vehicle and the dynamic behavior of a vehicle frame at a position for fixing an exhaust system 12.例文帳に追加

排気システム台上試験装置10のエンジン取付制御境界条件及び対応するアクチュエーター制御信号を生成する方法及びシステムが提供され、それは、作動中の車両のパワートレイン28の動的挙動と、排気システム12が取付けられる位置での車両フレームの動的挙動の両方を、正確に再現する。 - 特許庁

Thus, a scan path for operation verification of the entire system LSI is constructed by inputting the definition information on the scan path to a register and a memory to be required for the operation verification of the system LSI, and the production test of the entire system LSI is performed via the scan paths (#13).例文帳に追加

このため、システムＬＳＩの動作検証に必要とされるレジスタやメモリに対するスキャン・パスの定義情報を入力することにより、システムＬＳＩ全体の動作検証用のスキャン・パスを構築することができ、これらのスキャン・パスを介してシステムＬＳＩ全体の実機テストを行うことができる（＃１３）。 - 特許庁

When the third disk system optical disk reproducible even with either of the first, second reproducing systems different from the first, second disk systems is reproduced, the third disk system optical disk is respectively test reproduced with the first, second reproducing systems, and jitter values are detected, and is reproduced using the reproducing system that the jitter value is near to a prescribed target value.例文帳に追加

第１、第２のディスク方式と異なる第１、第２の再生系のいずれでも再生可能な第３のディスク方式の光ディスクを再生するときは、第１、第２の再生系でそれぞれテスト再生してジッタ値を検出し、ジッタ値が所定の目標値に近い方の再生系を用いて再生する。 - 特許庁

To provide a design support method and a system therefor whereby reliability of a product is secured without conducting a real test and a simulation in a design process of an electronic instrument, and which are linked to a component procurement system and a process facilities control system, and are capable of giving instructions to the component procurement and the process facilities.例文帳に追加

電子機器の設計工程において、実試験やシミュレーションを行わずとも製品の信頼性が確保される、設計支援方法及びそのためのシステムであって、部品調達システムや工程設備制御システムにもリンクされて、部品調達・工程設備への指示をも可能とするものを提案する。 - 特許庁

To provide a method for updating a main controller for performing the update test of a new main controller in parallel while operating a facility by an existing main control system by connecting a new main controller to an existing main control system without modifying the hardware or software of the existing main control system.例文帳に追加

既設の主幹制御システムのハードウェアとソフトウェアを改造することなく既設の主幹制御システムに新設の主幹制御装置を接続して既設の主幹制御システムで設備の運転をしながら並行して新設の主幹制御装置の更新試験をすることができる主幹制御装置の更新方法を提供する。 - 特許庁

A management server 1 executes a Ping test, by accessing a camera system 4 by each prescribed timing, confirms a response from the camera system 4, inspects the connection state; and when the inspection result indicates that the camera system 4 is not connected normally, the management server 1 informs a notice destination corresponding to the user of this.例文帳に追加

管理サーバ１は、カメラシステム４を所定タイミング毎にアクセスすることによってＰｉｎｇテストを実施し、当該カメラシステム４からの応答を確認してその接続状態を検査した結果、カメラシステム４が正常に接続されていない場合には、その旨を当該ユーザ対応の通知先へ報告する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and application-specifically constituted semiconductor test system for testing semiconductor device, by making various different types of testing devices modules, combining a plurality of them, and providing a measuring module corresponding to a function peculiar to a device to be tested in a test fixture.例文帳に追加

半導体デバイスを試験するための半導体テストシステムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスに固有の機能に応じた測定モジュールをテスト・フィクスチャ内に設けることにより、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

In the semiconductor testing system wherein a plurality of semiconductor test units equipped respectively with a semiconductor testing device, a test management processor and the cooling device communicate with the host computer, and the cooling device includes a heat exchanger controlled by a controller, a two-way communication means is provided between the controller and the host computer.例文帳に追加

夫々が半導体試験装置、試験管理プロセッサ、冷却装置を備える複数の半導体試験ユニットがホストコンピュータと通信すると共に、前記冷却装置がコントローラにより制御される熱交換器を備える半導体試験システムにおいて、 前記コントローラと前記ホストコンピュータ間に双方向通信手段を設ける。 - 特許庁

In a moving method of void inside of a transparent solid 4, void of inside of the transparent solid 4 is moved in the direction of incidence of the laser pulse by irradiating inside of the transparent solid 4 continuously with the laser pulse as a test piece without adjusting a lens system of the femto- second laser pulse stage 3 of the test piece.例文帳に追加

透明体４内部のボイドの移動方法において、フェムト秒レーザーパルスのレンズ系又は試料のステージ３の調整を行うことなく、前記レーザーパルスを試料としての透明固体４内部に連続照射することにより、この透明固体４内部のボイドをレーザーパルスの入射方向に移動させる。 - 特許庁

To provide a console system for an IC test device, its control method, and a storage medium wherein the usage environment for conventional display device and input device is utilized with new display device and input device by setting a software, without changing the control program for an IC test device.例文帳に追加

本発明は、ＩＣ試験装置の制御プログラムを変更することなく、従来使用していた表示装置・入力装置の使用環境を、ソフトウェアの設定によって新規に導入した表示装置・入力装置で実現可能なＩＣ試験装置用のコンソール装置、その制御方法、及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁