| 意味 | 例文 |
Test Systemの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 3508件
In a system basic I/O system(BIOS), sets up the performance of a CPU 11 is set up to the maximum performance by using a CPU speed control circuit 152 in power ON self-test(POST) processing independently of CPU performance specified by a user and set up in a CMOS memory 20.例文帳に追加
システムBIOSは、CMOSメモリ20に設定されているユーザ指定のCPU性能とは無関係に、POST処理の中でCPU速度制御回路152を用いてCPU11の性能を最高性能に設定する。 - 特許庁
To provide a misconnection monitoring system that a primary time switch of a main signal control signal inserts a test pattern, a monitor function is provided to each switch panel so as to monitor the test pattern between the switch panels, and each switch panel monitors the test pattern among them to particularize the position at which misconnection takes place.例文帳に追加
本発明は誤接続監視システムに関し、主信号制御信号の1次側時間スイッチからテストパターンの挿入を行ない、各スイッチ盤に監視機能を持たせることで、一連の接続の正当性を確認すると同時に、各スイッチ盤間でテストパターンを監視することで誤接続の発生した箇所を特定することができる誤接続監視システムを提供することを目的としている。 - 特許庁
In the protective relay 1, a processing unit 11 inputs a digital signal of a DC voltage which is converted from an AC voltage of the power transmission system L1 from an analog/digital converter A/D, inputs an output voltage of an AC from a power supply unit 15, and inputs inspection data (test current, test voltage and operation time) from a test device 2 which is connected at inspection via an external interface 14.例文帳に追加
保護継電器1において、処理部11は、アナログデジタル変換器A/Dから送電系統L1の交流電圧を変換した直流電圧のデジタル信号を入力し、電源ユニット15から直流の出力電圧を入力し、点検時に接続される試験装置2から外部インタフェース部14経由で点検データ(試験電流、試験電圧、動作時間)を入力する。 - 特許庁
This system is provided with an address decoder circuit 5 which decodes all or a part of area of memory capacity, and an address test switching circuit 6 which is a creating means that creates an address test switching output signal 7 of a switching signal which switches the memory capacity by logical calculation of a power supply signal (VDD13) or a test signal 2 and an upper address signal 4.例文帳に追加
メモリ容量の全領域または一部の領域をデコードするアドレスデコーダ回路5を有しており、さらに、電源信号(VDD13)またはテスト信号2と最上位アドレス信号4との論理演算によって、メモリ容量の切り換えを行う切換信号のアドレステスト切り換え出力信号7を生成する生成手段であるアドレステスト切り換え回路6が設けられている。 - 特許庁
An electron beam irradiating unit 3 has a first deflector 2a for deflecting an electron beam to scan a surface of a test piece, and an electron detecting optical system 4 has a second deflector 21a for deflecting a test piece image beam so as to display a desired test piece image on an image displaying means 12 in synchronization with an output signal of the first deflector.例文帳に追加
電子ビーム照射手段3には電子ビームを偏向させて試料面を走査させる第1の偏向器2aが設けられ、電子検出光学系4には前記第1の偏向器の出力信号に同期させて試料画像ビームを画像表示手段12において所望の試料画像を表示するように偏向させる第2の偏向器21aを備えた構成とした。 - 特許庁
A control device consists of an electrical control system for driving a pair of actuators 2 for applying acceleration to each of two locations of a test stand 1 in the same direction, two displacement meters 12 and 13 for measuring the amount of displacement at the two locations of the test stand, and two accelerometers 14 and 15 for measuring acceleration at the two locations of the test stand 1.例文帳に追加
試験台1に2カ所で同一方向にそれぞれに加速度を与えるための2基1対のアクチュエータ2を駆動するための電気制御系23−1,2、試験台の2カ所のそれぞれの2変位量を計測するための2つの変位計12,13と、試験台1の2カ所のそれぞれの2加速度を計測するための2つ加速度計14,15とからなる。 - 特許庁
In this system or this method for measuring group delay of an optical device under test(DUT), a test interferometer and a linked optical frequency counter are utilized in order to compensate a non-uniform frequency change generated in an input light signal used in the interferometer for group delay measurement.例文帳に追加
光学被測定物(DUT)の群遅延を測定するためのシステムまたは方法において、群遅延測定用の干渉計で用いられる入力光信号に生じる一様でない周波数変化を補償するために、テスト干渉計と連携した光周波数カウンタを利用する。 - 特許庁
To provide a low-cost semiconductor test system which is application- specific where various types of test devices are made into modules which are coupled in a plurality of numbers while an algorithmic pattern generating(ALPG) module is mounted for generating an algorithmic pattern specific to the memory of a device which is to be tested.例文帳に追加
各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせ、かつ被試験デバイスのメモリに固有のアルゴリズミックパターンを発生するためのアルゴリズミックパターン発生(ALPG)モジュールを搭載し、低コストでアプリケーションスペシフィックに構成した半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁
In the construction process of a reactor power plant, a reactor pressure vessel 1 inside of a ABWR employed for the reactor power plant is pressure-tested by adding pressure with a control rod drive system driving water pump and adding test pressure exceeding maximum working pressure to the pressure test region at once.例文帳に追加
原子力発電プラントの建設途上で、その原子炉発電プラントに採用されたABWRの原子炉圧力容器1内を制御棒駆動系駆動水ポンプで加圧し耐圧試験範囲に対して最高使用圧力を超える試験圧力を加えて一度に耐圧試験を実施する。 - 特許庁
The evaluating apparatus includes a light source 4, a test pattern 5 having a standard pattern formed for evaluating an infrared optical system, the infrared lens 10 for forming a pattern image of the test pattern with light irradiated from the light source, and an image sensor 6 for detecting the formed pattern image.例文帳に追加
評価装置は光源4と、赤外線光学系評価用の標準パターンが形成されたテストパターン5と、光源光が照射された前記テストパターンのパターン像を結像する赤外線レンズ10と、結像されたパターン像を検知する画像センサ6とを有する。 - 特許庁
To provide a subscriber circuit testing device, subscriber circuit testing system, subscriber circuit testing method and subscriber circuit testing program which enable a test of an off-hook detection function and a test for the normality of a voice path to be applied to a subscriber circuit as a series of processing.例文帳に追加
加入者回路に対して、オフフック検出機能の試験と音声パスの正常性の試験を一連の処理として行うことのできる加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラムを提供する。 - 特許庁
To obtain a reliability growth model decided at an initial stage of a test process in a software test process evaluation system using a reliability growth model obtained by modeling a relation between evaluation quantity to software of an evaluation object and a fault discovered for the evaluation quantity.例文帳に追加
評価対象のソフトウェアに対する評価の量とその評価量に対して発見される障害の関係をモデル化した信頼度成長モデルを用いるソフトウェアのテストプロセス評価方式において、テストプロセスの初期段階で確定した信頼度成長モデルが得られるようにする。 - 特許庁
To provide a test system of semiconductor integrated circuit and operation confirming board therefor in which the reliability of judgement results can be ensured by confirming whether a scan signal is being outputted normally or not and whether a test mode is just as set or not.例文帳に追加
スキャン信号が正常に出力されているか否か、及び、設定した試験モードが設定通りであるか否かを確認することで、判定結果の信頼性を確保することができる半導体集積回路試験装置及び当該装置の動作確認用基板を提供する。 - 特許庁
A portable receiver 22 connected to the plurality of end terminals 10a-10d receives the test signal transmitted in the joint receiving system 2, and based on a level of the received test signal, a transmission loss in the end terminals 10a-10d is identified and displayed.例文帳に追加
複数の端末端子10a乃至10dに接続された可搬型の受信機22が、共同受信システム2を伝送されたテスト信号を受信し、受信したテスト信号のレベルに基づいて端末端子10a乃至10dにおける伝送損失を識別し、表示する。 - 特許庁
A system S includes the optical fiber 10; an elliptical tube 20, in which a pressure sensor section 11 of the optical fiber 10 is fit; a light source 30 into which test light is made incident from the one end 101 side of the optical fiber 10; an optical circulator 40; and a heterodyne receiver 50 for measuring reflected light of the test light.例文帳に追加
システムSは、光ファイバ10、光ファイバ10の圧力センサ部11に被嵌される楕円管20、光ファイバ10の一端101側から検査光を入射する光源装置30、光サーキュレータ40、及び前記検査光の反射光を計測するヘテロダイン受信機50を含む。 - 特許庁
The coverage measurement system comprises a virtual machine part for executing a test of software to be measured at its coverage by an assembler code or a binary code and a positional information extraction part for extracting the positional information of an executed instruction code in the test by the virtual machine part.例文帳に追加
本発明のカバレッジ計測システムアは、センブラコードまたはバイナリコードにより、カバレッジ測定対象のソフトウェアのテストを実行する仮想マシン部と、該仮想マシン部におけるテストにおいて、実行された命令コードの位置情報を抽出する位置情報抽出部とを有する。 - 特許庁
The pattern manufacturing system comprises imaging a plurality of kinds of copper thicknesses of test substrates forming a test pattern including the pattern lines of various line widths by an image recognizing means 60, and preparing a correction table indicating corresponding relationship of the copper thickness, the line width and an exposure correction amount by really measuring the line width of the pattern line.例文帳に追加
様々な線幅のパターン線を含むテストパターンが形成された複数種類の銅厚のテスト基板を画像認識手段60により撮像し、パターン線の線幅を実測して銅厚、線幅、及び露光補正量の対応関係を示す補正テーブルを作成する。 - 特許庁
To provide a test system of a semiconductor device, which eliminates such a probability that large current flows through a connection section of a connected semiconductor device in the case setting of terminals is changed in accordance with a change in functional tests, thereby avoiding such a state that a measurement is carried out unstably or the test can not be conducted.例文帳に追加
機能テスト変更に伴う端子の設定変更の際、接続した半導体装置との接続部分に大電流が流れる虞がなく、測定の不安定や試験が行えなくなったりすることなどのない半導体装置用試験装置を提供する。 - 特許庁
When performing imaging (slot imaging) performed in a state that an irradiation visual field is narrowed down by a collimator, setting of a slot width of a prescribed distance is changed based on a subject thickness of the test subject, so that even setting of a movement velocity of an imaging system is changed based on the subject thickness of the test subject.例文帳に追加
コリメータによって照視野を狭く絞った状態で行われる撮像(スロット撮像)の際に、被検体の体厚に基づいて所定距離であるスロット幅を設定変更することで、被検体の体厚に基づいて撮像系の移動速度をも設定変更することになる。 - 特許庁
The fuse 12 for discrimination belonging to a chip region CHIPf specified through a pre-test SORT 1 before the fuse-cut process is cut by the fuse-cut process, after that, at the time of post test SORT 2, abnormality of the power source supply system in this specified chip region CHIPf is detected.例文帳に追加
ヒューズカット工程以前のプリテストSORT1を経て特定されたチップ領域CHIPfに属する判定用ヒューズ12をヒューズカット工程にてカットし後のポストテストSORT2に際しこの特定のチップ領域CHIPfにおける電源供給系の異常を検出させる。 - 特許庁
Every time when the input section 32 of the abnormality detection system performs a test for a plurality of semiconductor products, positional information data 15 of each semiconductor product on a wafer is inputted from a wafer prober and specified test results data 25 for the semiconductor product is inputted from an LSI tester 20.例文帳に追加
異常検出システム30の入力部32が、複数の半導体製品の試験を行う毎に、各半導体製品のウェーハ上における位置情報データ15をウェーハ・プローバーから入力し、この半導体製品に対する所定の試験結果データ25をLSIテスタ20から入力する。 - 特許庁
To provide a testee registration system for a clinical test and a testee registration method capable of efficiently and safely performing the clinical test for confirming the safety and/or effectiveness of drugs or medical apparatuses and selecting the positive medical care of patients.例文帳に追加
医薬品、医療機器等の安全性および/または有効性を確認するための臨床試験を効率的かつ安全に行うことができ、さらに患者の積極的な医療選択を可能とする、臨床試験の被験者登録システムおよび被験者登録方法を提供すること。 - 特許庁
The test system for semiconductor integrated circuit receiving test signals of a plurality of frequencies consists of a waveform generating section 106 of a DDS(Direct Digital Synthesizer; direct frequency synthesis) formula and a DAC107 and the like prepared in a latter part of the waveform generating section 106.例文帳に追加
複数の周波数のテスト信号を受ける半導体集積回路のテストシステムであって、DDS(Direct Digital Synthesizer;直接周波数合成)方式の波形生成部106と、その波形生成部106の後段に設けられたDAC107などから構成される。 - 特許庁
Test image data produced from a 1st test image generating circuit are given to the image processing system in place of input image data from a scanner section, the data pass through each image processing block in a through mode and data of a check object are selected among respective outputs.例文帳に追加
この発明は、第1のテスト画像発生回路で発生したテスト画像データをスキャナ部からの入力画像データの代りに画像処理系に入力し、そのとき画像処理の各ブロックをスルーモードで通過させ、それぞれの出力の中から検査対象のデータを選択する。 - 特許庁
To provide a monitoring system capable of conducting a communication test while taking radio wave disturbance into consideration during the communication test so that an unsteady signal is accurately transmitted from a terminal device to a central processing unit even in the case of radio wave disturbance due to interference of a radio wave in normal use.例文帳に追加
本発明は、通常使用時に電波の混信などによる電波妨害があった場合でも、正確に非定常信号が端末器から中央処理装置に送信されるように、通信テストの際に電波妨害を考慮にいれて通信テストが行える監視システムを提供する。 - 特許庁
The IC tester is a system which has both shafts provided on side face opposite to the test board and groove into which this shaft is inserted, in addition, it is equipped with a rotary plate which rotates to even up or nearly right the test board and a cylinder installed in this rotary plate to support the plate.例文帳に追加
本装置は、テストボードの対向する側面に設けられる軸と、この軸が挿入される溝を有し、回転により、テストボードを水平またはほぼ直立にさせる回転プレートと、この回転プレートに取り付けられ、回転プレートを支えるシリンダとを備えたことを特徴とする装置である。 - 特許庁
To provide a switch operation tester in a vehicle interior, a switch operation test system, and a switch operation test method, being automatic, reproducing force, timing, and a time zone for a human to operate a switch, and repetitively operating a plurality of switches in a form that agrees with actual conditions.例文帳に追加
自動的に、かつ人間がスイッチを操作する力やタイミング、時間帯を再現することができ、かつ複数のスイッチをより実情に即した形で繰返し操作することのできる車室内のスイッチ操作試験装置およびスイッチ操作試験システムおよびスイッチ操作試験方法を提供する。 - 特許庁
The system is provided with a pseudo random number generating part for generating the pseudo random number, a test data creating part for creating a key and receiving the pseudo random number created by the pseudo random number generating part, and a security factor data creating part for receiving the pseudo random number and a plaintext from the test data creating part and processing encryption, etc.例文帳に追加
疑似乱数を生成する疑似乱数生成部と,鍵を生成し前記疑似乱数生成部から生成する疑似乱数を受け取るテストデータ作成部と,テストデータ作成部からの疑似乱数と平文とを受け取って暗号化等の処理を行うセキュリティ要素データ作成部とを備える。 - 特許庁
To provide an information reader for automatically generating and storing test data, conducting a test and informing a customer about the result on the occurrence of a transmission error between the information reader and an information processor in a data collection system comprising the information reader and the information processor for collecting data from the information reader.例文帳に追加
情報読取装置と、情報読取装置からデータを収集する情報処理装置から構成されるデータ収集システムに関し、情報読取装置と情報処理装置間の送信エラー発生時に、自動的にテストデータを生成格納し、テストを行い結果を顧客に通知する。 - 特許庁
The test system is configured to execute a test of a device to be tested having an operation part for outputting an operation signal for specifying an operation in response to the operation, and a control part 22 for generating an image signal by changing an image according to an operation signal output by the operation part.例文帳に追加
本発明にかかるテストシステムは、操作に応じて、当該操作を特定する操作信号を出力する操作部と、操作部により出力された操作信号に応じて画像を変化させた画像信号を生成する制御部22とを有するテスト対象装置のテストを実行する。 - 特許庁
A colorimetry head 1 is equipped with an illumination device 10, a light-receiving optical system 20, a color imaging means 30, a drive control means 40 and a measurement control means 50, and images in colors a test chart 4 in the state where the test chart 4 which is a measuring sample is arranged oppositely to an opening for a sample 3a.例文帳に追加
測色ヘッド1は、照明手段10、受光光学系20、カラー撮像手段30、駆動制御手段40および測定制御手段50を備え、試料用開口3aに測定試料としてのテストチャート4を対向配置した状態で、テストチャート4をカラー撮像する。 - 特許庁
A light emitter 25 for test light radiation is provided on the inside of a light-transmissive cover 23, and reflected light/scattered light 31 of test light 30 from the light-transmissive cover 23 is used to correct the sensitivity of a detection system including a photoelectric transducer (a first photoelectric transducer 24).例文帳に追加
試験光放射用の発光器25を透光性カバー23の内側に設け、透光性カバー23からの試験光30の反射光/散乱光31を用いて光電変換素子(第一の光電変換素子24)を含む検知系の感度補正を行うようにした。 - 特許庁
The balance test equipment comprises an apparatus body 1, a fixing section 7, a vibration table 6 secured to the apparatus body through a plurality of resilient bodies 4, 5, a drive section for vibrating a drive system, and a section for measuring unbalance of a test body fixed to the fixing section 7.例文帳に追加
装置本体1と、取付部7と、複数の弾性体4,5を介して装置本体に固定された振動台6と、振動系を振動させる駆動部と、取付部7に取り付けられた試験体の不つりあいを測定する測定部9を備えたつりあい試験装置である。 - 特許庁
METHOD FOR IN-SITU WATER SEALING TEST ON BOREHOLE FILLER, SYSTEM FOR IN-SITU WATER SEALING TEST ON THE BOREHOLE FILLER, METHOD FOR PERMEABILITY COEFFICIENT ANALYSIS OF BOREHOLE FILLER TOP PART, METHOD FOR INTENSITY ANALYSIS OF THE BOREHOLE FILLER TOP PART, AND EXPERIMENTAL DEVICE FOR BOREHOLE FILLER IN WATER-SEALED CHAMBER例文帳に追加
ボーリング孔の閉塞材原位置における遮水試験方法、ボーリング孔の閉塞材原位置における遮水試験システム、ボーリング孔閉塞材頂部の透水係数解析方法、ボーリング孔閉塞材頂部の強度解析方法、および、ボーリング孔閉塞材の遮水室内実験装置 - 特許庁
To enhance the discrimination capacity of a corrosion part and a sound part, using an optical system capable of observing the corroded part of a corrosion test piece, with proper contrast and with identical contrast for all the points on the test piece, and to calculate the area ratio of the corroded part, or the like, with high accuracy by further combining image processing.例文帳に追加
腐食試験片の腐食部をコントラストよく、且つ、試験片上のあらゆる点で同一のコントラストで観察しうる光学系を用いることにより、腐食部と健全部との識別能を向上させ、これに画像処理を組み合わせて、腐食部等の面積率を高精度に求める。 - 特許庁
The instrument system includes a rotating carousel for incubation and indexing, multiple light sources each emitting different wavelength light, and a control processor for performing precision calorimetric and fluorometric detections and barcode test panel tracking and for making determinations based on measured test data.例文帳に追加
この計器システムは、インキュベーションおよび位置合わせ用の回転カルーセルと、各光源が様々な波長の光を放出する複数の光源と、精密比色定量および蛍光比色検出、バーコード試験パネル追跡と、測定された試験データに基づいて判定を下す制御プロセッサとを含む。 - 特許庁
To enable a middle manager who manage specific trainees to confirm results of test and progress situations of only the trainees managed by himself or herself in a network-based education system capable of displaying unitarily managed learning contents and test questions on trainee's terminals.例文帳に追加
一元管理された学習コンテンツ及びテスト問題をインターネットで受講者端末に表示させることができるネットワークベース教育システムにおいて、特定の受講者を管理する中間管理者が、自己の管理する受講者のみのテストの成績及び進捗状況を確認できるようにする。 - 特許庁
A remote subscriber test communication conversion apparatus 70 is, in a subscriber test system in ISDN equipped with an exchange 40B, a subscriber 60, and the remote subscriber accommodation apparatus 50A, connected to a highway 45 extending between the exchange 40B and the remote subscriber accommodation apparatus 50A.例文帳に追加
遠隔加入者試験通信変換装置70は、交換機40B、加入者60、及び遠隔加入者収容装置50Aを備えたISDNにおける加入者試験システムにおいて、交換機40Bと遠隔加入者収容装置50Aとの間のハイウェイ45に接続されている。 - 特許庁
The learning information providing system 50 evaluates the answer from the user, feeds back an evaluation result to the learning item list 62 and make the test item changeable when the user is judged to master it based on the learning item list managed for every test item on item by item basis.例文帳に追加
学習情報提供装置50では、ユーザからの回答を評価してその評価結果を学習項目リスト62に反映させると共に、出題項目ごとに管理している学習項目リストに基づいてユーザがマスターしたと判断した場合に、その出題項目を課金対象とする。 - 特許庁
The system 1 for estimating the transparency of water is provided with a preprocessing device 2 which treats test water by using a filtration process or a centrifugal concentration process, a particle amount quantifying device 3 which quantifies the amount of particles in the test water, and a transparency calculating device 4 which calculates the transparency based on the quantified amount of particle.例文帳に追加
検水を遠心濃縮又はフィルターろ過する前処理装置2と、該検水の粒子量を定量化する粒子量定量化装置3と、定量化された該粒子量から透視度を算出する透視度算出装置4とを含む水の透視度評価システム1を提供する。 - 特許庁
In a reproduction test service apparatus 4, a plurality of log files in the past provided directly or indirectly from a medical system 1 are stored in a log file storage device 405 for reproducing the operation of the medical system 1 in the past and on the basis of the stored log files, a plurality of operations of the medical system 1 in the past are reproduced on a pseudo X-ray CT system 407.例文帳に追加
再現試験サービス装置4は、医用システム1の過去の動作を再現するために、医用システム1から直接的又は間接的に提供を受けた過去の複数のログファイルをログファイル記憶装置405で記憶し、記憶したログファイルに基づいて医用システム1の過去の複数の動作を疑似的X線CTシステム407上で再現する。 - 特許庁
To provide a memory test system and method, in which the burden put on the user who sets a fail memory is reduced, also a cause of abnormality can be investigated in a short time as well.例文帳に追加
フェイルメモリの設定を行うユーザの負担軽減を図るとともに、異常時の原因究明を短時間で行うことができるメモリ試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a CCSDS(Consultative Committee for Space Data System) conforming AOS(Advanced Orbiting Systems) test signal generation circuit capable of simulatively generating data for a CCSDS conforming AOS service while guaranteeing the continuity of frames.例文帳に追加
CCSDS準拠AOSサービス用データをフレームの連続性を保証しながら擬似発生することができるCCSDS準拠AOS試験信号発生回路を提供すること。 - 特許庁
To efficiently confirm a receiving state of an operation signal in a test mode while not damaging the beauty of an operation target device in normal operation, in a remote control operation confirmation system.例文帳に追加
リモコン動作確認システムにおいて、通常時には操作対象機器の美観を損ねることなく、テストモード時には効率的に動作信号の受信状態を確認できるようにする。 - 特許庁
To provide a balance test equipment in which the static natural frequency of a vibration system can be brought close to even natural frequency by adjusting the position of one resilient body appropriately.例文帳に追加
1つの弾性体の位置を適宜調節することで、振動系の静的な固有振動数と偶的な固有振動数とを近づけることを可能とするつりあい試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide an ideal logic verification system which is applied to the large scale logic of data communication equipment, etc., and by which the number of prepared test data strings is reduced and the result can be easily verified.例文帳に追加
テストデータ列の作成数を削減すると共に、結果の検証を容易に行うことのできるデータ通信装置等の大規模論理に適用して好適な論理検証方式。 - 特許庁
A distribution test for compressed voice data is conducted after system installation and the like, and one or two optimal compression ratios that match the system's installation environment and the position of a client device are set.例文帳に追加
システムの設置後などに圧縮音声データの配信テストを行って、その設置環境やクライアント装置の位置に応じた最適な圧縮率を1つ又は2つ設定する。 - 特許庁
To provide an inspection system stage capable of increasing the size of a supported medium plate and decreasing the sizes of a granite base plate and a gantry as to a test or repair platform.例文帳に追加
試験または修理プラットフォームにおいて、支持される媒体プレートのサイズを大きくでき、岩花崗岩ベース・プレートとガントリのサイズを縮小できる検査システム・ステージを提供すること。 - 特許庁
To provide a medical test support system for calculating a movement time to a hospital on the basis of the current location information of a patient, and for presenting a standby time by using the calculation result.例文帳に追加
患者の現在の位置情報をもとに病院までの移動時間を算出し、その算出結果を利用して待ち時間を提示可能にした医療検査支援システムを提供する。 - 特許庁
To provide an IC test system in which an IC transfer device and an IC measuring instrument are made to operate pursuant to common data, and which is simple in data preparation before measurement, and which is easy in reading operation.例文帳に追加
共用のデータに従ってIC移載装置とIC測定装置が動作するようにし、測定前のデータの準備が簡単で、読み込み操作が容易なICテストシステムを提供する。 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|