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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > close inspectionの意味・解説 > close inspectionに関連した英語例文

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close inspectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 133



例文

To select and provide a substrate equipped with a highly-reliable conduction through-hole by detecting an abnormality such as deficiency or a state close to disconnection by performing not only conduction inspection using electricity but also visual inspection using image processing in order to secure reliability of the conduction through-hole on the substrate.例文帳に追加

基板の導通貫通孔の信頼性を確保するため、電気を用いた導通検査のみでなく、画像処理を用いた外観検査を行うことで、欠損や断線しかかり等の異常の検出を行い、信頼性の高い導通貫通孔を備えた基板を選別して提供する。 - 特許庁

To solve the problem wherein disconnection failures are hard to determine, due to an AC detection signal propagated in the capacity coupled state of a disconnected part, if it is in a state of disconnection very close to the cut surfaces of a conduction pattern in an inspection device for inspecting the conductive pattern by a non-contact sensor, using the AC inspection signal.例文帳に追加

交流の検査信号を用いる非接触センサにより導電パターンを検査する検査装置は、導電パターンの切断面同士が極近接して断線であれば、交流の検出信号は断線部分を容量結合した状態で伝搬され、断線不良が判断しづらい。 - 特許庁

To provide a method for determining a correlation value of an object to be inspected, which determines the correlation value unlimitedly close to the measured value of the object to be inspected, namely the optimum threshold in the binarization on the side of image processing, and to provide a defect inspection method using the same and a defect inspection apparatus therefor.例文帳に追加

被検査対象の実測値に限りなく近い相関値、即ち、画像処理側での2値化における最適な閾値を決定する被検査対象相関値決定方法、及びこの方法を用いた欠陥検査方法とその欠陥検査装置を提供するものである。 - 特許庁

To provide a stereoscopic spectacle inspection device capable of coping with models, characteristic variations, etc. of stereoscopic display devices, and capable of efficiently collecting inspection information to confirm the quality of shutter spectacles, such as durability to noise signals and stability of open/close operation.例文帳に追加

立体表示装置の機種や特性のバラツキ等に対応でき、ノイズ信号に対する耐久性や開閉動作の安定性などのシャッター眼鏡の品質を確認するための検証情報を効率良く収集ことができる立体視用眼鏡検査装置の提供を目的とする。 - 特許庁

例文

To provide inexpensively an inspection device and an observation device capable of inspecting and observing an inspection object having a periodical pattern without generating almost no fading or deterioration of an image, and without being influenced by moire even under the condition that the pattern period is close to CCD resolution.例文帳に追加

周期的パターンを持つ検査対象を、画像のボケや劣化をほとんど生じさせることなくかつパターン周期とCCD分解能が接近した条件であってもモアレの影響なく検査および観察できる検査装置および観察装置を安価に提供する。 - 特許庁


例文

The defect inspection apparatus is provided with various optical functions according to the type (shapes, materials, close patterns, etc.) of defects to be inspected, accumulates the difference in shade between defects desired to be detected and pseudo-defects desired to be not detected for each optical function, and efficiently selects conditions advantageous for highly sensitive and low-pseudo-rate inspection.例文帳に追加

検査対象となる欠陥種(形状,材料,近接するパターンなど)に対応して、多様な光学機能を備えており、各光学機能別に検出したい欠陥及び検出したくない擬似欠陥の濃淡差などを蓄積し、高感度、低擬似率検査に有利な条件を効率的に選択する。 - 特許庁

This inspection container is characterized by disposing peeling-guiding protruded portions comprising protruded portions 134 around the dent portions and protruded portions 135 for connecting the protruded portions 134 in a peeling-scheduling direction (longitudinal direction), and then peelably adhering a protection film 4 to close the inspection chambers.例文帳に追加

前記凹部の周囲の凸部134とこの凸部同士を連結する凸部135とで構成される引き剥がし誘導凸部を、引き剥がし予定方向(長手方向)に沿って設け、保護フィルム4を剥離可能に接着して前記検査室を密閉する。 - 特許庁

The pad 314 for the inspection for operating the inspection circuit 313 inspecting the internal circuit 312 of a first LSI region 311 on a wafer is arranged in a second LSI region 321 which is a different LSI region close to the LSI region 311.例文帳に追加

ウエハ上の第1LSI領域311の内部回路312を検査する検査回路313を動作させるための検査用パッド314を、そのLSI領域311に近接する別のLSI領域である第2LSI領域321に配置する。 - 特許庁

When an inspection pin Tp of a tester T is inserted into the tester insertion hole 70, the inspection pin Tp is guided so as to come close to a female terminal fitting 30 along the guide surface 72, and pressed against the outside surface of an insulation barrel 34 facing to the entrance 22B to contact it.例文帳に追加

テスタTの検査ピンTpをテスタ挿入口70に挿入すると、検査ピンTpは誘導面72に沿って雌端子金具30に接近するように誘導され、入口22Bに臨んでいるインシュレーションバレル34の外面に押し付けられて接触する。 - 特許庁

例文

To provide a mounting inspection device and a mounting inspection method capable of performing excellently quality determination of the state of solder paste or the mounting state of an electronic component, even in the case of narrow adjacent mounting wherein adjacent electronic components are mounted close.例文帳に追加

隣り合う電子部品が近接して実装された狭隣接実装の場合においても、クリーム半田の状態や電子部品の実装状態の良否判定を良好に行うことができる実装検査装置および実装検査方法を提供する。 - 特許庁

例文

To bring the junction of a micropump for supplying an operating fluid with an inspection chip to a close contact state not only to minimize the necessary amount of a sample but also to enhance analytical precision in the micro-synthetic analyzing system constituted so as to incorporate the inspection chip, in which a specimen and a reagent are preliminarily housed, in an inspection device to automatically detect necessary data.例文帳に追加

検体と試薬とが予め収容された検査チップを、検査装置内に組み込んで必要な情報を自動的に検出するようにしたマイクロ総合分析システムにおいて、作動用の流体を供給するマイクロポンプとチップ側との接続部を密着させ、試料必要量の最小量化を図り、かつ解析精度を高めることを目的とする。 - 特許庁

The jamb includes: a pair of vertically extending transverse frames 8; a curtain board 20 having a curtain board inspection port 10 to be used when inspecting an apparatus installed in the car 1 or the hoistway 80; and a curtain board closing plate 15 which is provided on a front side of the curtain board inspection port 10 to close the curtain board inspection port 10.例文帳に追加

三方弁は、上下方向に延在する一対の横枠8と、各横枠8の上方部の間に延在し、乗りかご1または昇降路80に設置された機器を点検する際に用いられる幕板点検口10を有する幕板20と、前記幕板点検口10の前面に設けられ、当該幕板点検口10を閉鎖する幕板閉鎖板15と、を備えている。 - 特許庁

Needless to say, indispensable elements to such inspection are two-way dialogues with financial instruments firms, and close coordination with relevant regulatory agencies. 例文帳に追加

そして、こうした効率的かつ効果的な検査を実現するためにも、金融商品取引業者等との対話と、関係部局等との連携は、不可欠な前提であると考える。 - 金融庁

When receiving the above reports, the supervisor shall hold sufficient hearings with the Financial Instruments Business Operator, etc. When holding the hearings, the supervisor shall maintain close cooperation with inspection departments. 例文帳に追加

② 報告書が提出される段階においては、金融商品取引業者等から十分なヒアリングを行うこととする。ヒアリングに当たっては、検査部局とも緊密な連携を図るものとする。 - 金融庁

(1) PROHIBITION OF ACTS OF PROVIDING OR MAKING AVAILABLE FOR INSPECTION A CREDIT RATING ON A MATTER IN WHICH THE SAID RATING STAKEHOLDER HAS AN INTEREST IN CASES WHERE A CREDIT RATING AGENCY OR AN OFFICER OR EMPLOYEE THEREOF HAS A CLOSE RELATIONSHIP WITH A RATING STAKEHOLDER, [ARTICLE 66-35(I) OF THE FIEA] 例文帳に追加

例えば、グループ内の無登録の格付会社が信用格付行為を行うに際して、登録業者である自社の名義で信用格付行為を行ったこととするなどの不適切な行為をしていないか。 - 金融庁

(ii) When providing a credit rating or making it available for inspection, does the credit rating agency confirm in advance that the credit rating agency or the person in charge of the rating does not have a “close relationship” with a rating stakeholder? 例文帳に追加

市場参加者にとっての信用格付の有用性を高める観点からは、信用格付に関する情報開示に透明性・適時性が確保されることが重要であると考えられる。 - 金融庁

To provide an endoscope operation training apparatus with which an operation technique required for inspection and treatment by the endoscope can be obtained on feeling close to a practical clinical condition at high level.例文帳に追加

内視鏡検査や治療に必要な操作技術を実際の臨床状態に極めて近い感触により高いレベルで習得することができる内視鏡操作トレーニング装置を提供すること。 - 特許庁

In the second inspection process, brightness data of the isolated peculiar pixels is removed from the image data and close-packed peculiar pixels consisting of a set of several peculiar pixels is detected.例文帳に追加

第2検査工程では、画像データから孤立特異画素の輝度データが除去され、いくつかの特異画素の集合からなる密集特異画素が検出される。 - 特許庁

To provide a probe guiding member which has high thermal conductivity and excellent precision workability and is used for inspection of a semiconductor element exhibiting thermal expansion close to that of silicon.例文帳に追加

高熱伝導性で、優れた精密加工性を持ち、シリコンに近い熱膨張を示す半導体素子の検査に用いるプローブ案内部材を提供する。 - 特許庁

The inspection lid 100 is provided at an underframe 30 of the railway vehicle for inspecting the equipment equipped in a floor equipment room provided under the underframe 30 so as to open and close.例文帳に追加

軌条車両の台枠30には、台枠30の下側に設けられた床下機器室に備わる機器を点検するため、点検蓋100が開閉可能に備わっている。 - 特許庁

To provide a contact probe and a socket enhancing reliability of inspection by surely bringing a plunger and a close winding part of a coil spring to each other at a fixed contact pressure.例文帳に追加

プランジャーとコイルスプリングの密着巻き部とを一定の接圧で確実に接触させることで検査の信頼性を高めることが可能な、コンタクトプローブ及びソケットを提供する。 - 特許庁

Once the inspection is finished, the plug members 43 are re-attached to the communication tubes 42 to close the openings of the communication tubes 42, thus the heat transfer tubes 3 can be sealed.例文帳に追加

点検が終了したら、栓部材43を連通管42に取り付け、連通管42の開口を閉塞させることで、伝熱管3が密閉される。 - 特許庁

To provide an inexpensive LSI inspection device and a method therefor capable of inspecting an LSI in a state close to the operating state of mounting the LSI on an actual product card.例文帳に追加

LSIを実際の製品カードに実装して動作させた状態と近い状態で検査が可能で、しかも、コストが安価なLSI検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

An EGR valve inspecting device 12 is connected to the hybrid vehicle 1, and a hybrid controller 8 is changed over into an EGR valve inspection mode and an engine controller 7 is changed over into an EGR valve forcible open/close mode.例文帳に追加

ハイブリッド車両1にEGRバルブ検査装置12を接続し、ハイブリッドコントローラ8をEGRバルブ検査モードに切換え、エンジンコントローラ7をEGRバルブ強制開閉モードに切換える。 - 特許庁

The floor pan structure for the bathroom unit is characterized by arrangement of a rise portion 8 having an upward folded shape, on a peripheral portion of a washing place cover 7 for blocking an inspection port 6 formed in a floor pan 1 close to a washing place side.例文帳に追加

本願発明の浴室ユニットの床パン構造は、洗い場側床パン1に形成した点検口6を閉塞する洗い場蓋7の外周部に、上方に折り返した形状を有する立上り部8を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a device for inspecting a liquid crystal panel with which accurate inspection is carried out by making the liquid crystal panel be irradiated with uniform and intense light from a position close thereto.例文帳に追加

液晶パネルの近傍から均一な強い光を照射することによって精度良い検査を行うことのできるような液晶パネル検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for insulation testing, which make it possible to inspect all defect parts where sounding winging coils are abnormally close to laminate coarse (at intervals of <1 mm) through nondestructive inspection in a mass-production process.例文帳に追加

健全な巻線コイルがラミネートコアに異常接近(1mm以内)した状態にある欠陥部分を、非破壊検査により量産工程で全数検査を可能にした絶縁試験方法および装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To automatically send a cut blank close at hand of a worker operating an operating station and to easily execute the inspection of the cut blank by one worker.例文帳に追加

切断ブランクを操作部を操作する作業者の手元近くへ自動的に送り込むことができ、一人の作業者で切断ブランクの検査を簡単容易に行うことができる。 - 特許庁

To provide inspection equipment of an RFID tag for inspecting the communicating operation of the RFID tag with a communication distance in a real use state without interference by using a base sheet where a plurality of RFID tags are made close to one another and formed.例文帳に追加

複数個のRFIDタグが近接して形成された基材シートを用い、干渉することなく実使用状態の通信距離で、通信動作を検査できるRFIDタグの検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

When receiving examination indication information from the RFID, the consulter moves to an inspection room and brings the RFID close to an additionally provided reader/writer 13 to inform the examination progress management terminal 14 of examination start or end information.例文帳に追加

受診者はRFIDから検診指示情報を受けると、当該検査室へ移動し、付設されている読取書込装置13にRFIDを近接して検診開始・終了情報を検診進捗管理端末14に通知する。 - 特許庁

The storage box 18 has an inspection hole 82 bored in a size that can open/close a liquid supply port 91 of the liquid tank 44 from the inside of the storage box 18.例文帳に追加

収納ボックス18に、収納ボックス18内から液体タンク44の給液口91を開閉可能な大きさの点検孔82を開けた。 - 特許庁

Two solid-state image pickup element 2a and 2b arranged in close vicinity of the surface of a wafer 1 are irradiated with inspection lights respectively having uniform luminous intensities from the ends 14a and 14b divided into two of an optical fiber.例文帳に追加

ウエハ1の表面に近接配置された二つの固体撮像素子2a,2bにそれぞれ均一な照度を有した検査光を二股に分割された光ファイバ端部14a,14bから照射するように構成される。 - 特許庁

To provide a defect inspection method of a master information carrier, which detects without fail the defects caused by the master information carrier in a magnetic-transfer method which carries out transfer by making a magnetic disk contact physically close the master information carrier.例文帳に追加

磁気ディスクとマスタ情報担体を物理的に密着させる磁気転写方法において、マスタ情報担体が原因となる欠陥を確実に検出するマスタ情報担体の欠陥検査方法を提供すること。 - 特許庁

This defect inspection device 21 is used in a prestage for attaching a sealing film 4 to close a pocket part, after a tablet is stored in the pocket part formed in a conveyed container film 3.例文帳に追加

不良検査装置21は、搬送される容器フィルム3に形成されたポケット部に錠剤が収容された後、ポケット部を塞ぐ密封用フィルム4が取着される前段階において用いられる。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe wherein the close adhesion of the projection installed on the eddy current flaw detection probe as a spacer is stabilized even in the inspection of the surface of an object to be inspected small in sharp unevenness and curvature, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加

鋭利な凸凹や、曲率の小さい被検査体面の検査でも、渦電流プローブにスペーサーとして設置する突起物の密着を安定させた渦電流プローブ及びその製造方法を提供することにある。 - 特許庁

By placing the input/output side of the mix storage 11 opposite to the input/output sides of the thousand yen cabinet 12 and the five thousand yen cabinet 13, a moving distance becomes shorter and the close inspection can be performed in a short time.例文帳に追加

混合収納庫11の入出金側を千円収納庫12、五千円収納庫13の入出金側と対向させることで、移動距離が短くなり、精査を短時間で行うことができる。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting a printed board that are capable of easily and inexpensively performing electrical testing of a printed board the position of which should be determined in such a state that a plurality of inspection probes are made close to each other.例文帳に追加

複数の検査用プローブを接近させた状態で位置決めすることが必要なプリント基板の電気検査を簡単、かつ低コストで行えるプリント基板の検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁

A visual inspection device 1 comprises a wafer supporting part 4 supporting a wafer W rotatably in XYZ directions and around Z axis and a circumference photographing part 5 arranged at the close position to observe the circumference part of the wafer W.例文帳に追加

外観検査装置1は、ウェハWをXYZ方向及びZ軸回りに回転自在に保持するウェハ保持部4を有し、ウェハWの周縁部を観察するために用いられる周縁撮像部5が近接して配置されている。 - 特許庁

To provide an inspection device enabling an operator to satisfactorily confirm whether a spectacle lens is appropriately attached to a frame, even in a spectacle lens having an astigmatism axis close to 45°.例文帳に追加

乱視軸が45°に近いような眼鏡レンズであっても、この眼鏡レンズがフレームに適正に取り付けられているか否かを良好に確認できる検査装置を提供する。 - 特許庁

To secure safety of an inspection work of an electric circuit so that a lock condition of a trip button cannot be attained in the case an open-close contact point of a circuit breaker is welded.例文帳に追加

回路遮断器の開閉接触子が溶着している場合は、トリップボタンを施錠状態にできないようにして電路の点検作業の安全を確保する。 - 特許庁

A laying box 45 having an inspection open and close door 51 is fixed on a lower surface of the slab 41 with exposing the floor through-hole 43 to an inside space 49 in a ceiling inside 47 of an adjacent lower story of the floor 31.例文帳に追加

フロア31の隣接下階の天井懐47内で、点検用開閉扉51を有した布設箱45を、内部空間49に床貫通穴43を露出させてスラブ41下面に固設する。 - 特許庁

The inspection device uses a light source arranged so that the light source is close to a Brewster angle where polarization dependence of reflected light becomes largest, and a polarization camera for photographing the reflected light to determine whether the defect is the one on the front surface or on the rear surface.例文帳に追加

反射光の偏光依存性の最も大きくなるブリュースター角に近くなるよう設置した光源と、その反射光を撮影する偏光カメラを用いて、表面の欠陥なのか裏面の欠陥なのかを判別する。 - 特許庁

By placing input output side of the mix storage 11 opposite to input side of the thousand yen cabinet 12 and the five thousand yen cabinet 13, a moving distance becomes shorter and the close inspection is performed in a short time.例文帳に追加

混合収納庫11の入出金側を千円収納庫12、五千円収納庫13の入出金側と対向させることで、移動距離が短くなり、精査を短時間で行うことができる。 - 特許庁

When inspecting the quality of the conductive pattern 2 arranged in a row shape on a glass substrate 3 in a noncontact state, a power supply part 12 for supplying an inspection signal and a sensor 13 for detecting its signal, are arranged in close vicinity to each other.例文帳に追加

ガラス基板3上に列状に配設された導電パターン2の良否を非接触で検査する際、検査信号を供給する給電部12と、その信号を検知するためのセンサ13とを近接して配する。 - 特許庁

The inspection unit for the brake lamp is arranged in a prop-like state by abutting one end 1a of a body part 1 formed to a rod-like shape to a brake pedal 2 and locking a position close to the other end 1b to a dashboard 3.例文帳に追加

棒状に形成した本体部1の一端1aをブレーキペダル2に突き当て、他端1b寄りの位置をダッシュボード3に係止して突っ支い棒状に配置する。 - 特許庁

The inspection door 24 serves to make hard an access to a stacker crane, and includes a fixed part 30, a door 32, the open/close key 46, a lock 34 and a key insert 36.例文帳に追加

点検扉24は、スタッカクレーンに接近しにくくするための扉であって、固定部30と、扉部32と、開閉鍵46と、錠前部34と、鍵挿入部36と、を備えている。 - 特許庁

To provide an inspecting device that sufficiently brings a chip connecting part communicated with a micro pump into a close contact state with an inspection chip by removing contaminants and liquid without scattering them with a simple mechanism.例文帳に追加

異物や液体を飛散させることなく簡単な機構で異物や液体を除去し、マイクロポンプと連通するチップ接続部と検査チップとを十分に密着可能な状態にすることができる検査装置を提供する。 - 特許庁

Since it is determined whether a parameter value of an inspection object is close to each center value D_g, C_n, C_a, C_b, C_c, C_d of the subdivided groups G, N, A, B, C, D or not, highly-accurate quality determination can be achieved.例文帳に追加

そして、細分化されたグループG,N,A,B,C,Dの中心値C_g,C_n,C_a,C_b,C_c,C_dに対して検査対象のパラメータ値が近いかどうかを判断するため、精度の高い良否判定を実現することができる。 - 特許庁

When inspecting the quality of the conductive pattern 2 arranged in a row on a glass substrate 3 in a non-contact state, a power supply unit 12 for supplying an inspection signal and a sensor 13 for detecting the signal are arranged in close vicinity to each other.例文帳に追加

ガラス基板3上に列状に配設された導電パターン2の良否を非接触で検査する際、検査信号を供給する給電部12と、その信号を検知するためのセンサ13とを近接して配する。 - 特許庁

例文

To prevent a stealing of bill from a bill carrier device by taking measure to prevent crime apart from a setting of a key when a freeze board or a door for inspection work is provided corresponding to the bill carrier device in a game island so as to open and close freely.例文帳に追加

遊技島内の紙幣搬送装置に対応して幕板又は点検作業用扉を開閉自在に設ける場合に、鍵を設けることとは別の防犯対策を講じて、紙幣搬送装置から紙幣の抜き取りを防止する。 - 特許庁

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