「micro-processing」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

A global processor 10 executes, at prescribed timing, parallel addition processing of controlling an ALU (Arithmetic Logic Unit) 14 so that the count value C12 is accumulated to a count value C15 stored in the corresponding counter register 15, and the global processor 10 performs such control as to reset the count value C12 stored in each micro-counter 12.例文帳に追加

グローバルプロセッサ１０は、所定のタイミングで、カウント値Ｃ１２を、対応するカウンタレジスタ１５に格納されたカウント値Ｃ１５に累積加算するようにＡＬＵ１４を制御する並列加算処理を実行し、各マイクロカウンタ１２に格納されたカウント値Ｃ１２をリセットするように制御する。 - 特許庁

To provide a photo MEMS (micro electro mechanical system) acceleration sensor, which responds to a small SoC (system on chip) structure, selectively use a material without being limited to use of single crystal Si as the material, and attain application of a conventional processing technique to manufacture of a MEMS structure without through any complicated process.例文帳に追加

小型でＳｏＣ構造化への要請に応じることができ、単結晶Ｓｉを材料とすることに限定されず材料の選択が可能であり、複雑なプロセスを経ることなく従来の加工技術をＭＥＭＳ構造体の製造へ援用できる光ＭＥＭＳ加速度センサを提供する。 - 特許庁

This plating device is provided with a plating processing part 12 for executing plating onto a semiconductor wafer of a treating object, using the plating liquid, a main component control part 2 for analyzing the plating liquid to regulate a composition of the plating liquid based on a result therein, and a micro component control part 3.例文帳に追加

このめっき装置は、めっき液を用いて処理対象の半導体ウエハにめっきを施すめっき処理部１２と、めっき液を分析してその結果に基づいてめっき液の組成を調整する主成分管理部２および微量成分管理部３とを備えている。 - 特許庁

The numerical analysis system is further provided with a parameter setting means 13 setting the same value as a parameter value for macro analysis used in the macro modeling processing means 10, or an approximate value thereof so as to be consistent between the equivalent material model and the micro model, in a parameter value for analysis in the covering area.例文帳に追加

さらに、上記被覆領域での解析用パラメータ値に、等価な材料モデルとミクロモデルとに整合性が生じるように、マクロモデリング処理手段１０で用いられたマクロ解析用パラメータ値と同一値又はその近似値を設定するパラメータ設定手段１３を設置する。 - 特許庁

An adhesive tape for cutting processing that is used for manufacturing a semiconductor chip, a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) device, a functional glass substrate, and a semiconductor package and the like from a plate-like to-be-cut object, has a base material 1 and an adhesive layer 2 arranged on the base material 1.例文帳に追加

切削加工用粘着テープは、板状の被切削物から半導体チップ、ＭＥＭＳデバイス、機能性ガラス基板、および半導体パッケージ等を製造するために使用される切削加工用粘着テープであり、基材１と、基材１上に配された粘着層２と、を備える。 - 特許庁

To provide an LCC (Limited Current Circuit) of a digital inverter performing a shutdown processing within a standard time by inducing striking lower than a limited voltage set in the standard by using an MCU (micro controller unit) capable of controlling a voltage/current applied upon striking of the digital inverter applied to an LCD backlight.例文帳に追加

ＬＣＤ用バックライトに適用されたデジタルインバータのストライキング時に印加される電圧値又は電流値を調節し得るＭＣＵを使用し、規格で定められた制限電圧以下にストライキングを誘導して規格時間内にシャットダウン処理を行うデジタルインバータのＬＣＣを提供する。 - 特許庁

This game machine is provided with a screen 4a displaying special patterns 53L, 53C, and 53R indicating the moving to a special game state advantageous for the player, when a fluctuation display stops at a prescribed stop mode, and a sub MPU (Micro Processing Unit) 31a controlling the display on the screen 4a.例文帳に追加

遊技機は、変動表示が特定の停止態様で停止したとき、遊技者にとって有利な特別遊技状態への移行を示す特別図柄（５３Ｌ，５３Ｃ，５３Ｒ）を表示する画面（４ａ）と、画面（４ａ）での表示を制御するサブＭＰＵ（３１ａ）とを備える。 - 特許庁

A defect is determined by an image processing unit 232 (image processing unit 332) in the macro inspection camera part 230 (micro inspection camera part 330), the radio communication information frame 600 is transmitted together with a substrate image data of a substrate 30 only when required, a data of the radio-transmitted radio communication information frame 600 is reduced thereby to prevent convergence of a communication band and to attain smooth communication.例文帳に追加

マクロ検査カメラ部２３０（ミクロ検査カメラ部３３０）では、画像処理ユニット２３２（画像処理ユニット３３２）で欠陥を判別し、必要な場合にのみ、無線通信情報フレーム６００に基板３０の基板画像データを乗せて送信することで、無線通信される無線通信情報フレーム６００のデータを減らして、通信帯域の輻輳を防止し、円滑な通信を実現する。 - 特許庁

Detection precision and discrimination for a micro-wave type are enhanced since a threshold value is set not to affect a comparison result even when the output of the FM detection circuit 8 is varied by the temperature of the circuit 8 in the case where the output of the circuit 8 is compared with the threshold value in a detection-processing process.例文帳に追加

すると、ＦＭ検波回路８の出力を検出処理過程においてしきい値と比べる際に回路の温度によってＦＭ検波回路８の出力が変化しても比較結果に影響が出ないようなしきい値に設定できるので検出精度並びにその受信したマイクロ波のタイプの識別が良好になる。 - 特許庁

To provide a detection signal processing method for periodic defects, capable of detecting surely micro irregular flaws having several μm of unevenness difficult to be visually confirmed in an object of coarse surface roughness to be inspected, and difficult to be automatically detected as detected by grinding inspection with a grindstone, and a device therefor.例文帳に追加

表面粗さの粗い被検査対象物において通常視認困難で、砥石がけ検査により検出しているような自動検出が困難な、凹凸が数μm程度の微小凹凸性疵を確実に検出できるようにした、周期性欠陥の検出信号処理方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

A processing to be performed by a control part is simplified since the control part is made to read an instruction and to directly transmit on/off information of each bit to constitute micro-codes to be included in the instruction to registers 25, 28, 29 and a data memory 8 allocated to each bit through control lines L1 to L5 and to control them.例文帳に追加

制御部が、命令を読み込み、この命令に含まれるマイクロコードを構成する各ビットのオン／オフ情報を、制御線Ｌ１〜Ｌ５を介して各ビットに割り当てられたレジスタ２５，２８，２９やデータ・メモリ８に直接伝達して、これらを制御するようにしたので、制御部の行う処理を簡略化することができる。 - 特許庁

The micro-corner cube array 10 is produced by a process for preparing single crystal substrates 1 and 4 which consist of a cubic system crystal and have a surface being substantially in parallel with the (111) surface of the crystal and a process for performing an anisotropic etching processing concerning the surfaces of the single crystal substrates 1 and 4.例文帳に追加

マイクロコーナーキューブアレイ１０は、立方晶系の結晶からなる単結晶基板１，４であって結晶の｛１１１｝面と実質的に平行な表面を有する単結晶基板１，４を用意する工程と、この単結晶基板１，４の表面に対して異方性エッチング処理を行なう工程とによって作製される。 - 特許庁

When a micro-program processing part 3 decides that the ID fields of the sectors of front/rear of the sector not read normally are normal for the sector that the ID field is not read normally based on the information in the storage means 31, 32, the sector not read normally is regarded as the normal sector to be accessed.例文帳に追加

ＩＤフィールドが正常に読めないセクタに対し、記憶手段３１，３２の情報を基にしてマイクロプログラム処理部３が前記正常に読めないセクタの前後のセクタのＩＤフィールドが正常であることを判定したとき、前記正常に読めないセクタを正常なセクタと見なしてアクセスを行えるようにする。 - 特許庁

Furthermore, the present invention relates to a micro-optical element manufacturing method characterized in including a surface light emission laser production step of producing a surface light emission layer by performing step formation processing to form the plurality of steps on the substrate, and a lens formation step of integrally forming the lens over all the top face of each of the steps.例文帳に追加

また、基板上に複数の段差部を形成する段差部形成処理を行い、面発光レーザを作製する面発光レーザ作製工程と、それぞれの前記段差部の頂上面の全面にレンズを一体的に形成するレンズ形成工程とを含むことを特徴とする微小光学素子の製造方法である。 - 特許庁

To provide a surface state measuring device, capable of easily (in a short time) and accurately measuring the sample surface state (curved surface or micro surface), without having to use a plurality of kinds of measuring devices (using one device) and without having to measure a plurality of parts of the sample and performing averaging processing.例文帳に追加

複数種類の測定装置を使用することなく（１台の装置を用いて）、また試料の複数箇所を測定して平均化処理するといったことなく、容易に（短時間で）且つ精度良く試料表面状態（曲面や微小面）の測定を行うことが可能な表面状態測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a light guide body manufacturing method capable of improving adhesion between a reflection preventing layer to which reflection preventing processing is applied and a base material and preventing the generation of micro-cracks in a light guide body 1, and to provide the light guide body 1 manufactured by the method and a face illumination device and a display device having high reliability and a long life.例文帳に追加

反射防止処理を行った反射防止層と基材の密着性をアップさせ、導光体１のマイクロクラック発生を防止する導光体１の製造方法、その製造方法によって製造された導光体１、信頼性の高く寿命が長い面照明装置および表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus for a phosphor formed on the back plate of a plasma display panel in which even a micro defect, e.g. a point defect, of a phosphor can be detected with high accuracy and highly reliable inspection can be ensured by processing detected information optimally, and a method for manufacturing the back plate of a plasma display panel employing the inspection apparatus.例文帳に追加

蛍光体の点欠点等の微小な欠点まで高精度に検出可能で、検出情報を最適に処理して信頼性の高い検査が可能なプラズマディスプレイパネル背面板に形成された蛍光体の検査装置、およびその検査装置を用いたプラズマディスプレイパネル背面板の製造方法を提供する。 - 特許庁

This CPU 50 of the micro-computer 11 accesses a boot ROM 17 before executing a user program stored in a user ROM 3A, when a reset is released, and executes an initial setting program stored in the boot ROM 17 to conduct initial setting processing required for executing the user program.例文帳に追加

マイクロコンピュータ１１のＣＰＵ５０は、リセットが解除されると、ユーザＲＯＭ３Ａに記憶されているユーザプログラムを実行する前にブートＲＯＭ１７にアクセスし、ブートＲＯＭ１７に記憶されている初期設定プログラムを実行することで、ユーザプログラムを実行するために必要な初期設定処理を行う。 - 特許庁

The chip 101 is securely cut off by a tape expansion method suitable for tape 150 expansion from a starting point as a stress concentration point by partial reform or deficiency caused by the laser irradiation or surface micro processing, or by applying an ultrasonic sound to the chip 101 when splitting the chip 101 which is not completely splitted.例文帳に追加

レーザ照射や表面微細加工による部分的な改質若しくは欠損による応力集中部位を起点として、テープ１５０拡張に適したテープ拡張方式を用い、または完全に分割されてはいないチップ１０１をテープから剥離する時に超音波を印加して割断を確実にする。 - 特許庁

In the case of an instruction word added with an addressing mode and requiring the calculation of the address value, an instruction decoder directly designate a microcode executing only the address calculation, but when it is not such an instruction, the instruction decoder designates the micro-code executing the main processing of the instruction word by a starting address ROM 8.例文帳に追加

命令デコーダは、アドレシングモードが付加されアドレス値の計算が必要となる命令語の場合には上記アドレス計算のみを行うマイクロコードを開始アドレスＲＯＭ４によって直接指定し、そうでない場合には命令語の本処理を実行するマイクロコードを開始アドレスＲＯＭ８によって指定する。 - 特許庁

This micro general measurement controller is provided with a single CPU module 10 where a CPU and an ROM and RAM for storing data or a program are mounted on a flat circuit board and at least one device module 20 where any semiconductor device other than a central processing unit is mounted on the circuit board whose shape is almost the same as that of the CPU module.例文帳に追加

平板状の回路基板にＣＰＵとデータやプログラムを記憶するためのＲＯＭ及びＲＡＭとを実装した単一のＣＰＵモジュール１０と、ＣＰＵモジュールとほぼ同一形状の回路基板に中央処理装置以外の半導体デバイスを実装した少なくとも１つのデバイスモジュール２０とからなる。 - 特許庁

The micro-computer 12 detects the rotational frequency (step 106), and when the detected rotational frequency R of the electric motor 12 is a predetermined rotational frequency R1 of less, the rotating direction switching processing of reversing the electric motor 12 and then again normally rotating the electric motor 12 is performed at least one time (steps 116 to 122).例文帳に追加

マイコン２１は、電動モータ１２の回転数を検出し（ステップ１０６）、検出された電動モータ１２の回転数Ｒが所定回転数Ｒ１以下となった場合には、電動モータ１２を逆回転させ、その後再び正回転させる回転方向の切換処理を少なくとも１回以上行う（ステップ１１６〜１２２）。 - 特許庁

This micro movable element X1 is provided by processing the wafer, and is furnished with: a structural part 62A molded on a first layer; and a structural part 61 molded on a second layer having a portion to face the structural part 62A through a cavity and free to relatively displace against the structural part 62A.例文帳に追加

本発明のマイクロ可動素子Ｘ１は、例えば前記のウエハに加工を施すことによって得られたものであって、第１層において成形された構造部６２Ａと、構造部６２Ａに空隙を介して対向する部位を有して構造部６２Ａに対して相対変位可能な、第２層において成形された構造部６１とを備える。 - 特許庁

To provide a micro shape measuring apparatus capable of detecting the displacement of a probe vibration and the displacement of a cantilever caused by irregularities of a surface to be measured with a single displacement sensor, and not requiring high digital processing in separating the information of probe displacement into a component of probe vibration and a component of irregularities of the surface to be measured.例文帳に追加

１つの変位センサによって探針振動の変位と、被測定面の凹凸によるカンチレバーの変位との検出が可能な形状測定装置において、探針の変位情報を探針振動の成分と、被測定面の凹凸の成分とに分離するに際し、高度なデジタル処理を必要としない形状測定装置を提供すること。 - 特許庁

This method for manufacturing the micro lens includes processes of: forming a resist pattern on a base surface; forming a thermal contraction membrane on the surface of the resist pattern; performing thermal processing at temperature equal to or higher than glass transition temperature of the resist pattern and equal to or hither than contraction starting temperature of the thermal contraction membrane and exfoliating the thermal contraction membrane.例文帳に追加

基体表面にレジストパターンを形成する工程と、前記レジストパターン表面に、熱収縮性皮膜を形成する工程と、前記レジストパターンのガラス転移温度以上であってかつ、前記熱収縮性皮膜の収縮開始温度以上の温度で熱処理を行う工程と、前記熱収縮性皮膜を剥離する工程とを含む。 - 特許庁

To provide a positive resist composition for an electron beam, an X-ray or EUV light simultaneously satisfying requirements for high sensitivity, high resolution, a good pattern shape, and good line-edge roughness in solving problems associated with performance improving techniques in micro processing of a semiconductor element using the electron beam, the X-ray or the EUV light, and to provide a pattern forming method using the composition.例文帳に追加

電子線、Ｘ線又はＥＵＶ光を使用する半導体素子の微細加工における性能向上技術の課題を解決することであり、高感度、高解像性、良好なパターン形状、良好なラインエッジラフネスを同時に満足する電子線、Ｘ線又はＥＵＶ光用ポジ型レジスト組成物及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

The kind of a defect is detected, and signal processing is performed according to this defect, by providing an information processor with an envelope detection part 11 for detecting an envelope of a reproduction RF signal, and a defect detection device 1 comprising a three-block configuration for classifying the defects into a micro defect, a degenerated defect, and a difference defect.例文帳に追加

再生ＲＦ信号のエンベロープを検出するエンベロープ検出部１１と、ディフェクトをマイクロディフェクト、縮退ディフェクト、及び差分ディフェクトの３種類に分類するための３つのブロック構成とを備えたディフェクト検出装置１を情報処理装置に設けることにより、ディフェクトの種類を検出し、このディフェクトに応じた信号処理を実行する。 - 特許庁

The method is to form a semiconductor material of low-resistance p-type compounds on a substrate, and includes (a) a stage which forms a semiconductor material of p-type impurity-doped group III-V compounds on the substrate and (b) a stage which carries out a micro wave processing on the semiconductor material of the p-type impurity-doped group III-V compounds.例文帳に追加

基板上に低抵抗ｐ型化合物半導体材料を形成する方法であって、（ａ）基板上にｐ型不純物ドープIII-V族化合物半導体材料を形成する段階と、（ｂ）ｐ型不純物ドープIII-V族化合物半導体材料上に対してマイクロ波処理を施す段階と、を備えたことをを特徴とする。 - 特許庁

To provide a technique efficiently producing micro-character-containing thread excellent in metal gloss without requiring complicate steps such as metal deposition and etching (paster processing), a technique enabling efficient production even in small lot, an anti-falsification paper in which the thread is inserted into paper and an anti-falsification printed matter in which prescribed printing is applied to the anti-falsification paper.例文帳に追加

金属蒸着とエッチング（パスター加工）のような複雑な工程を必要とせず、金属光沢に優れたマイクロ文字入りのスレッドを効率的に製造する技術、小ロットでも効率的な生産が可能となる技術、そのスレッドを紙に抄き込んだ偽造防止用紙、及びこの偽造防止用紙に所定の印刷を施した偽造防止印刷物を得ることを課題とする。 - 特許庁

The serial/parallel mutual conversion of the signals is executed, all the signals are transmitted to a micro processing circuit installed and disposed on the board, the processing and control of communication contents are executed in it and guiding communication is performed on the basis of the contents.例文帳に追加

装置本体基板上に、デジタルパルスを無線出力するためのパルス無線送受信回路と、このパルス返信波を受信するための回路を内部に構成し、この信号を無線通信ドライバ回路に送り、これとは別の周波数帯を利用する無線通信用の、送受信制御回路を同時に同一基板回路上に配設し、これらの信号をシリアル／パラレル相互変換を実行して、すべての信号を、この基板上に設置配設された超小型演算処理回路に送信し、この中において通信内容の処理と制御を実行させ、その内容に基づいて、誘導通信を行う。 - 特許庁

Processing seasoning liquid used for seasoning food with micro nano bubble generator enables impregnation to food within a short time, especially promoting impregnation of taste components other than salinity, and since the method processes seasoning liquid, equipment and facility can be simplified different from methods which process food so that cost can be reduced and energy can be conserved.例文帳に追加

本発明は、食品の味付けに用いる調味液を、マイクロ・ナノバブル発生装置による処理を行うことにより、短時間で食品に含浸させることが可能となり、特に塩分以外の旨味成分の含浸を促進させることが可能となり、また調味液に処理を行うため食品に処理を加えるのと異なり装置、設備が簡単なものですみコストが削減でき、省エネルギーを可能とする。 - 特許庁