「pair test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Test sample mounting devices 13a and 13b for use in a bending testing apparatus for measuring the durability of a test sample by bending the test sample by applying load to the test sample includes shaft sections 22a and 22b turning holding sections 21a and 21b with the bending and enabling the pair of holding sections 21a and 21b to move close to or away from each other.例文帳に追加

荷重を加えることにより試験試料を屈曲させ当該試験試料の耐久性を測定する曲げ強さ試験装置に用いられる試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂは、前記屈曲に伴い、把持部２１ａ及び２１ｂを回動し、一対の把持部２１ａ及び２１ｂを近接又は離反するように移動可能とする軸部２２ａ及び２２ｂと、を備える - 特許庁

For a cell 1a to be detected, in which a pair of electrodes 121, 122 are formed on a solid electrolyte material 112, a microcomputer 28 is configured to input a test signal temporarily containing an alternative current component to a signal line connected to the electrodes 121, 122, and also to detect a response signal to this test signal.例文帳に追加

固体電解質材１１２に１対の電極１２１，１２２を形成した検出対象のセル１ａについて、マイクロコンピュータ２８が、一時的に交流成分を含む試験信号を、電極１２１，１２２と接続された信号線に入力するとともに、その応答信号を検出するようにする。 - 特許庁

To provide a radiation tomography apparatus capable of acquiring a clear image without being influenced by the body motion of a test object even in a state that various apparatuses are attached to the test object as to a radiation tomography apparatus for mapping a generation position of an annihilation γ-ray pair.例文帳に追加

消滅γ線対の発生位置をマッピングする放射線断層撮影装置において、被検体に各種装置を装着した状態であっても被検体の体動に影響されずに鮮明な画像が取得できる放射線断層撮影装置を提供する。 - 特許庁

When generating the test data including a pair of an input (a combination between a factor and a level) and an expectation value, a combination between the inputs not but combinations between all the levels possible to the factor is generated such that each of all the levels in each factor is used in a test at least once.例文帳に追加

本発明は、入力（因子と水準の組み合わせ）と期待値のペアからなるテストデータを生成する際に、因子に対して、有り得る全ての水準の組み合わせではなく、各因子における全ての水準が少なくとも１回はテストで使用されるように、入力の組み合わせを生成する。 - 特許庁

The all solid battery is formed on the substrate, and at the same time as a piling up process of at least one kind of the battery member of the battery, the test pieces of the battery members are piled up on the other portions on the same substrate, and a pair of conductive terminals are formed at both ends or up and down of the test pieces.例文帳に追加

全固体電池を基板上に形成するとともに、その電池の少なくとも１種の電池部材の堆積工程と同時に、同一基板上の他の部位に当該電池部材の試片を堆積し、これら試片の両端または上下に一対の導電端子を形成する。 - 特許庁

The interference measuring method uses a transmissive zone plate forming both a first wave surface being a null wave surface for a test plane and a second wave surface being a null wave surface for a Fizeau plane by using a pair of equivalent opposite sign graded transmission diffractive lights, in addition to use of an interferometer and a Fizeau lens for the test plane measurement.例文帳に追加

干渉計と、被検面測定用のフィゾーレンズとを使用した干渉測定に、被検面に対するヌル波面である第１波面、及びフィゾー面に対するヌル波面である第２波面を、等量反対符号の次数の一対の透過回折光により形成する透過型ゾーンプレートを使用する。 - 特許庁

This ultrasonic probe is formed by providing a pair of probes 12, 13 disposed so that an ultrasonic wave entering a test object (canopy seal part) from one probe 12 is reflected by the bottom surface of the test object to generate a bottom surface echo and that the bottom surface echo is returned to the other probe 13.例文帳に追加

一方の探触子１２から被検体（キャノピーシール部）へ入射した超音波が被検体の底面で反射して底面エコーが発生し、この底面エコーが他方の探触子１３へと戻ってくるように配設した一対の探触子１２，１３を備えて超音波プローブを構成する。 - 特許庁

The image recorder 100 further comprises a mechanism 172 for driving the carriage 110, a section 174 for controlling the recording section 120 to record a pair of test patterns on the sheet 192, and a section 176 for calculating the relative positional shift of recording the pair of test patterns based on cross correlation of the density data thereof.例文帳に追加

画像記録装置１００は、キャリッジ１１０を移動させるキャリッジ駆動機構１７２と、一対のテストパターンを用紙１９２に記録するように記録部１２０を制御する記録制御部１７４と、一対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づいて両者の相対的な記録位置ずれ量を算出する画像ずれ算出部１７６とを有している。 - 特許庁

To dispense with a troublesome operation for inserting a pair of electrodes into sample liquid stored in each storage recessed part, to prevent the pair of electrodes from being brought into contact with each other in the sample liquid, and to test many sample liquids efficiently and stably, in a testing device using a test plate where many storage recessed parts for storing the sample liquid are provided.例文帳に追加

サンプル液を収容させる収容凹部が多数設けられた試験用プレートを用いた試験用装置において、各収容凹部内に収容されたサンプル液中に一対の電極を挿入させるという面倒な操作を行う必要がなく、またサンプル液中において一対の電極が接触するのを防止し、多数のサンプル液の試験が効率よく安定して行えるようにする。 - 特許庁

In a test mode, 1st- and 2nd sense amplifier control signals PSE-01, PSE-E are enabled at different points of time, and the 1st sense amplifier 320 for detecting and amplifying the potentials of an odd-numbered bit line pair and the 2nd sense amplifier 330 for detecting and amplifying an even- numbered bit line pair are activated at different points of time.例文帳に追加

テストモード時には第１及び第２センスアンプ制御信号PSE 01,PSE Eが相異なる時点にイネーブルされて、奇数番目ビットライン対の電位を感知増幅する第１センスアンプ320と、偶数番目ビットライン対の電位を感知増幅する第２センスアンプ330とが相異なる時点に活性化される。 - 特許庁

As for each fault candidate wiring pair, a comparison section 24 compares an XOR with a quantized IDDQ in each test pattern, finds the number of times of their coincidence, and performs output while considering that the larger the number of times of their coincidence of a fault candidate wiring pair is, the higher its fault possibility is.例文帳に追加

比較部２４は、各故障候補配線対について、テストパタンそれぞれにおけるＸＯＲと量子化ＩＤＤＱとを比較し、一致する回数を求めてその回数が多い故障候補配線対ほど故障の可能性が高いものとして出力する。 - 特許庁

A burn-in test of first to sixth step in which voltage application time are equal is performed for a semiconductor memory constituted so that a pair of bit lines having twist structure in which bit lines cross each other and a pair of bit lines having non-twist structure in which bit lines are in parallel each other.例文帳に追加

ビット線が互いに交差するツイスト構造を有するビット線対と、ビット線が互いに平行な非ツイスト構造を有するビット線対とを交互に配置して構成された半導体メモリに、電圧印加時間が互いに等しい第１〜第６ステップのバーンイン試験を実施する。 - 特許庁

While specification of the subject and collection and analysis of the expired gas is carried out sequentially on a plurality of conveyed expired gas vessels 10, a pair of analysis results are combined with each other for performing determination when a pair of analysis results consisting of results after and before test reagent medication on the same subject is obtained.例文帳に追加

搬送されてくる複数の呼気ガス容器１０に対し、順次、被検者の特定および呼気ガスの採取・分析を行いつつ、同一の被検者の検査試薬投与前・後における一対の分析結果が得られたら、該一対の分析結果を組み合わせて、判定を行う。 - 特許庁

When a rope body 4 is pulled by a tension roller 13C by lifting of a crosshead, a pair of rotary disks 2, 2 are rotated mutually reversely, and a bending load is applied to a test hose H whose both ends are fixed to the rotary disks 2, 2 through a pair of hose fixing tools 3.例文帳に追加

クロスヘッドの上昇により引張ローラ１３Ｃが索体４を牽引すると、一対のロータリーディスク２，２が相互に逆向きに回動し、このロータリーディスク２，２に一対のホース固定具３を介して両端部が固定された供試ホースＨに曲げ荷重が作用する。 - 特許庁

The method for detecting and quantitatively determining the species-specific DNA of wheat in a test specimen by polymerase chain reaction includes a step of amplifying a nucleic acid having a partial sequence by using a nucleic acid in the test specimen or a nucleic acid extracted from the test specimen as a template and using a primer pair amplifiable of the partial sequence in a specific base sequence, and a step of detecting or quantitatively determining the amplified nucleic acid.例文帳に追加

被検試料中のコムギ種特異的ＤＮＡを、ポリメラーゼ連鎖反応によって検出又は定量する方法であって、被検試料中の核酸又は被検試料から抽出した核酸を鋳型とし、特定の塩基配列中の部分配列を増幅可能なプライマーペアを用いて、部分配列を有する核酸を増幅する工程と、増幅された核酸を検出又は定量する工程と、を含む方法。 - 特許庁

A control device consists of an electrical control system for driving a pair of actuators 2 for applying acceleration to each of two locations of a test stand 1 in the same direction, two displacement meters 12 and 13 for measuring the amount of displacement at the two locations of the test stand, and two accelerometers 14 and 15 for measuring acceleration at the two locations of the test stand 1.例文帳に追加

試験台１に２カ所で同一方向にそれぞれに加速度を与えるための２基１対のアクチュエータ２を駆動するための電気制御系２３−１，２、試験台の２カ所のそれぞれの２変位量を計測するための２つの変位計１２，１３と、試験台１の２カ所のそれぞれの２加速度を計測するための２つ加速度計１４，１５とからなる。 - 特許庁

The clipping mechanism 12 provided to the extensometer includes a pair of arms 125 for positioning the knife edge 120 at the left to right central position of the test piece.例文帳に追加

伸び計のレバーに設けられたクリッピング機構１２は、試験片の左右中央位置にナイフエッジ１２０を位置決めする一対のアーム１２５を備えている。 - 特許庁

A pair of electrodes 3 and 4 are arranged opposite to each other via an electrode gap 2 of a constant gap interval in a test gas space 1, thereby constituting an electrode part 5.例文帳に追加

供試ガス空間１中には、一定のギャップ間隔の電極ギャップ２を介して一対の電極３，４が対向配置されて電極部５を構成している。 - 特許庁

To solve the problem that a memory defect cannot be decided only from the data outputted through latch circuits from a pair of read data buses, when a memory test is carried out by address degradation.例文帳に追加

アドレス縮退によりメモリテストを行った時は、１対のリードデータバスからにラッチ回路を通じて出力されるデータだけではメモリ不良を判定できない。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus in which relative positional shift of recording of a pair of test patterns being formed in order to adjust the ink ejection timing can be calculated in a short time.例文帳に追加

インクの噴射タイミングの調整のために形成される一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を短時間で算出し得る画像形成装置を提供する。 - 特許庁

A pair of light source 18 produces two images of the bottle 10 on the images of CCD cameras 16, 16A when fully irradiated, so as to test the barrier.例文帳に追加

一対の光源１８は、完全に照射したとき、ＣＣＤカメラ１６、１６Ａの像上に瓶１０の２つの像を画成し、壁を検査できるようにする。 - 特許庁

In the measuring method, the reaction for forming the specific ligand pair with the test material in the fluid sample is at least an antigen-antibody reaction or a hybridizing reaction of nucleic acid.例文帳に追加

流体試料中の被検物質と特異的リガンド対を形成する反応が少なくとも抗原抗体反応、又は核酸のハイブリダイズ反応である測定方法。 - 特許庁

The evaluation test cell (10) includes a single electrolyte (12) arranged so as to separate each inner space of gas supply pipes (60 and 61), and a pair of electrodes (18 and 19) oppositely arranged on the electrolyte (12) while holding the electrode.例文帳に追加

評価試験セル（１０）はガス供給管（６０，６１）のそれぞれの内部空間を隔離して設けられる単一の電解質（１２）と、電解質（１２）上にあってこれを挟んで対向して設けられる一対の電極（１８，１９）とを含む。 - 特許庁

An expected value of a wiring contained in a fault candidate wiring pair is input to an XOR operation part 22 as for each of a plurality of test patterns, and the operation part finds and outputs the exclusive OR (XOR).例文帳に追加

ＸＯＲ演算部２２は、複数のテストパタンそれぞれについて、故障候補配線対に含まれる配線の期待値を入力し、排他的論理和（ＸＯＲ）を求めて出力する。 - 特許庁

At the time of a multi-bit test, An I/O combiner 50 degenerates data of a plurality of bits read out to pairs of data buses TDB0-TDB3 from a memory cell array MA in parallel and outputs them to a pair of data bus RTDB.例文帳に追加

マルチビットテスト時、Ｉ／Ｏコンバイナ５０は、メモリセルアレイＭＡから並列にデータバス対ＴＤＢ０〜ＴＤＢ３に読出された複数ビットのデータを縮退してデータバス対ＲＴＤＢへ出力する。 - 特許庁

To provide a delay generator provided with a comparator that does not use differential pair transistors, and to provide a semiconductor test device provided with the delay generator.例文帳に追加

差動ペアトランジスタを用いない比較器を備えた遅延発生装置およびこの遅延発生装置を備えた半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the electronic board 1 as a test object, a pair of solder-coated pads 6a, 6b coated with a solder film are provided at an extension copper foil section, at a circumferential edge of a vacant hole 3a of the via hole 3 coated with a solder resist film.例文帳に追加

被検査物である電子基板１は、半田レジスト膜が施されたバイアホール３の空孔３ａの周縁の延長銅箔部に、半田膜を施した一対の半田被覆パッド６ａ，６ｂが設けられている。 - 特許庁

When the pair of targets 10U, 10L moves following extension of the test piece TP, the straining part 21 deforms such that the detectors 20U, 20L output a signal in accordance with the extension.例文帳に追加

試験片ＴＰの伸びに追従して一対のターゲット１０Ｕ，１０Ｌが移動すると、起歪部２１が変形し検出器２０Ｕ，２０Ｌから伸びに応じ信号が出力される。 - 特許庁

A pair of test piece holders 3 and 4 is arranged on linear guides 5 and 6 so they can mutually approach and separate on one straight line.例文帳に追加

一直線上で互いに接近したり離れたりすることが可能なように一対の試験体保持具３と４がリニアガイド５と６の上に配置されている。 - 特許庁

To exclude the displacement of load meters themselves and to obtain original repulsion of a test object by preparing at least one pair of load meters having different rigidity values and calculating outputs from respective load meters.例文帳に追加

剛性の異なる荷重計を少なくとも１組を備え、おのおのの荷重計からの出力を演算をすることにより、荷重計自身の変位を排除し、被検体本来の反発力を得る。 - 特許庁

Portable and independent POTS/data filter and a splitter device bridge/connect a line without interrupting data between a pair of a test set and a copper wire (chip and ring) of a dealer.例文帳に追加

本発明の携帯可能な、独立型のＰＯＴＳ／データフィルタ及びスプリッタ装置は、一対の業者の試験セットと銅線（チップ及びリング）の間で、データに割り込むことなくライン橋絡接続させる。 - 特許庁

A fixture body has pass contact shoe connected to a test power source on the outside surface and is constituted to comprise a pair of extension clamps for extending by moving in directions opposite to each other by operation of a handle.例文帳に追加

治具本体は、試験電源に接続された通電接触子を外側面に有し、かつ操作ハンドルの操作によって、相互に離反方向に移動させて伸長させる少なくとも一対の伸長クランプ体を備えた構成になっている。 - 特許庁

The partition cover 50 for test plug terminals includes a plurality of partition members 51a and 51b, which are made of insulating members that are arranged between a pair of adjacent connecting plugs among connecting plugs 32a, 32b, 32c, and 32d.例文帳に追加

テストプラグ端子用仕切カバー５０は、接続プラグ部３２ａ、３２ｂ、３２ｃ、３２ｄのうち、隣接する一対の接続プラグ部の間に配置される絶縁性部材で形成された複数の仕切部材５１ａ、５１ｂを備える。 - 特許庁

In a test operation, a potential difference between the bit-line pair BLm, NBLm is reduced by grounding the bit-line BLm conducting to an H-side memory holding node of a memory cell Mn_m.例文帳に追加

テスト動作時において、メモリセルＭｎ＿ｍのＨ側記憶保持ノードと導通するビット線ＢＬｍを所定時間接地することによって、ビット線対ＢＬｍ，ＮＢＬｍ間の電位差を小さくする。 - 特許庁

A column address decoder 2 is controlled by the control circuit 32 in test operation and selects simultaneously a plurality of pairs of bit lines capable of being coupled to one and the same pair of I/O lines 24, 25.例文帳に追加

コラムアドレスデコーダ２は、テスト動作においてはコントロール回路３２に制御されて、同一のＩ／Ｏ線対２４，２５に結合し得る複数のビット線対を同時に選択する。 - 特許庁

When the last tested pair chip 6 is mounted, a function test as an electronic circuit device is carried out, and when it is determined to be good, the electronic circuit device is completed.例文帳に追加

最後の被試験ベアチップ６を実装した場合は、電子回路装置としての機能テストを行い、良品であると判定された場合は、電子回路装置の完成品とする。 - 特許庁

To secure sufficiently accuracy of flow rate detection, even when an environmental temperature is changed, in a thermal flow rate sensor for detecting a flow rate of test fluid by using a heating resistor and a pair of temperature-measuring resistors.例文帳に追加

発熱抵抗体および１対の測温抵抗体を用いて被検流体の流量検出を行う熱式流量センサにおいて、環境温度が変化した場合であっても、流量検出の精度を十分に確保可能とする。 - 特許庁

This pair of goggles 1 for eye-movement test is worn on the face of a subject and is formed by incorporating an image pickup device 5 for capturing the image of the subject's eyeball G in a goggle body 2.例文帳に追加

被検者の顔面に装着され、被検者の眼球Ｇを撮影する撮像素子５をゴーグル本体２に内蔵して形成される眼球運動検査用ゴーグル１に関する。 - 特許庁

To provide a device for testing a gear pair capable of obtaining precise test results by faithfully reproducing the meshing in an actual machine in an actual usage state.例文帳に追加

実機上での使用状態に忠実な歯車対の噛合い状態を再現し、高精度の試験結果を得ることができる歯車対の試験装置を提供する。 - 特許庁

One ends of a pair of arms for sandwiching a test piece 10 are fixed to a base plate 15 with pins 19, in such a way as to be freely tunable about the axes of the pins 19.例文帳に追加

試験片１０を挟むための一対のアームの一端はベース板１５にピン１９でその軸のまわりで自由に回動できるように固定されている。 - 特許庁

Also, a visual characteristic of an observer and the information of an observation condition which are preset and stored in a storing section 16 are read out and the line pair density in the test patterns [n] is determined on the basis of the above readout information.例文帳に追加

また、予め設定されて記憶部１６に記憶されている観察者の視覚特性及び観察条件の情報が読み出され、この読み出された情報に基づきテストパターン［ｎ］内のラインペア密度が決定される。 - 特許庁

A test-only wiring pattern 5 is arranged on a base board 1 for every tested pair chip 6 so as to be connected to a testing terminal 10.例文帳に追加

基板１に、各被試験ベアチップ６毎にテスト用の専用パターン配線５を設け、これらの専用パターン配線５をテスト用端子１０に接続する。 - 特許庁

This DRAM circuit, 100 control independently magnitude of voltage difference indicated between a pair of bit line and detected by a sense amplifier 102 by a test system 200 when sensitivity of the sense amplifier 102 is decided.例文帳に追加

本発明ＤＲＡＭ回路は、センスアンプの感度を決定する場合に、テストシステムを使用して、一対のビット線の間に表れ且つセンスアンプによって検知される電圧差の大きさを独立的に制御する。 - 特許庁

This component tester 1 is constructed, so that the component is sucked at the component transfer position of a component supply device 41A and positioned at the test head by heads 48 and 52 (conveying means) of a pair of indexers 40A and 40B.例文帳に追加

一対のインデクサ４０Ａ，４０Ｂのヘッド４８，５２（搬送手段）により部品供給装置４１Ａの部品受け渡し位置から部品を吸着してテストヘッドに位置決めするように部品試験装置１を構成した。 - 特許庁

The printed state of cream solder 3 on the pair of test lands 9 and 11 is fetched in a two-dimensional picture inspecting camera 4 so that the printed film thickness of the cream solder 3 can be managed.例文帳に追加

上記構成のテストランド対９、１１上のクリームハンダ３の印刷状態を二次元画像検査カメラ４に取り込むことによって、クリームハンダ３の印刷膜厚を管理することができる。 - 特許庁