「reference light」に関連した英語例文の一覧と使い方(59ページ目) - Weblio英語例文検索

During polishing the wafer 4, the spectral intensity of the reflected light from the wafer 4 is sequentially obtained as a measured spectrum from the sensor 43 to find the intensity ratio of the measured spectrum to the reference spectrum and monitor the polishing status of the wafer 4 in accordance therewith.例文帳に追加

ウエハ４の研磨中には、センサ４３からウエハ４の反射光の分光強度を計測スペクトルとして順次得て、当該計測スペクトルの前記基準スペクトルに対する強度比を求め、これに基づいてウエハ４の研磨状況をモニタする。 - 特許庁

This interferometer, measuring the face shape of the optical element by use of interference has two or more elastic deformation mirrors with variable face shapes capable of generating desired face shapes on the reference light side and additionally, is provided with a prototype standard.例文帳に追加

干渉を利用して光学素子の面形状を測定する干渉計において、所望の面形状を作成することが出来る面形状が可変の弾性変形ミラーを参照光側に２つ以上又は更に原器を有すること。 - 特許庁

Then when the quantity of variation in light quantity from when last correction data fullness determination processing (S10, S36) is executed, is not so large, the correction data fullness determination processing (S26) is not executed, so an image read unit 22 need not be moved to below a reference position 21b.例文帳に追加

そして、前回の補正データフル決定処理（Ｓ１０，Ｓ３６）実行時からの光量変化量がそれほど大きくない場合には、補正データフル決定処理（Ｓ３６）が実行されないので、画像読取ユニット２２は基準位置２１ｂ下方に移動する必要がない。 - 特許庁

Since a difference between the sensor output value obtained by another light detection element 3 and the reference value is always constant without being affected by the surrounding environment, etc., the difference is calculated and thereby the coordinates of the position designated by a hand 20 on the display screen are detected.例文帳に追加

他の光検出素子３により得られたセンサ出力値と当該基準値との差分は周囲環境等に影響させずに常に一定であるため、当該差分を求めて、それにより表示画面上の手２０により指定された位置の座標を検出する。 - 特許庁

When the received light current is lower than the reference, it is judged that a nonlinear phenomenon such as induced Brillouin scattering occurs within an optical fiber 200, and the amplification part 130 outputs a signal of a level which does not affect the communication by the other optical fiber even after multiplexing.例文帳に追加

受光電流が基準未満である場合には、光ファイバ２００中で誘導ブリュリアン散乱などの非線形現象が生じたと判断され、増幅部１３０は、合波しても他の光ファイバによる通信に影響を与えないレベルの信号を出力する。 - 特許庁

This optical position measuring device largely diverging a beam bundle emitted from a light source uses relatively fine reference mark structural bodies 10, 20 on the side of a graduation plate M and a scanning plate A in relation with relatively coarsely patterned detecting elements D1-D3.例文帳に追加

光源から放出されたビーム束の発散が大きい光学位置測定装置は目盛板Ｍと走査板Ａの側の比較的細かい基準マーク構造体１０，２０を比較的粗くパターン構造化した検出素子Ｄ１〜Ｄ３と関連させて使用する。 - 特許庁

The measured result is further stabilized by using a technique of determining preliminarily a polarization face of linear polarized light limiting an angle of a beam splitter 104 at an acute angle when taking out a reference beam, and emitted to the beam splitter.例文帳に追加

更に、参照用の光線を取り出す際のビームスプリッタ１０４の角度を鋭角に限定する、ビームスプリッタに照射する直線偏光の偏光面をあらかじめ定めておくという手法を用いることにより更に測定結果を安定させることが可能となる。 - 特許庁

The light output power can easily be set again for other uses by controlling a bias current, controlled by an APC reference voltage generating resistor and an APC error amplifier before, by an A/D converter, an arithmetic circuit, an EEP-ROM, and a D/A converter.例文帳に追加

従来ＡＰＣ基準電圧生成抵抗器及びＡＰＣ誤差増幅器により制御していたバイアス電流を、Ａ／Ｄコンバータ、演算回路、ＥＥＰ−ＲＯＭ、Ｄ／Ａコンバータにより制御することで、光出力パワーを用途によって容易に再設定できる。 - 特許庁

The substrate reference plate includes a liquid-repellent property region coated by the liquid-repellent material and a non liquid-repellent property region 28 not coated by the liquid-repellent material, wherein a mark EM to be measured by the measuring light is arranged in the non liquid-repellent property region 28.例文帳に追加

前記基板基準プレートは、撥液性材料でコーティングされた撥液性領域と、撥液性材料でコーティングされていない非撥液性領域２８とを含み、前記非撥液性領域２８に計測光で計測されるべきマークＥＭが配置されている。 - 特許庁

The supply side optical path 15 is tilted to a cassette reference face (bottom face) by a prescribed angle θ to reduce a luminescent luminous quantity downward thereby reducing a reflected light led to the incident face of the prism 7 from the lower side reel flange 11 and decreasing the possibility of malfunction.例文帳に追加

供給側光路１５をカセット基準面（底面）に対し所定角θ傾け、下方向への発光光量を少なくすることで、下側リールフランジ１１からプリズム７の入射面に導かれる反射光を低減し、誤動作の可能性を少なくする。 - 特許庁

When the quantity Pr2 of the incident light to the photodiode 1a decreases and the level of the output voltage VOUT falls to the vicinity of a reference voltage Vs, the control unit 4a switches the electronic shutter 5a so as to open several closed switches in the shutter 5a.例文帳に追加

フォトダイオード１ａへの入射光量Ｐｒ２が減少し、出力ＶＯＵＴの出力電圧レベルが基準電圧Ｖｓ付近まで下がった場合には、制御部４ａは電子的シャッタ５ａの中の閉じたスイッチの幾つかを開けるようにスイッチングを行う。 - 特許庁

To provide a light receiver which receives a laser beam emitted along a reference surface capable of satisfactorily receiving the laser beam with an arm inclined, in an excavation support device for detecting an excavation height, when an excavation portion is excavated by using a construction machine such as a backhoe.例文帳に追加

バックホウ等の建設機械を用いて掘削する際、掘削高さを検知する掘削支援装置において基準面に沿って出射するレーザ光を受光する受光器が、アームが傾斜した状態において良好に受光できる受光器を提供する。 - 特許庁

To provide a laser controller and an image forming apparatus provided with the same laser controller in which the generation of a failure can be judged by comparing the upper and lower limit values of the light intensity of the laser emitted from a semiconductor laser element with the respective reference values.例文帳に追加

半導体レーザ素子から出射されるレーザ光の光強度の上限および下限についてそれぞれ基準値と比較することで、異常の発生の有無を判断することができるレーザ制御装置およびそれを備えた画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Since this structure causes a wavelength difference between the reflection light from the fiber grating for the sensor in which a load to be monitored is reflected and that from the fiber grating for reference to be detected as a time difference, the load is monitored without using any spectrum analyzer.例文帳に追加

この構成によると、監視されるべき荷重が反映されるセンサ用のファイバグレーティング及びリファレンス用のファイバグレーティングからの反射光の波長差が時間差として検出されるので、スペクトルアナライザを用いることなしに荷重を監視することができる。 - 特許庁

In the semiconductor laser drive circuit, when a laser diode 30 emits light, current flows to the photodiode 31 for monitoring, and a control signal in response to a voltage level V4 responding to the current and a reference voltage level Vref is applied from a differential amplifier 34 to an NPN transistor 32 to be operated on.例文帳に追加

レーザダイオード３０が発光すると、モニタ用フォトダイオード３１に電流が流れ、それに応じた電圧レベルＶｒと基準電圧レベルＶｒｅｆとに応じた制御信号が差動増幅器３４からＮＰＮ型トランジスタ３２に与えれてオン動作する。 - 特許庁

A specific region such as a face is detected from a basis image BO or a reference image RO acquired by a first photographing means 2 or a second photographing means 3, and pattern light according to the specific region is emitted from a projector 4 to the specific part of the object.例文帳に追加

第１の撮影手段２または第２の撮影手段３が取得した基準画像Ｂ０または参照画像Ｒ０から顔等の特定領域を検出し、特定領域に応じたパターン光をプロジェクタ４から被写体の特定部分に照射する。 - 特許庁

The recording medium 1 is positioned on a master recoding body 10 with a high precision, the master recording body 10 and the recording medium 1 are irradiated with reference light 40, and hologram recording portions 15a, 15b, 15c, ..., are formed in the inside of the photosensitive recording portion 3 of the recording medium 1.例文帳に追加

マスター記録体１０の上で記録媒体１を高精度に位置決めし、マスター記録体１０と記録媒体１に対して参照光４０が与えられ、記録媒体１の感光記録部３内にホログラム記録部１５ａ，１５ｂ，１５ｃ，・・・が形成される。 - 特許庁

The light-receiving device for receiving the optical beam (2) of which the amplitude is modulated by modulation frequency (f) is provided with a photodetector (4) possessing a plurality of photosensors (6), arranged and made to shift locally to a reference point (5), an evaluation circuit (7) and an output means (8).例文帳に追加

振幅が変調周波数（ｆ）で変調された光ビーム（２）を受光するための受光装置は，基準点（５）に対して局所的にシフトさせて配置した複数の光センサ（６）を有する光検出器（４）と，評価回路（７）と，出力手段（８）とを具える。 - 特許庁

The question is whether, in view of references D3 and D20, it would have been obvious for a person of ordinary skill in the art at the time of the invention to modify reference D1 to arrive at the exterior mirror system for a vehicle comprising the removable, weather-resistant light module of the claim. 例文帳に追加

問題は、引用文献３及び引用文献２０を考慮して、当業者が本願発明時において、引用文献１を改良して、請求項に係る、取外し可能な、耐候性を有するライトモジュールに想到することが自明であったか否かである。 - 特許庁

Then, every time the measurement is performed, the fluctuation amount of the power amount or wavelength of the respective peaks of the light to be measured and the peak of a reference wave for monitoring is calculated, stored in a memory 7 and displayed on a display 9 as the fluctuation amount transition or data-outputted to the outside.例文帳に追加

そして測定する毎に被測定光の各ピークと監視用基準波のピークとの電力量または波長の変動量を計算し、メモリ７に記憶するとともに変動量推移として表示部９に表示する、或いは外部にデータ出力する。 - 特許庁

To provide a tool for inspection capable of easily diagnosing a failure of a solar cell module by obviating the need of predetermined reference light and complicated positioning work; and a failure diagnostic system of a solar cell module using it.例文帳に追加

本発明は、所定の基準光及び複雑な位置合わせ作業を不要とし、簡便に太陽電池モジュールの故障診断を行うことができる検査用治具及びこれを用いた太陽電池モジュールの故障診断システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

An error amplifier 16 error amplifies an input voltage V4 according to the comparison result and the reference voltage Vref3, and thus, a collector current of a transistor Tr1 is increased/decreased, and a drive current of an LD2 is increased/decreased, and the light quantity of the LD2 is controlled to a set value.例文帳に追加

誤差増幅器１６ではこの比較結果に応じた入力電圧Ｖ４と基準電圧Ｖref3が誤差増幅され、これによりトランジスタＴｒ１のコレクタ電流が増減してＬＤ２の駆動電流が増減し、ＬＤ２の光量が設定値に制御される。 - 特許庁

At the alignment unit 130, the measuring optical system emits light onto the standard wafer BW, to obtain reflection intensity and sets the obtained reflection intensity as a reference value for relative comparison with the reflection intensity of a workpiece semiconductor wafer W and carries out calibration work.例文帳に追加

アライメント部１３０では、測定光学系から標準ウェハーＢＷに光を照射して反射強度を取得し、処理対象半導体ウェハーＷの反射強度との相対比較の基準値として設定しなおし、キャリブレーション作業を行う。 - 特許庁

When a voltage of the first output line 33 increases and exceeds a voltage of a reference voltage 42, a light emitting diode 16 lights up, and a photocoupler 18 performs feedback control in a direction where a control circuit 15 steps down a secondary-side voltage of a transformer 20.例文帳に追加

第１出力ライン３３の電圧が高くなって基準電圧４２の電圧を上回ると、発光ダイオード１６が点灯し、制御回路１５によってトランス２０の２次側の電圧が下がる方向にフォトカプラ１８によってフィードバック制御がなされる。 - 特許庁

A CPU detects the image density of a toner image formed on the light sensitive drum by a laser beam oscillated by either one of the laser oscillators with an image density sensor 20, and stores the detected image density in a memory as a reference value.例文帳に追加

ＣＰＵ６２は、いずれか１つのレーザ発振器から発振されたレーザビームにより感光体ドラム上に形成したトナー像の画像濃度を画像濃度センサ２０によって検出し、この検出された画像濃度を基準値としてメモリ９３に格納する。 - 特許庁

Even if oscillation frequencies of the laser 15 and the laser 15a are not strictly coincident, desired data already recorded can be read by adjusting rotation of the volume holographic memory 10 and adjusting an incident angle of the reference light for the volume holographic memory 10.例文帳に追加

レーザ１５とレーザ１５ａの発振波長が厳密に一致しなくても体積ホログラフィックメモリ１０を回転調整することで体積ホログラフィックメモリ１０に対する参照光の入射角を調整すれば、所望の記録済みデータの読込みが可能となる。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit device DUT 640 is provided with probe light pulse and reference pulse during each repetition cycle of the electric test pattern signal applied repeatedly, for guiding the same optical path as to sample the electric waveform on the DUT.例文帳に追加

半導体集積回路デバイス（ＤＵＴ６４０）に繰り返し印加する電気的テストパターン信号の各反復サイクル期間中に、プローブ光パルスおよび基準光パルスを供給して、ＤＵＴ上の電気的波形をサンプリングするように同一光路を導く。 - 特許庁

A right triangle prism made of a low-refraction substance with inclined reflecting faces of 45 degrees arranged in symmetry to a vertical face is provided inside a high-refraction substance, so that, if light incident from a symmetric direction parallel with a reference face is irradiated, it is totally reflected in a vertical direction.例文帳に追加

４５°の傾斜反射面を鉛直面に対称に配置した低屈折率物質による直角三角柱を高屈折率物質の内部に設け、基準面に平行で対称方向から入射する光を照射すると鉛直方向に全反射する。 - 特許庁

Band-shaped light shielding regions 522 and 523 for optically detecting a black reference level are respectively provided at a pair of short sides (sides positioned at the both edge parts of a horizontal scanning direction) 53a and 53b of an image pickup region 521 of the CCD image sensor 5.例文帳に追加

このＣＣＤイメージセンサ５の撮像領域５２１の一対の短辺（水平走査方向の両端部に位置する辺）５３ａ、５３ｂには、それぞれ、光学的に黒色の基準レベルを検出するための帯状の遮光領域５２２、５２３が設けられている。 - 特許庁

For overall image data obtained by dividedly imaging an object 1 by a camera 3 under an imaging light source 2 to be synthesized, a characteristic color is determined based on a pixel distribution thereof, a divided region including the characteristic color is retrieved from the overall image data, and set as a reference region.例文帳に追加

被写体１を撮影光源２下でカメラ３で分割撮影し、合成した全体画像データについて、その画素分布に基づいて特徴色を決定し、該全体画像データから特徴色を含む分割領域を探索し、参照領域として設定する。 - 特許庁

The fluid modulation type absorption spectrometer for measuring a specific component in a sample is characterised in that, in a state where a reference fluid present in a sample cell, fluid changeovers are halted at calibration, and a light modulation is performe with the same periods as the modulation periods.例文帳に追加

試料中の特定成分の濃度を測定する流体変調式吸光分析計であって、校正時、試料セルに基準流体が存在する状態で流体の切換を停止し、該変調周期と同一の周期で光変調を行うことを特徴とする。 - 特許庁

The mask means 80 includes a pattern area on which a pattern 80p through which a light is transmitted, a clear inspection mark 80t formed at a prescribed position with respect to the pattern area, and reference sections 80a, 80b that are used to position the mask means 80 at a prescribed position.例文帳に追加

マスク手段８０は、光を透過するパターン８０ｐが形成されたパターン領域と、パターン領域に対して一定位置に形成された明瞭な検査マーク８０ｔと、マスク手段８０を所定位置に位置決めするための基準部８０ａ，８０ｂとを含む。 - 特許庁

A subject 2 is illuminated with a light source 3, imaged by an imaging system 4, preferably detector 5 embodied in a CCD (charge-coupled device) camera, the detected image of the subject 2 is compared with a reference image so as to minimize the error of interpretation of the measured value.例文帳に追加

対象２は光源３で照らされ、イメージングシステム４により、好ましくはＣＣＤカメラとして具体化された検出器５にイメージ化され、測定値の解釈におけるエラーを最小化するために、対象２の検出画像は基準画像と比較される。 - 特許庁

It is determined that the preceding motor vehicle A is located in the vicinity of the detection limit distance of this apparatus in the case that the maximum time length Lt of the intensity of received light of reflected waves from the preceding motor vehicle is smaller than a reference time length in a step S303 and a step S307.例文帳に追加

ステップＳ３０３及びステップＳ３０７において、先行車両からの反射波の受光強度の最大時間幅Ｌｔが基準時間幅より小さい場合には、装置の検知限界距離付近に先行車両Ａが位置すると判定する。 - 特許庁

To provide an image reader that prevents image output data due to an irregularly reflected light from a reference face for shading correction from being raised up in reading an original according to an original scanning system so as to enhance the shading correction effect and obtain image data with fidelity to the original.例文帳に追加

原稿走査方式による原稿読取時に、シェーディング補正を行うための基準面からの乱反射光による画像出力データの底上げを防ぎ、シェーディング補正効果を高め、原稿に忠実な画像データを得る画像読取装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a manufacturing cost of an optical information processing apparatus, to enhance so as to expand a multiplexing range of a reference light incident angle, and to obtain properties capable of simplifying and miniaturizing an entire optical processing system by further improving a reproduction efficiency of the optical information.例文帳に追加

光情報処理装置の製造費用を節減でき、且つ参照光入射角度の多重化範囲がより広くなるようになり、光情報の再生効率が更に向上し、全体光処理システムを単純化且つ小型化できる特性を得る。 - 特許庁

The image processor 100 positions a narrow band zone image b1 and a narrow band zone image b2 using either one of the narrow band zone image b1 and the narrow band zone image b2 imaged in different timings with blue narrow band zone light as a reference image.例文帳に追加

画像処理装置１００は、青の狭帯域光により異なるタイミングで撮像された狭帯域画像ｂ１と狭帯域画像ｂ２とから、いずれか一方を基準画像として狭帯域画像ｂ１と狭帯域画像ｂ２との位置合わせをおこなう。 - 特許庁

The difference amplifier 154 adjusts control gains of the variable gain amplifiers 142, 152, based on the difference between a reference signal Vref and a light-emitting element control voltage Vset 1 to be output from the variable gain amplifier 152 so that an opening loop gain of a control loop may not change.例文帳に追加

差動増幅部１５４は、基準信号Ｖref と可変ゲイン増幅部１５２から出力される発光素子制御電圧Ｖset1との差に基づき可変ゲイン増幅部１４２，１５２の制御ゲインを、制御ループの開ループゲインが変化しないように調整する。 - 特許庁

A Y-directional distance d1 between a measurement reference plane 17 and a laser light emission region 24 of a sensor 3 is measured by using a micrometer 19 during off-line setup, and a Y-directional distance d2 between the plane 17 and a blade edge 28 of the bite is measured by using a micrometer 21.例文帳に追加

外段取りで、マイクロメータ１９を用いて測定基準面１７とセンサ３のレーザ光発光部位２４とのＹ方向距離ｄ１を測定し、一方マイクロメータ２１を用いて測定基準面１７とバイトの刃先２８とのＹ方向距離ｄ２を測定する。 - 特許庁

Therefore, the composition surface LL is matched to the measurement reference surface L without being affected by the variation in the thickness of the second microchip substrate 12, and a position of arrival on a CCD photo detection plane for reflection light reflected on a rear surface of the metal thin film 13 is not varied, either.例文帳に追加

このため、接合面ＬＬは第２のマイクロチップ基板１２の厚みのばらつきに左右されることなく測定基準面Ｌに一致し、金属薄膜１３の裏面で反射した反射光のＣＣＤ受光面上での到達位置もばらつかない。 - 特許庁

To provide an inspection device for an electro-optical panel and an inspection method for the electro-optical panel capable of acquiring an accurate two-dimensional light distribution distribution to conduct proper inspection, even when a surface of the electro-optical panel is inclined to an inspection reference face.例文帳に追加

電気光学パネルの表面が検査基準面に対して傾いている場合であっても、正確な２次元配光分布を取得して適正な検査を行うことが可能な電気光学パネルの検査装置および電気光学パネルの検査方法を提供すること。 - 特許庁

A part of scanning light deflected by a rotary polygon mirror 3 is separated by a BD mirror 6 disposed on the outside of an optical box 10 and introduced into a BD unit 11 thence transmitted, as an image writing reference signal, to a semiconductor laser 1.例文帳に追加

回転多面鏡３によって偏向走査された走査光の一部分は、光学箱１０の外に設けられたＢＤミラー６によって分離されてＢＤユニット１１に導入され、画像書き込みの基準信号として半導体レーザ１に送信される。 - 特許庁

Further, the semiconductor device 100 is provided with a position reference part or a colored part 106 provided in a region including sides 105a, 105b, 105c, 105d of the rear surface 105 of the semiconductor base plate 101 and having a light reflection factor different from that of the mounting base plate 200.例文帳に追加

また、半導体装置１００は、半導体基板１０１の裏面１０５上であって裏面１０５の辺１０５ａ，１０５ｂ，１０５ｃ，１０５ｄを含む領域に備えられ、実装基板２００の光反射率と異なる光反射率を持つ位置基準部としての着色部１０６を有する。 - 特許庁

The light control device for vehicle determines that a vehicle has come under a shielding object when a value obtained by subtracting present upper-part illumination A0 from an average value C of the upper-part illumination from the present to a predetermined time before is equal to a difference reference value E or larger (S102:YES).例文帳に追加

車両用ライト制御装置は、現在から所定時間前までの上方照度の平均値Ｃから現在の上方照度Ａ０を減じた値が、差分基準値Ｅ以上である場合（Ｓ１０２：ＹＥＳ）、車両が遮蔽物下に進入したと判断する。 - 特許庁

To provide an aberration measuring device capable of replacing a transparent plane-parallel plates fitting to a wavelength of reference light, while holding an attitude of the transparent plane-parallel plate against optical elements, and thus enhancing working efficiency of evaluation for optical elements.例文帳に追加

光学素子に対する透明平行平面板の姿勢を維持しつつ、基準光の波長に合わせた透明平行平面板を交換することができ、これにより光学素子の評価の作業効率を向上させることのできる収差測定装置を提供する。 - 特許庁