「sample device」に関連した英語例文の一覧と使い方(85ページ目) - Weblio英語例文検索

In this X-ray image reconstitution device, a rotation position of a movable blade 54 with respect to an inspected area 60 is set at a prescribed position, and the movable blade 54 is moved with every prescribed sample point interval from the fully closed position to the fully opened position.例文帳に追加

Ｘ線画像再構成装置においては、被検領域６０に対する可動ブレード５４の回転位置を所定位置に設定し、この可動ブレード５４を全閉位置から全開位置まで所定の標本点間隔ごとに移動させる。 - 特許庁

To provide a method for depositing a graded sample by mass on a substrate, and a device therefor, to provide a method for depositing an organic compound including protein graded by mass, and the device therefor, and to provide the deposition device for simply and easily depositing a specific molecule on the substrate by attaching a substrate for deposition (and an actuator) to a well-known mass spectrometer.例文帳に追加

質量選別した試料を基板上に堆積する方法、及び装置を提供すること、質量を選別したタンパク質などを含む有機化合物を堆積する方法、及び装置を提供すること、公知の質量分析機に、堆積用基板（及び、アクチュエータ）を取り付けることにより、簡便に特定の分子を基板上に堆積することのできる堆積装置を提供すること。 - 特許庁

With a first device such as a sample cartridge adapted to engage a first device such as a personal digital assistant (PDA) incorporating a wireless communication module for transmitting collected data to a second device located beyond a contamination radius around a patient (a medical worker's personal PDA etc.), the data is collected and tested at the patient's point of care location.例文帳に追加

患者を中心とする汚染半径を越えて位置する第２の装置（医療労働者の個人用ＰＤＡなど）に収集データを伝達するための無線通信モジュールを組み込んでいる携帯情報端末（ＰＤＡ）など第１の装置を係合するように適合されている、サンプルカートリッジなど第１の装置により、患者のポイントオブケアの場所においてデータを収集および検査する。 - 特許庁

A means for measuring the amount of the gas in a reaction chamber and judging whether or not the reaction environment in a reaction field is favorable on the basis of the measured value is provided to the reaction device in which the reaction field for the reaction between the probe fixing carrier and the sample is provided in the reaction chamber.例文帳に追加

プローブ固定担体と試料とを反応させる反応場を反応室内に設けた反応装置に、反応室内の気体量を測定し、その測定値に基づいて反応場での反応環境の良否を判定する手段を設ける。 - 特許庁

This dark field illumination device is constituted of a light source unit 1 having a light source 11 and a condensing lens 12, an illumination lens 3 and a moving mechanism 13, and light emitted from the illumination lens 3 is adjusted to be approximately parallel light and to obliquely enter a sample 4.例文帳に追加

暗視野照明装置を、光源１１と集光レンズ１２を有する光源ユニット１、照明用レンズ３及び移動機構１３で構成し、照明レンズ３から射出する光が略平行光で、且つ試料４に斜入射するようにする。 - 特許庁

To overcome a problem that the adjustment accuracy of an aberration compensator 12 is deteriorated because a standard sample 5 used for adjusting the aberration compensator 12 is gradually contaminated by the irradiation of a charged particle beam, in a charged particle beam device incorporating the aberration compensator 12.例文帳に追加

収差補正器１２を組み込んだ荷電粒子ビーム装置において、収差補正器１２の調整に用いられる標準試料５が、荷電粒子ビームの照射に伴って徐々に汚染されることによって、収差補正器１２の調整精度が悪くなる。 - 特許庁

To provide a focused ion beam device for actualizing smooth and automatic processing of a processed pattern by improving the detecting probability of a processed pattern detecting mark and the reproductivity of a processing position, and to provide a sample processing method and program using the same.例文帳に追加

加工パターン検出用のマークの検出確率と加工位置の再現性を向上させ、加工パターンの自動加工を円滑化することができる集束イオンビーム装置、集束イオンビーム装置を用いた試料加工方法及び試料加工プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an optical characteristic inspection device and an optical characteristic inspection method capable of inspecting precisely a shift between fellow optical axes, as to a transparent sample constituted by laminating a plurality of transparent materials having optical axes respectively to conform directions of the optical axes.例文帳に追加

それぞれが光学軸を有する複数の透明材料を光学軸の方向が一致するように積層して構成された透明試料について、光学軸同士のずれを精度良く検査することが可能な光学特性検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a friction test device capable of carrying out friction test with ease and high accuracy by simulating the friction test, while using a sample product without making a prototype to be actually used, one by one, when a friction test for a visco-elastic material is carried out.例文帳に追加

粘弾性材料の摩擦試験を行う場合に、実際に使用する製品の試作品を一々作製することなく、製品の試料を用いて摩擦試験をシュミレートさせて容易かつ高精度に行うことができる摩擦試験装置を提供することにある。 - 特許庁

This invention, preferably used in a confocal fluorescence scanning type microscope method, is relate to a device irradiating sample (1) comprising: one irradiation beam path (2) of one light source (3) and at least another irradiation beam path (4) of another light source (5).例文帳に追加

本発明は、好ましくは共焦点蛍光走査型顕微鏡法において、１つの光源（３）の１つの照射ビーム経路（２）およびさらに別の光源（５）の少なくとも１つのさらに別の照射ビーム経路（４）を有する試料（１）を照射する装置に関する。 - 特許庁

To provide a flow injection analysis device and a flow injection analysis method dissolving an analysis error based on the impurities of a sample solution itself and an analysis error based on the sensitivity of a detector and facilitating arithmetic processing without making analysis operation complicated.例文帳に追加

試料溶液自体の不純物に基づく分析誤差および検出器の感度に基づく分析誤差を解消し、さらに、分析操作が煩雑にならず、演算処理が容易であるフローインジェクション分析装置およびフローインジェクション分析方法を提供すること。 - 特許庁

Measurement of a reaction time is started by a measurement start key inputted simultaneously with drop of the test specimen onto the test paper piece, and light measurement is performed when reaching a reaction time inputted into a device as the calibration curve information group, to thereby determine the concentration of an unknown sample.例文帳に追加

試験紙片に被検検体を滴下すると同時に入力される測定開始キーにより反応時間の計測を開始し、検量線情報群として装置に入力された反応時間に至した時に測光し、未知試料の濃度を求める。 - 特許庁

This optical image separating device 300 is provided with a dichroic mirror 30 (a return light separating means) to separate the return light 7 from the sample 60 emitted from the confocal image take-out port 110 of a confocal scanner 100 into the light beams of plural wavelength regions.例文帳に追加

共焦点スキャナ１００の共焦点画像取り出しポート１１０から射出された試料６０からの戻り光７を複数の波長領域の光に分離するダイクロイックミラー３０（戻り光分離手段）を備えた光学画像分離装置３００とする。 - 特許庁

To provide a sample characteristic measuring device having an enlarged range of an applicable particle size and improved measuring accuracy, and capable of performing accurate and detailed particle discrimination by acquiring wide information on a particle property and collating from many viewpoints.例文帳に追加

適用可能な粒子径の範囲を拡大し、測定精度を向上させた、また、試料の性状についての多くの情報を得て、多方面から照合することにより、より正確で詳細な粒子の識別を行うことができる試料特性計測装置を提供する。 - 特許庁

The solution housing device of the capillary electrophoretic apparatus includes the container which houses a sample or a solution, a lid having a hole through which the capillary pierces and covering the container, the evaporation preventing film having a capillary hole through which the capillary pierces, and a container housing part housing the container.例文帳に追加

溶液収納装置は、試料又は溶液を収容する容器と、キャピラリが貫通するための孔を有し容器を覆う蓋と、キャピラリが貫通するためのキャピラリ孔を有する蒸発防止膜と、容器を収容する容器収納部とを有する。 - 特許庁

The measuring device 200 moves spectrophotometers 203 and 204 according to the measuring condition, vertically radiating light from a light source 201 to a sample surface 205 made of a monochrome color material layer of an area ratio of 100%, and measures the spectral characteristic value of each measuring point.例文帳に追加

測定装置２００は測定条件に応じて分光光度計２０３、２０４を移動させ、面積率１００％の単色カラー色材層からなるサンプル面２０５に垂直に光源２０１から光を照射させ、各測定点の分光特性値を測定する。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING BOTH POLARIZED SPECTRAL RESPONSE AND NON-POLARIZED SPECTRAL RESPONSE OF SAMPLE AND METHOD FOR DETECTING THE SAME, AND METHOD AND COLORIMETRIC DEVICE FOR MEASURING THE SAME例文帳に追加

試料の偏光スペクトル応答及び非偏光スペクトル応答の両方を測定する方法、試料の非偏光スペクトル応答及び偏光スペクトル応答を検出する方法、試料の非偏光スペクトル応答及び偏光スペクトル応答を測定する方法及び測色装置 - 特許庁

To provide a particle diameter distribution-measuring device and method for obtaining more accurate particle diameter distribution by compensating for the decrease in scattered light due to the diameter of particles being characterized by the color of a sample to be measured and Mie scattering.例文帳に追加

測定対象試料の色やＭｉｅ散乱によって特徴付けられる粒子径による散乱光の減少を補って、より高精度の粒子径分布を求めることができる粒子径分布測定装置および粒子径分布測定方法を提供する。 - 特許庁

The small rheometer includes a first substrate 100 and a second substrate 102 which form a pair of substrates each having a predetermined shape for retaining between the substrates a sample having a volume of not more than 200 μL, and an adjustment device for adjusting the interval between the substrates.例文帳に追加

小型レオメータは、２００μＬ以下の容積を有するサンプルを基板間に保持するための所定形状を有する一対の基板を形成する、第１の基板１００と第２の基板１０２と、当該基板の間隔を調整する調整デバイスとを備える。 - 特許庁

To provide an environment control type electron beam device, in which the attachment, removal, position adjustment, and replacement of a differential exhaust diaphragm can be carried out within a short time by an easy work, without having to open to atmosphere the inside of a sample chamber, and high resolution becomes possible.例文帳に追加

本発明の目的は、試料室内を大気開放することなく容易な作業により短時間で差動排気絞りの着脱，位置調整，交換が行え、高分解能化が可能になる環境制御型電子線装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a pulse edge selection circuit that not only suppresses power consumption by reducing logic gates during drive but also reduces the number of the logic gates through which a clock passes so as to shorten a clock delay, a pulse generation circuit using the same, a sample hold circuit, and a solid-state image pickup device.例文帳に追加

駆動中の論理ゲートを減らして消費電力を少なくし、クロックが通る論理ゲート数を減らしてクロック遅延を短くしたパルスエッジ選択回路と、それを使ったパルス生成回路、サンプルホールド回路及び固体撮像装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sample holding circuit not affected by noise contained in an input signal, a pit level detection circuit capable of detecting an accurate pit level, and an optical disk recording/reproducing device capable of executing accurate writing by performing accurate running OPC.例文帳に追加

入力信号に含まれるノイズの影響を受けないサンプルホールド回路と、正確なピットレベルを検出できるピットレベル検出回路と、的確なランニングＯＰＣを行って確実な書き込みを行うことができる光ディスク記録再生装置を提供すること。 - 特許庁

To eliminate inefficient processor processing or excessive power consumption due to discordance between a sampling period and a processing time of a control processing program wherein it is necessary to periodically sample an external signal in a control mechanism of a servo control device.例文帳に追加

サーボ制御装置の制御機構においては、外部信号の周期的なサンプリングが必要で、そのサンプリング周期と制御処理プログラムの処理時間との不一致によって生じる消費電力の過多、あるいは、非効率的なプロセッサ処理を解決することを課題とする。 - 特許庁

To provide a highly reliable method for optically evaluating a sample to be measured and a device therefor with a large amount of information by simultaneously obtaining both information on the angle dependence and the wavelength dependence of surface plasmon resonance in an attenuated total reflectance method.例文帳に追加

全反射減衰法において、表面プラズモン共鳴の角度依存性と波長依存性の両方の情報を同時に得ることにより、情報量が多く、かつ信頼性の高い測定試料の光学的評価方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for highly accurately analyzing by solving the problem of attenuation or fluctuation of a fluorescence X-ray caused by absorption in a space formed between a sample and a bulkhead film, concerning a fluorescent X-ray analyzer for performing analysis in a helium atmosphere.例文帳に追加

ヘリウム雰囲気で分析を行う蛍光Ｘ線分析装置において、試料と隔壁膜との間に形成される空間での吸収による蛍光Ｘ線の減衰や変動の問題を解消して、高精度の分析ができるものを提供する。 - 特許庁

To provide a novel and improved image display device, an additional information management server, an image display system, an image display method, and a program, capable of providing additional information by using a portion which does not include a sample in a display area of a microscopic image.例文帳に追加

顕微鏡画像の表示領域においてサンプルを含まない部分を利用して付加情報を提供することが可能な、新規かつ改良された画像表示装置、付加情報管理サーバ、画像表示システム、画像表示方法、及びプログラムを提供する。 - 特許庁

In order to measure a machine difference, a domain (replica domain or the like) for marking information of a device measuring a spot of a pattern measured on a wafer and a measured spot is provided on the wafer, and a sample is managed by referring to the marking.例文帳に追加

機差測定を行う為にウェハ上に当該ウェハ上で測定済みのパターンの箇所及び当該測定済みの箇所を測定した装置の情報をマーキングするための領域（レプリカ領域等）を設け、当該マーキングを参照することにより、試料を管理する。 - 特許庁

To provide an organic synthesis device which is capable of allowing the center axis of a reaction vessel to coincide with the center of the rotation of a rotation means even if there is a gap between the outer peripheral surface and the inner peripheral surface when the sample is charged.例文帳に追加

収容された際に、反応容器の外周面と反応容器収容部の内周面との間に隙間が空いてしまっても、反応容器の中心軸を回転手段の回転の中心に一致させることが可能な有機合成装置を提供する。 - 特許庁

In the charged particle optical device, a control part 8 adjusts a solid angle control lens 3 according to an instruction from an operation display part 9, and the solid angle α(n) of a particle probe incident to a sample is settled in accordance with the order (n-th) of the aberration to be corrected and the kind of aberration.例文帳に追加

荷電粒子光学装置では、操作表示部９からの指示で、制御部８が開き角制御レンズ３を調整して、補正を行う収差の次数（n次）と収差の種類に応じて、試料に入射する粒子プローブの開き角α（n）を設定する。 - 特許庁

The interference fringe image of a sample is acquired with an interferometer device (S1), modulation value γ for every pixel is computed by analyzing an interference fringes image (S2), and it is determined whether in more than a regulated number, there are pixels in which this modulation value γ exceeds a predetermined threshold (S3).例文帳に追加

干渉計装置により被検体の干渉縞画像を取得し（Ｓ１）、干渉縞画像を解析して各画素毎のモジュレーション値γを算出し（Ｓ２）、このモジュレーション値γが所定の閾値を超える画素が規定数以上あるか否かを判断する（Ｓ３）。 - 特許庁

To provide a device for observing defects capable of analyzing the arrangement and the hierarchical relationship of a circuit pattern formed using the design information of a sample, creating a non-defective image from a defective image based on the analysis results, and detecting the defects by comparison checking.例文帳に追加

試料の設計情報を用いて形成される回路パターンの配置や上下関係などの構造を解析し、解析結果をもとに欠陥画像から良品画像を作成し、比較検査により欠陥を検出することができる欠陥観察装置を提供する。 - 特許庁

For realizing inspection at 2.0-2.5 mm image visual field with 20-30 nm image resolution of an SIM image, a beam-irradiating energy of an FIB device is set to 25-50 keV, and the maximum distance between a beam deflection support point and a sample 5 is set to a range of 60-120 mm.例文帳に追加

ＳＩＭ像の像分解能が２０〜３０ｎｍで、かつ像視野２〜２.５mm を実現するために、ＦＩＢ装置におけるビーム照射エネルギーを２５〜５０ｋｅＶで、かつビーム偏向支点１１から試料５までの最大距離を６０〜１２０mmの範囲とした。 - 特許庁

In actual sample image acquisition processing, pair zoom correction data corresponding to zoom magnification set in the zoom optical device 2 are read out of the pair zoom correction data table and according to the pair zoom correction data, the center angle of the XY scanner 3 is controlled.例文帳に追加

実際に標本画像取得処理においては、ズーム光学装置２に設定されているズーム倍率に応じた対ズーム補正データを対ズーム補正データテーブルから読み出し、その対ズーム補正データに基づいてＸＹスキャナ３の中心角を制御する。 - 特許庁

A phase shift is imparted to each phase component generated from a wide-band laser light source 11 by a phase modulator 12, and a sample 18 is irradiated with light passing an interference autocorrelation measuring device 13 formed by combining a Michelson interferometer 14 with a piezo stage 15.例文帳に追加

広帯域レーザー光源１１から発生された個々の波長成分に位相変調器１２によって位相シフトを与え、マイケルソン干渉計１４とピエゾステージ１５を組み合わせた干渉自己相関計１３を通した光を試料１８に照射する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit device DUT 640 is provided with probe light pulse and reference pulse during each repetition cycle of the electric test pattern signal applied repeatedly, for guiding the same optical path as to sample the electric waveform on the DUT.例文帳に追加

半導体集積回路デバイス（ＤＵＴ６４０）に繰り返し印加する電気的テストパターン信号の各反復サイクル期間中に、プローブ光パルスおよび基準光パルスを供給して、ＤＵＴ上の電気的波形をサンプリングするように同一光路を導く。 - 特許庁

The temperature sensor 10 which is constituted as a black standard sensor and generally used in an artificial environmental exposure device for a material sample comprises a stainless steel plate 1 having a black coating 2 and a platinum resistor 3 thermally bonded to the reverse side as known.例文帳に追加

例えばブラック標準センサとして構成され、物質試料の人工環境暴露装置において通常使用される温度センサ１０は、公知のように、黒コーティング２が施され、裏面には白金抵抗３が熱的に結合されたステンレス鋼板１を有する。 - 特許庁

To provide a sample/hold circuit capable of extremely simply and stably measuring the amount of clock skew relative to a conventional technique by inputting a calibration signal without using a reference voltage source; and an A/D conversion device using it.例文帳に追加

基準電圧源を用いることなく、較正信号を入力することにより従来技術に比較してきわめて簡単にかつ安定してクロックスキュー量を測定することができるサンプルホールド回路及びそれを用いたＡ／Ｄ変換装置を提供する。 - 特許庁

An automatic synthetic device 1 for variously combining reagents to synthesize the compound comprises a cannula for transferring a solution and a microplate for transferring a material under reaction or the compound produced by a reaction as an analyzing sample.例文帳に追加

自動合成装置１は、試薬を種々に組み合わせて化合物を合成するものであり、溶液移送を行うためのカニューラと、反応途中の物質あるいは反応により生成された化合物が分析用試料として移送されるマイクロプレートとを備えている。 - 特許庁

There is provided a device which performs processing so that two electromagnetic wave pulse portions applied to a sample have electric field intensity of mutually inverted polarities and a temporal difference between pulse peaks of the two electromagnetic wave pulse portions becomes a temporal difference within the time of the pulse width.例文帳に追加

検体に照射される２つの電磁波パルス部分が、互いに反転した極性の電界強度を持ち、且つ前記２つの電磁波パルス部分のパルスピーク間の時間差がパルス幅の時間以内の時間差になるように処理する装置を提供する。 - 特許庁

When measuring the magnetic field from a sample, the magnetic field measuring device inputs the control signal based on each adjustment quantity stored in the storage unit to each adjustment unit, controls the light volume of pumping light incident to each cell, and detects the magnetic field with a magnetic field detection unit.例文帳に追加

磁場計測装置は、検体からの磁場を計測する際、記憶部に記憶された各調整量に基づく制御信号を各調整部に入力し、各セルに入射するポンプ光の光量を制御して磁場検出部により磁場を検出する。 - 特許庁

To provide a fluorescence detection device, a contrast information correction method, a contrast information correction program, and a scanning type confocal laser microscope capable of correcting deterioration of the contrast information (brightness information) by brown of a fluorescent pigment dying a sample.例文帳に追加

試料を染色している蛍光色素の褪色による濃淡情報（輝度情報）の劣化を補正することが可能な蛍光検出装置、濃淡情報補正方法、濃淡情報補正プログラムおよび走査型共焦点レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The micro mass measuring device utilizing a piezoelectric vibrator such as quartz as a sensor has a structure to diffuse vibration (longitudinal wave) caused by the sensor and propagating into a liquid phase of a flow path in which a sample solution flows.例文帳に追加

水晶等の圧電振動子をセンサとして用いた微量質量測定装置において、試料溶液の流れる流路に、該センサより生じる液相中を伝播する振動（縦波）を拡散するための構造を持つ事を特徴とする微量質量測定装置。 - 特許庁

The device comprises at least one type of calibrating labels and a given substrate having at least one test region and containing various types of reagent compositions for determining the concentration of the given assay in the sample.例文帳に追加

本発明の装置は少なくとも１種類の較正用の標識および上記サンプル中の一定の分析物の濃度を決定するための各種の試薬組成物を含有している少なくとも１個の試験領域を有する一定の基材を備えている。 - 特許庁

To provide a method of controlling position by which an ultra-fine pattern can be formed in a highly reproducible state with high accuracy when an auto-alignment mechanism is unusable or the fine adjustment of a sample holder is difficult after the holder is fixed in a lithography step performed in the manufacturing process of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造工程のリソグラフィー工程において、オートアライメント機構の使用が不可能な場合、またはサンプルホルダー固定後の微調整が困難な場合に極微細パターンを高精度で再現性良く形成できる位置制御方法を提供する。 - 特許庁

The biological substance-separating device has a member to whose small hole a lipid double layer containing a small hole transporter is fixed, a sample-adding mechanism disposed on one side of the small hole, and a small hole-passing biological substance recovery mechanism disposed on the other side of the small hole.例文帳に追加

細孔のトランスポーターを含む脂質２重層が細孔に固定された部材と、前記細孔の一方に設けられた試料を添加する機構と、前記細孔の他方に設けられた細孔を通過する生化学物質を回収する機構とを備える。 - 特許庁