「test data processing」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

Alternatively, the evaluation method for the radio base station includes the step of the evaluation apparatus 2 for evaluating feedback control information in the test data, subjected to the reverse coding processing in the second step, by using both the downlink frame and the uplink frame.例文帳に追加

さらには、上記の下りリンクフレームと上りリンクフレームの両方を用いて該第2ステップで逆符号化処理された試験データ中のフィードバック制御情報を、評価装置2で評価する。 - 特許庁

To provide a data processing system on an integrated circuit with a micro processor 1 and peripheral devices as well as an emulation unit capable of debugging and emulating the integrated circuit when an external test system is connected.例文帳に追加

外部テストシステムへの接続時に集積回路のデバッグとエミュレーションが行えるエミュレーションユニットと共に、マイクロプロセッサ１および周辺装置を備えた集積回路上のデータ処理システムを提供する。 - 特許庁

The image of the coating material that has undergone the test coating is picked up by a CCD camera, and image processing is made to obtain coating area and plural coating diameters of the coating material, and based on these data, whether coating is good or bad is decided.例文帳に追加

テスト塗布された塗布剤はＣＣＤカメラ３１で撮像され、画像処理されて、塗布剤の塗布面積と複数の塗布径が求められ、これらのデータに基づき塗布の良否が判定される。 - 特許庁

To provide a design quality inspection support system that has the functions of verifying consistency and integrity of design descriptions and of generating test data in accordance with specifications for an information processing system.例文帳に追加

情報処理システムの仕様設計書より、設計仕様の一貫性と整合性を検証する機能、及び、テストデータを生成する機能を有する、設計品質検査支援システムを提供する。 - 特許庁

When the user selects a desired incoming melody for a listening test from the key input part, incoming music data retrieved from the auxiliary storage part by the information processing part is outputted from the receiver 20 instead of the speaker 3.例文帳に追加

キー入力部から着信メロディ試聴希望が選択されたときに、情報処理部が補助記憶部から索出した着信楽曲データを、スピーカ３に代えてレシーバ２０から出力させる。 - 特許庁

Since the test system path can continuously transfer data by every clock by pipeline processing, the filter coefficients are rewritten at high speed without interposing an internal common bus with slow transfer rate.例文帳に追加

試験系経路はパイプライン処理によってクロック毎に連続してデータを転送することが可能であるため、転送速度の遅い内部共通バスを介すことなく、高速にフィルタ係数の書替えが可能になる。 - 特許庁

A sensibility estimation system 1 processes a driving test result and a subjective evaluation result in a condition set by a condition setting part 2 by a data processing part 4, and inputs the processed result to a sensibility estimation part 5 in a learning mode.例文帳に追加

感性推定システム１は、学習モード時、条件設定部２で設定した条件での走行試験結果と主観評価結果とをデータ処理部４で処理し、感性推定部５に入力する。 - 特許庁

Here, when the conditions are not met, the A/V server performs backup TUR processing by issuing test unit ready(TUR) command data to hard disk drives(HDD) by the CPU of the RAID part in a step S13.例文帳に追加

ここで、条件を満たしていないと判別した場合には、Ａ／Ｖサーバにおいては、ステップＳ１３において、ＲＡＩＤ部のＣＰＵによりテスト・ユニット・レディ（Test Unit Ready；以下、ＴＵＲと略記する。）・コマンドデータをハードディスクドライブ（以下、ＨＤＤと記す。）に対して発行してバックアップ・ＴＵＲ処理を実行する。 - 特許庁

To provide a wavefront aberration measuring apparatus and a wavefront aberration measuring method which can measure the wavefront aberration of an optical system under test with high precision by checking the state of the interference fringes of photographed image data before performing image processing for calculating the wavefront aberration of the optical system under test.例文帳に追加

被検光学系の波面収差の算出のための画像処理を実施する前に、撮像した画像データの干渉縞の状態をチェックすることによって、高精度に被検光学系の波面収差を測定することができる波面収差測定装置及び方法を提供する。 - 特許庁

A server 100 has a source code file 2, a code clone output file 3, a test result file 4 and a code clone merging file 7, and includes a data setting part 8, a code clone detection/merge processing part 9 and a test result setting part 10 as function blocks implemented by hardware resources in the server 100.例文帳に追加

サーバ100内に、ソースコードファイル２、コードクローン出力ファイル３、テスト結果ファイル４、コードクローンマージファイル７を備え、またサーバ100内のハードウェア資源により実現される、機能ブロックとしての、データ設定処理部８、コードクローン検出・マージ処理部９、テスト結果設定処理部10を備える。 - 特許庁

In the meantime, the collation device diagnostic driver 3 of a collation processing server 10 monitors whether or not the fault data are newly added at a polling interval shorter than the collation processing cycle of the collation processor 20 and samples required data, and the test environment of the fault generated in the collation processor can be reproduced.例文帳に追加

一方、照合処理サーバ１０の照合装置診断ドライバ３は、照合処理装置２０の照合処理サイクルより短いポーリング間隔で、障害データが新たに追加されたか否かを監視し、必要なデータを採取し、照合処理装置において発生した障害のテスト環境を再現可能とする。 - 特許庁

The method includes the steps of: detecting via a host computer the connection of each instrument to the data communication network; uploading data received from each instrument to the host computer; processing the uploaded data on the host computer for operator review; and downloading configuration data from the host computer to each test instrument, the downloaded data including instrument-specific setup and control data.例文帳に追加

本方法は、各器具のデータ通信ネットワークへの接続を、ホストコンピュータを介して検出するステップと、各器具から受信されたデータをホストコンピュータへアップロードするステップと、アップロードされたデータを、オペレータのレビューのためにホストコンピュータ上で処理するステップと、構成データをホストコンピュータから各検査器具へダウンロードするステップとを備え、ダウンロードされたデータは、器具固有のセットアップおよびコントロールデータを有する。 - 特許庁

After processing to form a plurality of semiconductor chips on each semiconductor wafer and test each semiconductor chip by a lot constituted of a plurality of semiconductor wafers, common data through each semiconductor wafer within the same lot is stored in one characteristic data file f1, and characteristic data of each semiconductor chip obtained by a test is stored in a semiconductor chip characteristic data file f2 classified by measurement terms of characteristics.例文帳に追加

複数の半導体ウェーハで構成されるロット単位で、各半導体ウェーハそれぞれに複数の半導体チップを形成する処理、及び各半導体チップそれぞれの検査を行い、同じロット内の各半導体ウェーハに共通するデータを１つのロット特性データファイルｆ１に格納し、検査によって得られる各半導体チップの特性データを、特性の測定項目ごとに分けて１つの半導体チップ特性データファイルｆ２に格納する。 - 特許庁

A main frame 100 is equipped with: a tested program 101 used as a test object; an editor 102; this comparing data creation program 103; a working data storage area 110; and a processing result storage area 120 for a storage area of information outputted from each program other than working data such as form printing data.例文帳に追加

メインフレーム１００は、テスト対象となる被テストプログラム１０１と、エディタ１０２と、比較用データ生成プログラム１０３とを備えるとともに、作業用データ格納領域１１０と、帳票印字用データ等、作業用データ以外に各プログラムから出力される情報の格納領域としての処理結果格納領域１２０とを備える。 - 特許庁

The core part receives the output data for each port of the multiplexer part and processes and generates a core internal data for each port, and outputs them with the scan system or subjects them to selective processing the core internal data for each port or a test vector, inputted serially from the outside for each port, and causes the core output data for each port to be generated.例文帳に追加

コア部は前記マルチプレクサ部のポート別の出力データを受けて処理し、ポート別のコア内部データを生成し、ポート別のコア内部データをスキャン方式で外部に出力するか、ポート別のコア内部データまたは外部からシリアルに入力されたポート別のテストベクトルを選択的に処理し、前記ポート別のコア出力データを発生させる。 - 特許庁

The image processor 7 has a function for processing data from the three- dimensional camera device to display a shape and a size of a defective part as a three-dimensional image, and processes data from the eddy current test equipment to display the shape and a depth of the defective part as a three- dimensional image.例文帳に追加

画像処理装置部７は三次元カメラ装置からのデータを処理し、欠陥部の形状、大きさを三次元画像に表示する機能を有し、渦流探傷装置からのデータを処理し、欠陥部の形状、深さを三次元画像に表示する。 - 特許庁

To provide a digital modulation and demodulation system data collecting device and a baseband processor capable of collecting baseband processing data and performing transmission and reception radio performance evaluation in a field test mode of a digital modulation and demodulation system while mounted on a vehicle.例文帳に追加

ベースバンド処理データの収集が可能であり、ディジタル変復調システムのフィールド試験時における送受信無線性能評価を車両に搭載した状態で行うことができるディジタル変復調方式データ収集装置およびベースバンド処理装置を提供する。 - 特許庁

When an address generated from the test pattern generating section 105 coincides with a defective address stored in the fail information storing section 108, a checker pattern is inputted to each memory after relieving processing without changing data from the test pattern generating section 105 by using a data scramble section 107 discriminating whether data inputted to a memory is reversed or not in accordance with a value of the least significant bit of a defective address.例文帳に追加

テストパターン生成部１０５から生成されるアドレスがフェイル情報格納部１０８に格納された不良アドレスと一致した場合に、不良アドレスの最下位ビットの値に応じてメモリへのデータ入力を反転させるかどうかを判定するデータスクランブル部１０７を用いることで、テストパターン生成部１０５からのデータを変更することなく、救済処理後の各々のメモリに対して、チェッカーパターンを入力する。 - 特許庁

This web test module is provided with a light source for illuminating a part of the web, a contact-type imaging sensor which has a plurality of sensing elements, and a processor for receiving and processing image data which indicate printed webs.例文帳に追加

ウェブ検査モジュールは、ウェブの一部分を照明する光源と、複数の検出要素を有する接触式画像センサと、印刷済みウェブを示す画像データを受け取って処理するための処理器とを備えている。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for processing image data where when a picture image recorded by a digital camera is reproduced, a high quality picture image is immediately reproduced without repetitive test prints for enhancing a picture quality or repetitive minor adjustments based on a confirmation via a monitor.例文帳に追加

デジタルカメラにより撮影された写真画像を再生する際に、画質を高めるためのテストプリントあるいはモニタの確認による微調整を繰り返すことなく、直ちに高画質な写真画像を再生する。 - 特許庁

To provide a method for processing test data of a semiconductor which can detect abnormality in a fabricating process even if the number of defective products is small, and quickly research causes of generating the defective products.例文帳に追加

不良品の発生数が少ない場合でも、製造工程の異常を検出することができ、不良品の発生原因の調査を早期に行うことができる半導体試験データ処理方法を提供する。 - 特許庁

In a programmable device or a device for changing dynamically a logic constitution of data processing, a route delay test capable of corresponding to connection between processor elements changed according to the logic constitution is mounted beforehand on the device.例文帳に追加

プログラマブルデバイスあるいは動的にデータ処理の論理構成を変更するデバイスにおいて、論理構成に従って変更されるプロセサエレメント間の接続に対応可能な経路遅延テストをデバイスにあらかじめ実装しておく。 - 特許庁

In the protective relay 1, a processing unit 11 inputs a digital signal of a DC voltage which is converted from an AC voltage of the power transmission system L1 from an analog/digital converter A/D, inputs an output voltage of an AC from a power supply unit 15, and inputs inspection data (test current, test voltage and operation time) from a test device 2 which is connected at inspection via an external interface 14.例文帳に追加

保護継電器１において、処理部１１は、アナログデジタル変換器Ａ／Ｄから送電系統Ｌ１の交流電圧を変換した直流電圧のデジタル信号を入力し、電源ユニット１５から直流の出力電圧を入力し、点検時に接続される試験装置２から外部インタフェース部１４経由で点検データ（試験電流、試験電圧、動作時間）を入力する。 - 特許庁

A CPU 120 detects an expected value having the same value as a top test CRC value calculated by the CRC calculator 144 among expected values of the CRC value of at least partial continuous pictures in a moving image corresponding to the test stream data and with the detected expected value as an origin, the test CRC value is sequentially compared with expected values, thereby diagnosing the moving image processing device 110.例文帳に追加

ＣＰＵ１２０は、テスト用ストリームデータに対応する動画像の少なくとも一部の連続したピクチャのＣＲＣ値の期待値のうちの、ＣＲＣ算出部１４４が算出した先頭のテストＣＲＣ値と同値を有する期待値を検出し、検出した期待値を起点にし、テストＣＲＣ値と期待値との順次比較を行うことにより動画像処理装置１１０を診断する。 - 特許庁

The equipment is provided with a data processing unit 11 having a net information extracting part 17 extracting information of nets, a moving type test probe controlling unit 12 which controls a inspection probe by using information outputted from the data processing unit 11, and an electric detecting device 13 detecting electric information from the inspection probe and judging electric continuity or discontinuity.例文帳に追加

ネットの情報を抽出するネット情報抽出部１７を備えたデータ処理装置１１と、データ処理装置１１からの出力情報により検査プローブを制御する移動式検査プローブ制御装置１２と、検査プローブからの電気情報を検出し導通・非導通を判定する電気検出装置１３とを有する。 - 特許庁

To provide a permeability test method and a device therefor capable of inputting an output signal of a pressure sensor into a conventional ordinary data processing device for grouting device without widening a pilot hole when necessary in the permeability test and without generating an error due to the elongation caused by the gravity of the pressure sensor and a signal cable.例文帳に追加

透水試験の必要が生じた時にパイロット孔を拡径することがなく、圧力センサーと信号線の重力による伸びで誤差の生ぜず、そして従来通常のグラウチング装置のデータ処理装置に圧力センサーの出力信号を入力できる透水試験方法及び装置の提供。 - 特許庁

A collection of data processing algorithm is suitably used instead of a high pass filter stage of the eddy current inspection system, and is simultaneously used for providing required data for an optimized system for inspecting test pieces on whether to be a slender defect of traveling in parallel to the scanning axis.例文帳に追加

渦電流検査システムの高域通過フィルタ段の代わりに用いるのに適し、また、走査軸に平行に走る細長い欠陥がないか試験片を検査するために最適化されたシステムに必要なものを提供する同時に用いられるデータ処理アルゴリズムの集合体。 - 特許庁

The mode control unit controls to supply the output of the display signal processing unit to the data voltage supply unit in a display mode; while in a light emission characteristics detection mode, the control unit controls to supply a test signal to the data voltage supply unit and supplies an output of the light emission characteristics detection unit to the memory.例文帳に追加

モード制御部は、表示モードでは、表示信号処理部の出力をデータ電圧供給部に供給し、発光特性検出モードでは、テスト信号をデータ電圧供給部に供給し、発光特性検出部の出力をメモリに供給するように制御する。 - 特許庁

By inputting information data such as the addresses of particular components 12 to 15 inside the satellite 1 via the stub cable 100 and the bus interface connector 10, the ground test unit 2 can control the satellite 1 to the same level as a data processing computer 11.例文帳に追加

地上試験装置２はスタブケーブル１００及びバスインタフェースコネクタ１０を経由して人工衛星１内部の特定のコンポーネント１２〜１５のアドレス等の情報データを入力することで、人工衛星１に対してデータ処理計算機１１と同等の制御が可能である。 - 特許庁

The processing part 12 calculates the derivative of a first planar integral on a test plane including the first position and the second position utilizing the first raw data, calculates the derivative of a second planar integral on the test plane utilizing the second raw data, and evaluates the body motion amount utilizing a difference between the derivative of the first planar integral and the derivative of the second planar integral.例文帳に追加

処理部１２は、第１の位置と第２の位置とを含む試験平面での第１の平面積分の微分を第１の生データを利用して算出し、試験平面での第２の平面積分の微分を第２の生データを利用して算出し、第１の平面積分の微分と前記第２の平面積分の微分との差分を利用して体動量を評価する。 - 特許庁

To provide an X-ray CT scanner capable of exposing with less X-ray to a test subject from a plurality of vessels and imaging with time resolution and FOV according to the diagnostic purpose, and to provide the data processing method thereof.例文帳に追加

複数の管球から被検体により少ない曝射量でＸ線を曝射し、診断目的に応じた時間分解能とＦＯＶで画像を撮像可能なＸ線ＣＴ装置及びそのデータ処理方法を提供することである。 - 特許庁

In the screen structure information comparison processing, an operation content relating to part information which is differed in the screen structure information between before and after program correction performed by a user is recorded to convert the data of the test script.例文帳に追加

そして、画面構成情報比較処理においてユーザが行ったプログラム修正前後の各画面構成情報で差異となる部品情報への関連付けの操作内容を記録してテストスクリプトのデータの変換を行う。 - 特許庁

To provide a failure analysis system independent of a format of test data processable by a failure analysis device, capable of suppressing the number of information files used for failure analysis; and also to provide a failure analysis information processing device and a failure analysis method.例文帳に追加

故障解析装置が処理可能なテストデータのフォーマットに依存しない、且つ故障解析に使用する情報ファイル数を抑制可能な故障解析システム、故障解析情報処理装置及び故障解析方法を提供する。 - 特許庁

The test and measurement device receives the processed signals from the microprocessor, processes the received signal and data and/or information encoded therein, and performs predetermined response processing thereto.例文帳に追加

検査計測装置は処理された信号をマイクロプロセッサから受信し、受信した信号およびその信号に符号化されているデータおよび／もしくは情報を処理し、その処理結果に応じて予め定められた応答処理を実行する。 - 特許庁

To provide a device manufacturing processing system, an exposure device and exposure method, measuring test equipment, a measuring inspection method, and a method for manufacturing the device, which can perform the management of data easily while reducing the load of network.例文帳に追加

ネットワークの負荷を低減するとともに、データの管理を容易に行うことができるデバイス製造処理システム、露光装置及び露光方法、測定検査装置及び測定検査方法、並びにデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

In this method, under use of at least one spatial arrangement of the radiation source 11, the detector 13, and a test object 58 substituted for a subject 18 to be scanned, a filter for providing optimum filter processing and back projection of the projection data of the test object for tomographic image display in a given arrangement and by means of repeated reconstruction technique and test projection is determined.例文帳に追加

本発明の方法においては、放射線源（１１）と検出器（１３）と走査すべき対象（１８）の代わりの試験対象（５８）との少なくとも１つの同じ空間的配置の使用下で、試験投影および反復式の再構成技術によって、与えられた配置において断層撮影表示のための試験対象の投影データの最適なフィルタ処理および逆投影を与えるフィルタが決定される。 - 特許庁

A semiconductor memory provided with an access sequencer for simultaneously accessing a plurality of memory cells in the direction of data lines 111 to 114 and the direction of word lines 101 to 104 at the time of a write access to the memory array 100 of the above constitution and a test decoder 300 which is a control signal generation circuit improves write access processing efficiency and shortens test access time by using the test decoder 300.例文帳に追加

前記構成のメモリアレイ１００に対して、書込みアクセスにおいてデータ線１１１，１１２，１１３，１１４方向、及びワード線１０１，１０２，１０３，１０４方向に複数のメモリセルを同時にアクセスするアクセスシーケンサ、及び制御信号生成回路としてのテストデコーダ３００を設け、前記テストデコーダ３００を用いて、書込みアクセス処理効率の向上を図り、テストアクセス時間を削減する。 - 特許庁

The data amount of the number of days defined by a parameter definition table is extracted from an order database 11 and a test results database 12 in a server 1, data read processing in which it is stored in an intermediate server is executed and after that, the data amount for the number of days defined by the parameter definition table is extracted from the intermediate server and is shown on a display device.例文帳に追加

サーバ１内のオーダデータベース１１と検査結果データベース１２から、パラメータ定義テーブルにより定義された日数分のデータ量を抽出し中間サーバ２４に格納するデータ読込み処理を実行し、その後、中間サーバ２４からパラメータ定義テーブルにより定義された日数分のデータ量を抽出し表示装置２８に表示するオーダリングシステム。 - 特許庁

A control unit 200 defines an impulse signal outputted from an impulse generating circuit 101 as a signal to be processed, in place of an input digital audio signal from the outside, in a test mode and the data path unit 100 applies only signal processing selected from among the plurality of kinds of signal processing to the signal to be processed in each sampling period.例文帳に追加

制御部２００は、テストモードでは、外部からの入力デジタル音声信号に代えて、インパルス発生回路１０１が出力するインパルス信号を処理対象信号とし、サンプリング周期毎に、データパス部１００により、複数種類の信号処理のうち選択された信号処理のみを処理対象信号に施す。 - 特許庁

A print scanner 7 is disposed near a discharge port 331 of the finished prints of the photographic processing device A and the discharged test print is positioned in a prescribed scan position and is scanned by this print scanner 7, by which the data on unevenness correction is formed.例文帳に追加

写真処理装置Ａの仕上がりプリントの排出口３３１の近傍にプリントスキャナ７を配設し、排出されるテストプリントを所定のスキャン位置に位置決めして前記プリントスキャナ７でスキャンし、ムラ補正データを作成するように構成した。 - 特許庁

A data processing system on an integrated circuit 42 having a microprocessor 1 and pieces of peripheral equipment 60 and 61 is provided with an emulation unit 50 capable of realizing the debug and emulation of the integrated circuit 42 when this emulation unit 50 is connected to an outside test system 51.例文帳に追加

マイクロプロセッサ１及び周辺装置６０、６１を有する集積回路４２上のデータ処理システムには、外部テストシステム５１に接続するときに集積回路４２のデバッグ及びエミュレーションを可能にするエミュレーションユニット５０が設けられる。 - 特許庁

The central processing part 6 generates the lighting control signal for lighting the lamp in a prescribed lighting state and outputs the lighting control signal from the respective communication ports 5a and 5b as control data, when a test signal is inputted from the outside.例文帳に追加

中央処理部６は、外部からテスト信号が入力されると、ランプを所定の点灯状態で点灯させる点灯制御信号を発生すると共に、この点灯制御信号を制御データとして各通信ポート５ａ，５ｂから出力させる。 - 特許庁

To provide a device for generating a piece database of a scale, according to the storage capacity and processing capability of an object speech synthesizer, by effectively determining a speech piece to be deleted from a large scale piece data base, using less test text.例文帳に追加

少ない試験テキストで、大規模な素片データベースから削除する音声素片を効果的に決定し、対象とする音声合成装置の記憶容量や処理能力に応じた規模の素片データベースを生成する装置を提供する。 - 特許庁

After this adjustment, the image processing unit 15 adjusts R, G and B values of pixels of a color image based on color image data received from a transmission apparatus 2 formed on the projection device 14 for each pixel based on the color adjustment result of the test pattern.例文帳に追加

この調整後、画像処理部１５は、投射デバイス１４上に形成する送信装置２から受信したカラー画像データに基づくカラー画像の各画素のＲ値、Ｇ値及びＢ値を、テストパターンの色調整結果に基づいて画素毎に調整する。 - 特許庁

The serial communication card is configured so that respective circuits composing the serial communication card included in the serial communication apparatus individually store data just before and just after performing processing in respective circuits in a memory and individually read out the stored data by a read command from the serial communication apparatus test device.例文帳に追加

シリアル通信装置において、その有するシリアル通信カードを構成する各回路が、その回路において処理を行なう直前のデータと直後のデータをメモリに個別に格納し、シリアル通信装置試験装置による読出し指令により格納されたデータを個別に読み出すように、シリアル通信カードが構成される。 - 特許庁