「test data」に関連した英語例文の一覧と使い方(43ページ目) - Weblio英語例文検索

The compressing means stores the fail data at a predetermined compression ratio by allocating a plurality of addresses of the pattern memory to the single address of the data fail memory in the execution of the first test and executes the second test without compression on only the group having a plurality of addresses of the pattern memory corresponding to the fail data stored in the data fail memory.例文帳に追加

その圧縮手段は、第１回目のテスト実行において、パターンメモリの複数のアドレスをデータフェイルメモリの単一アドレスに割り当てることにより、フェイルデータを、あらかじめ定めた圧縮比率で格納し、そのデータフェイルメモリに格納されたフェイルデータに対応するパターンメモリの複数のアドレスを有するグループのみについて、圧縮をすることなく、第２回目のテストを実行する。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by testing condition setting means for setting the testing conditions and execution instruction means for giving instructions for executing the test; and a converter section 21 serving as converting means by which the first data thus collected is converted into second data low in redundancy.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０と、収集された第１のデータを冗長度が少ない第２のデータに変換する変換手段としてのコンバータ部２１とを備える。 - 特許庁

The print controller comprises a means for setting a set value including a value concerning the number of rows to be deleted of unnecessary data, a means for generating row data consisting of more rows than the maximum deleting number of rows which can be set by the setting means as test print data, and a means for transmitting the test print data thus generated to a printer.例文帳に追加

不要データの削除行数に関する値を含む設定値を設定する設定手段と、設定手段において設定可能な最大削除行数以上の行数から成る行データを、テスト印刷データとして生成するテスト印刷データ生成手段と、生成したテスト印刷データを印刷装置へ送信するテスト印刷データ送信手段と、を備えたものである。 - 特許庁

To enable accurate test data to be generated at the time of testing semiconductors, mutual conversion between simulation data and test data to be easily performed and the accuracy verification of simulation data and of a tester for semiconductors and the verification of indeterminate events and I/O dead band to be carried out.例文帳に追加

半導体装置のテスト時に正確なテストデータの生成及びシュミレーションデータとテストデータとの相互間の変換が容易に可能であり、シュミレーションデータ精度と半導体装置用テスタ精度との検証，不確定イベント及びＩ／Ｏデットバンドの検証を行なうことが可能となる半導体試験用データ処理装置及び方法並びに半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Then, the multifunction device 100 reads the image data by a reading part 101, and transmits the image data to the transmission destination by the file name of the test data or a new file name relevant to the file name via the communication part 103 when it is determined that the test data is normally transmitted to the transmission destination based on the response received by the communication part 103.例文帳に追加

そして、複合機１００は、通信部１０３によって受信した応答に基づいて、テストデータが正常に送信先に対して送信されたものと判定した場合に、読取部１０１によって画像データを読み取り、テストデータのファイル名又は当該ファイル名に関連した新ファイル名で通信部１０３を介して画像データを送信先に対して送信する。 - 特許庁

The system area comprises a test recording area where data are recorded on a trial basis to set optimal recording conditions for recording in the data area, a recording control information area where information necessary for recording user data in the data area is recorded, and a user data read-in area required for reproducing the optical disk medium where the user data are recorded.例文帳に追加

前記システム領域は、前記データ領域に記録するときの最適記録条件を設定するために試し記録されるテスト記録エリアと、前記データ領域にユーザデータを記録するために必要な情報が記録される記録制御情報エリアと、前記ユーザデータが記録された光ディスク媒体を再生するために必要なユーザデータリードインエリアとを備えている。 - 特許庁

A test controller 13 outputs pseudo-random data to a PLL circuit 12 for transmission, which generates a clock including random jitters, and a serializer 11 converts parallel transmission data Transmit Data into serial transmission data SO, by using the clock, and inputs the serial transmission data to a clock data recovery circuit 22 via a serial loop-back circuit 30 and a multiplexer 24.例文帳に追加

テストコントローラ１３から擬似ランダムデータを送信用ＰＬＬ回路１２に出力して、送信用ＰＬＬ回路１２でランダムなジッタを含んだクロックを生成し、シリアライザ１１でこのクロックを用いてパラレルの送信データＴｒａｎｓｍｉｔＤａｔａをシリアル送信データＳＯに変換し、シリアルループバック回路３０およびマルチプレクサ２４を経由してクロック・データリカバリ回路２２に入力する。 - 特許庁

A test data pattern is transmitted from the electronic circuit cards 130, 140 to the electronic circuit card 150 at the next stage while changing delay time of the variable delay elements 134, 144 in step to judge propriety of the test data pattern returned from the electronic circuit card 150 at the next stage via a loop return path.例文帳に追加

可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間を段階的に変えながら、試験データパターンを電子回路カード１３０、１４０から次段の電子回路カード１５０に送信し、次段の電子回路カード１５０からループリターンパスを経由して返信された試験データパターンの正否を判定する。 - 特許庁

Pattern information generated by a printed circuit board diagnostic program, test program information and test jig production information are converted into data having the mutual relation to be correlated by the program, because they are single data respectively, to be displayed on a display 3 using a trouble analyzer.例文帳に追加

プリント回路基板診断プログラムが生成するパターン情報、テストプログラム情報、テスト治具製造情報は各々単体のデータであるため、これに相互関係を持つデータに変換しプログラムのより関連付けを行い、故障解析装置を用いてディスプレイ３へ表示する。 - 特許庁

Then, a protocol serial number assigned by regulation of the transmission standard is held when the data received by the simulator 100 for a test is held, and the held respective data is transmitted in order following the held protocol serial number when the simulator for a test performs simulation to the course control device.例文帳に追加

そして、試験用シミュレータ１００で受信したデータを保持する際に、伝送規格の規定で付与されたプロトコル通番を保持し、試験用シミュレータが進路制御装置に対してシミュレーションを行う際に、保持したプロトコル通番に従った順序で、保持した各データを送信するようにした。 - 特許庁

To provide a medical information providing method for collectively storing test result data including patient attribute information or test attribute information or the like acquired in a plurality of medical facilities in a data center, and for providing various medical information to each medical facility based on the information.例文帳に追加

複数の医療施設において得られた患者属性情報や検査属性情報等を含む検査結果データをデータセンターに一括して保管し、これらの情報に基づいて各医療施設に対して各種の医療情報を提供することができる医療情報提供方法を提供する。 - 特許庁

The same test data are inputted into a plurality of identical functional blocks 2a, 2b, 2c from a test data input terminal 5, and an identical functional block 2a is operated by a low-frequency clock signal, and the residual identical functional blocks 2b, 2c are operated by a high-frequency clock signal.例文帳に追加

複数の同一機能ブロック２ａ、２ｂ、２ｃに対して、テストデータ入力端子５から同一のテストデータを入力し、一つの同一機能ブロック２ａを低周波数クロック信号で動作させ、その残りの同一機能ブロック２ｂ、２ｃを高周波数クロック信号で動作させる。 - 特許庁

Layout polygonal data forming the test pattern is created, and informations on a design rule identifier, a check sort of rule, a check value, a fine adjustment range of check pattern, and steps are added to an edge of a counterpart as a checking object of polygonal data within a predetermined range, thereby, the correct test pattern can be formed.例文帳に追加

テストパターンを構成するレイアウトのポリゴンデータを作成し、そのポリゴンデータのチェック対象となる対のエッジに、デザインルール識別子、ルールのチェック種別、チェック値、チェックパターンの微調整範囲およびステップの情報を、所定の範囲内で順次付加させていくことで正しいテストパターンを生成する。 - 特許庁

First, a tentative optimal recording power is set up matching the recording linear velocity, then test data are recorded in the APC area by increasing or decreasing the tentative optimal recording power by a small amount, and the optimal recording power is set up based on the β value and the like obtained by reproducing the test data.例文帳に追加

記録線速度に応じた仮の最適記録パワーを設定し、仮の最適記録パワーを微小量だけ増減させた記録パワーでＡＰＣ領域にテストデータを試し書きし、テストデータを再生して得られるβ値などに基づいて最適記録パワーを設定する。 - 特許庁

Every time when the input section 32 of the abnormality detection system performs a test for a plurality of semiconductor products, positional information data 15 of each semiconductor product on a wafer is inputted from a wafer prober and specified test results data 25 for the semiconductor product is inputted from an LSI tester 20.例文帳に追加

異常検出システム３０の入力部３２が、複数の半導体製品の試験を行う毎に、各半導体製品のウェーハ上における位置情報データ１５をウェーハ・プローバーから入力し、この半導体製品に対する所定の試験結果データ２５をＬＳＩテスタ２０から入力する。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit for performing an input/output test of data is provided with a sense amplifier detecting a level of input data and a sense amplifier controller for blocking a signal path between the sense amplifier and a memory cell when a test mode signal is activated.例文帳に追加

本発明は、データの入出力テストを行うするための半導体集積回路において、入力されたデータのレベルを検出するセンスアンプと、およびテストモード信号が活性化されたとき、前記センスアンプからメモリセルに達する信号経路を遮断するセンスアンプコントローラを備える。 - 特許庁

The CRC computation of ATIP data obtained from a pregroove data formed in an optical disk 1 is carried out by an ATIPCRC computation circuit 9 during the test recording in a recording power test region of the optical disk 1 and a CPU 13 stores an address (error detecting address) where an error occurs into a memory 15.例文帳に追加

光ディスク１の記録パワーテスト領域でのテスト記録中に、光ディスク１に形成されたプリグループから得られるＡＴＩＰデータのＣＲＣ演算をＡＴＩＰＣＲＣ演算回路９により行い、ＣＰＵ１３はエラーが発生したアドレス（エラー検出アドレス）をメモリ１５に記憶する。 - 特許庁

When it is judged that the top read unit 1081 has read the test chart recording surface, the top read data are sampled and when it is judged that the reverse read unit 1,082 has read the test chart recording surface, the reverse read data are sampled.例文帳に追加

そして、表面読み取り部１０８１がテストチャート記録面を読み取っていたと判定した場合、表面読み取りデータのサンプリング処理を行い、裏面読み取り部１０８２がテストチャート記録面を読み取っていたと判定した場合、裏面読み取りデータのサンプリング処理を行う。 - 特許庁

A semiconductor test device 100 determines pass/fail by applying a test signal from a data generator 12 to a DUT 40 and comparing the output signal and an expected value at a comparator 51, and improves testing efficiency by performing burst transfer of the fail data obtained at this time to a collection memory 18.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、データジェネレータ１２からＤＵＴ４０に対して試験信号を印加し、その出力信号と期待値とをコンパレータ５１で比較してパス／フェイルを判定するが、このとき得られるフェイルデータを収集メモリ１８にバースト転送して試験効率を向上する。 - 特許庁

The test executing operation function acquires a component (symbol) by using an identifier of a monitoring data to be selected by an interface 5 and a key 6, and updates the display data of the component (symbol) 4 for the monitoring screen for operation confirmation (changes display according to a test executing operation).例文帳に追加

試験実施操作機能は、動作確認用監視画面について、インタフェース５とキー６によって選択する試験対象の監視データの識別子を利用して部品（シンボル）を取得し、部品（シンボル）４の表示データを更新する（試験実施操作に応じて表示変化を行わせる）。 - 特許庁

Test operation of a semiconductor memory is performed based on an internal clock signal of a high frequency other than an external clock signal, one part of data of a test result obtained synchronizing with the internal clock signal is selected, and the selected data is given to a tester device synchronizing with the external clock signal.例文帳に追加

この発明は、外部クロック信号よりも高周波の内部クロック信号に基づいて半導体記憶装置のテスト動作を実施し、内部クロック信号に同期して得られたテスト結果のデータの一部を選択し、選択したデータを外部クロック信号に同期してテスタ装置に与えて構成される。 - 特許庁

Thus, since the test data containing at least one 14T mark are recorded in an optical disk, when the test data are reproduced during the setting of optimal recording power, at least one longest mark is contained, even at any recording power, and the target value of an running OPC is surely set.例文帳に追加

これにより、少なくとも１つの１４Ｔマークを含むテストデータを光ディスクに記録するので、最適記録パワーを設定する際にテストデータを再生すると、どの記録パワーにおいても最長マークが少なくとも１つは含まれており、ランニングＯＰＣの目標値を確実に設定できる。 - 特許庁

The IC card analyzes the command (606), and operates the command processing of the data writing test (607), and repeats data writing/reading/comparison judgment from a start address to an end address (608-613), and transmits only a final test result to an IC card tester (614).例文帳に追加

ＩＣカードは、コマンドを解析し（６０６）、データ書き込み試験のコマンド処理を行い（６０７）、開始アドレスから終了アドレスまでのデータ書き込み／読み出し／比較判定を繰り返し（６０８〜６１３）、最終的な試験結果のみをＩＣカードテスタに対して送信する（６１４）。 - 特許庁

At a request from a terminal device 1973, the transmission device 1970 sends a request to transfer the specific contents data for test viewing to the terminal device 1971 and the specific contents data for test viewing are transferred from the terminal device 1971 to the terminal device 1973.例文帳に追加

端末装置１９７３からの要求に応じて、送信装置１９７０は、端末装置１９７１に上記所定の試し視聴用のコンテンツデータの転送要請を出し、端末装置１９７１から端末装置１９７３に上記所定の試し視聴用のコンテンツデータが転送される。 - 特許庁

The LMP control unit 13 on the downstream side OXC node is designed to select one of data channels of the optical reception IF unit 17, and to control the O/E-converting unit 15 and the control signal terminating unit 14 to be each transmitted the test message to be received through the selected data channel.例文帳に追加

一方，下流側ＯＸＣノードのＬＭＰ制御部１３は，光受信ＩＦ部１７のデータチャネルの１つを選択し，選択したデータチャネルにより受信されるTestメッセージがＯ／Ｅ変換部１５および制御信号終端部１４に与えられるように制御する。 - 特許庁

The high precision LUT49B is used at a proofreading control section 82 for creating a newest LUT at an LUT creating section 88 based on reference data from a test pattern memory 84 and measurement data (from a read data memory 86), i.e. measurement of that print.例文帳に追加

高精度ＬＵＴ４９Ｂは、校正制御部８２において、テストパターンメモリ８４から基準データとそのプリントの計測結果である計測データ（読取データメモリ８６）からＬＵＴ生成部８８で最新のＬＵＴが生成される。 - 特許庁

To propose buildup of a data management system where a plurality of POS terminals and a shop server are interconnected by a private communication channel by which a channel test at data transfer and backup of data are efficiently conducted.例文帳に追加

データ転送時の回線試験およびデータのバックアップを効率的に行う複数のＰＯＳ端末装置と店舗サーバ装置を構内通信回線で通信接続したデータ管理システムの構築を提案することを目的とする。 - 特許庁

To obtain accurate data as data becoming a reference for judging whether or not a density of a printed image reaches a desired level and to reduce manufacturing cost of a test chart for obtaining the data.例文帳に追加

印刷された画像の濃度が所望の程度に達しているか否かを判断する際の基準となるデータとして正確なデータを取得しつつも、そのデータを取得するためのテストチャートの製造コストを低減できるようにする。 - 特許庁

Based on the image processing conditions, a determination section 13a of an image data management section 13 separates a plurality of 2-dimensional image data into one or different categories (series) and registers them to a test, and stores them in an image data memory 14.例文帳に追加

画像データ管理部１３の判断部１３ａは画像処理の条件に基づいて、複数ある２次元画像データを同一の又は異なる分類（シリーズ）に区分けして検査に登録し、画像データ記憶部１４に保存する。 - 特許庁

When a test request detecting part 130 of the encryption equipment 101 detects the preparation request, a data format shaping part 131 prepares a certificate obtained by shaping a data format in accordance with a data format of a certification of its own authentication organization.例文帳に追加

暗号装置１０１の試験要求検出部１３０が作成要求を検出すると、データ形式整形部１３１が自己の認証機関の証明書のデータ形式に合わせて、データ形式を整形した証明書を作成する。 - 特許庁

At least one circuit component can be tested independently of other circuit components, and data are not outputted into a bus during a test and/or other data are outputted into the bus instead of data outputted into the bus in usual operation.例文帳に追加

少なくとも１つの回路コンポーネントは他の回路コンポーネントとは独立にテスト可能であり、テスト中はデータはバスへは出力されず、および／または通常動作中バスへ出力されるデータに代えて別のデータがバスへ出力される。 - 特許庁

According to the operation of the image forming device, it is determined at a step 400 whether or not print data for printing the test pattern are inputted, and if the print data are inputted, it is determined at a step 402 whether or not a yellow head 12Y is driven from the print data.例文帳に追加

ステップ４００で、テストパターンを印字するための印字データが入力されたか否かを判断し、印字データが入力されると、ステップ４０２で、印字データに基づいてイエローヘッド１２Ｙが駆動されるか否かを判断する。 - 特許庁

Consequently, the API test control part 120 displays a candidate API list expressing the API to be the succeeding performance candidate, based on the order data, and determines the input data of the API to be successively performed, based on the relation data.例文帳に追加

これにより、ＡＰＩテスト制御部１２０は、順序データに基づいて次の実行候補となるＡＰＩを表す候補ＡＰＩリストを表示し、更に関連データに基づいて次に実行するＡＰＩの入力データを決定する。 - 特許庁

The changeover device 107 selectively outputs the input data signal when the continuity confirmation circuit 106 detects the input data signal or the test signal when the circuit 106 detects no input data signal from its output terminal.例文帳に追加

この切替え器１０７は、導通確認回路１０６によって入力データ信号が検出された場合は入力データ信号を、入力データ信号が検出されない場合はテスト信号を、出力端から選択的に出力する。 - 特許庁

The input data holding portions 22-0 to 22-k and the output data holding portions 41-0 to 41-k are connected in series alternately with the input data holding portion 22-0 arranged at the top, and a value held by one of the plurality of output data holding portions is transmitted to an input data holding portion in its subsequent stage as a scan test value.例文帳に追加

入力データ保持部２２−０〜２２−ｋと、出力データ保持部４１−０〜４１−ｋとは、入力データ保持部２２−０を先端として交互に直列に接続され、複数の出力データ保持部の一つが保持する値は、スキャンテスト値として後段の入力データ保持部へ伝送される。 - 特許庁

The data control unit 4 outputs the parallel data inputted to the plurality of terminals DQ0 to DQ3 to the plurality of drive units SA0 to SA3 in the normal operation mode, and converts the serial data inputted to the terminal DQ0 to parallel data and outputs the parallel data after conversion to the plurality of drive units SA0 to SA3 in the test mode.例文帳に追加

データ制御部４は、通常動作モードでは、複数の端子ＤＱ０〜ＤＱ３に入力されたパラレルデータを、複数の駆動部ＳＡ０〜ＳＡ３に出力し、テストモードでは、端子ＤＱ０に入力されたシリアルデータを、パラレルデータに変換し、変換後のパラレルデータを、複数の駆動部ＳＡ０〜ＳＡ３に出力する。 - 特許庁

A write register 23 which holds test data corresponding to each data input terminal, and a selector 24 which selects, according to each register write command inputted twice from outside, contracted data inputted to the data input terminals in common and supplies to the write register 23 at each corresponding data input terminal are provided.例文帳に追加

データ入力端子各々に対応するテストデータを保持するライトレジスタ２３と、外部から２回入力されるレジスタライトコマンド各々に応じて、データ入力端子へ共通に入力される縮約データを選択し、ライトレジスタ２３へ、対応するデータ入力端子毎に供給するセレクタ２４を備える。 - 特許庁

The pattern data generator generating a test pattern based on register data forming a pattern comprises means for setting the register data forming a pattern being generated, and means for generating pattern data based on the register data set by the setting means.例文帳に追加

本発明のテストパターンの生成装置は、パターン作成用のレジスタデータに基づいてパターンデータを生成する装置であって、生成しようとするパターンの作成用のレジスタデータの設定手段と、上記設定手段により設定したレジスタデータに基づいてパターンデータを生成するパターンデータ生成手段とで構成されることを特徴とする。 - 特許庁

On the other hand, in the fine mode, a parallel-serial conversion circuit 130 converts compression data TD01 and TD23 obtained by compressing every 2 bits (TD0, TD1 and TD2, TD3) of the test output data of the plurality of bits to one bit into one piece of serial data and then sequentially outputs the one piece of serial data as data DQ0.例文帳に追加

一方、ファインモードでは、複数ビットのテスト出力データの２ビット毎（ＴＤ０，ＴＤ１およびＴＤ２，ＴＤ３）を１ビットに圧縮した圧縮データＴＤ０１およびＴＤ２３を、パラレルシリアル変換回路１３０によって１シリアルデータに変換した上で、データＤＱ０として順次出力される。 - 特許庁

The simulator 100 for a test receives site equipment condition data, interlocking logic part condition data, and abnormal information data from a logic interlocking part 12 via the transmission path of transmission standard; holds the received respective data; and performs transmission processing for transmitting the held respective data to a course control device 13.例文帳に追加

試験用シミュレータ１００として、論理連動部１２から、現場機器状態データと連動論理部状態データと異常情報データを伝送規格の伝送路を介して受信し、その受信した各データを保持して、保持された各データを進路制御装置１３に送信する送信処理を行う構成とする。 - 特許庁

To check the display operation of a display unit in detail, based on test display data stored beforehand in a performance image memory device.例文帳に追加

演出画像記憶装置に予め記憶させておいたテスト表示データに基づいて表示器の表示動作を詳細にチェックすることができる。 - 特許庁

The prediction model organizer 10 organizes a test result prediction model to be constituted as neural network through the use of the inputted data.例文帳に追加

予測モデル構築部１０は、入力されたデータを用いることによって、ニューラルネットワークとして構成されるテスト結果予測モデルを構築する。 - 特許庁

In addition, when generating data for changing an expectation value, the main control section changes the test value depending on detection of a detection object control command after that.例文帳に追加

また、主制御部は期待値変更用データを生成すると、その後検出対象制御コマンドの検出に応じて検査値を変更する。 - 特許庁

To provide a shading data inspection method capable of detecting lines with a similar margin, even near the center region and the end parts of a test chart.例文帳に追加

中央付近でも端の部分でも同じようなマージンで線の検出を行うことが可能なシェーディングデータ検査方法を提供する。 - 特許庁

To make a flash memory, etc., of multiple bit configuration a basic element and to reduce test cost of a memory card performing an input-output operation of data in one-bit unit.例文帳に追加

多ビット構成のフラッシュメモリ等を基本素子とし、１ビット単位でデータの入出力動作を行うメモリカードの試験コストを低減する。 - 特許庁