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testingを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 14414



例文

16.3. A person, who provided assistance in working of technical documentation, financing or testing of the invention, industrial design or utility model, or in filing an application for the invention, industrial design or utility model shall not be regarded as a co-author.例文帳に追加

16.3. 発明、意匠若しくは実用新案の技術書類作成、資金調達若しくは試験における作業、又は発明、意匠又は実用新案の出願における作業の補助をする者は、何人も共同研究者とみなしてはいけない。 - 特許庁

To provide a brain function measuring method and system improving a reliability of a brain function activity measurement using a computerized management and testing as if it were a game without giving the elderly mental pain and stress.例文帳に追加

本発明は、コンピュータ管理を用いて、脳機能活性度計測の信頼性を高めると共に、高齢者に精神的苦痛とストレスを与えずに、ゲーム感覚でテストできる脳機能計測方法及び脳機能計測システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a real time automatic monitoring control system for an artificial satellite test capable of performing data evaluation on a real time basis and improving safety/reliability for a ground test without requiring personnel involved in the ground test to go to the execution place for testing.例文帳に追加

地上試験に関わる人員が試験実施場所に赴むくことなく、リアルタイムでのデータ評価を行い、地上試験の安全性/信頼性の向上を図ることが可能な人工衛星試験リアルタイム自動監視制御システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of testing whether data read out of a memory cell are correct and whether there is a deviation between the timing where the data are read out of the memory cell and outputted to the outside and the timing where a WAIT signal is canceled.例文帳に追加

メモリセルから読出されたデータが正しく、かつメモリセルからデータが読み出されて外部に出力されるタイミングとWAIT信号が解除されるタイミングとの間にずれがないかのテストを可能とする半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

例文

For this apparatus, the surface of the substrate can be tested by comparing an image image formed by the secondary electron beam with the picture image stored beforehand, or by testing the pattern line width of the patterns on the surface of the substrate, based on the secondary electron beam.例文帳に追加

この装置では、2次電子線に基づき形成される画像を予め記憶した画像と比較したり、基板表面のパターンのパターン線幅を2次電子線に基づき検査することにより、基板表面の検査をすることができる。 - 特許庁


例文

Further, in the glossy paper constituted by providing a gloss developing layer at least on one side of a sheetlike base material, "the friction force measured under a specific condition using the abrasion testing machine" of the surface of the gloss developing layer is 2.5 gf or below.例文帳に追加

また、本発明の光沢紙は、シート状の基材の少なくとも片面に光沢発現層を有する光沢紙において、該光沢発現層の表面の「上記摩耗試験機を用いて特定条件下で測定した摩擦力」が2.5gf以下である。 - 特許庁

The structure testing machine for applying a load repeatedly on a specimen includes a hydraulic cylinder for applying the load repeatedly on the specimen, and a connection part including a swivel joint for connecting a cylinder rod and the specimen, and between a cylinder tube and a reaction wall, respectively.例文帳に追加

供試体に繰り返し負荷を与える構造物試験機は、供試体に繰り返し負荷を与える油圧シリンダと、シリンダロッドと供試体との間、およびシリンダチューブと反力壁との間をそれぞれ連結するスイベルジョイントを含む連結部とを備えている。 - 特許庁

To prevent the decrease of a data transfer speed depending upon a test data bus for single-DRAM-part evaluation and to suppress an increase in the number of pads for testing the single DRAM part as to the semiconductor storage device having an MPU and a secondary cache DRAM on one chip.例文帳に追加

MPUと2次キャッシュ用DRAMとを1チップ化した半導体記憶装置において、DRAM部単体評価のためのテスト用データバスに基づくデータ転送速度の低下を防止し、DRAM部単体テスト用のパッド数の増加を抑制する。 - 特許庁

Then, the results of the determination by the test result determination means 1c are correlated with the hash values 7 transmitted from the server 3 for testing by a test result recording means 1e to store them, as the test execution log 1g, in a test execution log storage means 1f.例文帳に追加

そして、テスト結果記録手段1eにより、テスト結果判定手段1cによる判定結果とテスト用サーバ3から送信されたハッシュ値7とが関連づけられ、テスト実施ログ1gとしてテスト実施ログ記憶手段1fに格納される。 - 特許庁

例文

To provide an energizing mechanism for opening and closing a gate valve between a sample exchange chamber (auxiliary exhaust chamber) for mounting and removing a sample and a sample chamber in a device such as a testing device, a machining device or a plotting device using a charged particle beam.例文帳に追加

荷電粒子ビームを用いた検査装置、加工装置あるいは描画装置等の装置において、試料を装・脱着するための試料交換室(予備排気室)と試料室との間のゲート弁等の開閉のための増力機構を提供する。 - 特許庁

例文

Wheels 17 are attached to a body 15 of a truck for a vehicular collision test collided with a testing vehicle relatively in a prescribed direction and a prescribed speed, with an interposed suspension device 20 provided with a suspension spring and a damper.例文帳に追加

試験車両に対して相対的に所定方向および所定速度にて衝突させる車両衝突試験用台車の車体15に、サスペンションスプリングおよびダンパーを具備するサスペンション装置20を介在させて車輪17を装着した。 - 特許庁

This cleaning sheet is constituted by providing a cleaning layer substantially having no adherence and having ≥0.98 N/mm2 elastic modulus in tension (according to testing method JIS K7127) on a support, or by providing, moreover, a normal adhesive agent layer on the other side surface.例文帳に追加

支持体に、実質的に粘着性を有さずかつ引張弾性率(試験法JIS K7127に準ずる)が0.98N/mm^2以上のクリーニング層が設けられてなる、又はさらに他面に通常の粘着剤層が設けられてなるクリーニングシートである。 - 特許庁

A control system 10 of a feedback control type material-testing machine is provided with signal-processing parts 134, 234, and 334 for generating an actuator drive signal according to an error signal Ee0 in its control loop, and the signal-processing parts include integral elements.例文帳に追加

フィードバック制御式材料試験機の制御系10は、その制御ループ中に、誤差信号Ee0に従ってアクチュエータ駆動信号を発生する信号処理部134、234、334を有し、それら信号処理部は、積分要素を含んでいる。 - 特許庁

To improve the arithmetic precision of an equivalent operation in a control amplifier equivalence testing device for performing the same action as that at the time of driving an induction motor by a VVVF inverter, and for outputting an equivalent electric signal to the control amplifier of a VVVF inverter.例文帳に追加

VVVFインバータで誘導電動機を駆動する時と同じ作用を行い、等価な電気信号をVVVFインバータの制御アンプに出力する制御アンプ等価試験装置において、等価動作の演算精度を向上させる事にある。 - 特許庁

In a control method in a material testing device, a material test piece 1 is housed in a chamber 2, and the pressure in the chamber is made higher than atmospheric pressure and compression load is applied to the material test piece by a compression actuator 9.例文帳に追加

材料試験装置における制御方法は、材料試験片(1)をチャンバー(2)内に収納するとともに、チャンバー内の圧力を大気圧よりも高くし、かつ、前記材料試験片に圧縮用アクチュエータ(9)で圧縮荷重を加えている。 - 特許庁

In testing an LED control section 26, analog switches 36 to 43 are switched on/off, and input/output operation functions of an input/output circuit 56 are invalidated, and a connection path from external terminals 4, 5 to the LED control section 26 is formed.例文帳に追加

LED制御部26をテストする場合、アナログスイッチ36〜43のオンオフを切り換えるとともに、入出力回路56の入出力動作機能を無効化し、外部端子4、5からLED制御部26までの接続経路を形成する。 - 特許庁

iv) Description of flight and date and time of the relevant flight (Flight altitude in the civil training and testing area as well as the planned time to enter the civilian training and test air space and the planned time to leave the relevant air space shall be clarified. 例文帳に追加

四 飛行の内容及び当該飛行を行う日時(民間訓練試験空域における飛行高度並びに民間訓練試験空域への入域の予定時刻及び当該空域からの出域の予定時刻を明らかにすること。) - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 11 (1) A person who intends to import a Class I Specified Chemical Substance shall obtain permission from the Minister of Economy, Trade and Industry; provided, however, that this shall not apply to the case where a person intends to import a Class I Specified Chemical Substance for testing and research purposes. 例文帳に追加

第十一条 第一種特定化学物質を輸入しようとする者は、経済産業大臣の許可を受けなければならない。ただし、試験研究のため第一種特定化学物質を輸入しようとするときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a supplementary device for blood testing which is applicable to a plurality of uses, such as avascularization during blood sampling and stanching after blood sampling, or the like, and can perform above such operations quickly and appropriately while a subject is prevented from suffering from undesirable pains during blood sampling as much as possible.例文帳に追加

採血の際に被検者に不快な痛みが与えられてしまうことを極力抑えつつ、この採血時の駆血及び採血後の止血等、複数の用途で利用でき、しかもその処理を迅速且つ好適に行えるようにする。 - 特許庁

When the control data for checking data are set, the testing data stored in data ROMs 124-1 to 3 are read out to check to see whether the data ROMs 124-1 to 3 are placed at the correct positions using the read out data and the data for confirmation.例文帳に追加

データチェック用の制御データが設定されると、データROM124−1〜3に記憶されたテストデータが読み出され、これと確認用データとを用いて、データROM124−1〜3が正しい位置に搭載されているか否かをチェックする。 - 特許庁

To provide an inserting/ejecting technique of connectors, an inserting/ejecting device of connectors, and a testing device of circuit substrate using the inserting/ejecting device of connectors, all capable of inserting/ejecting the connectors in more easy and more correct fashion, while attempting exact maintenance of wiring material (cable).例文帳に追加

配線材(ケーブル)の的確な保全を図りつつ、コネクタの着脱をより容易に、しかもより正確に行うことのできるコネクタ着脱方法及びコネクタ着脱装置及び該コネクタ着脱装置を用いた回路基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To make easily and quickly detectable a critical magnetic defect without destroying information after transfer processing in the case of the testing of a magnetic disk having a magnetic information containing track information recorded beforehand by a magnetic transfer system.例文帳に追加

トラック情報を含む磁気的情報が磁気転写方式により予め記録される磁気ディスクを試験するに当たり、転写処理後の情報を破壊することなく、重大な磁気的欠陥を簡単かつ迅速に検出し得るようにする。 - 特許庁

The thin film stripping test method and the apparatus use a method for testing and beating the test piece (3) having the thin film (3b) formed on one surface and fixed to a support table (15) on the side (3D) opposite to the thin film by using the mass element (14) such as the hammer etc.例文帳に追加

本発明による薄膜剥離試験方法および装置は、一表面に薄膜(3b)が形成され支持台(15)に固定された試験片(3)の反薄膜側(3D)を質量体(14ハンマ等)により打撃して試験する方法である。 - 特許庁

The sealant composition has a performance that the sealant composition forms a substantially non-damaged cured product, in a curing test which comprises charging the sealant composition into a joint disposed in a testing machine for giving movements to the joint and then gives one or more cycle movements to the joint a day.例文帳に追加

このシーリング材組成物は、目地に対してムーブメントを与える試験機に設けた目地に充填後、1日に1サイクル以上のムーブメントを目地に与える硬化試験において、実質的に損傷のない硬化物となる性能を有する。 - 特許庁

After recording the test data in each of the sectors, a value for a filter factor of an FIR filter arranged in a data reproduction system is changed from the optimal value, frequency gain is reduced, the testing data is reproduced, and the sector in which the reproduction failure occurs is registered as the defect.例文帳に追加

各セクタに試験データを記録したあと、データ再生系に設けたFIRフィルタのフィルタ係数の値を最適な値から変更して周波数利得を低下させて試験データを再生し、再生エラーが発生したセクタを欠陥登録する。 - 特許庁

A measuring unit 2 for detecting the soil condition by contacting with the field side of a soil condition-testing system attached to a traveling machine body 1 is supported to be slidable in the cross direction to the traveling direction of the traveling machine body 1 by a support mechanism 50.例文帳に追加

走行機体1に取り付けられた土壌状態測定システムの圃場側との接触によって土壌状態を検出する測定部2を、走行機体1の走行方向に交差する方向に支持機構50によってスライド自在に支持した。 - 特許庁

In this testing device, a center hole jack 16 is set on the lower side of a hollow pipe material 10, and a tensile force is applied to the hollow pipe material 10 to measure the drawing adhesion resistance between the pipe material 10 and a hardened hardenable material 12 hardened and adhered thereto.例文帳に追加

試験装置は、中空管体10の下端側に、センターホールジャッキ16を設置して、中空管体10に引張り力を加えて、中空管材10と、硬化付着された硬化性物質12との間の引抜き付着抵抗を測定する。 - 特許庁

A connecting structure 10 is irradiated from one side by a light emission part 4 so that a testing light passes through both sides of respective electrode plates 11 of the connecting structure 10 of which, the plurality of electrode plates 11 are vertically jointed to a current collection plate 12.例文帳に追加

複数枚の極板11が集電板12に垂直に接合された連接構造体10の各極板11の両側を検査光が通過するように、連接構造体10を一方の側から照明部4により照明する。 - 特許庁

A light assembly comprises a light source, an optically transmissive self-supporting substrate, and coupled with but unattached to the substrate, a voided high Tg semi-crystalline polymeric optical diffuser film that shrinks less than 1% as a result of thermal shrinkage testing.例文帳に追加

光源、光学的透過性の自己支持性基体、及び、基体と一体にされるが付着しておらず、熱収縮試験の結果として1%未満で収縮するボイドを含む高Tg半結晶ポリマー光学ディフューザーフィルムを備える光アセンブリ。 - 特許庁

To provide an operation control method and a device which is provided with a semiconductor switching means for low-voltage load, capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた低圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

With this, by a simple operation of plugging in the change-over plug into the bridge connector, the connection of the second electronic part and the first electronic part is cut off, and at the same time, a third electronic part such as a testing device can be connected there with the second electronic part.例文帳に追加

これによって、切替えプラグをブリッジコネクタに差し込む簡単な操作により、第2の電子部と第1の電子部との接続を切り離すと共に、そこに試験装置などの第3の電子部を第2の電子部と接続することができる。 - 特許庁

To solve the problem that in testing an application running asynchronously to a unit test tool by use of the unit test tool, the application cannot be accurately tested since the application is tested by the unit test tool asynchronously with completion of the application.例文帳に追加

単体テストツールを用いて単体テストツールとは非同期で動作するアプリケーションのテストを行う場合、単体テストツールでテストの合否を判断するタイミングとアプリケーションの動作完了のタイミングが一致しないため、正しく合否判定ができないこと。 - 特許庁

When a person in charge of a building site operates an input part 52 of the acceptance-testing terminal device 5 to perform reading operation of the IC tag, the control part 51 reads data recorded in the IC tag embedded in the building member used in a building.例文帳に追加

建築現場の担当者が検収用端末装置5の入力部52を操作してICタグの読み取り操作を行うと、制御部51は、建築物に使用された建築部材に埋め込まれたICタグに記録されたデータを読み取る。 - 特許庁

This IC socket for mounting detachably a device to be measured on a test board is equipped with a signal generation part for a test for generating a signal for the test based on a control command from a testing device body, and outputting it to the device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスをテストボード上に着脱自在に実装するICソケットにおいて、試験装置本体からの制御指令に基づいて試験用信号を発生して被測定デバイスに出力する試験用信号発生部を備える。 - 特許庁

In this carry-testing medium 10, the surface of a base material 11 is formed with an electroconductive layer 12, and the surface of the electroconductive layer 12 is formed with a geometric pattern by two kinds of ink, i.e., a high-friction ink material 13 and a low-friction ink material 14.例文帳に追加

搬送テスト用媒体10は、基材11の表面に導電層12が形成され、さらに動電層12の表面に高摩擦インク材13と、低摩擦インク材14との2種類のインクで幾何学的模様が形成されている。 - 特許庁

Data generators 104A, 104B, 104C for testing a CAM are inserted between an APG 101 for RAM and CAM-macros 105A, 105D, 105E, write-in data of the CAM-macros is generated from an address signal 12 directly or by decoding.例文帳に追加

RAM用APG101とCAMマクロ105A,105D,105Eの間にCAMテスト用データジェネレータ104A,104B,104Cを挿入し、アドレス信号12から直接、あるいはデコードしてCAMマクロの書き込みデータを生成する。 - 特許庁

In addition, a pair of bearing housings are fixed on a bearing support member, and a load sensor for measuring force transmitted from the tires of the vehicle to the flat belt mechanism is arranged between a base of the travelling testing device for the vehicle and the bearing support member.例文帳に追加

また、上記一対の軸受のハウジングは軸受支持部材に固定され、車両のタイヤからフラットベルト機構に伝達される力を計測する荷重センサは、車両用走行試験装置のベースと軸受支持部材との間に配置される。 - 特許庁

In this embodiment, a balance merit grade of G 100 or less based on JIS B0905, is set to a rotary body, for example, an input shaft, a disc and a power roller for constituting the toroidal continuously variable transmission, by using, for example, a balance testing machine 200.例文帳に追加

本発明の実施形態では、例えば釣合い試験機200を用いて、トロイダル型無段変速機を構成する回転体、例えば入力軸、ディスク、パワーローラに対してJIS B0905に基づくG100以下の釣合い良さ等級を設定している。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus reads out all of the 5-bit from a one-time readout, from the storage positions of data storage sections 108a, 108b and 108c according to the constraint of the readout with a data arithmetic section 110 and performs determination processing of data with a determining section 111.例文帳に追加

そして、データ演算部110により読み出しの制限に従ってデータ格納部108a,108b,108cの格納位置から1回の読み出しで5ビット全てのデータを読み出し、判定部111によりデータの判定処理を行う。 - 特許庁

To enable temperature of cooling water inside a pipe fitting 6 connected to an inlet or an outlet of a radiator to be measured by equalizing a temperature distribution of the cooling water and to reduce a water flow resistance inside the pipe fitting 6 as low as possible in testing a cooling performance of the radiator.例文帳に追加

ラジエータの冷却性能試験において、ラジエータの出入口に接続される配管6内の冷却水の水温分布を均一にして水温を測定することができ、かつ、この配管6内の通水抵抗を極力低くする。 - 特許庁

Common functions or characteristics are defined by JIS (Japanese Industrial Standards), IOS-standards (International Organization for Standardization-standards) or IEC-standards (International Electro-technical Commission-standards), or determined quantitatively by testing or measuring methods provided in those standards. 例文帳に追加

標準的なものとは、JIS(日本工業規格)、ISO規格(国際標準化機構規格)又はIEC規格(国際電気標準会議規格)により定められた定義を有し、又はこれらで定められた試験・測定方法によって定量的に決定できるものをいう。 - 特許庁

A testing of yarns to test the accuracy of the description of count or length shall be made, in the first instance, up to the limit of one bundle in every one hundred bales or fractions of one hundred bales in a consignment.例文帳に追加

選択すべき見本の数番手又は長さについての表示の正確性を検査するための糸の試験については,第1試験段階において,託送品の各100梱包又は100梱包未満当たり1束を限度として,これを行わなければならない。 - 特許庁

Common functions or characteristics are defined by JIS (Japanese Industrial Standards), IOS-standards (International Organization for Standardization-standards) or IEC-standards (International Electro-technical Commission-standards), or determined quantitatively by testing or measuring methods provided in those standards. 例文帳に追加

標準的なものとは、JIS(日本工業規格)、ISO規格(国際標準化機構規格)又はIEC規格(国際電気標準会議規格)により定められた定義を有し、又はこれらで定められた試験・測定方法によって定量的に決定できるものをいう。 - 特許庁

The "working, functions, or characteristics" of the claimed inventions are found to be convertible to other working, functions, or characteristics specified by other definitions or testing or measuring processes, and it is found that the products of the cited inventions are considered to be identical to those of the claimed inventions from the results of the conversion. 例文帳に追加

請求項に係る発明の「作用、機能、性質又は特性」が他の定義又は試験・測定方法によるものに換算可能であって、その換算結果からみて同一と認められる引用発明の物が発見された場合。 - 特許庁

A semiconductor wafer is held so that probes can be brought into contact with both surfaces thereof, both surfaces of the semiconductor wafer are then heated, respectively, by a heater part and the probes are connected with both surfaces, respectively, thus testing semiconductor chips provided on the semiconductor wafer.例文帳に追加

両面にプローブを接触可能に半導体ウエハを保持し、この半導体ウエハの両面をそれぞれヒータ部により加熱し、この両面にそれぞれプローブを接続して当該半導体ウエハに設けられた半導体チップを試験する。 - 特許庁

To select and provide information of the optimum one out of plural kinds of test systems or test devices in response to requirement from a testing person, as to the information what test system, what test device or the like is required for a test of a semiconductor device or various kinds of electronic equipments.例文帳に追加

半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供すること。 - 特許庁

The floor material testing apparatus consists of a pair of test rods 2 for applying load to the floor material 1 and a test rod driving device 3 for moving a pair of the test rods 2 up and down alternately to apply load to the surface of the floor material 1 alternately by the leading ends of the test rods 2.例文帳に追加

床材1に荷重を加える一対の試験棒2と、一対の試験棒2を交互に上下させて試験棒2の先端で床材1の表面に交互に荷重を加えるようにした試験棒駆動装置3とから成る。 - 特許庁

Output of the write data DO 1 to 8 to the flash memory 1 is performed by using the input/output terminals IO 1 to 8 of the testing equipment 2, and the completion signal BUSY outputted from the flash memory 1 is monitored at the input/output terminal IO 9.例文帳に追加

フラッシュメモリ1に対する書込みデータDO1〜8の出力は、試験装置2の入出力端子IO1〜8を使って行い、入出力端子IO9ではフラッシュメモリ1から出力される完了信号BUSYを監視する。 - 特許庁

To provide a spraying corrosion testing device having a hermetically sealing structure by water, capable of preventing mist of corrosive liquid generated in a test tank from leaking to the outside of the test tank, and performing a test excellent in reproducibility and work efficiency in an energy saving state.例文帳に追加

試験槽内で生成させた腐食液のミストが前記試験槽外に漏洩するのを防止し、省エネルギーで、再現性と作業性の優れた試験ができる、水による密閉シール構造を具備した噴霧腐食試験装置を提供すること。 - 特許庁

例文

To provide a vertical load testing method for an existing pile performed for confirming support performance of a pile whether or not the existing pile used for an existing building can be reused as the pile for a new building when reconstructing the building.例文帳に追加

既存建物の建て替えに際し、既存建物の柱の直下に位置する既存杭を、新築建物の杭として再利用できるかどうか、同杭の支持性能を確認するために実施する既存杭の鉛直載荷試験方法を提供する。 - 特許庁




  
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日本法令外国語訳データベースシステム
※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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