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絶縁試験の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 250



例文

部分放電試験において、反射波や外部から入射される各種電磁波等の影響や、ステータコアから全周方向へ放射される電磁波の影響を受けずに、絶縁不良箇所を特定することが可能なステータの絶縁不良箇所特定装置および絶縁不良箇所特定方法を提供する。例文帳に追加

To provide an insulating failure spot locating device and an insulating failure spot locating method of a stator locating an insulating failure spot without being influenced by a reflected wave or various electromagnetic waves or the like entering from the outside or by an electromagnetic wave radiated in the whole circumferential direction from a status core, in a partial discharge test. - 特許庁

平均電界が5kV/mm〜20kV/mmの超低周波電圧を水トリー劣化したケーブルに10分〜100分課電して、絶縁破壊の有無を調べ、絶縁破壊したケーブルについて有害水トリーが発生したものと判定し、絶縁破壊しなかったケーブルについて、有害水トリーが存在せず試験によりAC残存性能が低下していないと判定する。例文帳に追加

Very low frequency voltage with average voltage field of 5 kV/mm to 20 kV/mm is charged to a cable degraded by water tree for 10 to 100 minutes to test breakdown and generation of harmful water tree is judged for the breakdown cable and no harmful water tree and no lowering of AC remaining performance are judged by the test for no breakdown cables. - 特許庁

酸素ドープ処理されたゲート絶縁膜、熱処理による脱水化または脱水素化処理された酸化物半導体膜を有するトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験(BT試験)前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減できており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。例文帳に追加

The transistor having a gate insulating film treated by oxide doping treatment and the oxide semiconductor film treated by dehydration or dehydrogenation treatment by heat treatment, can reduce the amount of change of a threshold voltage of the transistor even before and after a bias-thermal stress test(BT test), and have high reliability. - 特許庁

半導体装置10は、基板11と、基板に形成されたアンテナ用パッド12と、基板に形成された試験用パッド13と、アンテナ用パッド以外の試験用パッドを被覆するフィラー入りの絶縁樹脂層16と、アンテナ用パッド12上に設けられたバンプ14とを備えた構成とする。例文帳に追加

The semiconductor device 10 is equipped with a substrate 11, a pad 12 for an antenna which is formed on the substrate, a pad 13 for a test which is formed on the substrate, a filler-contained insulating resin layer 16 which covers the pad for the test other than the pad for the antenna, and a bump 14 provided on the pad 12 for the antenna. - 特許庁

例文

半導体ウェハの半導体集積回路素子に対し電気特性の試験を行い、その試験で不良であると判断された半導体集積回路素子の電極端子を絶縁性樹脂で覆ったのちにウェハバーンインを行い、半導体装置を製造すると、製造歩留まりが低下する場合があり、製造歩留低下を抑制するための半導体装置及び製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device and a manufacturing method thereof for suppressing a drop in yield in manufacture to overcome the problem that the yield in manufacture may drop in manufacturing a semiconductor device by performing wafer burn-in while covering with an insulating resin an electrode terminal of a semiconductor integrated circuit element determined to be defect by performing an electric characteristic test on the semiconductor integrated circuit element of a semiconductor wafer. - 特許庁


例文

酸素ドープ処理されたゲート絶縁膜、熱処理による脱水化または脱水素化処理された酸化物半導体膜を有するトランジスタは、バイアス−熱ストレス試験(BT試験)前後においてもトランジスタのしきい値電圧の変化量が低減できており、信頼性の高いトランジスタとすることができる。例文帳に追加

A transistor having a gate insulation film on which the oxygen dope processing is performed, and an oxide semiconductor film on which dehydration by heat treatment or dehydrogenation treatment is performed can reduce an amount of change of a threshold voltage of the transistor even before and after a bias-thermal stress test (BT test), and can be highly reliable. - 特許庁

チタン酸バリウム結晶粒子とチタン酸バリウムカルシウム結晶粒子とから構成される誘電体磁器を誘電体層とする積層セラミックコンデンサについて、高温負荷試験における時間変化に伴う絶縁抵抗の低下を抑制でき、還元処理を行っても高絶縁性の積層セラミックコンデンサを提供する。例文帳に追加

To provide a multilayer ceramic capacitor which can inhibit decrease in insulation resistance, accompanying the temporal variations in high-temperature load test and can keep high insulation, even if reduction treatment is carried out, in a multilayer ceramic capacitor which is constituted of a dielectric porcelain, constituted of crystal particles of barium titanate and crystal particles of barium calcium titanate as the dielectric layer. - 特許庁

UL燃焼試験に合格する高難燃性、耐ブリードアウト性、柔軟性、耐折性、密着性、可撓性、鉛フリーはんだ使用時の耐熱性、耐湿性、絶縁性に優れ、プリント配線板の層間絶縁樹脂やアルカリ水溶液で現像可能なソルダーレジスト等に好適な光硬化性・熱硬化性樹脂組成物を提供する。例文帳に追加

To provide a photocurable/thermosetting resin composition suitable for an interlaminar insulation resin of a printed wiring board, a solder resist developable by an aqueous alkali solution, or the like, having high flame retardancy passing a UL combustion test, and excellent bleeding out resistance, resilience, folding resistance, adhesion, flexibility, heat resistance at the use of lead-free solder, moisture resistance and insulating properties. - 特許庁

太陽電池モジュールの絶縁試験方法または装置において、電気伝導性を有する液体を吸水した吸水性の素材で太陽電池モジュールの一部または全部を覆い、該素材で覆われた太陽電池モジュールと該太陽電池モジュールの出力端子との間に電圧を印加し、該太陽電池モジュールの絶縁性能を検出するように構成する。例文帳に追加

In the insulation test method and apparatus for the solar battery module, part of or all the solar battery module is covered with a hydrophilic element that soaks an electrically conductive solution, and a voltage is applied between the solar battery module covered with the hydrophilic element and the output terminal of the solar battery module so that insulation performance of the solar battery module can be detected. - 特許庁

例文

ゲート絶縁膜の完全な絶縁破壊(ハードブレイクダウン)に相当する第1のクライテリアだけでなく、第2又は第3のクライテリアを設定することにより、極薄のゲート酸化膜のTDDB試験を全ゲート面積が10000μm^2 に達する半導体デバイス(チップ)に対しても、行なうことができる。例文帳に追加

Since second or third criterion is set as well as the first criterion corresponding to complete dielectric breakdown (hard breakdown) of a gate insulation film, TDDB test of an extremely thin gate oxide film can be performed even for a semiconductor device (chip) having a total gate area as large as 10000 μm^2. - 特許庁

例文

セラミックス基板に金属板を接合した絶縁回路基板を搭載するパワー半導体装置において繰り返し試験の信頼性に優れ、且つチップからヒートシンクにかけての熱抵抗の低減された半導体装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a power semiconductor device equipped with an insulating circuit substrate comprising a ceramic board to which a metal board is bonded, which withstands repeated tests to provide excellent reliability, and reduced thermal resistance from a chip to a heatsink. - 特許庁

容量絶縁膜が酸化アルミニウムを含むスタック型のキャパシタを備える半導体装置であって、BT試験の際の半導体装置の劣化を抑制し、リーク電流の増大を抑制できる半導体装置及びその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device equipped with a stacked capacitor whose capacitance insulating film contains an aluminum oxide and capable of suppressing the increase of a leak current by suppressing the deterioration of a semiconductor device upon BT testing, and to provide a manufacturing method of the semiconductor device. - 特許庁

絶縁性樹脂のコーティング工程を要することなく容易に製造でき、長期信頼性試験においてマイグレーションの発生を防止することのできる、ICパッケージに使用される両面プリント配線板の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a double-sided printed wiring board used for IC packages which is easily manufactured without needing the coating process of insulating resins, and avoids the occurrence of the migration in a long time reliability test. - 特許庁

機械的特性に優れるとともにUL−VW−1燃焼試験に合格するような非常に高度な難燃性を有し、生産性に優れ、例え燃焼したとしても燃焼時に有害なハロゲン系ガスを発生しない難燃性電気絶縁組成物を提供すること。例文帳に追加

To provide a flame-retardant electrically insulating composition which is excellent in mechanical characteristics, has such very high flame retardance as passing UL-VW-1 combustion test, is excellent in productivity, and does not produce an injurious halogen-based gas on combustion, for example, when burnt. - 特許庁

難燃性規格のUL subject 758の垂直燃焼試験(VW−1)に合格するような優れた難燃性を有すると共に優れた機械的特性とワイヤストリップ性とを発揮するノンハロゲン難燃絶縁電線を提供する。例文帳に追加

To provide non halogen flame retardant insulated electric wire which demonstrates excellent mechanical property and wire stripping, while having outstanding flame retardancy which passes the Test for Vertical Flame Spread (VW-1) of the Flame Retardant Standard UL subject 758. - 特許庁

簡易に製造することが可能な導電粒子であって、異方性導電接着剤を構成する導電粒子として用いられたときに、高い絶縁信頼性が得られるとともに、接続される電極同士の十分に高い導通性が吸湿試験後にも維持される導電粒子を提供すること。例文帳に追加

To provide a conductive particle that can be manufactured easily and that provides high insulation reliability when used as a conductive particle forming an anisotropic conductive adhesive, while also maintaining sufficiently high conductivity between electrodes connected together, even after a moisture absorption test. - 特許庁

絶縁層11上に形成された第1のメタル配線層12と、このメタル配線層の上に形成される第2のメタル配線層14とを備え、試験用プローブとの接触及び接続電極との接続に使用される接続パッド部を構成する。例文帳に追加

The connection pad part includes a first metal wiring layer 12 formed on an insulating layer 11 and a second metal wiring layer 14 formed on the above metal wiring layer, and is used for contact of the test probe and connection to the connection electrode. - 特許庁

内側クラフト紙層6の厚さを、油浸絶縁層3を構成する全紙層の厚さの1/3〜2/3としたことにより、ヒートサイクル試験の冷却期間中における直流破壊電圧を低下させることなくケーブル1の製造所要時間を短縮することができる。例文帳に追加

By making a thickness of the inside craft paper layer 6 at 1/3 to 2/3 of that of the total paper layer constituting the oil-immersed insulation layer 3, the manufacturing time needed of the cable 1 can be shortened without deteriorating direct-current breakdown voltage during the cooling period of the heat cycle test. - 特許庁

公衆回線網に接続される伝送ラインと機器のフレームとの間の絶縁耐圧試験を、これら両者間に接続されるサージ保護素子によるサージ保護性能を高いレベルに維持しつつ、より簡易的な構成で且つ低コストで実施できるようにする。例文帳に追加

To inexpensively execute a withstand voltage test between a transmission line connected to a public network and a frame of an apparatus with a simple structure while keeping surge protection performance by a surge protection element connected between both of them at a high level. - 特許庁

比重が1.15以下と軽量化されたノンハロゲンの難燃性を有し、絶縁電線に用いた時にISO規格の45度傾斜延焼試験に合格すると共に、機械的特性や耐磨耗性にも優れたポリオレフィン系難燃性樹脂組成物を提供することにある。例文帳に追加

To provide a flame-retardant polyolefin resin composition having light weight, i.e. specific gravity of ≤1.15 and halogen-free flame-retardancy, passing the 45° inclined flame propagation test of ISO Specification in the case of using in an insulation wire and having excellent mechanical properties and abrasion resistance. - 特許庁

小型電気機械を収納した容器内部の圧力を減圧雰囲気にし、小型電気機械が有するコイルに高周波電圧を印加するステップと、前記小型電気機械からコロナ放電が発生しているか否かを検出するステップからなる非破壊絶縁試験方法としたものである。例文帳に追加

This nondestructive insulation testing method comprises a step of a pressure-reduced atmosphere being formed in a vessel which contains a small-sized electronic machine, and a high-frequency voltage is applied to a coil that the small-sized electronic machine has and a step where it is detected whether the small-sized electric machine is causing corona discharge. - 特許庁

製造工程におけるステータの不良検査時において、大電流がステータコイル流れるために高電圧での絶縁試験ができないおそれを回避できる回転電機の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide an inspection device and a test method for a rotary electric machine capable of evading the fear of being unable to perform an insulation test under a high voltage since a heavy current flows in a stator coil, when a defect test of the stator is performed in a manufacturing process. - 特許庁

ガラスエポキシ銅張り積層板を使用したプリント板にて、スルーホールと接触するガラスクロスの糸に、ホローファイバーが発生している場合の絶縁信頼性低下および銅マイグレーションを検出可能とする電食試験サンプルの作製方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of preparing electrolytic corrosion test samples from which the declined insulation reliability of glass cloth which is in contact with the through hole of a printed board using a glass epoxy copper-plated laminated plate and the occurrence of copper migration in the glass cloth can be detected when hollow fibers occur in threads of the glass cloth. - 特許庁

素子形成領域6a、6b内の固定電位と、素子形成外領域7の固定電位とは異なり、素子形成領域6a、6b、および素子形成外領域7のそれぞれに所定の電圧を一定時間印加して、トレンチ絶縁分離部5Uの耐圧スクリーニング試験を行う。例文帳に追加

The fixed potential of the element forming regions 6a, 6b differs from a fixed potential of the non element-forming region 7, and a prescribed voltage is respectively applied to the element-forming regions 6a, 6b and the non element-forming region 7 for a prescribed time, to apply the breakdown voltage screening test to the trench insulation isolation section 5U. - 特許庁

本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、電位欠陥に係る不良を簡易かつ確実に検出することができるようにする。例文帳に追加

To provide a flat display device and a method for testing the flat display device which are applied, for example, to a liquid crystal display device with a driving circuit integrally formed on an insulating substrate, so as to simply and certainly detect a defect related to a potential failure. - 特許庁

容器内に配置されたエネルギー蓄積装置22の直列電力接続体24に対して検出器2bが連結され、直列接続エネルギー蓄積装置から導出された試験信号の状態変化を検出し、絶縁層27における破損箇所の存在を検出する。例文帳に追加

A detector 2b is connected to a serial power connector 24 of an energy storage device 22 disposed in the container to detect a condition change of a test signal derived from the serially connected energy storage device and existence of failure on an insulation layer 27. - 特許庁

半導体装置は、所定のパターンで設けられたエレクトロマイグレーション試験評価用の第2の配線部10と、第2の層間絶縁層14を貫通し、かつ第2の配線部10と電気的に接続されたコンタクト部12と、放熱部11とを含む評価用配線領域100を有する。例文帳に追加

The semiconductor device has an interconnection region 100 comprising a second interconnection part 10 for evaluating electromigration test provided in a specified pattern, a contact part 12 connected electrically with the second interconnection part 10 while penetrating a second interlayer insulating layer 14, and a heat dissipating part 11. - 特許庁

アンテナ線や電話線等を経由する雷サージから負荷を保護することができ、電源線の通信線利用にも適し、更に機器等の絶縁試験を容易に行うことができる避雷器付分電盤を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a distribution board fitted with a lighting arrester, which can protect load from thunder surge going through an antenna line, a telephone line, etc., and is also applicable to the use of the communication line of a power source line, and further in which the insulation test of an apparatus, etc., can be performed easily. - 特許庁

この装置は、高導電性の状態又は高誘電率の状態を試験する対象の絶縁体上に、離れて設置される第1の電極12及び第2の電極14と、第1の電極及び第2の電極に異なる電位で電力供給する高電圧電源とを含んでいる。例文帳に追加

This device includes the first electrode 12 and the second electrode 14 installed separately on an insulator which is an object for testing the high conductivity state or the high dielectric constant state, and a high voltage power source for supplying the power to the first electrode and the second electrode with each different potential. - 特許庁

Tiの含有割合が高められたとしても、高温負荷試験における短絡不良や絶縁抵抗の劣化が生じ難い、CaTiO_3 /CaZrO_3 系セラミックスを用いた積層セラミックコンデンサ及びその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a laminated ceramic capacitor using CaTiO_3/CaZrO_3 based ceramic hardly causing short-circuit defects or the deterioration of insulation resistance in a high temperature load test even if the content of Ti is increased, and a manufacturing method therefor. - 特許庁

リフロー工程やヒートサイクル試験工程においても絶縁樹脂と電子部品又は基板との間で剥離が生じにくく、短絡又は腐食が防止でき、信頼性を高めることができる電子部品実装方法及び基板モジュールを提供する。例文帳に追加

To provide a packaging method of an electronic component and a board module, by which lifting between insulating resin and the electronic component or a substrate is made less likely to be generated, even in reflow process or heat cycle testing process, short circuiting or erosion can be prevented, and reliability can be improved. - 特許庁

本発明の課題は、最終的な信頼性試験結果を少なくともある程度予測することが可能で、更には比較的短時間での評価が可能な、絶縁層用樹脂組成物の選定基準を確立し、ひいては信頼性の高い配線基板、及び配線基板の製造方法を提供することにある。例文帳に追加

To establish a selection standard for a resin composition used for an insulating layer which is capable of predicting a final reliability test result to some extent and furthermore making an evaluation in a comparatively short time, and to provide a very reliable wiring board and its manufacturing method consequently. - 特許庁

電力ケーブル10の耐電圧試験時には、電力ケーブル10に直流電圧を印加するが、巻線の絶縁破壊が発生しないため、電力ケーブル10と変圧器21の巻線とを接続した状態で行うことができる。例文帳に追加

When the voltage breakdown test of power cable 10 is performed, DC voltage is applied to the power cable 10, but because the winding does is not breaked, the voltage breakdown test can be performed in the state wherein the power cable 10 and the transformer 21 are connected. - 特許庁

これによって、セラミックスラリーでの分散性が極めて高くなり、積層セラミックコンデンサ1における誘電体セラミック層2の密度向上および表面の平滑化が可能になり、絶縁不良が生じにくくするとともに、負荷試験における故障寿命特性を改善することができる。例文帳に追加

Thus, the dispersiveness in a ceramic slurry becomes very high, the improvement of density of the dielectric ceramic layer 2 in the laminated ceramic capacitor 1 and the surface smoothing become possible, insulation failures hardly occurs and failure time characteristics in a load test can be improved as well. - 特許庁

カレントミラー回路223は、出力側に出力抵抗225を接続しており、その一端の電圧がDSP回路226に入力されて演算されるので、電源V_BBの変動分を除去して加入者線202の絶縁抵抗等の試験結果が判定される。例文帳に追加

Since the current mirror circuit 223 has an output resistor at its output side and a voltage at one end of the resistor 225 is given to a DSP circuit 226 and calculated therein, the fluctuation component of the power supply VBB to discriminate the test result of an insulation resistance of a subscriber line 202 or the like is eliminated. - 特許庁

信頼性試験中の物性変化が極めて小さく、機械的特性、電気的特性、絶縁性、耐熱性、耐熱衝撃性、信頼性に優れた硬化物、およびそのような硬化物を得ることができる熱硬化性樹脂組成物を提供すること。例文帳に追加

To provide a cured product with extremely small change of physical property in a reliability test, excellent in mechanical property, electrical property, insulating property, heat resistance, thermal shock resistance and reliability, and to provide a thermosetting resin composition imparting the cured product. - 特許庁

ハロゲン元素を含まず焼却時にもダイオキシン等の有害ガスを発生することがなく、JIS規格C3005の60度傾斜燃焼試験およびUL規格1581に規定される垂直燃焼試験VW−1の両方に合格する難燃性を有し、かつ優れた柔軟性(可撓性)が得られまた電気絶縁特性にも優れた、ノンハロゲン難燃性樹脂組成物およびこれを用いた難燃性電源コードを提供することにある。例文帳に追加

To obtain a nonhalogen flame retardant resin composition containing no halogen, generating no harmful gas such as dioxins, having excellent electric insulation and flame retardance capable of passing both of the 60° inclined combustion test according to JIS C3005 and the vertical combustion test VW-1 according to the UL standard 1581 and forming products having excellent pliability (flexibility), and to provide a flame retardant power cord. - 特許庁

配線材同士の絡み付き変形を防止することができ、取り付け加工時の配線作業を容易にすることを目的としており、さらに、製品の導通、絶縁抵抗、対電圧などの電気試験をも一括で可能にし、製造工程数および製造コストを低減させることができる電子部品配線材及びその製造方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide electronic component wiring materials and its manufacturing method capable of preventing entangled deformation of wiring materials with each other, facilitating wiring at the time of mounting and processing, allowing to conduct all electric tests of products for their electric continuity, insulating resistance, breakdown voltage, etc. - 特許庁

ウエハ上に多数形成された半導体デバイスの試験を一括して行うために使用されるウエハ一括コンタクトボードにおいて、 コンタクト部品30の絶縁性フィルム32の表面の導電性パターン35’、35に、多層配線基板10におけるGND配線又は電源配線(GNDパッド12c又は電源パッド12a)を接続する。例文帳に追加

In the wafer collectively-contact board used to collectively test numerous semiconductor devices formed on a wafer, a GND wiring or a power supply wiring (GND pad 12c or power supply pad 12a) on a multilayer wiring substrate 10 is connected to conductive patterns 35' and 35 on a front surface of an insulating film 32 of a contact member 30. - 特許庁

BT結晶粒子とBCT結晶粒子とから構成される誘電体磁器を誘電体層とする積層セラミックコンデンサについて、高温負荷試験における時間変化に伴う低下を抑制できる積層セラミックコンデンサ、ならびに、製造工程において再酸化処理の工程を設けなくても高絶縁性の積層セラミックコンデンサを提供する。例文帳に追加

To provide a multilayer ceramic capacitor employing a dielectric porcelain composed of BT crystal grains and BCT crystal grains as a dielectric layer in which deterioration incident to time variation in high temperature load test can be suppressed, and a high insulation multilayer ceramic capacitor can be obtained without providing a step for reoxidation processing in the fabrication process. - 特許庁

画像形成手段により記録材上に未定着トナー像を形成し、発熱体b・cによる加熱方式の熱定着手段109を用いて記録材上にトナー像を定着する画像形成装置において、装置本体のコストを増加させることなく、装置製造工程にて行われる絶縁耐圧試験工程を簡略化すること。例文帳に追加

To simplify a withstand voltage test process performed in the apparatus manufacturing process of an image forming apparatus which forms an unfixed toner image on a recording material by an image forming means, and fixes the toner image on the recording material by using the thermal fixing means 109 of a heating system based on heating elements b and c, without increasing the cost of an apparatus main body. - 特許庁

試験ICを載置するためのソケットを有する検査治具103と、検査治具の複数の接触子と接触する複数の信号ピンを有するテスタヘッド101とを備える半導体検査治具であって、検査治具103とテスタヘッド101との間に絶縁部材102を介在させた構造を有する。例文帳に追加

The semiconductor inspection jig is provided with an inspection jig 103 having a socket for mounting an IC to be tested, and a tester head 101 having a plurality of signal pins brought into contact with a plurality of contactors of the inspection jig, and has the structure in which an insulation member 102 intervenes between the inspection jig 103 and the tester head 101. - 特許庁

半導体ウエハ7に一対のプローブ6a,6bを接触させて電圧を印加し、該ウエハ7に形成されている半導体装置を試験する半導体ウエハ測定装置100であって、ウエハ7に接触する一対のプローブ6a,6bの先端間に、絶縁部材8aを、該ウエハ7に接触するようにして介在させてなる半導体ウエハ測定装置100とする。例文帳に追加

The semiconductor wafer measuring apparatus 100 tests a semiconductor device formed on the wafer 7 by bringing a pair of probes 6a, 6b into contact with the semiconductor wafer 7 so as to apply the voltage, where an insulating member 8a is interposed between the distal ends of the pair of probes 6a, 6b in contact with the wafer 7, so as to allow it to contact the wafer 7. - 特許庁

電力ケーブル接続箱に封入した絶縁媒体の出し入れを行うことなく、変圧器本体と電力ケーブルとを簡単に切り離すことにより、現地据付け後の変圧器本体と電力ケーブルの単体試験を簡単且つ確実に行い、短期間で効率よく保守点検作業を実施でき、経済性及び信頼性の向上を果たした断路器内蔵形変圧器を提供する。例文帳に追加

To provide a disconnector built-in transformer which is improved in economical efficiency and reliability for easily and surely executing the unit testing of a transformer body and an electric cable after site installation, and for quickly and efficiently executing a maintenance check operation by easily separating the transformer body from the electric cable without making it necessary to put in/out an insulating medium sealed in an electric cable connection box. - 特許庁

電子写真用感光体に、帯電器による帯電工程と露光装置による露光工程とを同時に行う電子写真用感光体劣化加速試験方法において、前記感光体と前記帯電器との間にサンプル押さえ部材が配置され、該サンプル押さえ部材の前記帯電器に対向する面の材質が絶縁性を有する材料で形成されていることを特徴とする。例文帳に追加

In the testing method for accelerating the deterioration in the electrophotographic photoreceptor in which an electrifying step by an electrifier and an exposure step by an exposure device are simultaneously carried out, a sample presser member is arranged between the photoreceptor and the electrifier and the material of the surface of the sample presser member facing the electrifier is formed of a material having insulation properties. - 特許庁

高誘電率かつ誘電損失が小さく、比誘電率の温度変化がEIA規格のX7R特性を満足し、印加する電圧が低い場合にも高い絶縁抵抗が得られる誘電体磁器と、このような誘電体磁器を誘電体層として備え、高温負荷試験での寿命特性に優れる積層セラミックコンデンサを提供する。例文帳に追加

To provide a dielectric porcelain which has high permittivity, a low dielectric loss, and a change in relative permittivity by temperature satisfying the X7R properties of ELA Standards, and provides high insulation resistance even when low voltage is applied, and to provide a multilayer ceramic capacitor provided with the dielectric porcelain as a dielectric layer and having excellent service life properties in a high temperature load test. - 特許庁

1つの連続した矩形状の絶縁性基板2上に、配線パターンを形成してなる配線領域3が互いに間隔を置いて非接続に複数配置されたプリント配線板(TABテープ1)であって、その配線領域3の外側の空き領域に、配線領域3内の配線パターンとは非接続な信頼性試験回路5を、複数の配線領域3に亘って沿うように設けた。例文帳に追加

In the printed wiring board (TAB tape 1) wherein a plurality of wiring regions 3 forming a wiring pattern are disconnected and disposed at intervals mutually on one continuous rectangular insulating substrate 2, a reliability test circuit 5 which is disconnected to a wiring pattern inside the wiring region 3 is provided along a plurality of wiring region 3 in a void region outside the wiring region 3. - 特許庁

本発明は、フラットディスプレイ装置及びフラットディスプレイ装置の試験方法に関し、例えば絶縁基板上に駆動回路を一体に形成した液晶表示装置に適用して、耐圧の低いトランジスタを用いる場合であっても、信頼性の劣化を有効に回避して確実に欠陥画素に係るスクリーニングを実行することができるようにする。例文帳に追加

To securely carry out screening for a defective pixel by effectively avoiding deterioration in reliability even when a transistor with low breakdown voltage is used by applying a flat display device and a testing method for the flat display device to, for example, a liquid crystal display device having a driving circuit formed on an insulating substrate in one body. - 特許庁

高誘電率で比誘電率の温度変化がEIA規格のX7R特性を満足し、印加する電圧が低い場合にも高い絶縁抵抗が得られる誘電体磁器と、このような誘電体磁器を誘電体層として備え、高温負荷試験での寿命特性に優れる積層セラミックコンデンサを提供する。例文帳に追加

To provide a dielectric porcelain which has high dielectric constant, satisfies X7R characteristics of EIA standard in the temperature change of the specific dielectric constant, and in which a higher insulation resistance can be obtained even when a lower voltage is applied, and to provide a multilayer ceramic capacitor which has such dielectric porcelain as a dielectric layer and has excellent life characteristics under a high-temperature load test. - 特許庁

例文

表面に導電性のリードパターンを有するとともに複数のガイド孔を有する絶縁性のテープと、前記テープに固定される半導体チップと、前記テープに設けた所定のリードと前記半導体チップの所定の電極を電気的に接続する手段と、前記半導体チップを含む部分を覆う絶縁性の樹脂体とを有するテープキャリアパッケージ型半導体装置を収容するトレーであるとともに電気特性試験用のトレーをも兼ねるトレーであって、前記ガイド孔の少なくとも幾つかにそれぞれ挿入され、挿入によって前記半導体装置をトレーに固定することができる複数のガイドピンと、前記電気特性試験用の測定端子が当接される箇所のリード部分を支持するテープ部分を密着状態で支持する支持部分を有する。例文帳に追加

The tray has a plurality of guide pins which are inserted into at least some of the guide holes respectively whereby the semiconductor device can be fixed to the tray and a support section for supporting a part of the tape which supports close a part of the lead with which a measurement terminal for testing the electrical characteristics is brought into contact. - 特許庁

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