「DEFECTIVE」に関連した英語例文の一覧と使い方(64ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor device and its inspection method capable of inspecting efficiently and surely under nearly normal use conditions and, once when judged as defective goods, recognizing easily those as defective goods afetrward.例文帳に追加

通常使用に近い状態で効率的かつ確実に検査を行うことができるとともに、一旦、不良品と判定された際には、その後に不良品であることを容易に認識できる半導体装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

A substrate heating section 6 of the pattern correction device proceeds to a lib 35 where a rib failure defective portion 35a to be corrected exists, and the rib failure defective portion 35a is irradiated with a laser beam α along a plane orthogonal to a substrate 34, to be heated.例文帳に追加

このパターン修正装置の基板加熱部６は、修正対象のリブ欠け欠陥部３５ａが存在するリブ３５を通り、かつ基板３４に垂直な平面に沿って、レーザ光αをリブ欠け欠陥部３５ａに照射して加熱する。 - 特許庁

The device and method are characterized in that it is judged whether there is a defective part of the pockets 32 in molding or not by detecting leakage of air from the defective part of the pockets 32 in molding of the embossed carrier tape 31 accommodated in the concavity of the detecting container 11.例文帳に追加

こうして、検出容器１１の凹部内に収容されたエンボスキャリアテープ３１の、ポケット３２の成形不良箇所からの空気の洩れを検知することによって、ポケット３２の成形不良箇所の有無を判断することを特徴とする。 - 特許庁

To provide an electrophotographic device capable of obtaining a stable image over a long period under various environment without causing image blurring under a high humidity environment and a defective image due to defective electrification (98-2).例文帳に追加

本発明の目的は高湿環境での画像ボケ及び帯電不良による画像不良の発生がなく各環境において長期に渡って安定な画像を得ることを可能にした電子写真装置を提供することにある（９８−０２）。 - 特許庁

The optical information recording and reproducing apparatus of this invention is provided with a defect detection section and a switch section, and the switch section interrupts input of an abnormal jump detection signal to a recording and reproducing signal switching circuit for a time while a light spot detects a defective part and for a prescribed time after passing through the defective part.例文帳に追加

欠陥検出部とスイッチ部を設けて、光スポットが欠陥部を検出している間と欠陥部通過後の所定時間は、スイッチ部によりアブノーマルジャンプ検出信号の記録再生信号切り換え回路への入力を断つ。 - 特許庁

Since the pad electrode 14 of the defective chip 11 is not electrically connected with the lead-out electrode 13 because of the first insulation layer 15, the burn-in of wafer level can be applied without a step for covering the defective chip in the conventional technology.例文帳に追加

第１絶縁層１５によって不良チップ１１のパッド電極１４と取り出し電極１３とが電気的に接続されないので、従来技術の不良チップ被覆工程を行わずに、ウェハレベルバーンインを実行することが可能となる。 - 特許庁

To provide a pixel defect correction device, a pixel defect detector and a pixel defect detecting method that can correct a defective pixel and stably detect the defective pixel without increasing the circuit scale in response to a color filter of an image pickup element.例文帳に追加

撮像素子の有する色フィルタに応じて、回路規模が増大することなく、欠陥画素を補正でき、また、欠陥画素を安定して検出することのできる画素欠陥補正装置および画素欠陥検出装置ならびに方法を提供。 - 特許庁

To provide a game machine where whether a failure is caused by defective connection or defective communication between substrates can easily be confirmed in occurrence of the failure in at least one of a pair of substrates connected in a data-communicable state.例文帳に追加

データ通信可能に接続された一対の基板のうち少なくとも一方に不具合が発生した場合に、その原因が基板同士の接続不良または通信不良によるものであるかを容易に確認することができる遊技機を提供すること。 - 特許庁

To always properly correct a signal of a defective pixel without increasing complexity of a defective pixel detection process or a circuit scale when using a solid-state imaging device capable of selecting a read mode for adding signals of a plurality of pixels.例文帳に追加

複数の画素の信号加算を伴う読み出しモードを選択可能な固体撮像素子を用いた場合に、欠陥画素の検出工程の複雑化や回路規模の増大を招くことなく、常に欠陥画素の信号を適切に補正できるようにする。 - 特許庁

When the definition is judged to be defective by respectively comparing the undersize graphics and the third contour graphics and the oversize graphics and the second contour graphics, the information at the definition defective point is outputted in a step 8.例文帳に追加

アンダーサイズ図形と第３等高線図形およびオーバサイズ図形と第２等高線図形とをそれぞれ比較することにより、解像性が不良と判断された場合には、ステップ８において、その解像性不良箇所の情報が出力される。 - 特許庁

The CPU 30 refers to the LUT 68 to read a correction voltage of a defective pixel corresponding to the measured temperature inputted from the temperature sensor 48, and inputs the read correction voltage into a CDS/AMP circuit 50 to correct an output voltage of the defective pixel.例文帳に追加

ＣＰＵ３０はＬＵＴ６８を参照し、温度センサ４８から入力された測定温度に対応する欠陥画素の補正電圧を読み取り、これをＣＤＳ／ＡＭＰ回路５０に入力して欠陥画素の出力電圧を補正する。 - 特許庁

Also, when a defective place is specified, a program performing decoding of data is provided previously in a computer, it can be analyzed which bit of the ROM 4 is defective by decoding the data to a state before ciphering using the program.例文帳に追加

また、不良個所の特定を行う場合には予めデータの復号を行うプログラムをコンピュータ上で用意しておき、そのプログラムを用いてデータを暗号化前の状態に復号することによりＲＯＭ４のどのビットが不良かを解析できる。 - 特許庁

This parameter setting device acquires a plurality of through-hole images acquired by imaging through-holes on the substrate, and estimates a defective color range wherein a pixel in a defective soldered domain may fall from a color distribution of through-hole peripheral pixels in the through-hole images.例文帳に追加

パラメータ設定装置が、基板上のスルーホールを撮像して得られた複数のスルーホール画像を取得し、そのスルーホール画像におけるスルーホール周辺画素の色分布から、不良な半田領域の画素がとり得る不良色範囲を推定する。 - 特許庁

An x-ray imaging device has an adjacent defect correction unit 55 that replaces each adjacent defective pixel in which a pixel value obtained between a plurality of adjacent pixels fluctuates temporally, to an pixel value averaged by pixel values of adjacent defective pixels.例文帳に追加

Ｘ線撮像装置は、隣接する複数の画素間で得られる画素値が時間的に変動する隣接欠陥画素を、この隣接欠陥画素の各画素値で平均化した画素値にそれぞれ置き換える隣接欠陥補正部５５を備えている。 - 特許庁

To improve the production efficiency of component mounting on a multi-piece substrate that includes defective blocks, to easily develop a production plan, and also to easily sort blocks mounted with components into acceptable substrate blocks and defective blocks.例文帳に追加

不良ブロックを含む多数個取り基板への部品実装の生産能率を向上させると共に、生産計画を容易に立案でき、しかも、部品実装後の良品の基板ブロックと不良ブロックとの仕分け作業も容易に行うことができるようにする。 - 特許庁

It is inspected whether a pixel P has a defect and when the pixel has the defect, the non-overlap portion of the defective pixel is irradiated with laser light to cut the non-overlap portion irradiated with the laser light, thereby repairing the defective pixel.例文帳に追加

画素Ｐに欠陥が生じているかどうか検査し、画素に欠陥が生じている場合、欠陥が生じている画素の非重畳部にレーザ光を照射し、レーザ光が照射された非重畳部を切断し、欠陥の画素を修復する。 - 特許庁

The comparators A1b, B13 previously store normal operation signal pattern by a simulation and decides a non-defective or defective of the IC 12 according to whether the operation signal pattern from the IC 12 coincides with the normal operation signal pattern or not.例文帳に追加

出力パターン比較器Ａ１ｂ、Ｂ１３は、予めシミュレーションで正常な動作信号パターンが記憶され、この正常な動作信号パターンに、被試験ＩＣ１２からの動作信号パターンが合致するか否かで、被試験ＩＣ１２の合否を判定する。 - 特許庁

A recognition rule is read (ST1), plural degeneration FBM is prepared (ST2), after a defective recognition object is selected (ST3), the prescribed region is selected based on setting of defective size (ST4), and a defect rate in the prescribed region is calculated (ST5).例文帳に追加

認識ルールを読み込んで（ＳＴ１）複数の縮退ＦＢＭを作成し（ＳＴ２）、認識対象不良を選択（ＳＴ３）した後、不良サイズの設定に基づいて所定領域を選択し（ＳＴ４）、所定領域内の不良率を計算する（ＳＴ５）。 - 特許庁

Since the rear end P1 can be scraped downwardly, any defective matching caused by the stop of the rear end side of the transfer print so as to cover the lower paper delivering roller, or defective delivery causing troubles in delivering succeeding transfer prints can be prevented.例文帳に追加

後端Ｐ１を下方に掻き落とすことができるので、転写材の後端側が下排紙ローラを覆うようにして停止することに起因する整合不良や、後続の転写材の排出の障害となる排出不良を防止することができる。 - 特許庁

Before a TAB tape 6 is incorporated a TAB tape editing device, the removed numbers of defective sections and defective products are counted, the lengths of products are measured (S10), and the data about the TAB tape 6 are stored in the storing section of a personal computer 4 (S11).例文帳に追加

ＴＡＢテープ編集装置にかける前の工程において、不良部の除去数のカウント、製品長さの計測および不良数のカウントを行い（Ｓ１０）、それらＴＡＢテープに関するデータをパーソナルコンピュータ４の記憶部に格納する（Ｓ１１）。 - 特許庁

So, the state of a device which uses a rolling element can be monitored without breakup with simple configuration, and defective operation of the rolling element is detected before the occurrence of damage whose cause is defective operation.例文帳に追加

本発明によれば、簡素な構成で転動体を用いた装置の状態を分解することなく監視でき、転動体の運転状態が不良であることを、運転状態不良に基づく損傷が発生する以前に検知できることとなる。 - 特許庁

To provide an unleaded cationic electrodepositing paint capable of preventing a defective part from corrosion even in the case of performing the electrodeposit-painting on a subject to be painted having defective parts in some parts of a chemical membrane formed on the surface by a spraying method, etc.例文帳に追加

スプレー方法等によって表面に形成された化成皮膜に一部欠損部分を有している被塗物に電着塗装した場合でも、欠損部分の腐食を防止することができる、無鉛性カチオン電着塗料組成物を提供すること。 - 特許庁

Defective pixels in the display panel are mapped, defect information obtained by this mapping is associated with the panel, the defect information is utilized in a panel operation, luminance of neighboring pixels is altered and the defective pixels are made inconspicuous to an observer.例文帳に追加

パネルにおける画素欠陥をマッピングし、このマッピングにより得られた欠陥の情報をパネルと関連付け、パネル操作でこの欠陥の情報を利用して、隣接する画素の輝度を変化させて、欠陥画素を観察者に対して目立たなくさせる。 - 特許庁

On a display defective area detection part 2, a display defective area on the display screen 100 is detected on the basis of a deviation of the gravity position of the optical amount distribution obtained when a uniform image is displayed on the whole screen of the display screen 100.例文帳に追加

表示不良領域検出部２では、表示画面１００の全画面に均一画像を表示した際に得られる光量分布の重心位置の偏りに基づいて、表示画面１００における表示不良領域を検出する。 - 特許庁

The detection part 324 detects the edge pixel for each line sequentially from a line where a defective width determined by a first calculation part 323 is the maximum, and sets the threshold of a subsequent line so that the threshold of the subsequent line may become lower as the defective width gets narrower.例文帳に追加

上記検出部３２４は、第１の算出部３２３で求められた欠陥幅が最大となるラインから順に各ラインごとにエッジ画素を検出し、欠陥幅が狭いほど次のラインの閾値が低くなるように次のラインの閾値を設定する。 - 特許庁

Since an oxide film including a natural oxide film is removed from a surface of a semiconductor wafer before measuring concentration distribution of excess carriers, a difference of light emission on a non-defective region and on a defective region in a measuring visual field of the concentration distribution is increased.例文帳に追加

過剰キャリアの濃度分布の測定前に、半導体ウェーハの表面から自然酸化膜を含む酸化膜を除去するので、濃度分布の測定視野内における無欠陥領域上と欠陥領域上での発光強度の差が増大する。 - 特許庁

Next, the glass article 20, formed from the glass liquid droplet 16, is determined as a non-defective product 22 or a defective product 24, according to the standard of the average diameter, based on the correlation regarding the known average diameter and the mass of the glass liquid droplet.例文帳に追加

次に、既知の、ガラス液滴の平均直径と質量の相関に基づく平均直径の規格により、ガラス液滴１６から形成されたガラス物品２０を質量に関する良品２２または不良品２４と判定し、分別する。 - 特許庁

Furthermore, coincidence of the new area with the color defective area to be corrected is evaluated (step S3) and on the basis of a result of the evaluation, the specified area is deformed to be coincident with the color defective area to be corrected (step S4).例文帳に追加

さらに、その領域の補正すべき色不良領域に対する一致性の評価を行って（ステップＳ３）、その評価結果に基づいて、補正すべき色不良領域に一致するように特定された領域を変形する(ステップＳ４)。 - 特許庁

To provide a cash processing apparatus which can improve dispensing processing speed, and suppressing a failure such as a defective bill jam by preventing a defective bill from circulating back to a conveying path or a safe, leading to improvement of product quality.例文帳に追加

不良券が搬送経路または金庫へ戻って循環することを防止して、出金処理速度を向上させるとともに、不良券詰まり等の障害を抑制し、ひいては製品品質を向上させた現金処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plastic bag delivery history confirmation technique, capable of confirming a manufacturing state by video images, on the basis of a manufacturing history number displayed on a defective bag, qand further, when the defective bag is generated and a delivery destination is specified.例文帳に追加

不良袋が生じた場合に、その不良袋に表示された製造履歴番号を基にして製造状態を映像で確認できるようにし、さらに、配送先の特定を可能とするプラスチック袋配送履歴確認技術の提供。 - 特許庁

Since the stress from the insulating film 9 is centralized to the defective region 8 in the post-process, an occurrence of the defective region in the vicinity of an upper surface of the substrate 1 on which the current flows at the time of operation of the semiconductor element is prevented.例文帳に追加

後工程において絶縁膜９から受けるストレスを、欠陥領域８に集中させることができるので、半導体素子の動作時に電流が流れる基板１の上面近傍に欠陥領域が生じるのを防ぐことができる。 - 特許庁

This acrylic resin film is provided by having ≤1 piece/10 cm square of defective points having ≥5 and ≤30 μm maximum diameter and 0 piece/10 cm square of defective points having >30 μm maximum diameter, and having ≥110°C glass transition point.例文帳に追加

最大径が５μｍ以上３０μｍ以下である欠点が１個／１０ｃｍ四方以下であり、最大径が３０μｍを越える欠点が０個／１０ｃｍ四方以下であり、ガラス転移温度が１１０℃以上であるアクリル樹脂フィルムとする。 - 特許庁

In the visual inspection device 3 for visually inspecting a printed board 4 tested by an automatic tester 2, the image of a defective place photographed by the automatic tester 2 and the data showing the defective place are read to be displayed on a display 34.例文帳に追加

自動検査装置２によって検査されたプリント基板４を目視で検査する目視検査装置３において、自動検査装置２で撮影された不良箇所の画像とその不良箇所を示すデータを読み出してディスプレイ３４に表示させる。 - 特許庁

When the member lot information is read from the management label on a defective member with a scanner 500a in a game parlor 500 and entered into the server 400s, the total number and delivery places of game machines related to the defective member are retrieved.例文帳に追加

従って、遊技場５００において欠陥部材の管理ラベルからその部材ロット情報がスキャナー５００ａにより読み取られてサーバー４００ｓに入力されると、当該欠陥部材が関係する遊技機全台数及び納品先が検索される。 - 特許庁

To stably grow an Si single crystal having no defective region by clearly detecting the type of a defective region or a defect-free region of an Si single crystal grown with a certain pull speed profile and feeding back such data for the subsequent pulling.例文帳に追加

ある引き上げ速度プロファイルで育成されたSi単結晶の欠陥領域あるいは無欠陥領域のタイプを明確に検出し、このデータを次の引き上げにフィードバックすることよって、欠陥領域のないSi単結晶を安定して育成する。 - 特許庁

To provide an information processing system, its defective location specifying method and an information processor for instantaneously specifying a defective device when time-out is detected concerning a request issued from a processor to the device, and for improving availablity to restore it in an early stage.例文帳に追加

プロセッサがデバイスに対して発行したリクエストに関してタイムアウトを検出したとき、即座に故障デバイスを特定し、早期に復旧できる可用性を向上させた情報処理システム、その故障箇所特定方法、情報処理装置を提供する。 - 特許庁

Thus, by calculating a distance from an angular velocity, which position the defective area 16 is present in with respect to the identification part 11 can be easily determined, enabling great reduction in time required to determine the defective area 16.例文帳に追加

このように角速度から距離を算出することによって、識別部１１を基準としてどの位置に不良箇所１６が存在するかを容易に特定することができ、不良箇所１６を特定するまでの時間を大幅に減少することができる。 - 特許庁

A pixel data acquisition section 20a of a defective pixel detecting section 20 provided in an imaging apparatus 100 for successively acquiring a target pixel to be retrieved for defective pixel and pixel data of a plurality of peripheral pixels arranged around the target pixel.例文帳に追加

撮像装置１００が備える欠陥画素検出部２０において、画素データ取得部２０ａは、欠陥画素の検出対象となる注目画素、および、注目画素の周辺に配置された複数の周辺画素の画素データを順次取得する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a semiconductor device, an inspection system and a production control method, in which a defective in micro-sizes is discovered and countered at an early stage, and also to provide the manufacture of a defective wafer in micro-sizes is prevented in the manufacture of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造において、マクロ不良の早期発見および対策が可能であり、マクロ不良ウエハの作り込みを防止することができる半導体装置の製造方法、検査システムおよび生産管理方法を提供する。 - 特許庁

When the reading of the information by the image information input device 13 is decided to be defective by an information check means 14 at this time, the image information on the read defective article is displayed on a correction input section 26 to correct and input the regular information.例文帳に追加

このとき、画像情報入力装置１３による情報の読取が情報確認手段１４で不良と判定された場合は、読取り不良物品の画像情報を修正入力部２６に表示し、正規情報を修正入力する。 - 特許庁

By a defect correction processing unit 31R which corrects the defect of an image signal DRa corresponding to red component light, a correction signal generator 311 generates correction signals DHR by defective pixels according to offsets of the defective pixels indicated with the defect information RPR.例文帳に追加

赤成分光に応じた画像信号ＤRaの欠陥補正を行う欠陥補正処理部３１Rで、補正信号生成部３１１は、欠陥情報ＲＰRで示された欠陥画素のオフセットに応じて、補正信号ＤＨRを欠陥画素毎に生成する。 - 特許庁

When a defective unit wiring board 2b is included in a product sheet 1, a scrap part 3 and the defective unit wiring board 2b are cut and separated from each other, and a separately-prepared good unit wiring board 2a is incorporated in a cavity part in the scrap part 3.例文帳に追加

製品シート１に不良ユニット配線板２ｂが含まれているとき、スクラップ部３と不良ユニット配線板２ｂとを切断分離して、該スクラップ部３の内部空洞部分へ別途用意した良品ユニット配線板２ａを組み込む。 - 特許庁

A reflection amplitude in the test signal is a Vdd when the defective connection occurs in a transmission line 103, and gets to a voltage Vf limited by the ESD circuit 117 of forward bias, when no defective connection occurs.例文帳に追加

テスト信号に対する反射振幅は、伝送線路１０３において接続不良が発生しているときには、Ｖｄｄとなり、接続不良が発生していないときは、順バイアスのＥＳＤ回路１１７によって制限された電圧Ｖｆとなる。 - 特許庁

When there is the heat transfer pipe whose outer tube has a holing or cracking defective portion, the defective portion is covered with a cylindrical steel plate and heat resistant filler is filled in the gap thereof to easily repair the heat transfer pipe.例文帳に追加

外管に孔あきや亀裂などの欠陥部を生じた伝熱管において、当該欠陥部を筒状の鋼板で覆うとともに、その隙間に耐熱性の充填材を充填することにより、伝熱管を簡易的に補修することができる。 - 特許庁

To enable a user to rapidly check if a transporting unit has defective segments to impart damage, such as flaws, to photographic paper or not and enables the user to check if the transporting unit has defective segments to give rise to meandering in the photographic paper or not.例文帳に追加

印画紙に傷などのダメージを与える不良部位を有するものであるかどうかをユーザが迅速に確認できるとともに、印画紙に蛇行現象を生じさせる不良部位を有するものであるかどうかをユーザが確認できるようにする。 - 特許庁