「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(99ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a circuit board having a through hole/via hole capable of surely connecting wiring films to each other in a less state of defects and to provide a method for simply forming the circuit board.例文帳に追加

欠陥が少なく、配線膜同士を確実に接続するスルーホール／ビアホールを有する回路基板、およびそれを簡易に形成するための方法を提供する。 - 特許庁

Furthermore, a low temperature thermal treatment is carried out in an electric oven each time a high-temperature short-time thermal treatment is performed, so that which crystal defects caused by a high- temperature heat treatment are repaired.例文帳に追加

更に、高温短時間熱処理を行う毎に、個々に電気炉による低温熱処理を行い、高温の熱処理に起因して発生する結晶欠陥を回復させる。 - 特許庁

To increase the degree of freedom of the outline design of a case and, at the same time, conceal the outside appearance defects of interior parts by a method wherein a color visionary design is applied to a sheet so as to arrange the designed sheet within a product.例文帳に追加

シートに色覚的なデザインを施し、これを製品内に配置することで、ケース外形デザインの自由度を増し、内部部品の外観的欠点を隠す。 - 特許庁

To form a fluorescent surface with a metal back in a superior yield which has an excellent adhesiveness between the fluorescent material layer and the metal back layer, and which is superior in breakdown voltage characteristics without defects in the metal back layer.例文帳に追加

蛍光体層とメタルバック層との密着性が良く、かつメタルバック層の欠陥がなく耐圧特性に優れたメタルバック付き蛍光面を歩留り良く形成する。 - 特許庁

To provide a magnetic recording medium capable of preventing a functional layer from bing peeled off while keeping sufficient strength and durability, and easily detecting coating defects by using visible light.例文帳に追加

十分な強度および耐久性を確保しつつ機能層の剥離を防止し、かつ塗布欠陥を可視光を利用して簡易に検出し得る磁気記録媒体を提供する。 - 特許庁

A CCD camera is used as the detector and focused on the transparent-plate-like body to measure changes in the luminance of light passing outside the light shielding body and detect defects.例文帳に追加

検出器にＣＣＤカメラを用い、透明板状体に焦点を合わせて、遮光体の外側を通る光の輝度変化を測定して、欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide a method of repairing damages and small coating defects in a newly coated part of an automobile without leaving marks at a lower cost than a conventional one.例文帳に追加

自動車の新塗装部の損傷および小さな塗装欠陥を従来より僅かな費用でほとんど痕跡が残らないように修理できる方法を提供する。 - 特許庁

In the defect inspection method, the surface of a wafer 7 is photographed by a differential interference microscope, and the number of defects observed on the surface is counted by image processing.例文帳に追加

ウェーハ７の表面を微分干渉顕微鏡で撮影し、画像処理によって表面に観察される欠陥の個数を計数する欠陥検査方法である。 - 特許庁

To provide a mold assembly for casting a wheel of a two wheeled vehicle, which mold assembly hardly causes casting defects on one opening end portion of the shaft inserting hole of the wheel of the two wheeled vehicle.例文帳に追加

二輪車用ホイールのシャフト挿通孔の一方の開口端部に鋳造欠陥が生じにくいような二輪車用ホイールの鋳造金型を提供する。 - 特許庁

After all three defects are corrected, only a center defect part is further irradiated with a laser beam LB and a hole is further bored in a color filter to increase transmission light brightness.例文帳に追加

３つの欠陥全てを修正した後、真中の欠陥部位のみに更にレーザ光ＬＢを照射して、カラーフィルタＣＦに更に孔を開け、透過光輝度を上昇させる。 - 特許庁

To provide a method for producing a porous hollow fiber membrane which has a few defects in a hollow fiber membrane product and a few drawn yarn end breakages and with which separation operation is smoothly carried out in drawing.例文帳に追加

製品中空糸膜に欠陥が少なく、延伸糸切れが少なく、延伸時に分繊操作がスムースに実施できる多孔質中空糸膜の製造方法の提供。 - 特許庁

To suppress generation of lamination defects and the enlargement of area of lamination defect which are generated by continuing the supply of electric power, in a silicon carbide bipolar semiconductor device.例文帳に追加

炭化珪素バイポーラ型半導体装置において、通電を続けることにより生じる積層欠陥の発生および積層欠陥の面積拡大を抑制すること。 - 特許庁

To prevent receiving characteristics from being deteriorated due to plating defects of a feed horn and a case in a satellite receiving converter in which a feed horn or a case is formed from a synthetic resin.例文帳に追加

フィードホーンやケースを合成樹脂にて形成した衛星受信用コンバータにおいて、フィードホーン及びケースのメッキ不良によって受信特性が低下するのを防止する。 - 特許庁

To provide a lost pattern casting method by which good fluidity of molding sand is secured without developing burning at a pocket part and residual defects and a casting having an excellent quality and an excellent casting surface is obtained.例文帳に追加

鋳物砂の流動性がよく、ポケット部の焼着や残渣欠陥もなく、鋳物表面も優れた品質の鋳物が得られる消失模型鋳造法を提供する。 - 特許庁

To apply a paste to a plurality of coating heads simultaneously and uniformly and to prevent the mixing of bubbles causing the coating defects.例文帳に追加

複数の塗布ヘッドにペーストを供給して塗布を行うに際し、同時にかつ同量の供給が可能で、塗布不良の原因となる気泡が混在しないようにする。 - 特許庁

To provide a color filter having color brilliance equal to that of a printed matter and capable of exhibiting excellent display without defects such as disconnection of ITO and to provide a liquid crystal display device.例文帳に追加

印刷物と同等の色鮮やかさをもち、かつＩＴＯ断線等の欠陥のない優れた表示を可能とするカラーフィルター、及び液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To rearrange data by a simple method without managing servo signal defects, and to prevent data from being lost by rearranging the data before the defect of a servo signal part spreads to a data recording area.例文帳に追加

トラック本数、ヘッド本数が増大するに従って、サーボ信号の欠陥位置管理は複雑な計算と管理のためのメモリ消費量が増大する傾向にある。 - 特許庁

To provide a dressing device for grinding machines, by which high precision dressing can be done in a short time by complementing defects of both a rotary dresser and a NC dresser.例文帳に追加

ロータリードレスとＮＣドレスとの双方の欠点を相互に補完し合うことによって、短時間で高精度のドレスが可能となる研削盤用ドレス装置を提供する。 - 特許庁

To reduce development of defects caused by pin holes and mold powder on the surface of a cast slab by preventing the development of stagnation and vortexes in molten steel flow in a mold.例文帳に追加

モールド内における溶鋼流に淀みや渦流の発生を防止し、鋳片表面のピンホール欠陥、モールドパウダ欠陥の発生を低減させることを課題とする。 - 特許庁

To provide powder for continuously casting steel capable of yielding products of a high grade which have entrainment resistance and excellent lubricity and are free of defects in powder characteristics.例文帳に追加

難巻き込みで、かつ潤滑性に優れており、パウダー性欠陥の無い高品位の製品を得ることができる、鋼の連続鋳造用パウダーを提供すること。 - 特許庁

To quickly detect gluing defects to a book body in which a back face is glued in a gluing section of a wireless binding machine, the book body is conveyed, and thereafter a book cover is affixed.例文帳に追加

無線綴機の糊付け部において背面が糊付けされて搬送されて、その後に表紙が貼付される本文に対して、糊付け不良を迅速に検出する。 - 特許庁

To provide methods for producing SiGe-on-insulator structures and for forming strain-relaxed SiGe layers on silicon while minimizing defects.例文帳に追加

欠陥を最小限としながら、ＳｉＧｅ−オン−インシュレーター構造を製造するため及びシリコン上に歪み緩和ＳｉＧｅ層を製造するための方法を提供する。 - 特許庁

Thereafter, the mask pattern 14 is removed, heat treatment is applied on the glass substrate 12 to change the nonexposure part D2 of the photo-sensitive glass substrate 12 into a texture where there are many defects.例文帳に追加

その後、マスクパターン１４を除去し、ガラス基板１２に熱処理を施して感光性ガラス基板１２の非露光部分Ｄ２を欠陥の多い組織に変化させる。 - 特許庁

By using the test circuit arranged at the opposite side of the data lines, even the presence of point defects can be determined in addition to the inspections such as disconnection of the data lines and digital driver output.例文帳に追加

データ線の反対側に設けられた検査回路を用いて、データ線の断線やデジタルドライバ出力の検査の他、点欠陥の有無も判定できるようになる。 - 特許庁

To provide an electro-optical device or the like for reducing correction working failure during correction working of a switching means, including a switching element having defects produced.例文帳に追加

不良の生じたスイッチング素子を含むスイッチング手段の修正作業時に、その修正作業ミスの低減等を図ることが可能な電気光学装置等を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection method for easily and reliably detecting inconvenient defects at a junction, without using any X-rays or gumma-rays poorly affecting human bodies.例文帳に追加

人体に悪影響を与え得るＸ線やガンマ線を使用せず、接合部における不都合な欠陥を容易かつ確実に検出できる非破壊検査方法を提供する。 - 特許庁

In this way, the thin film can be grown on the substrate so that impurities and physical defects are inexistent in the thin film and on the grain boundaries or their concentration is reduced.例文帳に追加

これにより基板上に薄膜内及び界面に不純物及び物理的欠陥が生じなかったり少ない状態で薄膜を成長させることができる。 - 特許庁

Moreover, in Figs. 3-2-21 [1] and [2], a correlation can be confirmed between the transaction history and the status of agreements regarding the sharing of responsibility for defects and the sharing of information management costs.例文帳に追加

また、第3-2-21図〔1〕〔2〕から分かるように、瑕疵責任や情報管理費の費用負担配分の取り決め状況と取引歴との間には相関関係が確認できる。 - 経済産業省

To produce a rail in which defects caused by the formation of low m.p. multiple oxide (mullite) on the pressure welding boundary at the time of subjecting the rail to gas pressure welding are prevented and having a sound gas pressure welded joint.例文帳に追加

レールのガス圧接時、圧接界面に生ずる低融点複合酸化物（ムライト）生成に起因する欠陥を防止し、健全なガス圧接継手を有するレールを得る。 - 特許庁

This silicon wafer inspection is to inspect the defect that is an aggregate of micro-defects like a colony and the whole defective size is more 0.5 μm or more.例文帳に追加

シリコンウエーハを検査するにあたり、微小欠陥がコロニー状に集合しかつ全体の欠陥サイズが０．５μｍ以上である欠陥を検査することを特徴とする。 - 特許庁

To reduce plating defects while enhancing productivity of a plating process in forming an external electrode of a chip-like electronic component such as a laminated ceramic capacitor.例文帳に追加

積層セラミックコンデンサなどのチップ状電子部品の外部電極を形成するときのめっき処理の生産性を高めながらめっき不良を低減することを目的とする。 - 特許庁

The defects of intelligence during infancy and youth are probably less due to a lack of individual experience than to the fact that in early life the cerebral organization is still incomplete. 例文帳に追加

幼年期や青年期に知性が欠けているのは、人生の初期には大脳組織がまだ未完成だということよりも、個人的経験が不足しているせいです。 - John Tyndall『英国科学協会ベルファースト総会での演説』

The manufacturing method of a semiconductor device having a silicon carbide (SiC) film includes: a step of growing the silicon carbide film on a substrate; and a step of forming a groove on the silicon carbide film around a region where crystal defects are congregated so as to prevent spread of the crystal defects formed on the silicon carbide film.例文帳に追加

本発明は、炭化珪素(ＳｉＣ)膜を有する半導体装置の製造方法において、基板上に炭化珪素膜を成長させる工程と；前記炭化珪素膜に形成された結晶欠陥が広がらないように、結晶欠陥が集約された領域の周囲の前記炭化珪素膜上に溝を形成する工程とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method of removing defects in an organic electro-luminescent device, which can effectively remove defects that occur in a organic EL layer during its production process, and to provide its manufacturing method which can raise the production yield when manufacturing organic EL devices.例文帳に追加

本発明は、有機ＥＬ素子の製造工程において生じる有機ＥＬ層内の欠陥を効率的に除去することができる有機ＥＬ素子の欠陥の除去方法、および、その除去方法を利用することにより、有機ＥＬ素子の製造における歩留まりを向上させることができる有機ＥＬ素子の製造方法を提供する。 - 特許庁

In the apparatus for detecting the defects of the long, sheet-like products being transferred in a length direction by the inspection device and marking defective parts detected on the downstream side in the direction of transfer by the inspection device, markings are applied to two locations on the downstream side and the upstream side on both sides of the detected defects.例文帳に追加

長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、該検査装置より搬送方向の下流側において検出された欠陥部分にマーキングを施す装置において、検出された欠陥を挟む下流側と上流側の２か所においてマーキングを施すことを特徴とする欠陥マーキング装置。 - 特許庁

To provide a high quality and large diameter SiC single crystal by growing the crystal on the surface of a seed crystal not refecting the defects of a seed crystal, in producing the SiC single crystal using a large diameter SiC single crystal having the defects as the seed crystal.例文帳に追加

欠陥を有する大口径ＳｉＣ単結晶を種結晶として用いて、該種結晶表面にＳｉＣ単結晶の成長を行うＳｉＣ単結晶の製造方法において、種結晶の欠陥を成長させるＳｉＣ単結晶に引き継がせることなく結晶成長を行い、高品質で大口径のＳｉＣ単結晶を得る。 - 特許庁

The inspecting pattern corresponding to an individual wiring board with defects in an inner layer circuit has a configuration wherein a resistance value between the conductive pattern and the conductor is varied to indicate the presence of defects in the corresponding individual wiring board by the resistance value of the pattern.例文帳に追加

検査パターンは、各層の導電パターンおよび各層の導電パターンを電気的に接続する導電体からなり、内層回路に不良を有する個別配線板に対応した検査パターンは、その導電パターンと導電体の間の抵抗値を変化させ、パターンの抵抗値により対応する個別配線板の不良の有無を示す構成を有している。 - 特許庁

To provide a mold for continuously casting a steel slab and a continuous casting method, which can use high viscosity powder and can obtain a casting having excellent quality in which generation of surface defects and internal defects in the casting are prevented, and further oscillation of the molding, which was indispensable until now, can be indispensed with in some cases.例文帳に追加

鋼スラブの連続鋳造において、高粘性パウダーの使用を可能とするとともに、鋳片の表面欠陥及び内部欠陥などの発生を防止した優れた品質の鋳片を得ることができ、しかも場合によっては従来必須とされていた鋳型のオシレーションを不要とするスラブ連続鋳造用鋳型と連続鋳造方法を提供すること。 - 特許庁

The method of analyzing the failure in the semiconductor integrated circuit device includes storing defects and analog characteristics correlated with the defects in a database, detecting a fail bit in a first wafer, measuring analog characteristics of the fail bit in the first wafer, and identifying which defect has caused the fail bit by comparing the measured analog characteristics with the stored analog characteristics.例文帳に追加

互いに相関関係のある欠陥とアナログ特性とをデータベースに保存し、第１ウエハ内の不良ビットを探し出し、第１ウエハ内の不良ビットのアナログ特性を測定し、該測定されたアナログ特性とデータベースに保存されたアナログ特性とを比較して、不良の原因となった欠陥を判別することを含む不良分析方法。 - 特許庁

(1) Should an application not satisfy the requirements of Sections 34, 37 and 38 or if the requirements of Section 36 are obviously not fulfilled, the Examining Section shall request the applicant to remedy the defects within a specified time limit. The first sentence shall not apply to defects concerning the abstract if the abstract has already been published. 例文帳に追加

(1) 出願が第34条，第37条及び第38条の要件を満たしていない場合，又は第36条の要件が満たされていないことが明白な場合は，審査課は，出願人に対し，その不備を特定期限内に除去するよう要求する。第 1文は，要約が既に公表されているときは，その要約に関する不備については適用されない。 - 特許庁

When specifying the position to be observed on a sample and applying electron beams for forming an image, based on the position information of a defect inspected and detected by other inspection device, observation of electrical defects that can be conducted with a potential contract by designating electron beam irradiation conditions, detectors, detection conditions, and the like, according to the types of defects to be observed.例文帳に追加

他の検査装置で検査され、検出された欠陥の位置情報をもとに、試料上の被観察位置を特定し、電子線を照射し画像を形成する際に、観察すべき欠陥の種類に応じて電子ビーム照射条件および検出器、検出条件等を指定することにより、電位コントラストで観察可能な電気的欠陥が可能になる。 - 特許庁

To provide a surface inspection device which can inspect foreign substances, defects or the like with uniform sensitivity without relying on the rotation angle of the primary scanning direction even if the intensity of scattered light which is generated from the foreign substances, defects or the like which are present on or near the surface of a semiconductor wafer has an anisotropic property of being dependent on an illumination direction.例文帳に追加

半導体ウェハ表面や表面近傍に存在する異物や欠陥等に由来して発生する散乱光の強度が照明方向に依存する異方性を有する場合であっても主走査方向の回転角に依存せずに均一な感度で異物や欠陥等の検査が可能な表面検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for inspecting the existence of defects, without fail, even when defects such as peeled portions have occurred at a metal stabilized layer, inside a laminated-structure oxide superconducting conductor having at least an intermediate layer, an oxide superconducting layer, and the metal stabilized layer on a substrate.例文帳に追加

本発明は、基材上に中間層と酸化物超電導層と金属安定化層を少なくとも有する積層構造の酸化物超電導導体の内部側において金属安定化層に剥離部分などの欠陥が生じていてもその有無を確実に検査することができる検査方法と検査装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a coating liquid for an undercoat layer which suppresses air pollution in a manufacturing process and is good in the storage stability of the coating liquid and an electrophotographic photoreceptor which prevents the interference fringe image defects in the halftone image formed by using the coating liquid and black dots and black spot image defects at blank output and is strong to repeated use and environments.例文帳に追加

製造過程における大気汚染を抑制し、塗工液の保存安定性がよい下引き層用塗工液の提供及びこの塗工液を用いて形成したハーフトーン画像における干渉縞画像欠陥、および白紙出力時の黒ポチ、黒斑点画像欠陥を予防し、かつ繰り返し使用や環境に強い電子写真感光体の提供。 - 特許庁

In a method for improving the surface properties of the cast steel by reducing fine casting defects in the vicinity of the surface by imparting plastic deformation to the cast steel from the surfaces, the plastic deformation is performed so that the ratio of hydrostatic stress to the deformation resistance of a base stock is ≥1.15 in the region where the reduction of the fine casting defects is expected.例文帳に追加

鋳鋼材に対してその表面より塑性変形を与え、表面近傍の微小鋳造欠陥を縮小させてその表面性状を改善する方法において、微小鋳造欠陥を縮小させたい領域において、静水圧応力と素材の変形抵抗の比が、１．１５以上になるよう塑性変形を施すこと。 - 特許庁