「Defects」に関連した英語例文の一覧と使い方(100ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a developer restricting blade capable of preventing image defects due to a turnup and flaw of the blade even in an initial state wherein a developer carrier is not coated with toner, and also preventing image defects such as fogging and a development stripe due to a decrease in electrostatic charging of toner during long-period use.例文帳に追加

現像剤担持体にトナーがコートされていない初期状態においても、ブレードのめくれや傷の発生に伴う画像不良を抑制させることと、長期使用時のトナーへの帯電付与性の低下に伴う、かぶりや現像スジといった画像不良を抑制させることが可能な現像剤規制ブレード及びそれを用いた現像装置を提供する。 - 特許庁

The method has stages of detecting the marks indicating the defects in the low-magnification observation mode by using a microscopic apparatus having the low-magnification observation mode and the high-magnification observation mode and further observing the microdefects with the high-magnification mode by locating the defects to be observed within a visual field by using the detected marks in the high-magnification observation mode.例文帳に追加

次低倍率観察モード及び高倍率観察モードを有する顕微鏡装置を用い、低倍率観察モードで前記欠陥を指示するマークを検出し、さらに高倍率観察モードにおいて、検出したマークを用いて観察すべき欠陥を視野内に位置させ、微細欠陥を高倍率観察モードで観察する工程とを具える。 - 特許庁

To provide a mold for continuously casting a steel slab and a continuous casting method, which can use high viscosity powder and can obtain a casting having excellent quality in which generation of surface defects and internal defects in the casting has been prevented, and further oscillation of the molding, which was indispensable until now, can be dispensed with the oscillation.例文帳に追加

鋼スラブの連続鋳造において、高粘性パウダーの使用を可能とするとともに、鋳片の表面欠陥及び内部欠陥などの発生を防止した優れた品質の鋳片を得ることができ、しかも場合によっては従来必須とされていた鋳型のオシレーションを不要とするスラブ連続鋳造用鋳型と連続鋳造方法を提供すること。 - 特許庁

Where the applicant has made amendments according to the observations of the examiner, eliminated the defect which may lead to rejection of the application so that the patent right may be granted to the revised application, if there are still some defects in the application, the examiner shall invite the applicant again to eliminate these defects. 例文帳に追加

出願人が審査官からの意見に基づき、出願に補正を行ったことで、却下につながる恐れのある欠陥が解消され、補正された出願には専利権が付与される可能性が現れた場合、出願に欠陥が依然存在しているなら、審査官はこれらの欠陥の解消を再度出願人に通知しなければならない。 - 特許庁

To provide a new liquid crystal medium which does not have the defects of conventional techniques or has the defects only in a relatively low extent, simultaneously especially has high positive dielectric anisotropy, low threshold voltage, short response time, and extremely good steepness, and is especially used for TN and STN displays.例文帳に追加

従来技術の欠点を有しないか、または有していても比較的低い程度にのみであり、同時に特に低い温度において、高い正の誘電異方性、低いしきい値電圧、短い応答時間、および極めて良好な急峻度を有する、特にＴＮおよびＳＴＮディスプレイのための新規な化合物および液晶媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a mold for continuously casting a steel slab and a continuous casting method, which can use high viscosity powder and can obtain a casting having excellent quality in which generation of surface defects and internal defects in the casting has been prevented, and further oscillation of the molding, which was indispensable until now, can be dispensed with in some cases.例文帳に追加

鋼スラブの連続鋳造において、高粘性パウダーの使用を可能とするとともに、鋳片の表面欠陥及び内部欠陥などの発生を防止した優れた品質の鋳片を得ることができ、しかも場合によっては従来必須とされていた鋳型のオシレーションを不要とするスラブ連続鋳造用鋳型と連続鋳造方法を提供すること。 - 特許庁

In this epitaxial wafer for semiconductor device, a superlattice structure layer 12, in which un-GaAs layers 10 and un-AlGaAs layers 11 are grown alternately plural number of times between a semi-insulating GaAs substrate 1 and a subcollector layer 2 acts as a buffer layer, so that when defects exist in the semi-insulating GaAs substrate 1, the wafer is not affected by the defects.例文帳に追加

半導体デバイス用エピタキシャルウェハは、半絶縁ＧａＡｓ基板１とサブコレクタ層２との間にｕｎ−ＧａＡｓ層１０とｕｎ−ＡｌＧａＡｓ層１１とを複数回交互に成長させた超格子構造層１２がバッファ層として機能するので、半絶縁ＧａＡｓ基板１に欠陥があっても影響を受けることがない。 - 特許庁

To provide a composition containing a UV absorbent precursor, not causing image defects due to the crystallization of the precursor even when held in a high temperature environment and excellent in storage stability and to provide an image forming method by which an image free from image defects such as irregular color can stably be formed using the composition.例文帳に追加

高温環境下に保持された場合でも、紫外線吸収剤前駆体の結晶化による画像欠陥を伴うことがなく、保存安定性に優れた、紫外線吸収剤前駆体を含有する組成物、及び該組成物を用いて、色ムラ等の画像欠陥のない画像を安定に形成しうる画像形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an electric resistance welded steel tube excellent in characteristics of a weld zone such as low-temperature toughness, corrosion resistance and cold workability by stably and reliably reducing weld defects attributable to generation of oxides of welds and cold weld defects attributable to local insufficient heat input without changing the set condition when the welding condition is changed.例文帳に追加

溶接条件の変動時に設定条件を変えることなく安定して確実に溶接部の酸化物の生成に起因する溶接欠陥および局部的な入熱不足による冷接欠陥を低減し、低温靭性、耐食性、冷間加工性などの溶接部特性に優れた電縫鋼管の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor wafer, wherein the necessity or the associated difficulty of eliminating defects accumulated by vacant lattice points is dispensed with and the presence of defects caused despite of the above consideration does not create a risk to a function of an electronic component formed by later treatments of a semiconductor wafer in the following processing steps.例文帳に追加

半導体ウェハの製造にあたり、凝集した空格子点欠陥を除去しなければならないという必要性ひいてはそれに付随する困難を回避し、それにもかかわらずこのような欠陥タイプの現存が、以降のプロセスステップで半導体ウェハを後続処理して形成される電子コンポーネントの機能に対しリスクとはならないようにする。 - 特許庁

To provide a novel cleaning fluid for lithography, the liquid reducing surface defects, that is the so-called "defects" of a product regarding a photoresist pattern, preventing pattern collapse during water rinsing, imparting electron beam irradiation resistance to a resist to suppress pattern shrinkage, and that is free from bacteria contamination during storage.例文帳に追加

ホトレジストパターンについて、製品の表面欠陥、いわゆるディフェクトを減少させ、水リンス時におけるパターン倒れの発生を防止し、またレジストの電子線照射に対する耐性を付与して、パターンの収縮を抑制するために用いられ、しかも保存中にバクテリアによる汚染を生じることのない新規なリソグラフィー用洗浄液を提供する。 - 特許庁

The penetrant 5 can infiltrate into the fine surface layer defects of the object 6 to be inspected and the fine surface layer defects of the object 6 to be inspected can be easily detected by dipping the object 6 to be inspected in a pressure-proof sealed container 2 filled with the penetrant 5 and pressurizing the penetrant 5 filling the pressure-proof sealed container 2 by using a pressurizer 3.例文帳に追加

浸透液５が充填された耐圧密閉容器２に被検査物６を浸漬させ、耐圧密閉容器２に充填された浸透液５を加圧器３により加圧することにより、被検査物６の微細な表層欠陥内へ浸透液５を浸透可能として、被検査物６の微細な表層欠陥を容易に検出できるようにした。 - 特許庁

The method for removing defects in an organic EL device and manufacturing it include at least processes of (1) detecting defects in the organic EL layer or its surface, (2) radiating a laser beam on the defects and removing them with the neighboring organic EL composition around it, for the removing method, and (3) a secondary formation process for making up the removed part of the organic EL layer.例文帳に追加

有機ＥＬ素子の欠陥除去方法および有機ＥＬ素子の製造方法であって、（１）上記有機ＥＬ層中もしくはその表面に存在する欠陥を検出する欠陥検出工程と、（２）上記検出された欠陥にレーザ光を照射して上記欠陥の近傍にある有機ＥＬ層構成物と共に上記欠陥を除去する欠陥除去工程とを少なくとも有することを特徴とする有機ＥＬ素子の欠陥除去方法を提供し、（３）上記有機ＥＬ層の除去された部分を再度形成する有機ＥＬ層二次形成工程とを少なくとも有する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting an electro-optical apparatus, where display defects in a special drive state that is different from a normal driving state can be also detected.例文帳に追加

通常の駆動状態とは異なった特殊な駆動状態における表示欠陥をも検出することが可能な電気光学装置の検査方法を提供することである。 - 特許庁

The microdust on the surfaces of the multilayered films occurring in the dust produced from the deposited films and the defects of the multilayered films can be decreased by forming the shield into the hermetic structure.例文帳に追加

また、シールドを密閉型構造にすることにより、堆積膜からの発塵に起因する多層膜表面の微小塵埃および多層膜欠陥を低減させることが可能である。 - 特許庁

To provide a defect inspection method and a defect inspection device capable of surely detecting unevenness due to defects at a surface of an object regardless of pattern or gloss at the surface of the object.例文帳に追加

対象物の表面の模様やツヤによらず、対象物表面の欠陥による凹凸を確実に検出する欠陥検査方法及び欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a means and a method for installing error correction codes of an appropriate system into a storage device while allowing for the purpose of using the storage device and the level of defects in terms of manufacture.例文帳に追加

記憶装置の用途や製造上の欠陥レベルを考慮して適切な方式の誤り訂正符号を記憶装置にインストールする手段および方法を提供すること。 - 特許庁

A system and a method for extending the operating life of a device susceptible to defects caused by total ionizing dose radiation and/or bias dependent degradation are described.例文帳に追加

総線量の電離放射線及び／又はバイアスによる劣化によって引き起こされる欠陥の影響を受けやすいデバイスの動作寿命を延ばすシステム及び方法が記載される。 - 特許庁

To provide a welding raw material which can surely obtain a good weld zone by preventing the occurrence of weld defects, a method for manufacturing the welding raw material, a method for manufacturing welded articles, and an automotive body.例文帳に追加

溶接欠陥の発生を防止して良好な溶接部を確実に得ることができる溶接素材、溶接素材の製造法、溶接品の製造法及び自動車車体を提供する。 - 特許庁

To provide a warm pressing method for a high tensile strength steel sheet for continuously light speed press forming the high tensile strength steel sheet without bring about surface defects or a drop in production efficiency.例文帳に追加

表面性状の劣化、生産性の低下を招くことなく高張力鋼板を連続的に高速プレス成形するための高張力鋼板の温間プレス成形方法を提供する - 特許庁

To provide a high-strength base film for a flexible disk, which has a flat surface, reduces surface defects, particularly, surface flaws, and has a low rate of heat shrinkage and excellent dimensional stability.例文帳に追加

表面が平坦で、表面欠点、特に表面傷が少なく、高強度でかつ熱収縮率が小さく、また寸法安定性に優れたフレキシブルディスク用ベースフィルムの提供。 - 特許庁

Since the luminance of light detected by the detection means 3 is strengthened by reflected light by the reflecting means 6 in the region not to be measured 5, incorrect detection of defects is reduced.例文帳に追加

非測定領域５について検出手段３で検出される光の輝度が反射手段６による反射光によって大きくなって、欠陥の誤検出が抑制される。 - 特許庁

To provide a method for producing coated paper, which solves the problem of the stripe-like defects of a coated product and gives a stable quality in stable operability.例文帳に追加

本発明の目的は、塗工物のスジ状欠陥の問題を解決することにあり、安定した品質と操業性を併せ持つ塗工紙の製造方法を提供するものである。 - 特許庁

To inspect mild shape defects, such as strains and surface flaws generated on the edge part of a belt-like body, such as a steel plate under conveyance, and to set a trim margin with high accuracy.例文帳に追加

搬送中の鋼板等の帯状体のエッジ部に発生する歪のような緩やかな形状欠陥及び表面疵を検査し、高い精度でトリム代を設定できるようにする。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection system for accurately and quickly measuring the sectional change of an inspection target, due to aging thinness caused by defects, corrosion, or the like, with few number of times.例文帳に追加

検査対象物の、欠陥や腐食等の経時的減肉による緩やかな断面変化を、少ない回数で、正確且つ短時間に測定できる非破壊検査システムの提供。 - 特許庁

Then, a column having defects respectively between the sense amplifier circuits and the pairs of the bit lines on both of the sides is provided with current disconnection circuits for disconnecting the sense amplifier circuits and the pairs of bit lines from each other.例文帳に追加

そして，センスアンプ回路と両側のビット線対との間にそれぞれ，不良を有するコラムにおいてセンスアンプ回路とビット線対とを切り離す電流遮断回路が設けられる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an excellent anisotropic optical film which has a high degree of alignment order and is superior in stability of water-insolubility or the like and is free from the occurrence of defects and exfoliation.例文帳に追加

高度な配向秩序度を有し、水不溶性等の安定性に優れ、且つ、欠陥や剥離が生じる可能性の少ない、優れた異方性光学膜を製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a techique capable of preventing not only the generation of coating film defects by deaerating air bubbles but also the fluctuation of the thickness of the coating film by suppressing the change of viscosity caused by deaeration.例文帳に追加

本発明は、気泡を脱泡して塗膜欠陥の発生を防止できるだけでなく、脱泡に伴う粘度変化を抑制して塗膜の厚み変動を防止できる技術を実現する。 - 特許庁

To provide a continuous casting method for high Cr and high Al- containing steel which can reduce operation trouble and decreases longitudinal cracks and scab defects even if the contents of Al and Cr are high.例文帳に追加

Ａｌ及びＣｒの含有量が多くても、操業トラブルが低減でき、縦割れやヘゲ状欠陥が少ない高Ｃｒ及び高Ａｌ含有鋼の連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing an antimicrobial resin product seldom causing defects therein along with combination of product cost reduction with effective antimicrobial function exhibition, and to obtain such a resin product by the above method.例文帳に追加

製品コストの低廉化と効果的な抗菌機能の発揮とを両立できるとともに、欠陥を生じ難い抗菌樹脂製品の製造方法及び抗菌樹脂製品を提供する。 - 特許庁

On a picture plane of thumbnail display for a defect, an image most saliently showing the features of a defect is determined/displayed for each of defects from inspection information, the kind of defect, etc.例文帳に追加

欠陥のサムネイル表示画面において、検査情報や欠陥種類等から、欠陥毎にその欠陥の特徴を最も顕著に表すような画像を決定し、表示する。 - 特許庁

Defects such as undercutting can be prevented by gradually increasing the slurry supply pressure and setting the slurry supply pressure in the early stage of polishing to a low pressure.例文帳に追加

このように、スラリー供給圧力を徐々に増加させること及び研磨開始初期のスラリー供給圧力を低圧にすることにより、アンダーカット等の不具合が防止できる。 - 特許庁

When inspecting the surface of the sealant for defects, a light beam 3 from a light source 2 is incident into the semiconductor element 1 at an angle of 10 to 30° with respect to the upper surface of the chip, and imaging is conducted.例文帳に追加

封止体表面の欠陥を検査する時には、チップ上面に対して１０°〜３０°の角度で光源２からの光線３を半導体素子１に入射させて撮像する。 - 特許庁

To provide a method of nitriding a thin plate-shaped bearing member, by which the occurrence of defects such as warpage and stain in the thin plate-shaped bearing member can be efficiently reduced.例文帳に追加

薄板状軸受部材の窒化処理方法として、薄板状軸受部材に反りやシミなどが生じる不良品の発生率を効果的に低減できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic light-emitting display device capable of overcoming the defects of the shortened service life of an organic light-emitting diode due to the reduction of the current, and to provide its driving method.例文帳に追加

電流の減少による有機発光ダイオードの耐用年数が短縮する欠点を改善することができる電子発光ディスプレイ装置とその駆動方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a thin-film transistor capable of reducing defects inside a crystal grain provided in a semiconductor thin film, even while forming a thermally oxidized film on a low-melting glass substrate.例文帳に追加

低融点ガラス基板上に熱酸化膜を形成しながらも、半導体薄膜にある結晶粒内の欠陥を低減可能な薄膜トランジスタの製造方法を提供する。 - 特許庁

To eradicate the occurrence of continuity defects by surely packing a circuit material, such as the conductor material, etc., in the through holes of a circuit board constituting each layer of a multilayered circuit board.例文帳に追加

特に、多層回路基板の各層を構成する基板のスルーホールに導体材料などの回路材料を確実に充填して導通不良を根絶することを目的とする。 - 特許庁

The distance between the lead parts C in connecting parts to the terminal parts B can be increased, without increasing the pitch of the terminal part B, as a result, short-circuiting defects can be reduced.例文帳に追加

端子部Ｂのピッチを広げることなしに、端子部Ｂとの接続部分でのリード部Ｃ同士の間隔を大きくすることができ、結果的に短絡欠陥を減少させることができる。 - 特許庁

To provide a novel isocyanate derivative which can react with a suitable nucleophilic group and can provide various types of foam mesh bodies without having defects of free isocyanate groups.例文帳に追加

好適な求核性基と反応でき、そして遊離イソシアネート基の欠点を有することなく各種フォーム網状体を提供することができる新規のイソシアネート誘導体を提供すること。 - 特許庁

To provide a photomask having practical resolution which can be applied for a 65-nm node, has no defect, and is inspected for defects, and also to provide a method for manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

本発明は、６５ｎｍノードにも適応できる実用解像度を有し、無欠陥かつ欠陥検査可能なホトマスクおよび半導体装置の製造方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide the method of manufacturing a light absorbing layer of a thin film solar battery, in which defects can be reduced, surface flatness can be improved, and a film-forming temperature can be reduced.例文帳に追加

欠陥の低減ができ、表面の平坦性を向上させることができ、しかも、製膜温度の低温下を可能とした、薄膜太陽電池の光吸収層の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a laminate with flexible resin substrates laminated thereto, which can reduce the occurrence of defects in a substrate processing process and suppress a manufacturing cost.例文帳に追加

本願発明は、上記課題を解決し、基板処理工程での不良発生を削減し、製造コストを抑えたところのフレキシブル樹脂基板付き積層板の製造方法にある。 - 特許庁

To provide a rewinder capable of solving defects in a conventional damping device by improving a textile machinery of high performance, in particular, the damping device for a package frame, of the rewinder of an automatic cross winding device.例文帳に追加

高性能繊維機械、特に自動綾巻機の巻返し装置のパッケージフレーム用の減衰装置を改良して、公知の減衰装置の欠点を随伴しない巻返し装置を提供する。 - 特許庁

Consequently, defects are prevented during manufacturing a display panel to improve a reliability of the display device.例文帳に追加

これによって、隣接した画素部間のデータ配線と電源電圧配線を共有することによって、表示パネルの製造工程時、欠点を防止して製品の信頼性を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a ceramic porous body capable of suppressing the occurrence of defects in a counterpart material (workpiece) to be in contact, when it is used as an abrasive and a slide member.例文帳に追加

研磨材や摺動部材として用いた場合、接触する相手材(被加工物)への欠陥発生をより一層抑制することが可能となるセラミックス多孔体を提供する。 - 特許庁