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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Memory Arrayの意味・解説 > Memory Arrayに関連した英語例文

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Memory Arrayの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3046



例文

A semiconductor memory device is constituted so that main bit lines 31 or main word lines 32 are arranged so as to cross perpendicularly to bit lines 22 or word lines 29 and a main bit line selector 35 or a main word line selector 38 is arranged at the outside of a memory cell array 16 for selecting a main bit line or a main word line.例文帳に追加

ビット線22またはワード線29に直交するようにメインビット線31またはメインワード線32を配置して、メインビット線またはワードビット線を選択するためのメモリセルアレイ16の外側にメインビット線セレクタ35またはメインワード線セレクタ38をメモリセルアレイの外側に配置するように、半導体記憶装置10を構成する。 - 特許庁

The compression/coding means and the transmission/ coding means provided within the picture transmission unit 200-1 each has a rewritable nonvolatile memory for storing programs with procedures corresponding to the coding format and the communication protocol respectively, a digital signal processor which executes signal processing according to the program stored in the memory, and a field programmable logic array which executes logical operation according to set logic conditions.例文帳に追加

映像伝送ユニット200−1内に設けられる画像圧縮符号化手段と伝送符号化手段は、例えば、書き換え可能な不揮発性メモリに格納されたプログラムによって信号処理を行うディジタル信号プロセッサと、設定された論理条件で演算処理を行うフィールド・プログラマブル・ロジック・アレイとで構成されている。 - 特許庁

To provide a disk array device capable of using a memory area other than one in which failure has occurred in a failed I/O process controller and minimizing the influence of performance degradation, without taking over all I/O processes to an I/O controller of the other system, when a part of a cache memory is failed.例文帳に追加

キャッシュメモリの一部に障害が発生した場合に、I/O処理を全て他系のI/O処理コントローラへ引き継ぐことなく、障害が発生したI/O処理コントローラの障害が発生したメモリ領域以外のメモリ領域を活用するとともに、性能劣化の影響を極小化させることが可能なディスクアレイ装置を提供する。 - 特許庁

When the conductivity type of the diffusion layer of a dummy cell region 22 is made opposite to that of the diffusion layers of adjacent memory cells, the diffusion layer formed in the dummy cell region 22 can also the used as a well potential supplying diffusion layer and the increase of the chip area caused by the increase of the split number of a memory cell array section can be suppressed.例文帳に追加

ダミーセル領域22の拡散層の導電型をそれと隣接するメモリセルのセルの拡散層と逆にすれば、ダミーセル領域22に形成される拡散層をウェル電位供給用拡散層として兼用することができ、メモリセルアレイ部の分割数が増大することによるチップ面積の増大を抑制することができる。 - 特許庁

例文

By electrically connecting an n-channel type MISFETQs in the direct peripheral circuit arranged in close to a memory array and a common source line PN_1 via a pad layer 16 composed of the same conductive film as that of a storage electrode 15 of the memory cell, the aspect ratio of a contact hole 22 formed at the upper part of the pad layer 16 is reduced.例文帳に追加

メモリアレイに近接して配置した直接周辺回路のnチャネル型MISFETQsと共通ソース線PN_1との接続を、メモリセルの蓄積電極15と同一の導電膜で構成したパッド層16を介して電気的に接続することにより、パッド層16の上部に形成するコンタクトホール22のアスペクト比を小さくする。 - 特許庁


例文

A NAND memory array includes: a first select transistor connected with a first select line; a second select transistor connected with a second select line; memory cells or the like each connected with its own word line or the like, which are connected in series between the first select transistor and the second select transistor; and a strapping line connected electrically with the first select line.例文帳に追加

NANDメモリーアレイは、第1選択ラインに連結された第1選択トランジスターと、第2選択ラインに連結された第2選択トランジスターと、ワードライン等に各々連結され、第1及び第2選択トランジスターの間に直列に連結されたメモリーセル等と、そして、第1選択ラインに電気的に連結されたストラッピングラインを含む。 - 特許庁

This communication control device has a control memory for discriminating whether transmission data are to be transmitted at a peak rate (PCR) or average rate (SCR), transmission part and CAM array part 39 for mutually correspondently storing the class (PCR or SCR) of the transmission rate discriminated by the control memory and transmission part and the time of transmission.例文帳に追加

通信制御装置は、送信データをピークレート(PCR)及び平均レート(SCR)のいずれによって送信するかを判定するコントロールメモリ17及び送信部20と、コントロールメモリ17及び送信部20によって判定された送信レートの種別(PCR、SCR)と送出時刻とを相互に対応させて記憶するCAMアレイ部39とを有している。 - 特許庁

N-channel type memory cell selecting MISFETs, having gate electrodes 9A (word lines WL) using a p^+ poly-SiGe film 9p are formed in a memory array, and n-channel MISFETs, having gate electrodes 9B using an n^+ poly-SiGe film 9n and p-channel MISFETs, having gate electrodes 9C using the p^+ poly-SiGe film 9p, are formed.例文帳に追加

p^+ポリSiGe膜9pをゲート電極9A(ワード線WL)に用いたnチャネル型のメモリセル選択用MISFETをメモリアレイに形成し、n^^+ポリSiGe膜9nをゲート電極9Bに用いたnチャネルMISFETおよびp^+ポリSiGe膜9pをゲート電極9Cに用いたpチャネルMISFETを形成する。 - 特許庁

To enhance the capacitor characteristics by preventing scratch of a lower electrode due to CMP, and ensuring uniformity of the thickness of a capacity insulating film in the memory cell array and in the lower electrode, in the manufacturing method of a semiconductor memory device in which the capacity insulating film of ferroelectric, or the like, is formed as a component of a capacitor by application of a liquid material.例文帳に追加

半導体記憶装置のキャパシタの構成要素として、強誘電体等の容量絶縁膜を液状材料の塗布により形成する製造方法において、CMPによる下部電極へのスクラッチ防止と、容量絶縁膜膜厚のメモリセルアレイ内、下部電極内での均一性を実現し、キャパシタ特性を向上させる。 - 特許庁

例文

To suppress the increase of power consumption as much as possible even when a word line is set to a negative potential to rest a word line, in a semiconductor device having a function performing reset operation by driving a word line connected to a memory cell to restore a memory cell in a cell array from an activation state to a standby state.例文帳に追加

セルアレイ内のメモリセルを活性化状態からスタンバイ状態に復帰させるために、メモリセルに接続されたワード線を駆動してリセット動作を行う機能を有する半導体装置に関し、ワード線をリセットするためにワード線をマイナス電位に設定する場合でも、消費電力の増加を極力抑えることを目的とする。 - 特許庁

例文

The memory array has nonvolatile memory cells, in which a write voltage is applied from a write selection word line according to an address signal in the write operation and also a write current is supplied from a transistor (TR6) switching controlled by a write selection bit line and the parallel write restriction circuit according to logical values of write data.例文帳に追加

メモリアレイは、書き込み動作においてアドレス信号に従って書き込み選択とされるワード線から書き込み電圧が印加され、且つ、書き込みデータの論理値に従って書き込み選択ビット線と並列書き込み制限回路によりスイッチ制御されるトランジスタ(TR6)から書き込み電流が供給される不揮発性メモリセルを有する。 - 特許庁

An AD memory part 130 is constituted by arranging a unit memory 131 in two-dimensional arrangement corresponding to each pixel arrangement of the pixel array part 110, sequentially accumulates the analog pixel signals read through a perpendicular signal line and performs various kinds of processing (for example, solid-state pattern noise removal and gain adjustment, etc. by CDS) including the AD conversion.例文帳に追加

ADメモリ部130は、画素アレイ部110の各画素配列に対応する2次元配列で単位メモリ131を配置して構成され、垂直信号線を通して読み出されたアナログ画素信号を順次蓄積し、AD変換を含む各種の処理(例えばCDSによる固体パターンノイズ除去やゲイン調整等)を行う。 - 特許庁

The line section signal detection circuit 15 detects a line selection signal S3 which shows that any line of a memory cell array 2 when data is written into a memory cell 1 corresponding to the writing request signal S1, and when the line selection signal detection circuit 15 detects the line selection signal S3, it outputs the response signal S4 corresponding to the writing request signal S1.例文帳に追加

行選択信号検出回路15は、書き込む要求信号S1に応じてメモリセル1にデータを書き込む際に、メモリセルアレイ2の何れの行が選択されたことを示す行選択信号S3を検出し、これを検出したときに、書き込み要求信号S1に対応する応答信号S4を出力するように構成される。 - 特許庁

In this semiconductor memory, the sense amplifier circuit amplifying a potential of bit lines BL, /BL in a memory cell array is constituted of a current mirror type amplifier(C-AMP) and a latch type amplifier(L-AMP) connected to the next stage of the sense amplifier.例文帳に追加

一方、ラッチ型センスアンプ回路は、高速で低消費電流であるという利点を有するものの、ビット線対の微小振幅をラッチ回路1段で増幅するため、プロセスばらつきによりセンスアンプ回路を構成するMOSFETの特性がばらついたり内部ノードの寄生容量がアンバランスになると、安定した動作特性が得られ難いという問題点があった。 - 特許庁

At the time of initialization, configuration data prepared for all areas of the configuration memory (RAM) 153 built in the field programmable gate array(FPGA) 150 and previously stored in a file storage device 140 are downloaded to the RAM 153 through a system memory 120 and then only configuration data necessary for data processing are downloaded to a part of the RAM 143.例文帳に追加

初期化時に、ファイル記憶装置140に予め格納されているフィールド・プログラマブル・ゲートアレイ(FPGA)150内のコンフィグレーション用メモリ(RAM)153全領域分のコンフィグレーション・データを、システムメモリ120を介してRAM153にダウンロードし、その後、データ処理に必要なコンフィグレーション・データのみをRAM153の一部にダウンロードする。 - 特許庁

Among them, M and N are natural numbers, and the second storage cells and the first transistors control whether the open circuit is formed between the corresponding bit line and sense amplifier, or not, and a write-in of a test result of the nonvolatile memory array is carried out by the second transistor and the enable line.例文帳に追加

その中で、MとNは自然数であって、第2記憶セルと、第1トランジスタは、対応するビット線とセンス増幅器の間が開路であるか否かを制御し、第2トランジスタとエネイブル線とは、不揮発性メモリアレイのテスト結果を書き込む。 - 特許庁

To provide a highly reliable semiconductor storage device which inhibits an influence of a shape of a micro trench formed in an element isolation region of a peripheral circuit part with adjusting a depth of the element isolation region of a memory cell array and the peripheral circuit part.例文帳に追加

メモリセルアレイおよび周辺回路領域の素子分離領域の深さを調節しつつ、周辺回路部の素子分離領域に形成されるマイクロトレンチ形状の影響を抑制し、信頼性の高い半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor device of the present invention capable of correcting errors in stored data includes a memory array 31, a data reading part 32, an ECC circuit (data error detecting part and second data correcting part) 40, and a data correcting part (first data correcting part) 33.例文帳に追加

本発明は、記憶したデータの誤りを訂正することが可能な半導体装置であって、メモリアレイ31と、データ読出部32と、ECC回路(データ誤検出部、第2データ訂正部)40と、データ訂正部(第1データ訂正部)33とを備えている。 - 特許庁

Transistors 112 are respectively connected between a connecting terminal 111 for inputting Vpp and word lines Wi and write protection is applied to a second memory cell array by controlling the continuity of the transistors 112 with the input to a control terminal 113.例文帳に追加

Vppを入力する接続端子111とワード線Wiとの間にそれぞれトランジスタ112を介挿し、このトランジスタの導通状態を、制御端子113の入力によって制御することで第2のメモリセルアレイ122にライトプロテクトをかける。 - 特許庁

A weight calculation unit 10 calculates the difference e1(t) between an array output value Y1(t-1) of one preceding symbol which is stored in the memory 11 and assumed as the reference signal and the complex-multiplying sum Y(t).例文帳に追加

ウェイト計算機10は、既知の参照信号が存在しないときには、メモリ11に記憶されている、みなされた参照信号である1シンボル前のアレイ出力値Y1(t−1)と複素乗算和Y(t)との誤差e1(t)を算出する。 - 特許庁

A switch for controlling the connection of a pair of bit lines and an input/output control circuit is provided at also an input/output control circuit CKT33 connected to only one group of pair of bit lines provided between a Y decoder YD and a memory array MA3.例文帳に追加

YデコーダYDとメモリアレイMA3間に設けられた一組のビット線対のみに接続されている入出力制御回路CKT33にも、前記ビット線対と前記入出力制御回路との接続を制御するためのスイッチを設ける。 - 特許庁

A CMOS-SRAM equipped with a plurality of full CMOS type memory cells 1 arranged in a two-dimensional array in line and columnar directions is provided with a capacity plate 2 for reducing software error by adding a capacity to nodes ND1 and ND2.例文帳に追加

行方向及び列方向に2次元配列で配置された複数のフルCMOS型のメモリセル1を備えたCMOS−SRAMには、ノードND1、ND2に容量を付加してソフトエラーを低減する容量プレート2が設けられている。 - 特許庁

In a controller 1, a ROM write-mode setting register 10 for setting ON/OFF modes of the switches 11-1 to 11-N is provided, and the switches 11-1 to 11-N are set to ON modes when a program is written into a memory array 2 by using sockets.例文帳に追加

コントローラ1に、スイッチ11−1〜11−NのON/OFFモードを設定するROM書きモード設定用レジスタ10を設け、ソケットを使用してのメモリアレイ2へのプログラムの書き込み時に、スイッチ11−1〜11−NをONモードとする。 - 特許庁

A search line driver DR transfers search data SD, SD_N to respective CAM cells of a CAM memory array 10 via a search line pair SL, SL_N when a search line enable signal SLE supplied from a search control circuit 40 is activated.例文帳に追加

サーチ線ドライバDRは、サーチ制御回路40から供給されたサーチ線イネーブル信号SLEが活性化したとき、CAMメモリアレイ10の各CAMセルにサーチ線対SL,SL_Nを介して検索データSD,SD_Nを転送する。 - 特許庁

In this disk array device, a storage control device 100 controls the residence or non-residence of data relevant to jobs within the cache memory 130 on the basis of cache residence information issued for a job processed in a server 300.例文帳に追加

ディスクアレイ装置において、ストレージ制御装置100は、サーバ300で処理されているジョブに関連して発行されたキャッシュ常駐化情報に基づいて、キャッシュメモリ130内のジョブに関連するデータの常駐化または非常駐化を制御する。 - 特許庁

Each memory array includes one or a plurality of row conductors extending in the direction of a row, and one or a plurality of column conductors extending in the direction of a column such that a cross point is formed at an intersection between the row conductors and the column conductors.例文帳に追加

各メモリアレイは、行方向導体と列方向導体との間の交点でクロスポイントが形成されるように、行方向に延びる1つまたは複数の行方向導体及び列方向に延びる1つまたは複数の列方向導体を含む。 - 特許庁

The step of adapting comprise a step for determining the voltage level of the programming pulse, used to program the fastest bit of the memory array and a step setting an initial programming pulse level to a level in the general vicinity of the programming pulse level of the fastest bit.例文帳に追加

適応させるステップは、メモリアレイの高速ビットをプログラムするために使用されるプログラミングパルスの電圧レベルを決定するステップと、メモリアレイの初期プログラミングパルスレベルを、高速ビットのプログラミングパルスに概して近接したレベルに設定するステップとを含む。 - 特許庁

When the first rewritable signal FHVED is active, the first voltage supply control part 20D supplies high voltage generated by an internal power circuit (boosting circuit) 11 to a memory array 40D in the data area 10D.例文帳に追加

第1の電圧供給制御部20Dは、第1の書換可能信号FHVEDが活性化状態の場合に、内部電源回路(昇圧回路)11で生成された高電圧をデータ領域10Dのメモリアレイ40Dに供給する。 - 特許庁

Column redundant information storage circuit blocks 1W0-1W7 and 1E0-1E7 for failure column rescue are arranged in correspondence to each of memory cell array blocks MBW0-MBW7 and MBE0-MBE7.例文帳に追加

メモリセルアレイブロック(MBW0−MBW7,MBE0−MBE7)それぞれに対応して、不良列救済のためのコラム冗長情報を格納するコラム冗長情報格納回路ブロック(1W0−1W7,1E0−1E7)を配置する。 - 特許庁

To provide a driving circuit capable of making it efficient to layout nonvolatile ferro-electric memory elements wherein a cell array part is divided into two and any cell is made selectable, minimizing the chip in size, and maximizing the elements in the driving performance.例文帳に追加

セルアレイ部を二つに分割してその中から任意のセルを選択できるようにした不揮発性強誘電体メモリ素子のレイアウトを効率的にし、かつチップのサイズを最小化し、素子の駆動能力を極大化できる駆動回路を提供する。 - 特許庁

In a data processor 1, a user area (block A) 19 where a user programs data and a firmware area (block) 20 where a program for controlling the writing/deleting/reading of the block A is stored are installed in the cell array area 9 of a flash memory 7.例文帳に追加

データ処理装置1は、フラッシュメモリ7のセルアレイ領域9内に、ユーザがデータをプログラムするユーザ領域(ブロックA)19と、ブロックAの書込み/消去/読出しを制御するためのプログラムが記憶されたファームウエア領域(ブロックB)とを設ける。 - 特許庁

By arranging read word lines RWL for every two regions AR1 and AR2 formed by dividing a memory array 10 in the column direction, it is possible to reduce signal propagation delays of the read word lines RWL and the data are read at a high speed.例文帳に追加

メモリアレイ10を列方向に分割して形成される領域AR1,AR2ごとにリードワード線RWLを分割配置することによって、リードワード線RWLにおける信号伝搬遅延を低減して、データ読出動作を高速化できる。 - 特許庁

Data read out en bloc from sub-arrays SBA0-SBA1 in a memory cell array 20 are compared by a data bus driving circuit 300, the data bus driving circuit 300 drives potentials of data buses DB, /DB with small amplitude in accordance with this compared result.例文帳に追加

メモリセルアレイ20中のサブアレイSBA0〜SBA1から一括して読み出されたデータは、データバス駆動回路300により比較され、この比較結果に応じて、データバス駆動回路300はデータバスDB、/DBの電位を小振幅で駆動する。 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor storage device includes: a substrate 100; a control circuit layer 200a provided on the substrate 100; a support layer 300 provided on the control circuit layer 200a; and a memory cell array layer provided on the support layer 300.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は、基板100と、基板100上に設けられた制御回路層200aと、制御回路層200aの上部に設けられた支持層300と、支持層300の上部に設けられたメモリセルアレイ層とを備える。 - 特許庁

A voltage of 5V generated by a voltage supply circuit 101 and a voltage of -5 V, which is obtained by polarity inversion of the 5 V by a voltage-polarity inversion circuit 111, are supplied to the memory cell array 102 by a selective connection circuit 105.例文帳に追加

電圧供給回路101で生成した5Vの電圧と、この5Vの電圧の極性を電圧極性反転回路111反転してなる−5Vの電圧とを、選択接続回路105によってメモリセルアレイ102に供給する。 - 特許庁

The write-amplifier 23 writes selectively and simultaneously write-in data held in the write-register 22 corresponding to the set write-release flag Wrk in a memory cell array 11 when interruption of the burst cycle is indicated by a control signal/CE.例文帳に追加

ライトアンプ23は,制御信号/CEによってバーストサイクルの中止が指示されたとき,セットされているライトリリースフラグWRkに対応するライトレジスタ22kに保持されている書込データを,選択的に,且つ,同時にメモリアレイ11に書き込む。 - 特許庁

In the associative memory of this invention, a CAM array 10 having a plurality of CAM cells CC is divided into a plurality of CAM subarrays 10a to d, and a retrieval operation is sequentially executed from a higher-order CAM subarray to a lower-order subarray.例文帳に追加

本発明は、複数のCAMセルCCを有するCAMアレイ10を複数のCAMサブアレイ10a〜dに分割し、上位のCAMサブアレイから下位のCAMサブアレイに向かって順に検索動作を実行する連想メモリである。 - 特許庁

Reference potential precharge of a memory cell array 1 is performed by selecting a bit line BL by turning on a reference potential control transistor SDT in which a gate is connected to the reference potential control line SDAL connected to a control circuit 3.例文帳に追加

メモリセルアレイ1の参照電位プリチャージは、制御回路3に接続される参照電位制御線SDALにゲートが接続される参照電位制御トランジスタSDTのオンすることにより、ビットラインBLが選択され、実行される。 - 特許庁

To provide a magnetic tunnel junction type magnetic random access memory cell array that achieves both the thermal stabilization of the magnetization of a free layer and reduction in electric current required for changing the direction of magnetization, to improve operational performance.例文帳に追加

フリー層の磁化状態の熱的安定化と磁化方向を変化させるために要する電流の低電流化とを両立させることにより、動作性能を向上させることが可能な磁気トンネル接合型磁気ランダムアクセスメモリセルアレイを提供する。 - 特許庁

The reference potential precharge of a memory cell array 2 is performed by selecting the bit line BL by turning on a reference potential control transistor SDT in which a gate is connected to the reference potential control line SDBL connected to a control circuit 3.例文帳に追加

メモリセルアレイ2の参照電位プリチャージは、制御回路3に接続される参照電位制御線SDBLにゲートが接続される参照電位制御トランジスタSDTのオンすることにより、ビットラインBLが選択され、実行される。 - 特許庁

A memory 50 is storing inclination information of a line head and a delay circuit 40 sets the delay time for each light emitting element array depending on the inclination information, i.e. the inclination of a light emitting element line against the main scanning direction.例文帳に追加

モリ50にはラインヘッドの傾斜情報を記憶しており、遅延回路40は傾斜情報、すなわち発光素子ラインの主走査方向に対する傾斜の度合いに応じて、各発光素子列に対する遅延時間の大きさを設定する。 - 特許庁

To provide the method of manufacturing a semiconductor device in which a source/drain diffusion layer having a straight line portion which is equal to or below the limit of the resolution of lithography used as a memory cell array region and a connection portion which connects the straight line portion can be formed easily.例文帳に追加

メモリセルアレイ領域となるリソグラフィの解像限界以下の直線部と、その直線部を接続する接続部とを有するソース・ドレイン拡散層を簡易に形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Each block of a memory cell array 51 is provided with nonvolatile normal/defective flag storing cells 62 in which a flag for discriminating whether a block is normal or not is recorded, and a normal/defective state discriminating circuit 63 discriminating a normal/defective state of a block based on the flag.例文帳に追加

メモリセルアレイ51の各ブロックごとに、正常であるか否かを識別するためのフラグを記録した不揮発性の良/不良フラグ記憶セル62と、上記フラグに基づきブロックの良否を判定する良/不良判定回路63を設ける。 - 特許庁

An error code correcting system consisting of 64 bits data bit and 9 bits check bit with respect to a memory array ARY such as a DRAM is introduced, for instance, and an error correction code circuit ECC according to the above arrangement is disposed adjacent to a sense amplifier column SAA.例文帳に追加

例えば、DRAMなどのメモリアレイARYに対して、64ビットのデータビットと9ビットのチェックビットからなる誤り符号訂正方式を導入し、これに伴う誤り訂正符号回路ECCをセンスアンプ列SAAに隣接して配置する。 - 特許庁

The upper layer metal wirings (MLo, MLe) for pile driving are extended from the word line drive circuits to be arranged face to face to a connection area (10) at the center part of the memory cell array, and mutually and electrically connected to the gate wirings in the connection area.例文帳に追加

杭打用の上層の金属配線(MLo,MLe)は、対向配置されるワード線ドライブ回路からメモリセルアレイの中央部の接続領域(10)まで延在させ、接続領域においてゲート配線に交互に電気的に接続する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device, such as a DRAM, capable of suppressing an excessive diffusion of a dopant in a source-drain diffusion layer in a peripheral circuit region, while heat treatment condition is adopted that is appropriate for the source/drain diffusion layer in a memory array region.例文帳に追加

メモリアレイ領域のソース・ドレイン拡散層に適した熱処理条件を採用しつつも、周辺回路領域のソース・ドレイン拡散層での不純物の過度の拡散を抑制できるDRAM等の半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

A memory cell array comprises a plurality of pairs of bit lines BL1, ... and control lines CL1, ... formed parallel to a channel on a substrate.例文帳に追加

メモリセルアレイ部は、基板上においてチャネルと平行に形成された複数対のビット線BL1,・・・及び制御線CL1,・・・を有し、これらの各対のビット線BL1,・・・及び制御線CL1,・・・の間に、複数個の2トランジスタ構成のメモリセル10,・・・がそれぞれ配置されている。 - 特許庁

The potential of Vpp mains for supplying boost potential while being commonly provided at a plurality of memory array banks is detected by a Vpp level detection circuit 32, and boosting pump circuits 36a and 36b supply a current to the Vpp mains according to the result.例文帳に追加

複数のメモリアレイバンクに共通に設けられ昇圧電位を供給するVpp幹線の電位がVppレベル検知回路32によって検知され、その結果に応じて昇圧ポンプ回路36a,36bは電流をVpp幹線に供給する。 - 特許庁

A comparing circuit 40 judges the existence or absence of a defective cell in a memory cell array 10 by comparing data read from an I/O bus with data previously decided and outputs the judged result as a judgement signal 4.例文帳に追加

比較回路40は、I/Oバスから読み出されたデータが予め定められたデータと同じであるかどうかを比較することによりメモリセルアレイ10中の不良セルの有無の判定を行いその判定結果を判定信号4として出力する。 - 特許庁

例文

The use of the external SSD array as the WB cache memory makes the DAS system completely cache-coherent without significantly increasing the complexity of the DAS system and without increasing a bandwidth used for performing a caching operation.例文帳に追加

WBキャッシュ・メモリとして外部SSDアレイを使用することにより、DASシステムの複雑さを大幅には増やさず、キャッシング動作の実行に利用される帯域幅の量を増やさずに、DASシステムが完全にキャッシュ・コヒーレントにすることが可能になる。 - 特許庁




  
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