「Probe Unit」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

The measuring device includes a measuring plate 10, a probe unit 30 for amplifying the quantity of electrostatic charge guided to the measuring plate 10, and a shield member 20 provided in such a way as to surround the periphery of the measuring plate 10.例文帳に追加

計測プレート１０と、計測プレート１０に誘導された静電荷量を増幅するプローブユニット３０と、計測プレート１０の周囲を取り囲むように設けられたシールド部材２０とを備える。 - 特許庁

Ultrasonic signal reflected from blood by an ultrasonic probe 1 is converted into electric signal, detected by a phase detector 3, treated by a signal treating unit 5, and to which, discrete Fourier transform is applied by a Fourier transform unit 6, and obtained spectrum components are displayed at a display device.例文帳に追加

超音波探触子１によって血流から反射された超音波信号を電気信号に変換し、位相検波器３によって位相検波し、信号処理器５で信号処理し、フーリエ変換器６で離散フーリエ変換し、得られたスペクトル成分を表示器７に表示する。 - 特許庁

To provide a coaxial probe which achieves coaxial response of a contact unit, can prevent more perfectly intrusion of noises into a circuit formed by an electric circuit element or the like and a measuring circuit or the like connected with the contact unit as a relay means, and can obtain more excellently impedance matching.例文帳に追加

コンタクト機の同軸対応化を図り、コンタクト機を中継手段として接続された電気回路素子等と測定回路等の回路とにより形成された回路へのノイズの侵入をより完全に防止することができ、更に、インピーダンス整合をより良好に取れるようにする。 - 特許庁

A detection device (diagnostic device) includes a base unit, both ends of the base unit are fixed to the rotor 30, and the detector probe is moved around the whole periphery of the rotor, even in the axial-line direction of the generator or even in the peripheral direction of the mechanical air-gap in the mechanical air-gap.例文帳に追加

前記検出装置（診断装置）がベースユニットを有しており、該ベースユニットが両端でローター３０に取り付けられていて、検出プローブを機械空気間隙内で発電機軸線の方向でも機械空気間隙の周方向でもローターの全周にわたって運動させるようになっている。 - 特許庁

An inspection target is subjected to demagnetization treatment (demagnetization unit 12) prior to (eddy current flaw detection unit 13) for detecting the magnitude of the eddy current in the inspection target using an eddy current flaw detection probe and/or a change therein to inspect the presence of the flaw in the inspection target.例文帳に追加

渦流探傷プローブを用いて検査対象物における渦電流の大きさおよび／またはその変化を検出して前記検査対象物における傷の有無を検査する（渦流探傷ユニット１３）に先立ち、前記検査対象物を脱磁処理する（脱磁ユニット１２）。 - 特許庁

A beam diameter of a probe light pulse outputted from a light source 11 is changed by a beam diameter changing optical system 33, the pulse surface is inclined by a pulse surface inclination unit 34, and the beam diameter is adjusted by a beam diameter adjustment optical system 35 before being inputted to the optical operation unit 42.例文帳に追加

光源１１から出力されたプローブ光パルスは、ビーム径変更光学系３３によりビーム径を変更され、パルス面傾斜部３４によりパルス面を傾斜され、ビーム径調整光学系３５によりビーム径を調整されて、光学的作用部４２に入力される。 - 特許庁

In this hydrogen manufacturing unit, at least an ultrasonic wave probe 16 for boundary surface detection is set on the bottom wall 11a of the reactor 11 of the hydrogen manufacturing unit using IS process, and ultrasonic wave probes, 17a, and 17b for sound velocity correction on the side wall 11b of the reactor 11.例文帳に追加

本発明に係る水素製造装置は、ＩＳプロセスを用いた水素製造装置の反応容器１１の底壁１１ａに１つ以上の境界面検知用超音波探触子１６を設置し、反応容器１１の側壁１１ｂに音速補正用超音波探触子１７ａ，１７ｂを設置する。 - 特許庁

In this actual measurement, first ultrasonic measurement is performed to an identical part in two states of presence/absence of pressure of an ultrasonic probe to obtain two ultrasonic tomographic images, and displacement by pressure by a pixel unit or by a block unit having a prescribed number of pixels (M×M) of the two ultrasonic tomographic images is obtained.例文帳に追加

この実測では、先ず超音波深触子の押圧の有無の２つの状態で、同一部位から超音波計測を行い２つの超音波断層像を得、この２つの超音波断層像相互の画素単位又は所定の画素数（Ｍ×Ｍ）ブロック単位の押圧による変位を求める。 - 特許庁

The probing radar apparatus used to probe objects buried in the base is provided with at least three antennas (sx, rx, sy, ry) arranged inside one plane as an antenna array (1) for electromagnetic waves in a high-frequency region, a time-controlled signal processor, an evaluation unit for SAR and a display unit.例文帳に追加

基盤中に埋設された物体を探査するための探査レーダー装置は、高周波領域における電磁波用のアンテナ配列（１）として、一平面内に配置された少なくとも３個のアンテナ（ｓｘ，ｒｘ，ｓｙ，ｒｙ）と、時間制御される信号プロセッサと、ＳＡＲ用の評価ユニットと、表示ユニットとを具える。 - 特許庁

The ultrasonic probe includes: an ultrasonic vibrator unit 31 having a plurality of ultrasonic vibrators arrayed in a first direction; a support mechanism 32 for supporting the ultrasonic vibrator unit 31 in a second direction different from the first direction, so as to be substantially linearly movable; and the power generating part 33 for generating power for moving the ultrasonic vibrator unit 31.例文帳に追加

第１の方向に配列された複数の超音波振動子を有する超音波振動子ユニット３１と、超音波振動子ユニット３１を第１の方向と異なる第２の方向に沿って実質的に直線移動可能に支持する支持機構３２と、超音波振動子ユニット３１を移動するための動力を発生する動力発生部３３とを具備する。 - 特許庁

A device 1 for measuring a braze thickness includes: a probe 2 capable of transmitting and receiving ultrasonic waves of a plurality of frequencies; an echo measuring unit 52; a first storage unit 73 that stores echo height-braze thickness information indicating a relative relationship between interface echo heights of the ultrasonic waves of the plurality of frequencies and the thickness of the brazing filler material; and a braze thickness arithmetic unit 71.例文帳に追加

ろう厚測定装置１に、複数の周波数の超音波の発振と受信が可能な探触子２と、エコー測定部５２と、複数の周波数の超音波の界面エコー高さとろう材の厚さとの相関関係を示すエコー高さ−ろう厚情報を格納した第１記憶部７３と、ろう厚演算部７１とを備える。 - 特許庁

The driving module is fitted to a transfer unit so as to move into the manually or automatically performed state of longitudinal displacement of a transducer sub-assembly of the ultrasonic imaging probe arranged on the distal end side.例文帳に追加

駆動モジュールは、遠位端側に配置された超音波像映プローブのトランスジューサ・サブアセンブリの長手方向の変位が手動又は自動で行われる状態の間を動くように、移送ユニットに取り付けられる。 - 特許庁

Each forward contact section 36 of both the end contact-type multiple pin loop probe 30 comes into contact with each terminal pad of a liquid crystal panel 12, and each backward contact section 38 comes into contact with a relay wire 44 in front of the relay unit.例文帳に追加

両端接触型の多ピンループプローブ３０の各前方接触部３６は液晶パネル１２の各端子パッドに接触し、各後方接触部３８は中継ユニットの前方端の中継ワイヤ４４に接触する。 - 特許庁

To provide a probe unit capable of precisely and efficiently performing an inspection even to a pattern aligned with high density, an inspection device, an inspection method of electro-optical panel board, and a manufacturing method of electro-optical apparatus.例文帳に追加

高密度に配列されたパターンに対しても高精度且つ効率的に検査を行うことのできるプローブユニット、検査装置、電気光学パネル基板の検査方法、及び電気光学装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting magnetic characteristics, capable of automating cleaning of a contact probe unit and improving the inspection reliability and the throughput of a magnetic head and a magnetic disk.例文帳に追加

コンタクトプローブユニットの清掃を自動化することが可能で、磁気ヘッド、磁気ディスクの検査の信頼性と検査のスループットを向上させることができる磁気特性検査方法および検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a wire routing structure of a Z-axis unit in a substrate inspection device configured to route a measurement line or the like while maintaining an immovable state even when a probe is moved in a Z-axis axial direction so as not to cause disconnection.例文帳に追加

プローブをＺ軸軸方向に移動させても計測線等が不動状態を維持するように引き回して断線しないようにした基板検査装置におけるＺ軸ユニットの配線引き回し構造の提供。 - 特許庁

The voltage applying device used for the electron source manufacturing device is provided with a probe unit 712 which enables to apply a voltage on a base board 110 on which a conductor and an electrode wiring 111 connected to the conductor are formed.例文帳に追加

電子源の製造装置で用いる電圧印加装置は、導電体とこれに接続された電極配線１１１とが形成されている基板１１０への電圧印加を可能にするプローブユニット７１２を備える。 - 特許庁

In a substrate inspection apparatus for inspecting a probe trace formed on a bump pad in an inspection area of a substrate 20, the substrate is supported on a stage and an image of the inspection area is captured by an image capture unit 220.例文帳に追加

基板２０の検査領域内のバンプパッドに形成されたプローブマークを検査するための基板検査装置において、基板はステージ上に支持され、イメージ獲得ユニット２２０によって検査領域のイメージが獲得される。 - 特許庁

A unit 104 having an electrifying means 102 and a surface potential measuring probe 103 is provided on the outer periphery of the cylindrical photoreceptor 101 having a photoconductive layer principally composed of amorphous silicon.例文帳に追加

アモルフアスシリコンを主成分とする光導電層を有する円筒状の感光体１０１の外周に、帯電手段１０２および表面電位測定用プローブ１０３を有するユニット１０４が設けられている。 - 特許庁

The sensor 38 detects a reaction force applied to the motor 32, when the inspecting probe 36 is brought into contact with the printed board 11, and according to its detected value the controller unit 50 drives the motor 32.例文帳に追加

そして、検査用プローブ３６がプリント基板１１に接触したときに、モータ３２に掛かる反力を反力検出センサ３８が検出し、その検出値に応じて制御装置５０がモータ３２を駆動させるようにした。 - 特許庁

The probe unit includes an outer conductor of a cylinder type, a central conductor of a cylinder type disposed at the center inside the outer conductor, and a flow passage guiding a flow of a fluid outside the central conductor.例文帳に追加

このプローブユニットはシリンダ型の外部伝導体と、前記外部伝導体の内部の中心に配置されるシリンダ型の中心伝導体と、前記中心伝導体の外側で流体の流れをガイドする流路とを具備する。 - 特許庁

To provide a liquid discharge unit capable for easily manufacturing a desired probe array without increasing manufacturing costs as respective discharge openings can be disposed relatively freely, even if the intervals between the respective discharge openings are large.例文帳に追加

製造コストを増大させることなく、各吐出口間の間隔が大きくても各吐出口の配置を比較的自由に行うことができ、所望のプローブ・アレイを容易に製造できる液体吐出ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a probe unit and a continuity test method capable of raising contact pressure with electrodes of a specimen and accurately positioning the electrodes of the specimen to contact parts of conductors to be brought in contact with the electrodes.例文帳に追加

検体の電極との接触圧を大きくすることができ、検体の電極とその電極に接触する導線の接触部とを正確に位置合わせすることができるプローブユニット及び導通試験方法を提供する。 - 特許庁

A resistance measuring unit 132 to which a probe card 133 is mounted measures a resistance value of a machined portion of the substrate 102 by the machining optical system 131, and takes an image of a measurement position Pb by a camera.例文帳に追加

プローブカード１３３が取付けられている抵抗測定ユニット１３２は、加工光学系１３１による基板１０２の加工部分の抵抗値を測定するとともに、カメラにより測定位置Ｐｂを撮影する。 - 特許庁

A confocal objective lens unit 21 to be mounted to the distal end of a confocal laser probe is provided with a first lens 26 facing an observation object site of a subject, a second lens 27, a lens fixing frame 28, and a lens barrel 29.例文帳に追加

共焦点レーザプローブの先端部に取り付けられる共焦点用対物レンズユニット２１は、被検体の被観察部位に対面する第１レンズ２６、第２レンズ２７、レンズ固定枠２８、レンズ鏡筒２９を備える。 - 特許庁

To provide a self displacement sensing cantilever that allows measurement of a scanning probe microscope to be simultaneously executed under irradiation with light, facilitates application of a functional coating film without impairing functions of a displacement detection unit, and also, allows physical properties such as light, electricity, and magnetism to be highly accurately and easily measured, and a scanning probe microscope.例文帳に追加

光を照射しながら走査型プローブ顕微鏡の測定を同時に行うことが可能で変位検出部の機能を損なうことなしに機能性の被膜を容易に行うことができ、光、電気、磁気などの物性を高精度で容易に測定可能となる自己変位検出型カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This ultrasonic diagnostic unit is equipped with an acoustic coupler thickness indication part 20 which can make values of thickness data and sound speed data of the acoustic coupler 10 arbitrarily variable and change the data set by simple operation when an acoustic coupler 10 is connected to a probe 11 of this ultrasonic diagnostic unit and an acoustic coupler sound speed indication part 20.例文帳に追加

超音波診断装置の探触子１１に音響カプラ１０を装着した場合に、その音響カプラ１０の厚みデータと音速データの値を任意に可変とし、このデータの組を簡単な操作で変更することのできる音響カプラ厚み指示部１９及び音響カプラ音速指示部２０を備える。 - 特許庁

Piezoelectric sensors having a piezoelectric thin film formed over a film-shaped substrate are arranged in an array state on the surface of the ultrasonic probe, and a sensor output signal processing unit outputs, on the basis of the output signals coming from individual piezoelectric sensors S1, S2 to S9, the pressure measured on and coming from the individual piezoelectric sensors, to an image processing unit.例文帳に追加

フィルム状の基板上に圧電体薄膜を形成した圧電センサは、超音波探蝕子表面にアレイ状に配置されていて、センサ出力信号処理部は、各圧電センサからの出力信号に基づいて、各圧電センサＳ１，Ｓ２，…，Ｓ９について、計測した圧力を画像処理部に出力する。 - 特許庁

The optical test signal has a property variably defined by a feedback loop formed between a reference image sensor 112 coupled to the probe card and a control unit 140 connected between the reference image sensor 112 and the illumination source.例文帳に追加

光学テスト信号はプローブカードと結合した基準イメージセンサ１１２と、基準イメージセンサ１１２と照明ソースとの間に連結された制御部１４０の間に形成されたフィードバックループによって多様に定義された性質を有する。 - 特許庁

To provide a measuring probe unit for electric measurement capable of performing accurate measuring work by bringing measuring probes into contact with an object to be measured composed of a large conductor while their positions are fixed at a predetermined interval without holding them with hands.例文帳に追加

大型導体からなる被測定物に対し測定プローブを手で持つことなく所定間隔で位置固定した状態のもとで接触させて正確な測定作業ができる電気計測用の測定プローブユニットを提供する。 - 特許庁

By a stage height driving unit 17, after arranging the IC terminal 15 of a chip area 13 to perform inspection by horizontally moving the stage 9 to a position corresponding to the probe terminal 25, the stage 9 is elevated to a prescribed height.例文帳に追加

ステージ高さ駆動ユニット１７によりステージ９を水平移動させて検査を行なうチップ領域１３のＩＣ端子１５をプローブ端子２５に対応する位置に配置した後、ステージ９を所定の高さ位置まで上昇させる。 - 特許庁

This probe unit is characterized by being equipped with a substrate having an electrode with its contact mounting surface plated with gold (Au), a contact having a terminal part plated with tin (Sn), and a gold-tin join part where the electrode is joined to the terminal part.例文帳に追加

接触子装着面に金（Ａｕ）メッキされた電極を有する基板と、錫（Ｓｎ）メッキされた端子部を有する接触子と、該電極と該端子部を接合する金−錫接合部とを備えたことを特徴とするプローブユニット。 - 特許庁

A diagnostic mode control unit 20 makes the ultrasonic probe 10 transmit and receive ultrasound according to the notified transmission condition and makes a pulse compression filter 28 perform pulse compression of a reception signal under a pulse compression condition corresponding to the transmission condition.例文帳に追加

診断モード制御部２０は、通知された送信条件にしたがって超音波探触子１０に送受波を行わせ、パルス圧縮フィルタ２８にその送信条件に応じたパルス圧縮条件で受信信号をパルス圧縮させる。 - 特許庁

In inspection, the capacitor 14 is separated from the circuit by the select means, and a current waveform flowing through the driving power supply line Vcc outside the head unit 11 is detected by the current probe 211 of an oscilloscope 21 to be displayed on the screen.例文帳に追加

そして、検査時には、選択手段にてコンデンサを回路から切離し、ヘッドユニットの外部の駆動電源供給ラインＶccに流れる電流波形をオシロスコープ２１の電流プローブ２１１で検出して画面表示する。 - 特許庁

When the plunger 50 is retracted and the probe 70 comes into contact with a lower limit switch 68B, the switch 68B detects the reach of the plunger to the retraction limit, and the central control unit opens the second port and the respective opening/shutting valves.例文帳に追加

プランジャ５０が後退し、検出片７０が下部リミットスイッチ６８Ｂに接触すると、下部リミットスイッチが、プランジャが後退限界に達した旨を検出し、中央制御装置は、三方弁の第２のポート及び各開閉弁を開放する。 - 特許庁

To provide a contact probe unit for integrated circuit and a method for manufacturing of the same capable of allowing an electrode pitch of an integrated circuit film part to easily expand and to make the pitch same as an electrode pitch formed on a pad of an inspected body.例文帳に追加

集積回路フィルム部の電極ピッチを容易に拡張させ、これを被検査体のパッドに形成された電極ピッチと同一にすることができる集積回路接触プローブユニット及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

The surgical probe can also include an interlock switch to prevent the firing switch from firing the laser unit and a standby switch to produce a standby control signal to switch the laser between a stand-by and a ready state.例文帳に追加

外科プローブは発射スイッチがレーザー装置を発射させないように発射を阻止するインターロックスイッチと、待機制御信号を発生してレーザー装置を待機状態と即応状態との間で切り替える待機スイッチを含んでよい。 - 特許庁

A probe unit (110) includes an array of transducer cells (103) formed along a first plane (P21) and an integrated circuit structure (106), formed along a second plane (P22) parallel to the first plane, including an array of circuit cells (227).例文帳に追加

探触子ユニット（１１０）は、第１の面（Ｐ２１）に沿って形成されたトランスジューサセル（１０３）のアレイと、第１の面と平行な第２の面（Ｐ２２）に沿って形成された回路セル（２２７）のアレイを有する集積回路構造（１０６）とを含む。 - 特許庁

To provide a device that can confirm and adjust relative parallelism of a probe unit having probes contacting respective stripped electrodes to a panel member having the stripped electrodes arranged in parallel with each other in a short-length direction in a short period of time.例文帳に追加

帯状電極が短手方向に並設されているパネル部材に対し、各帯状電極と接触するプローブを設けたプローブユニットが相対的に平行であることの確認・調整を短時間で実行できる装置を提供する。 - 特許庁

In accordance with this loading, not only a driving shaft 346 and an open/close shaft 356 are connected to a spool shaft and a door shaft of the cartridge 122 but also a probe pin of an IPI detection unit 248 is inserted to an IPI display part of the cartridge.例文帳に追加

これに連動し、カートリッジ１２２のスプール軸及びドア軸には駆動軸３４６及び開閉軸３５６が連結されると共に、カートリッジのＩＰＩ表示部にＩＰＩ検出ユニット２４８のプローブピンが挿入される。 - 特許庁

In the above case, even when a defect (a wear or a deformation) is detected in any of the plurality of contact probes 26, it is enough to replace a unit including the defective contact probe 26 so that the maintainability can be improved as compared to the existing ones.例文帳に追加

この場合、複数のコンタクト・プローブ２６のいずれかに不良（摩耗、変形）が発見されても、該不良のコンタクト・プローブ２６が含まれるユニットのみを交換すれば良いため、従来よりもメンテナンス性を向上させることができる。 - 特許庁

The movable part base 15 is engaged vertically movably with a fixing part base 16 which is a substrate part of the probe unit, by engaging through-holes 17a, 17b, engaging shafts 21a, 21b or coil springs 22a, 22b or the like.例文帳に追加

可動部ベース１５は、プローブユニットの基体部である固定部ベース１６に対し、係合用貫通孔１７ａおよび１７ｂ、係合軸２１ａおよび２１ｂ、あるいはコイルバネ２２ａおよび２２ｂ等により上下可動に係合する。 - 特許庁

A discharge detection sensor 23 comprising a dielectric member 21 and a probe electrode unit 22 is attached into an opening 2a disposed in a lid 2 composing a vacuum chamber to receive a potential change caused in a probe electrode 22b depending on the change of plasma discharge by means of a wave detector, and a detecting signal is output whenever a potential change meeting a predetermined condition occurs.例文帳に追加

真空チャンバを構成する蓋部２に設けられた開口部２ａに誘電体部材２１およびプローブ電極ユニット２２を組み合わせた放電検出センサ２３を装着し、プローブ電極２２ｂにプラズマ放電の変化に応じて誘発される電位変化を波形検出部で受信し、所定の条件に合致した電位変化の出現毎に検出信号を出力する。 - 特許庁

In this semiconductor inspection device constituted so that a prescribed power source is supplied from a DPS unit comprising the power supply part having a plurality of channels to a DUT mounted on a device unit through a probe card, the DPS unit is provided with an output relay for supplying an output voltage from each power supply part to the DUT, and with another output relay for supplying it to other systems other than the DUT.例文帳に追加

複数チャンネルの電源供給部よりなるＤＰＳユニットからプローブカードを介してデバイスユニットに実装されるＤＵＴに所定の電源を供給するように構成された半導体検査装置において、前記ＤＰＳユニットに、各電源供給部の出力電圧をＤＵＴに供給する出力リレーとＤＵＴ以外の他の系統に供給する別出力リレーを設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

A method for testing a semiconductor device comprises steps of contacting a probe needle 2 with the pad, wafer testing of an IC, and constituting the needle 2 of a tungsten alloy in which one or more metals selected from a group containing Y, La and Ce is added unit 0.1 to 1.0 wt.%.例文帳に追加

プローブ針２をパッドに接触させてＩＣのウエハテストを行なうに際し、プローブ針２をＹ，Ｌａ，Ｃｅを含むグループから選ばれた１つまたは２つ以上の金属を０.１〜１.０重量％添加したタングステン合金で構成する。 - 特許庁