「Probe method」に関連した英語例文の一覧と使い方(62ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a probe card and its production method capable of ensuring easiness of production work, simplifying production process, responding to evaluation object with a large area having a high density wiring, and controlling the height of a probe pin.例文帳に追加

作成作業の容易性を確保しつつ、作成工程の簡略化を図ることができ、また、高密度な配線を有する大面積の評価対象に対応でき、さらにプローブピンの高さを調整することが可能であるプローブカード及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A method for position tracking includes placing an internal reference probe in a reference location within a heart of a subject, and collecting and processing first location coordinates of the internal reference probe during one or more respiratory cycles so as to define a range of the location coordinates corresponding to the reference location.例文帳に追加

位置追跡方法は、内部基準プローブを被験者の心臓内部の基準位置に配置することと、基準位置に対応する場所座標の範囲の定めるために、一回以上の呼吸サイクルの間に内部基準プローブの第一の場所座標を収集処理することとを含む。 - 特許庁

The method has [a] a step arranging a conductive member 10 between the semiconductor device 11 and the contact probe, and [b] the step connecting the contact probe to a pad 12 for the semiconductor device 11 through the conductive member 10.例文帳に追加

その半導体検査方法は、 ［ａ］前記半導体装置（１１）と前記コンタクトプローブ（５）との間に、導電部材（１０）を配置するステップと、 ［ｂ］前記導電部材（１０）を介して前記コンタクトプローブ（５）を前記半導体装置（１１）のパッド（１２）に接続させるステップとを具備するものである。 - 特許庁

To provide a method and an instrument for measuring a surface shape of a sample, capable of lowering a needle pressure of a probe to avoid deformation of the measured sample, and capable of solving the problem of deformation, moreover, even if the scanning speed of the probe is set high, and allowing accurate measurement in a short time.例文帳に追加

探針の針圧を低くして被測定試料の変形を避け、しかも探針の走査速度を高くしても上記の問題を解決して正確な測定を比較的短い時間で行うことのできる試料の表面形状の測定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

In this shape measuring method wherein a probe contacts with a measured face, and wherein a locus of the probe scanned under the contact condition is recorded to measure the shape, the measured object is washed(S1), the object is set on a jig (S2), and the surface temperature is measured by a radiation thermometer (S3).例文帳に追加

被測定面に触針子を接触させ、接触させた状態で走査した前記触針子の軌跡を記録して形状を測定する形状測定方法において、被測定物を洗浄し（Ｓ１）、その被測定物を治具に設置し（Ｓ２）、放射型温度計で表面温度を測定する（Ｓ３）。 - 特許庁

The selectivity to the detection target nucleic acid molecule and the melting temperature of the formed complex are each properly controlled by applying the two-stage base sequence-designing method of the whole probe to enable the design of the probe set optimum to the target detection condition.例文帳に追加

この二段階のプローブ全体の塩基配列設計法を適用すると、検出対象核酸分子に対する選択性と、形成される複合体の融解温度とをそれぞれ適正に制御でき、目的とする検出条件に最適なプローブセットの設計が可能となる。 - 特許庁

To provide a system and method capable of performing a stable measurement of a surface shape by certainly removing the charge accumulated in a semiconductor wafer obstructing the measurement of a scanning probe microscope and preventing the destruction of the scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡測定の障害となる半導体ウエハ内部に蓄積された電荷を、確実に取り除き、走査型プローブ顕微鏡の探針の破壊を防止し、安定した表面形状測定を行うことができる測定システムおよび測定方法を提供すること。 - 特許庁

The method includes a process for guiding a definite probe inside a definite body into a definite position in contact with the tissue to be ablated, and a process for measuring one or more local parameters at the position using the probe prior to ablating the tissue.例文帳に追加

上記の方法は一定のプローブをアブレーションする組織に接触する一定の位置まで一定の体内に導入する処理、および上記組織をアブレーションする前に上記プローブを用いて上記位置における１個以上の局所的なパラメータを測定する処理を含む。 - 特許庁

To clean a needlepoint of a probe and remove a foreign substance attached to the neelepoint of the probe regardless of the kind of the foreign substance in a device and method for inspecting a semiconductor device in a chip region formed on a wafer 20.例文帳に追加

ウェハ２０に形成されるチップ領域の半導体装置を検査するウェハ検査装置およびその検査方法において、ウェハ交換時にプロ−ブの針先のクリ−ニングできるとともにプロ−ブの針先に付着する異物の種類かかわらず異物を除去できるようにする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a specimen for an organism-related substance capable of detecting and quantitating accurately a sample material to be reacted specifically with a probe, even when using a plurality of specimens having different probe solidification rates relative to each specimen.例文帳に追加

本発明は、試験片ごとにプローブ固相化率が異なる複数の試験片を使用する場合であっても、プローブに対して特異的に反応する試料物質を精度良く検出、定量することを可能にする生体関連物質用試験片の製造方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a silicon probe card in which the position of respective inspection terminals arranged and installed at microscopic pitches and composed of a needlelike crystal is calculated surely in a photographing operation with a camera, and in which the alignment of an electrode pad with the respective inspection terminals can be performed automatically, and to provide a method of manufacturing the silicon probe card.例文帳に追加

極小ピッチで配設される針状結晶からなる各検査用端子の位置を、カメラによる撮影で確実に割り出すことが出来、電極パッドと各検査用端子との位置合せを自動的に行うことが可能なシリコンプローブカードとその製造方法を提供する。 - 特許庁

A two-dimensional area 5 on a substrate 3 and a two-dimensional area 6 on a tilt plane 4 are scanned by the probe of a scanning probe microscope to calculate the angle formed by the two 2 dimensional areas 5 and 6 in this measuring method of the tilt angle 2 of the tilt plane 4 formed on the substrate 3.例文帳に追加

基板３上に形成された傾斜面４の傾斜角２の計測手法において、基板３上の２次元領域５と傾斜面４上の２次元領域６とを走査プローブ顕微鏡のプローブにより走査し、２つの２次元領域５と６のなす角を算出する。 - 特許庁

To provide a method and device for measuring a photoelectric transfer characteristic of a solar cell element, wherein a stable contact not affected by a probe and a probe driving mechanism with respect to a light irradiated on a light receiving surface is materialized, so that a measuring accuracy of the photoelectric transfer characteristic of the solar cell element can be enhanced.例文帳に追加

太陽電池素子の光電変換特性の測定方法及び装置において、受光面に照射される光に対してプローブ及びプローブ駆動機構での影響がない安定した接触を実現することで、太陽電池素子の光電変換特性の測定精度を向上させる。 - 特許庁

The micromachining method, which uses a device comprising an atomic force detecting means, applies voltage to a probe to subject a workpiece to micromachining, while a nonmagnetic solvent including water is present between the workpiece and the probe.例文帳に追加

原子間力検出手段を備えた装置を用いた微細加工方法であって、該被加工試料と探針との間に、水を含有する非極性溶媒を存在させた上で、該探針に電圧をかけることによって被加工試料に微細な加工を施すことを特徴とする微細加工方法。 - 特許庁

To provide a method for correcting and checking position of contact of a touch-probe type measuring mechanism part, which corrects and checks the contact position of the touch-probe type measurement mechanism part which is affected by external causes and used for measuring the longitudinal dimension and the edge-surface deflection of a shaft, and sets it at the correct position.例文帳に追加

軸体の長さ寸法や端面の振れを測定するタッチプローブ型測定機構部の接触子の外的原因による位置及び確認補正をして正しい位置にセットするタッチプローブ型測定機構部の接触子の位置補正及び確認方法を提供する。 - 特許庁

To provide a board inspection apparatus capable of acquiring the offset in the Z axis direction of a probe without using a standard board for offset acquisition, simply and rapidly even while the board is inspected, and without damaging the probe, and to provide a method for acquiring the Z axis offset.例文帳に追加

オフセット取得用の基準基板を用いることなく、基板検査中であっても簡便迅速に、しかもプローブを破損させることなく、プローブのＺ軸方向のオフセットを取得することができる基板検査装置およびそのＺ軸オフセット取得方法を提供する。 - 特許庁

This method of measuring the size of telomeres is characterized by hybridizing a chromosomal DNA extracted from a sample with a labeled DNA probe bearing a sequence complementary to a telomere repetitive sequence, measuring a marker signal in the hybridized DNA probe and determining the length of telomere from the obtained measurement result.例文帳に追加

検体から抽出した染色体DNAと、テロメア反復配列に相補的な配列を有する標識DNAプローブとをハイブリダイズさせ、該ハイブリダイズしたDNAプローブの標識シグナルを測定し、得られる測定結果からテロメアの長さを求めることを特徴とするテロメアサイズの測定方法。 - 特許庁

To provide an information detector having a scanning probe capable of measuring a wide range sample surface having a wider measuring range in the direction of height with high resolving power and at a high speed while minimizing breakage of a sample and the probe to detect information and an information detecting method.例文帳に追加

試料とプローブの破損を最小限に押さえながら、より広い高さ方向の測定レンジをもつ広範囲な試料面を、高分解能かつ高速に測定し、情報を検出することができる走査型プローブを有する情報検出装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The method for detecting the sequence-specific nucleic acid and a reagent kit for detecting the nucleic acid are characterized by inserting a spacer having ≤10 nucleotides to a binding site of a hybridization region in a capture probe and a solid support when used as the capture probe by immobilizing oligonucleotide on the solid support.例文帳に追加

固体支持体にオリゴヌクレオチドを固定化して捕捉プローブとして使用する際に、捕捉プローブのハイブリダイズ領域と固体支持体結合部に１０ヌクレオチド以下のスペーサーを介することを特徴とする配列特異的な核酸検出方法および核酸検出用試薬キット。 - 特許庁

To provide an attaching fixture capable of attaching a plurality of probe pins collectively as well as an attaching method for probe pins by the use of an attaching fixture capable of attaching collectively regardless of sizes of an IC socket so as to shorten the time required to attachment remarkably.例文帳に追加

複数のプローブピンを一括して装着できる装着用治具を提供するとともに、ＩＣソケットのサイズに関係なく一括で装着が行える装着用治具を使用して装着に要する時間を飛躍的に短縮できるようにするプローブピン装着方法を提供する。 - 特許庁

To provide visualization method and device, including receiving an input indicative of respective apparent coordinates of a plurality of points disposed along a length of a probe inside of a subject, and generating corrected coordinates, and displaying an image of the probe using the corrected coordinates.例文帳に追加

被験者体内のプローブの長さに沿って配置される複数のポイントにおいて、それぞれの見かけの座標を示す入力値を受信することと修正座標をもたらすことと、修正座標を用いてプローブの画像を表示することと、を含む可視化方法と可視化装置を提供する。 - 特許庁

To provide an optical trap probe near-field light microscope, capable of obtaining a high S/N ratio in a near-field light detection signal captured stably and detected by an optical trap probe, and to provide a near-field optical detection method.例文帳に追加

本発明は、光トラッププローブを安定的に捕捉でき、かつ検出される近接場光検出信号において高いＳ／Ｎを得ることを可能とする光トラッププローブ近接場光学顕微鏡装置及び近接場光検出方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a friction stirring joining method that leaves no joining traces such as holes and recesses after a probe is pulled out in the ending part of joining, and that dispenses with or simplifies a fixing device which prevents the positional deviation of joining members caused by the inserting pressure of the probe.例文帳に追加

接合終端部にプローブ引抜き後の孔や凹部等の接合痕を生じさせず、かつプローブの挿入圧により生じる接合部材の位置ずれを阻止するための固定装置を必要とせず、又はこれを簡略化することのできる摩擦撹拌接合法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method for automatically analyzing, capable of cleaning the residues attached on the inner and outer wall faces of a specimen sampling probe, a reagent dispensing probe, an agitating mechanism and a reactor cleaning mechanism without decreasing processing capability and without increasing special mechanism.例文帳に追加

試料サンプリングプローブ，試薬分注プローブ，攪拌機構，反応容器洗浄機構の内外壁面に付着した残留物を処理能力を損なうことなく、特別な機構を増設することなく洗浄することを可能とする自動分析装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe method capable of conducting a highly reliable inspection by causing a plurality of probes of a probe card to come into contact with an electrode pad P of a semiconductor wafer corresponding thereto with a needle pressure, as uniform as possible, even when the mounting surface of a wafer chuck 11 is curved.例文帳に追加

ウエハチャック１１の載置面が湾曲している場合でもプローブカードの複数のプローブとこれらに対応する半導体ウエハＷの電極パッドＰとを極力均一な針圧で接触させて信頼性の高い検査を行うことができるプローブ方法を提供する。 - 特許庁

The method is characterized by binding a certain amount of genome on a combing surface, combing on the combing surface, hybridising the product of combing with a reference probe and a specific probe, and individually isolating these probes, and then measuring total length of the hybridization signal to the two probes.例文帳に追加

ある量のゲノムをコーミング面に結合させ、コーミング面上でコーミングし、コーミング生成物を対照プローブおよび特異的プローブとハイブリダイズし、結果としてこれらプローブを別々に同定してもよく、次いで、二つのプローブに対するハイブリダイゼーションシグナルの全長を測定することを特徴とする方法。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a contact probe that does not complicate work for forming a groove of a shape corresponding to a metal wiring pattern, easily and accurately forms a bump at the tip of a contact pin, and can suppress reduction of the reliability of the contact probe.例文帳に追加

金属配線パターンに対応する形状の溝を形成する作業が煩雑となることがなく、コンタクトピンの先端部にバンプを精度良く形成するのが容易で、コンタクトプローブの信頼性が低下するのを抑制することが可能なコンタクトプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

Similarly in correcting a black defect, an etching source material in a liquid state is supplied from the probe of a scanning probe microscope onto only the black defect region by a similar method to Dip-Pen Nanolithography, and an ion beam or an electron beam is supplied to etch to correct the black defect.例文帳に追加

黒欠陥修正の場合も同様に、走査プローブ顕微鏡の探針から液体状のエッチング原料をＤｉｐ−Ｐｅｎ Ｎａｎｏｌｉｔｈｏｇｒａｐｈｙと同様な方法で黒欠陥領域上のみに供給し、イオンビームや電子ビームを供給してエッチングを行い黒欠陥を修正する。 - 特許庁

To provide a method manufacture capable of easily equalizing height of respective bumps, and to improve contact stability of a thin-film sheet with bumps in a card type probe.例文帳に追加

各バンプの高さを容易に均一化することができる製造方法を実現し、カード型プローブにおけるバンプ付き薄膜シートの接触安定性を向上させる。 - 特許庁

The method for manufacturing the probe card comprises the steps of molding recesses of a cantilever space and a needle head space on a base material, embedding the recesses by an electric casting and molding a cantilever 34 and a needle head 32.例文帳に追加

基本材料にカンチレバー空間およびニードルヘッド空間のくぼみを成形し、電気鋳造でくぼみを埋めカンチレバー３４、ニードルヘッド３２を成形する。 - 特許庁

To provide a method of jointing an FPC (flexible printed circuit) board and a substrate in a probe card, which allows easy removal and reuse of each member, while securing full junction strength.例文帳に追加

十分な接合強度を確保しながら、取り外しが容易で各部材の再利用が可能な、プローブカードにおけるＦＰＣと基板の接合方法を提供する。 - 特許庁

To readily realize a method of easy manufacturing of a contact probe, using a low-resistance and high-strength conductive polymer by absorbing an oxidizer in a resin-made pattern and polymerizing conductive high molecular monomers.例文帳に追加

製造が容易で、しかも低抵抗かつ高い強度をもつ導電性高分子を用いた電気的検査用コンタクトプローブの製造法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for preparing a specimen suitable for quantitatively detecting a target nucleic acid, provided to hybridization with a probe on a solid phase of a DNA microalley and the like.例文帳に追加

ＤＮＡマイクロアレイ等での固相上のプローブとのハイブリダイゼーションに供する、ターゲット核酸の定量的な検出に適した検体の調製方法を提供すること。 - 特許庁

To manufacture an opening that can be brought extremely closer to a sample or a record medium surface at low costs in a manufacturing method of a minute-aperture-type near-field optical probe.例文帳に追加

微小開口型の近視野光プローブの作製方法において、サンプルあるいは記録媒体表面に極めて近接できる構造の開口を低コストで作製すること。 - 特許庁

The flame-resistant fiber has the value of the ratio of the modulus of elasticity of the surface layer part of the fiber to that of the central part of the fiber of ≥0.7 measured by using a scanning probe microscope by a nanoindentation method.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いてナノインデンテーション法により測定した繊維の表層部と中心部の弾性率の比の値が０．７以上である耐炎化繊維。 - 特許庁

To realize a manufacturing method of a thin film sheet with bumps which can easily make the height of respective bumps uniform, and to improve the yield of a thin film sheet with bumps for a card-shaped probe.例文帳に追加

各バンプの高さを容易に均一化することができる製造方法を実現し、カード型プローブにおけるバンプ付き薄膜シートの歩留まりを向上させる。 - 特許庁

This method for identifying the S-gene type of crucifer is provided by identifying S-gene type specific DNA fragments from the individual body genome DNA of crucifer, and detecting the fragments by using a probe capable of specifically hybridizing with the fragments.例文帳に追加

アブラナ科植物の個体ゲノムDNAよりS遺伝子型特異的DNA断片を同定し、該断片をこれに特異的にハイブリダイズしうるプローブを用いて検出する。 - 特許庁

To provide an inclusion analysis method of a sample by the EPMA (electron probe microanalyzer) for performing efficient measurement by avoiding unneeded measurement and without decreasing measurement accuracy.例文帳に追加

無駄な測定を避け且つ測定精度を低下させずに効率的な測定を行えるようにした、ＥＰＭＡによる試料の介在物分析方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card suppressing scatter of cut sediment which occurs at the time of trimming a thick film resistor and adhesion of it to a board, and to provide a trimming method.例文帳に追加

厚膜抵抗体をトリミングする際に発生する切り滓の飛散延いては基板への付着を抑制し得るプローブ・カードおよびトリミング方法を提供する。 - 特許庁

The probe contactor is constituted of a substrate 220 with an interconnect trace that is a conductive passage on the surface, and a contactor 230 that is formed on the substrate 220 by the photolithography manufacturing method.例文帳に追加

プローブコンタクタは表面上に電導通路であるインターコネクトトレイスを有する基板と、フォトリソグラフィ製法によりその基板上に形成されたコンタクタで構成される。 - 特許庁

To provide a method for calibrating offset amount which accurately calibrates an offset amount between a contact-type detector and an image probe, and to provide a machine for measuring surface profile using the same.例文帳に追加

接触式検出器と画像プローブとのオフセット量を正確に求めることができるオフセット量校正方法およびこれを用いた表面性状測定機を提供。 - 特許庁

To provide an exciting power measuring method of a crystal oscillation circuit for calculating exciting power, while suppressing influences of a current probe, without measuring any exciting current.例文帳に追加

電流プローブの影響を抑え、励振電流を測定することなく、励振電力を算出する水晶発振回路の励振電力測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a contact probe having improved fatigue limit and current resistant performance by enhancing mechanical strength and a thermal conductivity in the longitudinal direction.例文帳に追加

機械的強度及び長手方向の熱伝導度を上げることによって疲労限度及び耐電流性能を向上させたコンタクトプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a judgment method of a contact probe that can quantitatively and simply judge the fluctuation of the contact pressure between the contact probes without using a contact pressure-measuring instrument.例文帳に追加

接触圧力測定器によらず、コンタクトプローブ間の接触圧力のばらつきを定量的に、かつ、簡易に判定できるコンタクトプローブの寿命判定方法を提供する。 - 特許庁

Subsequently, the access point that receives the reply of this probe response notifies the printer about the connection method set to the access point itself using request prompt data (request prompt).例文帳に追加

続いて、このプローブ応答の返信を受けたアクセスポイントは、自身に設定されている接続方法を要求催促データによりプリンタへ通知する（要求催促）。 - 特許庁