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analysis precisionの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 337件
To improve computation precision by determining the coordinate system of a VOXEL model having the minimum volume error from a actual object to be analyzed when a structural analysis is taken by using a VOXEL method, in the coordinate determination processing method for the VOXEL model.例文帳に追加
VOXELモデルの座標決定処理方法に関し,VOXEL法を用いて構造解析を行う際に,実際の解析対象物との体積誤差が最小となるVOXELモデルの座標系を決定し,計算精度を向上させることを目的とする。 - 特許庁
To realize a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer to be a sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To obtain a frequency shift detecting device which secures sufficient precision to detect a prescribed frequency shift and can detect a proper frequency shift while securing at least one analysis section in the minimum continuance of a DTMF(dual-tone multifrequency) signal.例文帳に追加
DTMF信号の最小持続時間に少なくとも一つの分析区間が確保されるようにしつつ、規定の周波数偏差を検出するのに十分な精度を確保し、適切な周波数偏差の検出が行うことができる周波数偏差検出装置を得ること。 - 特許庁
To provide a liquid container, capable of controlling the temperature of a reagent for analysis of high sensitivity, which does not cause cross contamination of the reagent and enabling rapid dispensation with high precision, without being affected by various bacteria in the open air or another contaminant, and to provide an automatic dispenser which uses the container.例文帳に追加
高感度分析用試薬の温調が可能で、試薬のクロスコンタミネーションがなく、外気中の雑菌やその他の汚染物質の影響を受けることなく、迅速かつ高精度に分注可能な液体容器およびそれを用いた自動分注装置を提供すること。 - 特許庁
To realize a micro testpiece processing and an observation device wherein cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
(iv) Does the Manager provide a system to promote the sophistication of the institution's market risk management, including the expansion of coverage of market risk measurement and improvement in the precision thereof, in a manner befitting the scales and natures of the institution's business and its risk profile, based on an understanding of the limitations and weaknesses of the market risk measurement and analysis methods (techniques, assumptions, etc.)? 例文帳に追加
(ⅳ)管理者は、市場リスク計測・分析方法(手法、前提条件等)の限界及び弱点を理解し、業務の規模・特性及びリスク・プロファイルに見合った市場リスク計測の範囲拡大、精緻化等の市場リスク管理の高度化に向けた態勢を整備しているか。 - 金融庁
A compression information analysis section 9 analyzes MPEG2 image compression information to extract a motion vector of an MPEG2 macro block, and a motion vector synthesis section 14 and a motion vector detection section 15 synthesize motion vectors required for coding MPEG4 images to attain high precision processing.例文帳に追加
圧縮情報解析部9はMPEG2画像圧縮情報を解析して、MPEG2マクロブロックの動きベクトルを取り出し、動きベクトル合成部14と動きベクトル検出部15では、MPEG4画像符号化に必要な動きベクトルを合成して高精度化する。 - 特許庁
To provide an apparatus and a method for observing the processing of a minute sample where the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction can be performed with a high resolution, high precision and high throughput, without breaking a wafer being the sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a device for processing and observing a microscopic sample and a method for processing and observing the same, whereby the cross-sectional observation and analysis of a wafer cross-section can be performed with high resolution, high precision and high throughput from various directions from horizontality to verticality without breaking a wafer used as a sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a method for improving precision in estimation of electric characteristics by creating an RSF(Response Surface Function) without depending on the unit structure of a wiring structure to be evaluated or increasing the number of items of data for acquisition, when a variation analysis method using the RSF is applied for evaluating the electric characteristics of the wiring structure.例文帳に追加
RSFを用いたばらつき解析手法を、配線構造の電気特性評価に適用する際に、評価対象となる配線構造の単位構成に依存せず、またデータ取得点数を増加させる事無くRSFを作成し、電気特性の予測精度の改善方法を提案する。 - 特許庁
To efficiently treat surface of a sample for analyzing a component in metal under a vacuum condition by arc plasma, and to prevent contamination and the like in the sample to enhance analytical precision of analysis by a component-in-metal analyzer.例文帳に追加
金属中成分分析用の試料を、真空中でアークプラズマによる表面処理を能率よく行うと共に、試料のコンタミ等を防止し金属中成分分析装置による分析精度を向上させることができる金属中成分分析用試料の調整方法及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a device of processing/observing a minute sample and a method of processing/observing a minute sample, which can execute cross section observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction to a vertical direction without dividing the wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a finite element analysis method and device to analyze displacement distribution generated in an object by using a finite element method by moving the position of a thermal load to be added to the object according to the lapse of time, and to improve precision without impairing the shortening of the analyzing time.例文帳に追加
本発明は、物体に加える熱負荷の位置を時間とともに移動することにより、物体に発生する変位分布を有限要素法を用いて解析する有限要素解析方法および装置等に関し、解析時間の短縮化を損なうことなく精度を向上することを目的とする。 - 特許庁
To achieve a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method where cross-sectional observation and analysis of a wafer cross section from a horizontal direction up to a vertical direction can be performed with high resolution, high precision and a high throughput, without breaking the wafer which is to become a sample.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a measuring method using a scanning probe microscope capable of quantitatively grasping the irregularity of the shape or physical properties of the pattern on a two-dimensional plane, the relation between the shape and physical properties of the pattern, pattern arrangement precision and the like in the analysis of the pattern having feasures in its shape, physical properties or the like.例文帳に追加
形状もしくは物性等に特徴を有するパターンの解析において、二次元平面でのパターン形状や物性のばらつき、パターン形状と物性の関係、パターン配列精度等を定量的に把握することができる測定方法を提供する。 - 特許庁
To accurately determine the detoxification efficiency of a fluorescent gas by gas treatment devices at low cost by performing analysis of high precision by monitoring the detoxification efficiency in a plurality of the gas treatment devices under an actual use condition and excluding the effect of moisture and dust present in the gas in large quantities.例文帳に追加
複数のガス処理装置における除害効率を実使用条件で監視し、ガス中に多量に存在する水分やダストの影響を排除し、高精度の分析を行うことにより、処理装置によるフッ素系ガスの除害効率を正確かつ低コストで求める。 - 特許庁
To provide an element analyzer which dispenses with the movement of a sample during analysis when the three-dimensional element constitution of the sample is analyzed in an atomic level with high precision and also dispenses the attaching/detaching work of the sample, and the sample holder or the like usable in the element analyzer.例文帳に追加
試料の3次元的な元素構成を原子レベルで高精度に分析する際に、分析中の試料の移動を不要とし、試料の取り付け・取り外し等の作業が不要な元素分析装置および当該元素分析装置に使用可能な試料ホルダ等を提供する。 - 特許庁
To realize a micro testpiece processing and observation device in which cross-sectional observation and analysis of the wafer cross-section from horizontal to vertical direction can be made in high resolution and high precision with a high throughput, without splitting in pieces the wafer being a testpiece, and a micro testpiece processing and observation method.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide a conceptual information database creation device capable of creating a conceptual information database with sufficient precision in the case of discriminating similarity between words, or in the case of highly precisely retrieving a document by indirectly grasping a grammatical and semantic relationship without performing syntax analysis.例文帳に追加
構文解析をせずに、間接的に文法的・意味的な関係を捉え、単語間の類似性を判別する場合や文書検索を高精度化する場合に、十分な精度で概念情報データベースを作成することができる概念情報データベース作成装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a minute sample processing observation device and a minute sample processing observation method capable of executing cross-section observation and analysis of a wafer cross section from directions from a horizontal direction to a vertical direction without dividing a wafer used as a sample, with high resolution, high precision and high throughput.例文帳に追加
試料となるウェーハを割ることなしにウェーハ断面を水平から垂直迄の方向からの断面観察や分析を高分解能,高精度かつ高スループットで行える微小試料加工観察装置および微小試料加工観察方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To provide an oblique-incidence fluorescent X-ray analyzer for automatically adjusting the irradiation position of the primary X rays from an X-ray source by the sample holder corresponding to a sample having every shape so that the intensity of the fluorescent X rays emitted from the sample becomes maximum and capable of always performing analysis with high sensitivity and high precision.例文帳に追加
種々の形状の試料に対応した試料ホルダにより、試料より発生する蛍光X線の強度が最大になるようにX線源からの一次X線の照射位置を自動調整し、常に短時間で高感度、高精度の分析が行える斜入射蛍光X線分析装置を提供する。 - 特許庁
An inspector-categorized inspection precision analysis processing part 104 performs inspector-categorized data totaling about the inspection processing result of an inspector on the basis of information stored in a past inspection history DB112 and information stored in an inspector skill degree DB 113, and outputs the result to an output file 107.例文帳に追加
検査員別検査精度分析処理部104は、過去検査履歴DB112に格納された情報と、検査員熟練度率DB113に格納された情報とを基に、検査員の検査処理結果について、検査員別のデータ集計を行い、その結果を、出力ファイル107に出力する。 - 特許庁
To provide an indicator of the magnitude of seismic vibration which does not depend on high-grade methods such as time history response analysis using earthquake wave data and the mathematical model of building structure characteristics in order to find out damage to a building with high precision and which is more closely related to damage to a building than seismic intensity and peak ground acceleration (PGA).例文帳に追加
建物の損傷を精度良く知るために、地震波データタと建物構造特性の数学モデルを用いた時刻歴応答解析などの高度な手法によらず、同時に、前記震度、地表面最大加速度(PGA)等以上に建物の損傷と密接に関係した地震動強さの指標を提供すること - 特許庁
In order to improve the stability of hand gesture input in image recognition, a ring is worn on the finger which has an element, such as, color information and shape information to improve recognition precision, and the position and attitude of a hand are estimated by the image analysis of the ring acquired by using a camera image of a user view.例文帳に追加
画像認識におけるハンドジェスチャ入力の安定性を向上させるために、色情報や形状情報など認識精度を向上させる要素を持つリングを指に装着して、ユーザ視点のカメラ画像を用いて取得したリングの画像解析によって、手の位置姿勢の推定を行う。 - 特許庁
To provide a method for realizing rapid analysis of high precision in a method of measuring the concentration of oxygen in a steel sample from the infrared absorbance of either one of or both of carbon monoxide and carbon dioxide produced by heating and melting the steel sample put in a graphite crucible in an inert gas.例文帳に追加
鉄鋼試料を黒鉛るつぼに入れて不活性ガス中で加熱融解し、発生した一酸化炭素または二酸化炭素のいずれかひとつあるいは両方の赤外線吸収度から該試料中の酸素濃度を測定する方法において、高精度かつ迅速な分析を実現する方法を提供する。 - 特許庁
Thus, multiple regression analysis can be performed with sufficient accuracy, and hot metal temperature can be predicted quickly and with high precision by classifying the operation conditions into one in which the hot metal temperature is on a descending trend, and the other in which the hot metal temperature is on a rising tread, and applying an ARMA model for each classified operation condition.例文帳に追加
このように、溶銑温度が上昇する傾向にある操業条件と、下降する傾向にある操業条件とに分類して、分類した操業条件ごとにARMAモデルを適用することにより、重回帰分析を精度良く行うことができ、溶銑温度を迅速に且つ高精度に予測することができる。 - 特許庁
To solve the problem of a bottleneck in analysis for automatically distinguishing genetic types using a micro satellite due to deterioration in precision of noise removal, longer time for visually checking and correction, when a +A peak appears with large deflection because a fluorescence signal is too strong, the peak cannot be separated completely, experiment conditions are incomplete, etc.例文帳に追加
マイクロサテライトを用いた遺伝子型判別を自動的に行う際、蛍光シグナルが強すぎる・ピークが完全に分離できない・実験条件がそろわないなどの理由で+Aピークの出方が大きくぶれる場合、ノイズ除去の精度が下がり、目視確認および修正に時間を要し、解析のボトルネックになっている。 - 特許庁
To provide an analyzing method used for analyzing a harmful brominated compound such as PBB, PBDE, etc. contained in a combustible material and making it possible not only to dispense with pretreatment for preparing a measuring sample but also to perform analysis of high precision and high sensitivity using an inexpensive device and a simple analyzing technique.例文帳に追加
可燃性材料中に含まれるPBB、PBDE等の有害な臭素化化合物を分析するためのものであって、測定用試料を作成するための前処理が不要であるばかりでなく、低価格な装置と簡単な分析技術を使用して高精度及び高感度な分析を実施できる分析方法を提供すること。 - 特許庁
At this time, a dispensation control unit 98 controls extrusion dispensing operation in the case where a sample amount necessary for analysis is a predetermined liquid amount or below capable of achieving desired dispensing precision and dispenses a sample amount of the specimen in the reaction container along with an extrusion liquid so that a dispensing amount may become the maximum dispensing amount defined by the volume of the reaction container.例文帳に追加
このとき、分注制御部98は、分析に必要なサンプル量が所望の分注精度を達成できる所定液量以下の場合に押出し分注動作を制御し、分注量が反応容器の容量によって定まる最大分注量以下となるように、サンプル量の検体を押出し液とともに反応容器内に分注する。 - 特許庁
Analysis is executed by rough mesh by reducing the number of meshes in order to shorten a calculation time by a mesh generation processing part 33, an arithmetic processing part 34 and a shape correction processing part 35, and when the arithmetic result satisfies preliminarily set correction calculation conditions, re-arithmetic operation for data correction is performed for correcting the deterioration of the analytic precision due to the rough mesh.例文帳に追加
メッシュ生成処理部33と、演算処理部34と、形状修正処理部35とによって、計算時間を短くするためにメッシュ数を減らして粗いメッシュで解析を行い、粗いメッシュによる解析精度の悪さを補正するために、予め設定された補正計算条件を演算結果が満たす場合には、データ補正用の再演算を行う。 - 特許庁
To obtain a retrieval result of high precision by extracting words and noun phrases which are suitable for retrieval by conducting a language analysis of a retrieval request composed of multiple section descriptions inputted in a natural language and then increasing the weighting of words and noun phrases which are common to multiple sections while adjusting proper weighting between the words and noun phrases.例文帳に追加
自然言語で入力された複数のセクション記述からなる検索要求を言語解析して検索に適切な単語と名詞句を抽出し、単語と名詞句の間で適切な重み付けの調整をすると同時に、複数のセクションに共通する単語や名詞句に対して重み付けを高くすることにより、精度の高い検索結果を得る。 - 特許庁
To provide a method for fractionating/determining gypsum in a cement composition capable of performing fractional determination of gypsum, namely, gypsum dihydrate and hemihydrate gypsum, included in the cement composition by an extremely simple method without requiring a special device or creation of a calibration curve or the like, with the same precision as conventional thermal analysis, for example, a method by a differential thermal balance or a method by a differential scanning calorimeter.例文帳に追加
特別な装置や検量線等の作成等を必要とすることなく、極めて簡便な方法でセメント組成物中に含まれる石膏、即ち二水石膏と半水石膏とを、従来の熱分析、例えば示唆熱天秤による方法や示差走査熱量計による方法と同精度で分別定量できる、セメント組成物中の石膏分別定量方法を提供する。 - 特許庁
To provide a catalyst specifying method capable of obtaining an EPMA analyzing result of high precision without mapping a ghost signal while permitting the presence of an interface of low intensity between a catalyst coating layer capable of serving as the starting point of cracks with respect to the irradiation with an electron beam of high intensity and an embedded resin layer when EPMA analysis is executed under the conditions while the concentration of a catalyst is extremely low.例文帳に追加
触媒濃度の極めて低い条件下においてEPMA分析を実施するに際し、高強度の電子線の照射に対して亀裂の起点となり得る触媒コート層と包埋樹脂層の間の低強度な界面の存在を許容しながら、ゴースト信号がマッピングされることのない、高精度のEPMA分析結果を得ることのできる触媒特定方法を提供する。 - 特許庁
To provide a measurement method of hydrochloric acid concentration in a hydrochloric acid containing chlorine that measures the concentration of the hydrochloric acid after mixing a metal iodide solution with the hydrochloric acid containing the chlorine, precisely can measure the concentration of hydrochloric acid in the hydrochloric acid containing the chlorine with simple operation, and hence is advantageous from the point of view of an analysis precision and operability.例文帳に追加
塩素を含有する塩酸に金属ヨウ化物溶液を混合した後、塩酸の濃度を測定する方法であって、塩素を含有する塩酸中の塩酸の濃度を測定するに際し、塩酸の濃度を高精度に、かつ簡易な操作で行うことができ、よって分析精度、操作性の観点から極めて有利な塩素を含有する塩酸中の塩酸の濃度の測定方法を提供する。 - 特許庁
A computer program is used which intermittently accumulates daily changing data such as a heart rate and a physical condition, parts of muscle pain and the degree of the pain, analyzes the variations of the data and a direction in their change, thereby outputs an instruction for optimum exercise and nutrition at that time and further repeatedly returns the data generated by results obtained by following the instruction to analysis processing to improve instruction preparation precision.例文帳に追加
心拍数や体調、筋肉痛の部位とその痛みの程度等の日毎変動するデータを断続的に集積し、その変化量や変化の方向を分析することによって、その時点での最適な運動と栄養の指示を出力し、更に、その指示に従った結果生ずる上記データを分析処理に戻すことを繰り返す事で指示作成精度を高めていくコンピュータプログラムを利用する。 - 特許庁
It accumulates the plurality of events and their loss as a loss data 2 and predicts a risk to occur by a predetermined method using a calculation engine 6 and decides precision of the prediction of the predicted risk and/or a magnitude of loss which has occurred using an analysis tool 7 or the like against an actual occurrence of the event.例文帳に追加
損失を伴う複数のイベントの発生を蓄積し、該蓄積されたイベントに基づいてオペレーショナル・リスクを管理するオペレーショナル・リスク管理システムで、発生した前記複数のイベントとその損失額をロスデータ2として蓄積し、発生するリスクを所定の予測方法で計算エンジン6で予測し、、実際のイベントの発生に対応して、予測されたリスクの予測の精度及び/又は発生した損失額の多寡を分析ツール7等で判断する。 - 特許庁
This analysis of productivity classifies each entity investing in IT-related capital stock (here referred to as informatization-related capital stock, in accordance with terminology used by METI (2001)) into IT product manufacturers (general, electric and precision machinery industry) and IT infrastructure (communication industries) in the “IT manufacturing sector” and IT product users (manufacturing industries besides IT product manufacturers such as the steel industry and the chemical industry and non-manufacturing industries other than communications industries) in the “IT user sector.”例文帳に追加
当該分析においては、IT関連の資本ストック(ここでは、経済産業省(2001)の表記に従い、情報化関連資本ストックとする)の投資主体別に、「IT製造部門」としてIT品目メーカー(一般、電気、精密機械工業)及びITインフラ(通信業)とに、「IT利用部門」としてIT品目ユーザー(鉄鋼業、化学工業等IT品目メーカー以外の製造業及び通信業以外の非製造業)とに分類して生産性の分析が行われている。 - 経済産業省
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