1153万例文収録!

「control test」に関連した英語例文の一覧と使い方(33ページ目) - Weblio英語例文検索


小窓モード

プレミアム

ログイン
設定

設定

Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > control testの意味・解説 > control testに関連した英語例文

セーフサーチ:オフ

不適切な検索結果を除外する

不適切な検索結果を除外しない

セーフサーチについて

control testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 2117



例文

To provide an IC tester, an IC testing method and a production method of semiconductors which can shorten the testing time by improving the flow of the control in the certification test of the operation voltages of ICs.例文帳に追加

ICの動作電圧検定試験における制御の流れを改善し、テスト時間の短縮が図れるIC試験装置及びIC試験方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

First, necessary parameters for irradiation of charged particle beam are found for every beam energy by operating a beam adjusting test in advance, then, are stored as a parameter file for a high frequency signal in a memory of a control device.例文帳に追加

まず、事前に、荷電粒子ビームの出射に必要なパラメータを、ビームエネルギー毎に、ビーム調整試験を行って求め、制御装置内のメモリに高周波信号用パラメータファイルとして格納しておく。 - 特許庁

(step A1) Next, the test energizing is started, and in a first cycle, a thyristor is ignited (step A2) with the above described initial valueϕ(1), and in cycles from and after a second cycle, the ignition angle is determined (step A7) under a constant current control.例文帳に追加

次いで、テスト通電を開始し、1回目のサイクルでは上記初期値φ(1)でサイリスタを点弧し(ステップA2)、2回目以降のサイクルでは定電流制御の下で点弧角を決定する(ステップA7)。 - 特許庁

To enable the pressure control which makes it possible to stably operate a nuclear power plant without causing hunting even in an unexpected output range during the starting characteristics test on the plant.例文帳に追加

原子力発電プラントについて、プラント起動試験時に予定していない出力範囲でもハンチングなどを招くようなことのない安定した運転を行えるような圧力制御を可能とする。 - 特許庁

例文

Then a controller 30 drives a rotation control section 31 and erases the test data while varying the rotation speed as quad-speed, six-speed, eight-speed, ten-speed, and twelve-speed or the like to calculate the erasure performance.例文帳に追加

その後、コントローラ30は回転制御部31を駆動して4倍速、6倍速、8倍速、10倍速、12倍速等と回転速度を変化させてテストデータを消去し、その消去性能を算出する。 - 特許庁


例文

An imaging element control section 91 brings an imaging element 9 to an imaging state respectively synchronously with a time when the DMD 4 displays the full black image on the screen 6 and a time when the DMD 4 displays the test pattern image.例文帳に追加

撮像素子制御部91が、DMD4によりスクリーン6に全黒画像を表示する時とテストパタン画像を表示する時にそれぞれ同期して撮像素子9を撮像状態にする。 - 特許庁

With the oil strainer 15 being off-mounted during a characteristic performance test or an adjustment work of the control valve, the replacement work for the return spring 9 and so on can easily be performed by fitting or unfitting the anti-pullout plate 10.例文帳に追加

コントロールバルブの特性検査時や調整作業時にはオイルストレーナ15を非取付状態としておけば、抜け止めプレート10の挿抜によりリターンスプリング9等の交換が容易にできる。 - 特許庁

Then, initial glossiness of each of the fixing test images TA to TC are separately calculated and stored by a central control part based on the strength of reflected light, etc., obtained at an image information detection part (S3).例文帳に追加

そうすると統括制御部54により、画像情報検出部43で得た反射光強度等に基づき、各定着テスト画像TA〜TCの初期光沢度がそれぞれ算出され記憶される(S3)。 - 特許庁

Then, after the retention test is completed, the control circuit 10 secures electrical connection between the RAM 2 and an output terminal OUT, and outputs data held by the RAM 2 to the output terminal OUT.例文帳に追加

そして、リテンションテストが終了した後、コントロール回路10は、RAM2と出力端子OUTとの間の電気的接続を確保し、RAM2に保持されたデータを出力端子OUTに出力する。 - 特許庁

例文

To make operation confirmation test on a solenoid valve while preventing any increase in size of a solenoid valve manifold by improving the reliability and durability of a control device for controlling the operation of the solenoid valve manifold.例文帳に追加

電磁弁マニホールドの作動を制御する制御装置の信頼性と耐久性を向上し、電磁弁マニホールドの大型化を避けつつ電磁弁の作動確認試験を行い得るようにする。 - 特許庁

例文

To provide a verifying device for a logistic system which can easily conduct a combinational test of a high-order control system and a low-order execution system before the low-order execution system is completed.例文帳に追加

本発明は、上位制御系と下位実行系の結合試験を下位実行系の完成前に容易に実行することができる物流システムの検証装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The first and second data sets are filtered and aligned to determine a system response factor of the client test apparatus, so that the irradiance level control may be calibrated.例文帳に追加

第1および第2のデータセットは、フィルタリングされ、顧客の試験装置のシステム応答因子を決定するために位置合わせされ、それによって、放射照度レベルコントロ−ルを校正することが可能となる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which sufficiently assures security even with bit change of data of test mode control flag contained in non-volatile memories due to failure and the like, and prevents yield of manufacturing from lowering.例文帳に追加

不揮発性メモリに格納されたテストモード制御フラグのデータが故障等によってビット変化しても、セキュリティを十分に確保し、かつ、製造の歩留まりを低下させない半導体装置を提供する。 - 特許庁

This DRAM circuit, 100 control independently magnitude of voltage difference indicated between a pair of bit line and detected by a sense amplifier 102 by a test system 200 when sensitivity of the sense amplifier 102 is decided.例文帳に追加

本発明DRAM回路は、センスアンプの感度を決定する場合に、テストシステムを使用して、一対のビット線の間に表れ且つセンスアンプによって検知される電圧差の大きさを独立的に制御する。 - 特許庁

To provide a subject control method capable of holding the vertical stress applied to the shearing surface of a material test piece vertically to an almost constant state and a material testing device.例文帳に追加

材料試験片の剪断面に垂直に加わる垂直応力を略一定な状態に保つことができる材料試験装置における制御方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

A personnel arrangement control part 103 provides personnel relocation information on a workplace for the employee on the basis of a desired behavior characteristic of the employee and a diagnostic test result by a characteristic value calculating part 102.例文帳に追加

従業員の希望行動特性と特性値算出部102による診断テスト結果に基づいて人材配置管理部103は職場の配置転換情報を従業員に提供する。 - 特許庁

The toner concentration of the formed test toner image is detected by a toner concentration sensor (S240), and a control parameter for controlling a toner image forming operation is set based on the detected toner density (S250).例文帳に追加

そして、形成された試験用トナー像のトナー濃度をトナー濃度センサで検出して(S240)、検出されたトナー濃度に基づいてトナー像形成動作を制御する制御パラメータを設定する(S250)。 - 特許庁

Also provided are devices for determining the concentration of analyte in the sample, where the devices have a sample identification element for identifying whether a sample is a control fluid or a test fluid.例文帳に追加

さらに、サンプル中の分析物濃度を決定するための装置を提供し、この場合の装置はサンプルが対照流体であるか試験流体であるかを同定するためのサンプル同定要素を有している。 - 特許庁

The predetermined code amount is a value stored to a control unit of the digital camera beforehand and statistically determined from a plurality of test images for each kind of image processing (for gradation correction or edge enhancement).例文帳に追加

所定の符号量は、デジタルカメラの制御部にあらかじめ格納された値であり、画像処理の種類(階調補正やエッジ強調など)ごとに複数のテスト画像から統計的に定める値である。 - 特許庁

A control circuit 19 for raising plural word lines to which the row address pre-decode signal and plural word line rise test mode switching signal AWL are inputted is connected with the row decoder 18.例文帳に追加

ロウデコーダ18には、ロウアドレスプリデコード信号と複数ワード線立ち上げテストモード切り換え信号AWLとが入力される複数ワード線立ち上げ用制御回路19が接続されている。 - 特許庁

To make formable a smoke prevention and discharge section in its early stages by calculating optimum time for sending out interlocked control signals by actually performing a test.例文帳に追加

連動制御信号を送出するのに最適な時間を、実際に試験を行うことで算出して、早期に防排煙区画を形成することをできるようにした防排煙機器制御システムを提供する。 - 特許庁

An inspection control system 100 performs a test on a plurality of semiconductor devices which are manufactured under a predetermined same condition, in order for every one part of the semiconductor devices and controls the inspection to each semiconductor device.例文帳に追加

検査制御システム100は、所定の同一条件下で製造された複数の半導体装置について、一部の半導体装置ずつ順にテストを行い、各半導体装置への検査を制御する。 - 特許庁

To improve the accuracy of density control without increasing the cost by improving the quality of an image by a test patch while solving problems of an afterimage etc., without increasing the manufacturing cost for a photosensitive drum.例文帳に追加

感光ドラムの製造コストを上げることなく、残像等の問題を解決しつつ、テストパッチによる画像の品位を向上させ、コストアップすることなく濃度制御の精度を向上させること。 - 特許庁

Test data is written in tracks of a DTM by making the tracks pseud-eccentric by accessing a plurality of tracks by forcibly making a composite magnetic head eccentric under an ON track servo control.例文帳に追加

この発明は、オントラックサーボ制御の状態で複合磁気ヘッドを強制偏心させて複数トラックに亙ってトラックをアクセスすることで、DTMのトラックを擬似的に偏心させた状態でテストデータを書込む。 - 特許庁

A test target program 1 is activated by a program control part 11, and an active window and operation components thereupon are detected by an operation component detecting part 12 and stored in an operation component storage 13.例文帳に追加

プログラム制御部11により被テスト対象プログラム1を起動し、アクティブなウィンドウとその上の操作部品を操作部品検出部12により検出し、操作部品記憶装置13に格納する。 - 特許庁

The control part 1 acquires the positions of the optical sensor parts 4a-4d on the projected image, based on the lighting timings of pixels on the basis of the test pattern and the output values of the optical sensor parts 4a-4d.例文帳に追加

制御部1は、上記テストパターンに基づく画素の点灯タイミングと光センサ部4a〜4dの出力値とに基づいて投射画像上における光センサ部4a〜4dの位置を取得する。 - 特許庁

A program has a means for randomly executing a test execution process and a means for managing the control and termination of the process, and has a mechanism for automatically conducting these means, in the system verification of the logical circuit.例文帳に追加

論理回路のシステム検証において、テスト実行プロセスをランダム実行させる手段と、プロセスの実行、終了を管理する手段とを有し、それらの手段を自動的に行う仕組みを有するプログラム。 - 特許庁

In a test mode prior to measurement, a control section 10 of the reader/writer 1 carries out processes of communications with the RFID tag iteratively a plurality of times and each time the communication is made successful, the number of times of that success is counted.例文帳に追加

実測に先立つテストモードにおいて、リーダライタ1の制御部10は、RFIDタグとの交信処理を複数回繰り返して実行し、交信に成功する都度、その成功回数をカウントする。 - 特許庁

To reduce downtime for an apparatus due to processing control for an image formation using a test pattern; and to obtain a stable image quality while employing an intermediate transfer method with high image superposing accuracy.例文帳に追加

画像重ね精度が高い中間転写方式を採用しながら、テストパターンを用いた画像形成のためのプロセス制御による装置のダウンタイムを低減し、かつ安定した画像品質を得る。 - 特許庁

To provide a method for quality control and inspection capable of inexpensively, precisely and quickly inspecting a product under manufacturing by nondestructive evaluation of laser impact peening work without depending on a method using a test piece after working.例文帳に追加

加工後の試験片を用いた方法によらず、製造中の生産物の安価・正確且つ迅速なレーザ衝撃ピーニング加工の非破壊評価法による品質管理検査方法を提供すること。 - 特許庁

A test environment device comprises: a plurality of base station signal generation means 11 to 13 which are connected to a communication network and which generate a base station signal to a radio communication device; and control means 30 which provides a control signal to the plurality of base station signal generation means.例文帳に追加

通信網に接続されると共に、無線通信機器に対する基地局信号を発生する複数個の基地局信号発生手段11〜13と、これら複数個の基地局信号発生手段に制御信号を供給する制御手段30とを備える試験環境装置である。 - 特許庁

To provide a circuit with a control function in which a circuit to be controlled operates only when a predetermined environment meets a specific condition, and which is capable of testing whether or not the circuit with a control function operates normally under any predetermined environment, and to provide a test method thereof.例文帳に追加

所定環境が特定条件を満たす場合に限り被制御回路が作動する制御機能付き回路であって、いずれの所定環境下でも、当該制御機能付き回路が正常に作動するか否かを検査できる制御機能付き回路、及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

A quantization coefficient control circuit of an MPEG-2 encoder to which this invention is applied performs coefficient control so as to make a quantization coefficient small when activity of a macroblock of a quantization target is low and to make the quantization coefficient large when the activity is high on the basis of steps 1, 2 and 3 of a TM (test model) 5.例文帳に追加

本発明が適用されたMPEG-2のエンコーダの量子化係数制御回路は、TM5のステップ1、2,3に基づき、量子化対象のマクロブロックのアクティビティが低ければ量子化係数を小さくし、アクティビティが高ければ量子化係数を大きくするような係数制御を行う。 - 特許庁

When observing the shift frequency characteristics of a test article (FS receiver) 100, the program control part 2 performs control so that the demodulation output level of the FS receiver is measured and displayed on the display part 4 while changing the frequency shift amount of an FS signal outputted from the synthesizer part 5.例文帳に追加

試験品(FS受信機)100の偏移周波数特性をみるときは、シンセサイザ部5から出力されるFS信号の周波数偏移量を変化させながらFS受信機の復調出力レベルを測定して表示部4へ表示するようにプログラム制御部2が制御する。 - 特許庁

The mode control unit controls to supply the output of the display signal processing unit to the data voltage supply unit in a display mode; while in a light emission characteristics detection mode, the control unit controls to supply a test signal to the data voltage supply unit and supplies an output of the light emission characteristics detection unit to the memory.例文帳に追加

モード制御部は、表示モードでは、表示信号処理部の出力をデータ電圧供給部に供給し、発光特性検出モードでは、テスト信号をデータ電圧供給部に供給し、発光特性検出部の出力をメモリに供給するように制御する。 - 特許庁

When the slip of the data is generated due to the hold time fault caused by a clock skew and non-coincidence between the test result and the expected value is generated, the circuit 400 specifies the generated position of the data slip and controls the clock delay by a control signal for a delay control selector.例文帳に追加

そして、クロックのスキューによるホールド・タイム違反によるデータのすり抜けが発生しテスト結果と期待値に不一致が発生した場合、比較制御回路400は、データのすり抜けが発生した箇所を特定し、遅延調整セレクタ用制御信号によりクロックの遅延を調整する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device preventing destruction of an input/ output buffer caused by collision of data, even if any one of the control terminal of output control breaks down in a test performed by connecting plural semiconductor devices incorporating plural semiconductor elements where output data terminals are shaved.例文帳に追加

データの出力端子が共通な複数の半導体素子を内蔵する半導体装置を複数接続して行うテストで、いずれかの出力制御の制御端子が故障しても、データの衝突による入出力バッファの破壊を防止する半導体装置を提供する。 - 特許庁

When type information is expectation value changing data, a main control section generates the expectation value changing data for changing the expectation value, generates authentication information with the expectation value changing data to transmit the authentication information to a subsequent stage section, and subsequently changes a test value depending on detection of a detection object control command.例文帳に追加

主制御部は種別情報が期待値変更用データの場合、期待値を変更する期待値変更用データを生成し、該期待値変更用データを有する認証情報を生成して後段部に送信し、その後検出対象制御コマンドの検出に応じて検査値を変更する。 - 特許庁

After it is confirmed that the whole subordinate modules 20 is shifted to a diagnosable state by the potentials of the diagnostic state report signal line 42 and the normal state report signal line 43, a main diagnostic control part 11 outputs the test pattern 31 onto a control bus 30 so as to start diagnosis.例文帳に追加

主診断制御部11が診断状態報告信号線42及び通常状態報告信号線43の電位により全ての従制御モジュール20が診断可能状態に移行したことを確認した後に、制御バス30上にテストパターン31を出力させ、診断を開始する。 - 特許庁

When type information is expectation value changing data, a main control section generates the expectation value changing data for changing the expectation value, generates authentication information with the expectation value changing data to transmit the authentication information to an intermediate section, and subsequently changes a test value depending on detection of a detection object control command.例文帳に追加

主制御部は種別情報が期待値変更用データの場合、期待値を変更する期待値変更用データを生成し、該期待値変更用データを有する認証情報を生成して中間部に送信し、その後検出対象制御コマンドの検出に応じて検査値を変更する。 - 特許庁

Each of the direct current test parts 11a-11n is provided with a gain regulation DAC 24 for converting a control signal S3 of the digital signal, indicating a gain regulation value that regulates the gain of the signal S1 output from DAC 10 into a control signal S3 of the analog signal.例文帳に追加

直流試験部11a〜11nの各々には、DAC10から出力される信号S1のゲインを調整するゲイン調整値を示すディジタル信号の制御信号S3をアナログ信号の制御信号S3に変換するゲイン調整用DAC24が設けられている。 - 特許庁

A burn-in device 1 sets an electric power source and a GND at 0 V, a control signal-1 (IN1 terminal) at 5 V, and a control signal-2 (IN2 terminal) at 0 V respectively, in a pretest before a burn-in test, to be output to a burn-in substrate 2, and monitors a monitor output (Monitor terminal).例文帳に追加

バーンイン試験行う前のプリテストにおいて、バーンイン装置1は電源及びGNDを0V、制御信号1(IN1端子)を5V、制御信号2(IN2端子)を0Vに設定してバーンイン基板2に出力し、モニター出力(Monitor端子)を監視する。 - 特許庁

In the case where it is discriminated that, on the basis of a comparison result, any abnormality such as a delay error caused by a voltage difference occurs, in order to recover the functional circuit block D109 into a normal state, the test control section 103 outputs a voltage boost instruction for the power supply domain D113 to the power supply control section 104.例文帳に追加

当該比較結果に基づいて、電圧差による遅延エラー等の異常が発生したと判別した場合、テスト制御部103は、機能回路ブロックD109を正常な状態に戻すために、電源制御部104に電源ドメインD113の電圧昇圧指示を出す。 - 特許庁

To provide an aircraft actuator control device which can restrain an increase in the number of sensors while inhibiting a mechanism for testing the commissioning of a control system for controlling an actuator from becoming too complicated, and can improve reliability on the results of the test.例文帳に追加

センサ点数の増大を抑制できるとともに、アクチュエータを制御する制御系統の作動の検査を行うための機構が複雑化してしまうことを抑制でき、更に、検査結果の信頼性も向上させることができる、航空機アクチュエータの制御装置を提供する。 - 特許庁

The write-in signal generating circuit 10 outputs a write-in activating signal WEd having shorter pulse width than a write-in control signal WE in a test mode and outputs a write-in activating signal WEd having the same pulse width as a write-in control signal WE in a normal operation mode.例文帳に追加

書込信号発生回路10は、テストモードでは、書込制御信号WEより短いパルス幅を有する書込活性化信号WEdを、通常動作モードでは、書込制御信号WEと同一パルス幅の書込活性化信号WEdを出力する。 - 特許庁

A virtual test device software management means 3 measures an I/O input/output processing time and an execution processing time of a instruction word in execution of simulation of a control program stored in a control program memory 6 by means of a simulation program stored in a simulator system memory 5.例文帳に追加

仮想試験装置用ソフトウェア管理手段3は、シミュレータシステムメモリ5に格納されたシミュレーションプログラムにより、制御プログラムメモリ6に格納された制御プログラムのシミュレーションを実行したときのI/Oの入出力処理時間や命令語の実行処理時間を計測する。 - 特許庁

To provide a multiple dwelling house interphone system for enabling a control unit, a room master unit and a control room master unit or the like corresponding to a plurality of systems to perform an operation test by a single unit, and for, even if erroneous setting is generated due to this, performing erroneous setting notification.例文帳に追加

複数のシステムに対応可能な制御機、居室親機、管理室親機等が単体で動作試験を可能とする構成とするとともに、それにより誤設定となってしまった場合であっても当該誤設定を知らせることができる集合住宅インターホンシステムを提供する。 - 特許庁

The testing device 31 for the arbitration circuit 9 has an access test register 22 which falsely outputs an access type INST [2:0] to be output by a look-ahead mechanism control circuit 7 to an arbitration control circuit 9 when the CPUs 2, 3 access ROMs 5, 6.例文帳に追加

調停制御回路9のテスト装置31によれば、アクセステストレジスタ22は、CPU2,3がROM5,6に対して夫々アクセスを行う場合に、先読み機構制御回路7により調停制御回路9に対して出力されるアクセスタイプINST[2:0]を夫々擬似的に出力する。 - 特許庁

In this case, the wiring 3 is cut by using a cutting control signal for cutting the wiring 3 also as the reset signal of a reset signal inputting section 5 and driving an open drain circuit 6, and the operation of the test circuit or the function switching circuit from the outside is made impossible by making the control of the internal circuit 2 through the cutting control signal impossible.例文帳に追加

その場合、配線3を切断するための切断制御信号をリセット信号入力部5のリセット信号と兼用させ、オープンドレイン回路6を駆動することにより配線3を切断し、切断を制御するための信号を経由しての内部回路2の制御を不可能にすることにより、外部からの操作を不能にする。 - 特許庁

例文

The semiconductor integrated circuit incorporated with the circuit achieving the prescribed function includes: a test circuit simulating operation of the circuit; and a voltage control circuit for specifying a minimum voltage which is applied to the test circuit as drive power and wherein the operation of the circuit simulated by the test circuit is normal, and for setting a voltage of the drive power supplied to the circuit to be a value not less than the minimum voltage.例文帳に追加

所定の機能を実現する回路が組み込まれた半導体集積回路であって、前記回路の動作を模擬する試験回路と、前記試験回路に駆動電力として印加され、かつ前記試験回路によって模擬される前記回路の動作が正常である最小の電圧を特定し、前記回路に供給される駆動電力の電圧を前記最小の電圧以上の値に設定する電圧制御回路とを備える。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する
英→日 日→英
こんにちは ゲスト さん

ログイン

Weblio会員(無料)になると

会員登録のメリット検索履歴を保存できる!

会員登録のメリット語彙力診断の実施回数増加!

無料会員に登録する

©2026 GRAS Group, Inc.RSS